技术特征：
1.一种系统，其包括：
控制器；
一或多个存储器装置，每个存储器装置包含一或多个存储器阵列，每个存储器阵列包含多个存储器块，每个存储器块经布置为存储器单元块；及
固件，其具有可由所述控制器执行以在所述一或多个存储器装置上操作的所存储指令，所述指令包含以下操作：
跟踪与所述一或多个存储器装置的存储器块上的存储器操作相关联的度量；
产生所述度量的z分数；
将所述z分数与所述度量的z分数阈值相比较；及
基于所述比较控制所述存储器块的引退。
2.根据权利要求1所述的系统，其中跟踪所述度量的所述操作是测量在所述存储器块上执行所述存储器操作的时间的操作，所述度量的所述z分数是所述测量时间的z分数，并且所述度量的所述z分数阈值是执行所述存储器操作的时间的z分数的阈值。
3.根据权利要求2所述的系统，其中执行所述存储器操作的所述时间是对所述存储器块的页面进行编程的时间，并且z分数的所述阈值是对存储器块的页面进行编程的时间的z分数的阈值。
4.根据权利要求3所述的系统，其中控制所述存储器块的所述引退的所述操作包含操作以：
响应于所述z分数大于对块中的块的页面进行编程的时间的z分数的所述阈值而读取所述页面；
确定进行所述读取时的故障位计数；及
响应于所述故障位计数大于可校正错误校正码错误的阈值，重新定位写入所述块中的有效数据且引退所述存储器块。
5.根据权利要求3所述的系统，其中控制所述存储器块的所述引退的所述操作包含以下操作：
响应于对所述页面进行编程的所述时间的所述z分数大于对存储器块的页面进行编程的时间的z分数的所述阈值而读取所述页面；
确定进行所述读取时的故障位计数；及
响应于所述故障位计数小于可校正错误校正码错误的阈值，使用对所述页面进行编程的所述测量时间及对页面进行编程的先前时间计算平均值及西格玛值，所述先前时间与所述z分数相关联。
6.根据权利要求3所述的系统，其中控制所述存储器块的所述引退的所述操作包含响应于所述z分数大于对存储器块的页面进行编程的时间的z分数的所述阈值而继续对所述存储器块进行编程的操作。
7.根据权利要求2所述的系统，其中执行所述存储器操作的所述时间是擦除所述存储器块的时间，并且z分数的所述阈值是擦除存储器块的时间的z分数的阈值。
8.根据权利要求7所述的系统，其中控制所述存储器块的所述引退的所述操作包含以下操作：
响应于所述z分数大于擦除存储器块的时间的z分数的所述阈值而在关闭所述存储器块之后执行块扫描；
从所述块扫描确定所述存储器块的每个页面的故障位计数；及
响应于确定至少一个故障计数大于可校正错误校正码错误的阈值，重新定位所述存储器块的有效数据且将所述存储器块作为用户数据存储块引退。
9.根据权利要求7所述的系统，其中控制所述存储器块的所述引退的所述操作包含以下操作：
响应于所述z分数大于擦除存储器块的时间的z分数的所述阈值而在关闭所述存储器块之后执行块扫描；
从所述块扫描确定所述存储器块的每个页面的故障位计数；及
响应于每个页面的所述故障位计数小于可校正错误校正码错误的阈值，使用擦除所述存储器块的所述测量时间及擦除存储器块的先前时间计算平均值及西格玛值，所述先前时间与所述z分数相关联。
10.一种方法，其包括：
跟踪与一或多个存储器装置的存储器块上的存储器操作相关联的度量，每个存储器装置包含一或多个存储器阵列，每个存储器阵列包含多个存储器块，每个存储器块经布置为存储器单元块；
产生所述度量的z分数；
将所述z分数与所述度量的z分数阈值相比较；及
基于所述比较控制所述存储器块的引退。
11.根据权利要求10所述的方法，其中跟踪所述度量包含测量在所述存储器块上执行所述存储器操作的时间，所述度量的所述z分数是所述测量时间的z分数，并且所述度量的所述z分数阈值是执行所述存储器操作的时间的z分数的阈值。
12.根据权利要求11所述的方法，其中执行所述存储器操作的所述时间包含对所述存储器块的页面进行编程的时间及擦除所述存储器块的时间。
