读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备与流程

技术特征：
1.一种读重试测试方法，其特征在于，包括：根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求，以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历，直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果。2.根据权利要求1所述的一种读重试测试方法，其特征在于，还包括：根据所述测试请求对所述待测闪存的多个操作模式进行遍历，直至遍历完所述待测闪存的所有操作模式；对于遍历到的目标操作模式执行所述根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求，以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历步骤。3.根据权利要求1所述的一种读重试测试方法，其特征在于，所述对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据之前还包括步骤：对所述目标块的数据进行擦除操作；根据预设数据模板向所述目标块写入数据；根据所述目标块中的数据生成预设目标页的原始数据；所述对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据包括：读取遍历到的目标块中的预设目标页的原始数据，得到目标原始数据。4.根据权利要求1所述的一种读重试测试方法，其特征在于，所述测试请求还包括当前随机选取次数；所述基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页之前还包括步骤：根据所述目标原始数据确定随机选取总次数；判断所述当前随机选取次数是否大于或等于所述随机选取总次数，若是，则结束测试，并输出提示信息，若否，则将所述当前随机选取次数加一，并执行所述基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转步骤；所述基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页包括：从所述目标原始数据中随机选取任一位，得到目标位；判断所述目标位的数据是否为第一预设值，若否，则返回执行所述判断所述当前随机选取次数是否大于或等于所述随机选取总次数步骤，若是，则将所述目标位的数据翻转为第二预设值，得到位翻转后的目标原始数据，并将所述位翻转后的目标原始数据写入所述预设目标页，得到位翻转后的预设目标页。5.根据权利要求4所述的一种读重试测试方法，其特征在于，所述读取所述位翻转后的预设目标页的数据之前还包括步骤：接收与所述测试请求对应的读重试功能查看指令；根据所述读重试功能查看指令获取所述读重试功能的触发状态；
判断所述读重试功能的触发状态是否为已触发，若是，则执行所述读取所述位翻转后的预设目标页的数据步骤，若否，则返回执行所述判断所述当前随机选取次数是否大于或等于所述随机选取总次数步骤。6.根据权利要求4所述的一种读重试测试方法，其特征在于，所述读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果包括：读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果；判断所述读取结果是否读失败，若是，则所述读重试功能异常，若否，则所述读重试功能正常，并返回执行所述判断所述当前随机选取次数是否大于或等于所述随机选取总次数步骤。7.根据权利要求1至6中任一项所述的一种读重试测试方法，其特征在于，所述待测闪存包括nand flash。8.一种读重试测试装置，其特征在于，包括：位翻转构造模块，用于：根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历，直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；测试模块，用于读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果。9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的一种读重试测试方法中的各个步骤。10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述的一种读重试测试方法中的各个步骤。

技术总结
本发明公开一种读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历，直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果，以此强制修改数据来进行位翻转的构造，从而触发主控的读重试功能并对其进行测试，提高了测试读重试功能的效率。提高了测试读重试功能的效率。提高了测试读重试功能的效率。


技术研发人员：孙成思 孙日欣 王营许 高嵊昊 胡伟 朱渝林
受保护的技术使用者：成都佰维存储科技有限公司
技术研发日：2021.06.29
技术公布日：2021/10/8