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一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质与流程

2022-02-22 09:15:31 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种ddr4内存信号测试方法,其特征在于:包括以下步骤:s1,将服务器、ddr4内存和示波器置于正常工作状态,然后利用示波器采集ddr4内存中的相关信号并确定标志信号;s2,根据标志信号对示波器进行相关参数配置,利用示波器的触发功能将ddr4内存的信号进行读写信号分离;s3,利用示波器对分离后的读写信号进行测试。2.根据权利要求1所述的ddr4内存信号测试方法,其特征在于:所述将服务器、ddr4内存和示波器置于正常工作状态,然后利用示波器采集ddr4内存中的相关信号并确定标志信号,具体包括:将示波器与ddr4内存的相关信号引脚进行信号连接;将服务器、ddr4内存和示波器置于正常工作状态;利用示波器对ddr4内存的相关信号进行采集并根据相关信号的波形确定标志信号。3.根据权利要求1所述的ddr4内存信号测试方法,其特征在于:所述相关信号包括dqs信号、clk信号和dq信号,所述标志信号为dqs信号。4.根据权利要求1所述的ddr4内存信号测试方法,其特征在于:所述根据标志信号对示波器进行相关参数配置,具体包括:利用示波器分别采集标志信号在数据读取和数据写入过程中的电平幅值;对标志信号在数据读取和数据写入过程中的电平幅值进行比较,确定标志信号的电平阈值;在示波器中配置标志信号的电平阈值。5.根据权利要求1所述的ddr4内存信号测试方法,其特征在于:所述利用示波器的触发功能将ddr4内存的信号进行读写信号的分离,具体包括:将标志信号的实时电平幅值与标志信号的电平阈值进行比较;将大于电平阈值的标志信号和小于电平阈值的标志信号进行分离,得到数据读取和数据写入过程中的标志信号。6.根据权利要求5所述的ddr4内存信号测试方法,其特征在于:所述将大于电平阈值的标志信号和小于电平阈值的标志信号进行分离,得到数据读取和数据写入过程中的标志信号后,clk信号和dq信号的读写信号同步分离。7.一种ddr4内存信号测试装置,其特征在于:包括以下模块:信号采集模块,用于对ddr4内存中的相关信号进行采集;信号测试模块,用于对ddr4内存的读写信号进行测试。8.根据权利要求7所述的ddr4内存信号测试装置,其特征在于:还包括:电平采集模块,用于抓取标志信号的电平幅值;电平设置模块,用于设置标志信号的电平阈值。9.根据权利要求7所述的ddr4内存信号测试装置,其特征在于:还包括:信号分离模块,用于将ddr4内存的读写信号进行分离。10.一种计算机可读存储介质,其特征在于:所述计算机可读存储介质存储有程序,当所述程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求1~6中任意一项所述的方法的步骤。

技术总结
本发明涉及一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质,方法包括以下步骤:S1,将服务器、DDR4内存和示波器置于正常工作状态,然后利用示波器采集DDR4内存中的相关信号并确定标志信号;S2,根据标志信号对示波器进行相关参数配置,利用示波器的触发功能将DDR4内存的读写信号进行信号分离;S3,利用示波器对分离后的读写信号进行测试。本发明的DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质,实现了DDR4内存相关信号在正常工作状态下的信号测试,充分反映了相关信号在正常干工作状态下的波形,提高了DDR4内存相关信号的测试效率。DDR4内存相关信号的测试效率。DDR4内存相关信号的测试效率。


技术研发人员:周新浩
受保护的技术使用者:苏州浪潮智能科技有限公司
技术研发日:2021.10.29
技术公布日:2022/2/6
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