芯片测试中载入trim值的方法与流程

技术特征：

1.一种芯片测试中载入trim值的方法，针对存储器的存储单元，进行trimmingbit值的写入，其特征在于：

在进行trimmingbit值的写入时，同时将一个trimmingbit值写入到2个或者更多的存储单元中。

2.如权利要求1所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：通过2个或更多个存储器单元中写入相同的trimmingbit值，在载入trimmingbit值后进行读取的时候，同时选中全部的写入所述的相同的trimmingbit值的2个或更多个存储单元，由sa来判定所选中的全部的2个或更多的存储单元中存储的trimmingbit值为“1”或者是为“0”，由于有更多的存储单元提供数据进行对比，提高了数据读取的窗口。

3.如权利要求1所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：所述的2个或者更多的存储单元，是位于存储器存储单元阵列中的同一列上相邻的2个或者连续的多个存储单元。

4.如权利要求1所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：所述的sa为存储器中进行数据读出的感测放大器。

5.如权利要求1所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：所述的存储单元中进行trimmingbit值的写入时，还包括写入trimmingbit值的反值，即原trimmingbit值为“1”的情况下，同时写入其反值“0”；在读出数据时可进行读出后的相互比较验证。

6.如权利要求1所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：所述的trimmingbit值，是通过特别字线swl写入到存储单元中；即所述的trimmingbit值通过选择管存储于sonos存储管中。

7.如权利要求5所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：在读出存储单元中trimmingbit值时，采用低于存储器正常读写的时序，即更慢的时序来读出存储单元中存储的trimmingbit值，包括同时读出原值和其反值，以进行相互的校验。

8.如权利要求7所述的芯片测试中载入trim值的方法，其特征在于：所述采用低于存储器正常读写的时序，是在存储器芯片上电后，bist内部寄存器设置为默认值，itim的默认dac值全部设置为最低值“0”，此时的读时序最慢。

技术总结
本发明公开了一种芯片测试中载入trim值的方法，针对存储器的存储单元，进行trimming bit值的写入，在进行trimming bit值的写入时，同时将一个trimming bit值写入到2个或者更多的存储单元中。在进行读取的时候，同时选中全部的写入所述的相同的trimming bit值的2个或更多个存储单元，由SA来判定所选中的全部的2个或更多的存储单元中存储的trimming bit值为“1”或者是为“0”，由于有更多的存储单元提供数据进行对比，提高了数据读取的窗口。存储单元中进行trimming bit值的写入时，还可以同时写入trimming bit值的反值，即原trimming bit值为“1”的情况下，同时写入其反值“0”；在读出数据时可进行读出后的相互比较验证。

技术研发人员：傅俊亮
受保护的技术使用者：上海华虹宏力半导体制造有限公司
技术研发日：2021.03.31
技术公布日：2021.07.13