一种减小提离高度对缺陷检测影响的涡流检测方法与流程

技术特征：
1.一种减小提离高度对缺陷检测影响的涡流检测方法，其特征在于：通过校正激励频率来补偿提离高度对电感变化幅度的影响，式中f
c
o
rr
表示校正频率，f表示激励频率，δl表示激励频率下电感变化的幅度，δl
m
表示提离高度为零时的电感变化幅度。2.如权利要求1所述的减小提离高度对缺陷检测影响的涡流检测方法，其特征在于：δl的计算公式为：δl＝φ(a0)δl0，其中：其中：其中：其中：其中：其中：式中μ0表示自由空间的磁导率；n表示线圈的匝数；r1和r2表示线圈的内外半径；l1表示提离高度；h表示线圈高度；srf表示自谐振频率，c表示板的厚度，a0为φ(a)积分项的变化曲线极值处的特征值。

技术总结
本发明提供了一种减小提离高度对缺陷检测影响的涡流检测方法，其特征在于：通过校正激励频率来补偿提离高度对电感变化幅度的影响，，式中f


技术研发人员：尹武良 张荣华 王忠强
受保护的技术使用者：爱科仪美科技（苏州）有限公司
技术研发日：2020.09.04
技术公布日：2022/3/21