本公开涉及供电装置,特别是涉及电源板装置。背景技术:1、芯片老化测试是通过模拟芯片在高低温环境中受到的各种应力、加快芯片弱点释放时间线的一种测试。可以利用老化板对芯片进行芯片老化测试。2、老化板这类电......