13.根据权利要求12所述的方法，其中控制引退包含：
响应于所述z分数大于对存储器块的页面进行编程的时间的z分数的所述阈值而读取所述存储器块中的所述页面；
确定进行所述读取时的故障位计数；及
响应于所述故障位计数大于可校正错误校正码错误的阈值，重新定位所述存储器块的有效数据且引退所述存储器块。
14.根据权利要求12所述的方法，其中控制引退包含：
响应于所述z分数大于对存储器块的页面进行编程的时间的z分数的所述阈值而读取所述存储器块中的所述页面；
确定进行所述读取时的故障位计数；及
响应于所述故障位计数小于可校正错误校正码错误的阈值，使用对所述页面进行编程的所述测量时间及对页面进行编程的先前时间计算平均值及西格玛值，所述先前时间与对所述页面进行编程的所述测量时间的所述z分数相关联。
15.根据权利要求12所述的方法，其中控制引退包含：
响应于所述z分数大于擦除存储器块的时间的z分数的阈值而在关闭所述存储器块之后执行块扫描；
从所述块扫描确定所述存储器块的每个页面的故障位计数；及
响应于确定至少一个故障计数大于可校正错误校正码错误的阈值，重新定位所述存储器块的有效数据且将所述存储器块作为用户数据引退。
16.根据权利要求12所述的方法，其中控制引退包含：
响应于所述z分数大于擦除存储器块的时间的z分数的阈值而在关闭所述存储器块之后执行块扫描；
从所述块扫描确定所述存储器块的每个页面的故障位计数；及
响应于每一个的所述故障位计数小于可校正错误校正码错误的阈值，使用擦除所述块的所述测量时间及擦除块的先前时间计算平均值及西格玛值，所述先前时间与擦除所述存储器块的所述测量时间的所述z分数相关联。
17.一种方法，其包括：
跟踪一组度量中的每个度量的平均值及西格玛，每个度量与一或多个存储器装置的存储器块上的存储器操作相关联，每个存储器装置包含一或多个存储器阵列，每个存储器阵列包含多个存储器块，每个存储器块经布置为存储器单元块；
对于所述一组度量中的每个度量：
测量所述度量的值，所述值是相对于所述度量的所述所跟踪平均值及西格玛的当前值；
使用所述相应度量的所述值、所述所跟踪平均值及所述所跟踪西格玛计算z分数；
将所述z分数与所述度量的z分数阈值相比较；及
基于所述比较的结果控制读取操作；及
基于与所述集合的所述度量中的至少一个相关联的所述读取操作控制所述存储器块的引退。
18.根据权利要求17所述的方法，其中所述方法包含基于所述读取操作除了使用产生所述所跟踪平均值及所述所跟踪西格玛的值之外还使用所述值计算与所述集合的所述度量中的至少一个相关联的新平均值及新西格玛。
19.根据权利要求17所述的方法，其中所述集合中的每个度量的所述平均值及所述西格玛值独立于所述集合中的其它度量。
20.根据权利要求17所述的方法，其中所述一组度量包含擦除存储器装置的存储器块的时间及对存储器块的页面进行编程的时间。
21.根据权利要求17所述的方法，其中所述一组度量基于所述存储器块的块类型。
技术总结
各种应用可包含用于抢先检测存储器装置中的容易出现缺陷的存储器块并且在这些存储器块发生故障并触发数据丢失事件之前处理这些存储器块的设备及/或方法。基于存储器操作的度量可用于促进所述存储器块的检查。可跟踪与存储器块上的存储器操作相关联的一或多个度量并且可产生每个度量的Z分数。响应于度量的Z分数与所述度量的Z分数阈值的比较，可执行操作以控制从所述比较开始的所述存储器块的可能引退。公开了另外的设备、系统及方法。
技术研发人员：H·R·桑吉迪;V·P·拉亚普鲁;K·K·姆奇尔拉;J·黄;罗贤钢;A·马尔谢
受保护的技术使用者：美光科技公司
技术研发日：2019.10.01
技术公布日：2021.06.18
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