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安检设备及安检系统的制作方法

2022-05-25 23:47:26 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种安检设备,其特征在于,包括:支架(6),限定沿第一方向延伸的检查通道;第一x射线加速器(1),设置在所述支架(6)的顶部偏移所述检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向所述检查通道辐射第一x射线(11),用以对通过所述检查通道的待检物品(7)进行检查;第二x射线加速器(2),配置成向所述检查通道辐射第二x射线(21)用以对通过所述检查通道的待检物品(7)进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在所述支架(6)上与所述第一x射线加速器(1)和所述第二x射线加速器(2)面对的位置,用于接收至少一部分所述第一x射线和/或第二x射线,以形成所述待检物品(7)的透射图像;其中,所述第一x射线(11)、第二x射线(21)及多个所述探测器模块所形成的中心面构造成位于同一平面内。2.根据权利要求1所述的安检设备,其特征在于,所述探测器装置还包括信号采集模块,所述第一x射线加速器(1)、第二x射线加速器(2)及多个所述探测器模块通讯连接,用以将所述探测器模块接收的由第一x射线(11)和第二x射线(21)所产生的信号进行标记。3.根据权利要求1所述的安检设备,其特征在于,多个所述探测器模块平铺设置构造成行、列或阵列;其中,平铺表征为每一行、列或阵列中的每个所述探测器模块的接收端均位于同一平面内。4.根据权利要求1至3中任一所述的安检设备,其特征在于,一部分所述探测器模块分别构造成侧部阵列(4)及底部阵列(5);其中,所述侧部阵列(4)设置在所述支架(6)的内侧侧面,所述底部阵列(5)设置在所述支架(6)的内侧底面,所述第一x射线(11)的射线张角覆盖所述侧部阵列(4)及底部阵列(5)。5.根据权利要求4所述的安检设备,其特征在于,另一部分所述探测器模块构造成顶部阵列(3);其中,所述顶部阵列(3)设置在所述支架(6)的内侧顶面,所述第二x射线的射线张角覆盖所述侧部阵列(4)及顶部阵列(3)。6.根据权利要求5所述的安检设备,其特征在于,所述第二x射线(21)的射线张角还覆盖一部分所述底部阵列(5)。7.一种安检系统,应用于对移动中的车辆进行检测,其特征在于,包括:如权利要求1至6中任一所述的安检设备;以及速度检测设备(8),配置成能够检测所述车辆(71)的速度,包括:第一检测装置(81),设置在所述安检设备的上游;以及第二检测装置(82);设置在所述安检设备的上游,并与所述第一检测装置(81)间隔设置;其中,所述第一检测装置(81)和第二检测装置(82),配置成在车辆通过第二检测装置(82)时得出车辆轮廓和检测车辆的车厢,离开第二检测装置(82),通过第二检测装置(82)
和第一检测装置(81)之间的距离除以车辆通过第二检测装置(82)和第一检测装置(81)的时间间隔测量车辆(71)的速度,使用测量的车辆(71)的速度得出驾驶室的尺寸,从而确定移动的车辆(71)的驾驶室在检查通道的位置,进而确定第一x射线加速器(1)和第二x射线加速器(2)的出束时间,以便在驾驶室通过第一x射线加速器(1)和第二x射线加速器(2)后分别出束。

技术总结
本实用新型提供一种安检设备及安检系统,包括:支架,限定沿第一方向延伸的检查通道;第一X射线加速器,设置在支架的顶部偏移检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线,用以对通过检查通道的待检物品进行检查;第二X射线加速器,配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置,用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线,以形成待检物品的透射图像;其中,第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。平面内。平面内。


技术研发人员:李元景 孙尚民 宗春光 宋涛 刘磊 马媛 喻卫丰 刘必成
受保护的技术使用者:同方威视科技(北京)有限公司
技术研发日:2021.12.31
技术公布日:2022/5/24
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