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一种异质薄膜晶圆及制备方法与流程

2022-03-26 16:38:50 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种异质薄膜晶圆,其特征在于:包括衬底层(1)和位于所述衬底层(1)上的体积膨胀层(2),所述体积膨胀层(2)用于在晶圆键合时,形成朝键合面方向凸起的结构;所述键合面方向是指所述体积膨胀层(2)远离所述衬底层(1)的方向;所述体积膨胀层(2)远离所述衬底层(1)的一侧设有隔离层(3),所述隔离层(3)用于在晶圆键合时,加强键合强度;所述隔离层(3)远离所述体积膨胀层(2)的一侧设有功能薄膜层(4),所述功能薄膜层(4)用于制备器件和芯片;所述衬底层(1)远离所述体积膨胀层(2)的一侧设有应力补偿层(5),所述应力补偿层(5)用于改进晶圆的形貌。2.根据权利要求1所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,所述应力补偿层(5)、所述隔离层(3)和所述功能薄膜层(4)的内部具有面内应力;所述隔离层(3)内部的面内应力大于所述应力补偿层(5)内部的面内应力。3.根据权利要求2所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,当所述功能薄膜层(4)内部的面内应力为拉应力时,所述隔离层(3)和所述应力补偿层(5)内部的面内应力为压应力;当所述功能薄膜层(4)内部的面内应力为压应力时,所述隔离层(3)和所述应力补偿层(5)内部的面内应力为拉应力。4.根据权利要求1所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,所述衬底层(1)和所述体积膨胀层(2)整体的弯曲度在0-100微米之间。5.根据权利要求1所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,所述体积膨胀层(2)的材料是由所述衬底层(1)的材料经过预处理后得到;所述衬底层(1)的材料包括硅或碳化硅。6.根据权利要求1所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,所述应力补偿层(5)和所述隔离层(3)的材料相同;所述应力补偿层(5)和所述隔离层(3)的材料包括二氧化硅、氮化铝和碳化硅中的一种或多种的组合。7.根据权利要求1所述的异质薄膜晶圆,其特征在于,所述功能薄膜层(4)的材料与所述隔离层(3)的材料不同;所述功能薄膜层(4)的材料包括铌酸锂、钽酸锂、氮化铝和碳化硅中的任意一种。8.一种异质薄膜晶圆制备方法,其特征在于,包括:在衬底层(1)上形成体积膨胀层(2),得到朝键合面方向凸起的第一晶圆(101),以保证在晶圆键合时,晶圆之间的中心点先接触;所述键合面方向是指所述体积膨胀层(2)远离所述衬底层(1)的方向;在所述第一晶圆(101)的上下两个表面同时沉积相同厚度的同种材料,得到衬底晶圆(102);靠近所述体积膨胀层(2)一侧的为隔离层(3),靠近所述衬底层(1)一侧的为应力补偿层(5);对异质晶圆(103)进行离子注入,以在所述异质晶圆(103)内形成缺陷层(41);将所述隔离层(3)与所述异质晶圆(103)中的功能薄膜层(4)进行晶圆键合,得到第一键合结构(104);所述异质晶圆(103)包括所述功能薄膜层(4)、所述缺陷层(41)和功能厚膜层(42);
对所述第一键合结构(104)进行退火处理,以使得所述异质晶圆(103)沿所述缺陷层(41)剥离,得到第二键合结构(105);调整所述应力补偿层(5)的厚度,以改进所述第二键合结构(105)的形貌,得到异质薄膜晶圆(106)。9.根据权利要求8所述的异质薄膜晶圆制备方法,其特征在于,所述对所述第一键合结构(104)进行退火处理,以使得所述异质晶圆(103)沿所述缺陷层(41)剥离,得到第二键合结构(105),包括:对所述第一键合结构(104)进行退火处理,以使得所述功能厚膜层(42)沿所述缺陷层(41)剥离,得到中间键合结构(1041);对所述中间键合结构(1041)进行退火处理和化学机械抛光处理,以去除所述缺陷层(41)和所述功能薄膜层(4)表面的损伤层,得到所述第二键合结构(105)。10.根据权利要求8所述的异质薄膜晶圆制备方法,其特征在于,所述在衬底层(1)上形成体积膨胀层(2)的方式,包括:生长所述衬底层(1)的单晶体材料所对应的非晶体、多晶体、多孔晶体和对所述衬底层(1)进行离子注入。

技术总结
本申请公开了一种异质薄膜晶圆及制备方法,其中,一种异质薄膜晶圆,包括衬底层和位于衬底层上的体积膨胀层,体积膨胀层用于在晶圆键合时,形成朝键合面方向凸起的结构;键合面方向是指体积膨胀层远离衬底层的方向;体积膨胀层远离衬底层的一侧设有隔离层,隔离层用于在晶圆键合时,加强键合强度;隔离层远离体积膨胀层的一侧设有功能薄膜层,功能薄膜层用于制备器件和芯片;衬底层远离体积膨胀层的一侧设有应力补偿层,应力补偿层用于改进晶圆的形貌。本异质薄膜晶圆实现了晶圆在键合过程中,从中间点开始接触,再逐渐向四周扩展,提高了键合良率。同时,通过调整应力补偿层的厚度,晶圆的弯曲度和翘曲度接近于0,改善了晶圆形貌。改善了晶圆形貌。改善了晶圆形貌。


技术研发人员:欧欣 陈阳 黄凯
受保护的技术使用者:上海新硅聚合半导体有限公司
技术研发日:2021.11.26
技术公布日:2022/3/25
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