一种残膜回收机防缠绕挑膜装置的制 一种秧草收获机用电力驱动行走机构

体声波谐振装置的形成方法与流程

2022-04-14 04:44:32 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,包括:形成第一层,形成所述第一层包括:提供第一基底;一体形成第一电极材料层、压电层以及第二电极材料层,其中,所述第二电极材料层位于所述第一基底上,所述压电层位于所述第二电极材料层上,所述第一电极材料层位于所述压电层上;对所述第一电极材料层进行第一图形化处理,形成第一电极层;在所述压电层上形成空腔预处理层,用于形成空腔,所述空腔预处理层至少覆盖所述第一电极层的第一端,其中,所述第一层的第一侧对应所述第一基底侧,所述第一层的第二侧对应所述空腔预处理层侧;形成第二层,形成所述第二层包括:提供第二基底;接合所述第一层和所述第二层,其中,所述第二层位于所述第二侧;去除所述第一基底;以及对所述第二电极材料层进行第二图形化处理,形成第二电极层。2.如权利要求1所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,形成所述空腔预处理层包括:形成牺牲层,位于所述压电层上,所述牺牲层至少覆盖所述第一电极层的第一端。3.如权利要求2所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述牺牲层的材料包括以下至少之一:聚合物、二氧化硅、掺杂二氧化硅、多晶硅。4.如权利要求3所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述聚合物包括以下至少之一:苯并环丁烯、光感环氧树脂光刻胶、聚酰亚胺。5.如权利要求2所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,形成所述空腔预处理层还包括:形成第一中间层,位于所述压电层上方,所述第一中间层至少覆盖所述牺牲层,所述第二侧对应所述第一中间层侧。6.如权利要求5所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述第一中间层还覆盖所述第一电极层的第二端。7.如权利要求5所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述第一中间层的材料包括以下至少之一:聚合物、绝缘电介质、多晶硅。8.如权利要求7所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述聚合物包括以下至少之一:苯并环丁烯、光感环氧树脂光刻胶、聚酰亚胺。9.如权利要求7所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述绝缘电介质包括以下至少之一:氮化铝、二氧化硅、氮化硅、氧化钛。10.如权利要求1所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述压电层的材料包括以下至少之一:氮化铝、氧化铝合金、氮化镓、氧化锌、钽酸锂、铌酸锂、锆钛酸铅、铌镁酸铅—钛酸铅。11.如权利要求5所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,形成所述第二层还包括:形成第二中间层,位于所述第二基底上方。12.如权利要求11所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述第二中间层的材料包括以下至少之一:聚合物、绝缘电介质。13.如权利要求12所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述聚合物包括以下至少之一:苯并环丁烯、光感环氧树脂光刻胶、聚酰亚胺。14.如权利要求12所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述绝缘电介质包括以下至少之一:氮化铝、二氧化硅、氮化硅、氧化钛。
15.如权利要求11所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,形成所述第二层还包括:形成薄层,位于所述第二基底与所述第二中间层之间。16.如权利要求15所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述薄层包括:多晶薄层。17.如权利要求16所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述多晶薄层的材料包括以下至少之一:多晶硅、多晶氮化硅、多晶碳化硅。18.如权利要求11所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,接合所述第一层和所述第二层包括:键合所述第一中间层和所述第二中间层,形成第三中间层。19.如权利要求18所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,所述第三中间层的厚度包括:0.1微米至10微米。20.如权利要求5所述的体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,在形成所述第二电极层之后,还包括:去除所述牺牲层,形成所述空腔,其中,所述第一电极层的第一端位于所述空腔中。

技术总结
一种体声波谐振装置的形成方法,涉及半导体制造技术领域,包括:形成第一层,形成第一层包括:提供第一基底;一体形成第一电极材料层、压电层以及第二电极材料层;形成第一电极层;在压电层上形成空腔预处理层;形成第二层,形成第二层包括:提供第二基底;接合第一层和第二层;去除第一基底;形成第二电极层。压电层位于第二电极材料层上,第二电极材料层表面平坦,因此使压电层不包括明显转向的晶体,有助于提高谐振装置的机电耦合系数及谐振装置的Q值。第二基底的加工和有源层的加工分开进行,可使谐振装置的形成方法具有灵活性。一体形成第一电极材料层、压电层以及第二电极材料层。能够提升压电层或第二电极层的晶体质量。能够提升压电层或第二电极层的晶体质量。能够提升压电层或第二电极层的晶体质量。


技术研发人员:邹雅丽 周建 韩兴 王斌
受保护的技术使用者:常州承芯半导体有限公司
技术研发日:2022.03.17
技术公布日:2022/4/12
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

发表评论 共有条评论
用户名: 密码:
验证码: 匿名发表

相关文献