特征点匹配方法及装置、电子设备和存储介质与流程

技术特征：
1.一种特征点匹配方法，其特征在于，所述方法包括：确定目标图像上的第一特征点，以及所述第一特征点的第一坐标和第一描述子，所述第一坐标表征所述第一特征点在所述目标图像上的位置，所述第一描述子表征所述第一特征点的特征；确定参考图像上的至少一个第二特征点，以及每个所述第二特征点的第二坐标和第二描述子，所述第二坐标表征所述第二特征点在所述参考图像上的位置，所述第二描述子表征所述第二特征点的特征；根据所述第一描述子和每个所述第二描述子对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点；根据所述第一坐标和每个所述候选特征点的第二坐标对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一描述子和每个所述第二描述子对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点包括：分别确定每个所述第二描述子和所述第一描述子的相似参数；根据所述相似参数对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别确定每个所述第二描述子和所述第一描述子的相似参数，包括：分别计算每个所述第二描述子与所述第一描述子的距离向量，得到每个所述第二描述子和所述第一描述子的相似参数。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相似参数对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点，包括：确定和所述第一描述子的相似参数小于第一阈值的第二描述子；将所述相似参数小于第一阈值的第二描述子对应的第二特征点作为候选特征点。5.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述根据所述相似参数对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点，包括：对每个所述第二描述子对应的相似参数从小到大排序，并获取前n个所述第二描述子对应的第二特征点为候选特征点。6.根据权利要求2-5中任意一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一坐标和每个所述候选特征点的第二坐标对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点包括：根据所述第一坐标、所述第二坐标以及所述目标图像和所述参考图像的相对位置关系，对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一坐标、所述第二坐标以及所述目标图像和所述参考图像的相对位置关系，对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点包括：确定所述目标图像的第一位置，与所述参考图像的第二位置；根据所述第一位置、第二位置和所述第一坐标基于对极几何确定所述第一特征点在所述参考图像上的预估极线；
根据每个所述候选特征点的第二坐标与所述预估极线的最短距离对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据每个所述候选特征点的第二坐标与所述预估极线的最短距离对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点包括：确定每个所述候选特征点的第二坐标与所述预估极线的最短距离是否小于第二阈值；响应于小于所述第二阈值的最短距离数量为一，确定所述最短距离对应的候选特征点为目标特征点；响应于小于所述第二阈值的最短距离数量大于一，在小于所述第二阈值的最短距离对应的候选特征点中确定目标特征点。9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述在小于所述第二阈值的最短距离对应的候选特征点中确定目标特征点包括：在小于所述第二阈值的最短距离对应的候选特征点中，确定所述相似参数最大的候选特征点为目标特征点。10.一种特征点匹配装置，其特征在于，所述装置包括：第一信息确定模块，用于确定目标图像上的第一特征点，以及所述第一特征点的第一坐标和第一描述子，所述第一坐标表征所述第一特征点在所述目标图像上的位置，所述第一描述子表征所述第一特征点的特征；第二信息确定模块，用于确定参考图像上的至少一个第二特征点，以及每个所述第二特征点的第二坐标和第二描述子，所述第二坐标表征所述第二特征点在所述参考图像上的位置，所述第二描述子表征所述第二特征点的特征；第一筛选模块，用于根据所述第一描述子和每个所述第二描述子对所述第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点；第二筛选模块，用于根据所述第一坐标和每个所述候选特征点的第二坐标对至少一个所述候选特征点进行第二次筛选，得到与所述第一特征点匹配的目标特征点。11.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为调用所述存储器存储的指令，以执行权利要求1至9中任意一项所述的方法。12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序指令，其特征在于，所述计算机程序指令被处理器执行时实现权利要求1至9中任意一项所述的方法。

技术总结
本公开涉及一种特征点匹配方法及装置、电子设备和存储介质，通过确定目标图像上的第一特征点，以及表征第一特征点在目标图像上位置的第一坐标和表征第一特征点特征的第一描述子。同时，确定参考图像上的至少一个第二特征点以及表征每个第二特征点在参考图像上位置的第二坐标和表征第二特征点特征的第二描述子。进一步根据第一描述子和每个第二描述子对第二特征点进行第一次筛选，得到至少一个候选特征点，再根据第一坐标和每个候选特征点的第二坐标对至少一个候选特征点进行第二次筛选，得到参考图像上与第一特征点匹配的目标特征点。本公开实施例能够根据局部特征和特征点位置进行两次匹配，准确的匹配两张图像中记录相同信息的点。同信息的点。同信息的点。


技术研发人员：甄佳楠 周晓巍 孙佳明 张思宇
受保护的技术使用者：浙江商汤科技开发有限公司
技术研发日：2022.02.17
技术公布日：2022/5/20