一种芯片边缘检测方法及装置与流程

技术特征：

1.一种芯片边缘检测方法，所述芯片包括至少一个存储区域，每个所述存储区域包括多个存储单元，其特征在于，包括：

在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元写入预设数据后，读取所述芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元的数据作为读取数据；

根据所述读取数据和所述预设数据，确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘的检测结果。

2.根据权利要求1所述的芯片边缘检测方法，其特征在于，所述存储区域还包括多条字线和多条位线，位于同一行的各所述存储单元共用所述字线，以及位于同一列的各所述存储单元共用所述位线；其中，与位于所述芯片边缘和/或存储区域边缘且沿行方向依次排列的各存储单元电连接的所述字线为第一字线；

在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元写入预设数据后，读取所述芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元的数据作为读取数据，包括：

向所述第一字线提供选址信号，以将预设数据写入至所述芯片边缘和/或存储区域边缘的所述存储单元中；

通过各条所述位线读取与所述第一字线电连接的各所述存储单元中存储的数据作为读取数据。

3.根据权利要求2所述的芯片边缘检测方法，其特征在于，与位于所述芯片边缘和/或存储区域边缘且沿列方向依次排列的各存储单元电连接的所述位线为第一位线；

读取所述芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元的数据作为读取数据，还包括：

依次向各条所述字线提供选址信号，并通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据作为读取数据。

4.根据权利要求2或3所述的芯片边缘检测方法，其特征在于，根据所述读取数据和所述预设数据，确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘检测结果，包括：

判断所述读取数据是否均与所述预设数据相同；

若否，则确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘存在裂纹。

5.根据权利要求3所述的芯片边缘检测方法，其特征在于，在依次向各条所述字线提供选址信号，并通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据作为读取数据之前，还包括：

将写入至所述存储区域中各所述存储单元中的数据擦除，以使在通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据之前，各所述存储单元的预设数据均为擦除数据；

根据所述读取数据和所述预设数据，确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘的检测结果，包括：

判断通过所述第一位线读取的所述读取数据是否均与所述擦除数据相同；

若否，则确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘存在裂纹。

6.一种芯片边缘检测装置，所述芯片包括至少一个存储区域，每个所述存储区域包括多个存储单元，其特征在于，包括：

读取数据获取模块，用于在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元写入预设数据后，读取所述芯片边缘和/或存储区域边缘的各所述存储单元的数据作为读取数据；

结果确定模块，用于根据所述读取数据和所述预设数据，确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘的检测结果。

7.根据权利要求6所述的芯片边缘检测装置，其特征在于，所述存储区域还包括多条字线和多条位线，位于同一行的各所述存储单元共用所述字线，以及位于同一列的各所述存储单元共用所述位线；其中，与位于所述芯片边缘和/或存储区域边缘且沿行方向依次排列的各存储单元电连接的所述字线为第一字线；

所述读取数据获取模块包括：

选址信号提供单元，用于向所述第一字线提供选址信号，以将预设数据写入至所述芯片边缘和/或存储区域边缘的所述存储单元中；

第一数据读取单元，用于通过各条所述位线读取与所述第一字线电连接的各所述存储单元中存储的数据作为读取数据。

8.根据权利要求7所述的芯片边缘检测装置，其特征在于，与位于所述芯片边缘和/或存储区域边缘且沿列方向依次排列的各存储单元电连接的所述位线为第一位线；

所述读取数据获取模块还包括：

第二数据读取单元，用于依次向各条所述字线提供选址信号，并通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据作为读取数据。

9.根据权利要求7或8所述的芯片边缘检测装置，其特征在于，所述结果确定模块包括：

第一比较判断单元，用于判断所述读取数据是否均与所述预设数据相同；若否，则确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘存在裂纹。

10.根据权利要求8所述的芯片边缘检测装置，其特征在于，还包括：

数据擦除模块，用于在依次向各条所述字线提供选址信号，并通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据作为读取数据之前，将写入至所述存储区域中各所述存储单元中的数据擦除，以使在通过所述第一位线一一对应地读取与所述第一位线电连接的一列所述存储单元的数据之前，各所述存储单元的预设数据均为擦除数据；

所述结果确定模块还包括：

第二比较判断单元，用于判断通过所述第一位线读取的所述读取数据是否均与所述擦除数据相同；若否，则确定所述芯片边缘和/或存储区域边缘存在裂纹。

技术总结
本发明公开了一种芯片边缘检测方法及装置，芯片包括至少一个存储区域，每个存储区域包括多个存储单元，包括：在向位于芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元写入预设数据后，读取芯片边缘和/或存储区域边缘的各存储单元的数据作为读取数据；根据读取数据和预设数据，确定芯片边缘检测结果。本发明实施例提供的芯片边缘检测方法，不需要芯片原厂的边缘完整性检测电路的技术支持，无需额外设置相应的检测电路，能够简化芯片的检测过程，在芯片出厂前后均能够对芯片进行有效的检测与筛查，提高了半导体器件的成品的有效性能，保证了电子产品的质量以及可靠性；同时，能够实现对多个存储区域边缘的裂纹情况进行检测，进一步提高芯片的可靠性。

技术研发人员：刘者
受保护的技术使用者：江苏半湖智能科技有限公司
技术研发日：2021.03.09
技术公布日：2021.06.18