基于FPGA的芯片逻辑测试装置的制作方法

技术特征：
1.基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于：包括测试机体（1）和支撑腿（2），所述测试机体（1）的底端安装有支撑腿（2），所述测试机体（1）的底端安装有芯片放置组件（3）；所述芯片放置组件（3）包括防护外框（301）、滑动杆（302）、卡接杆（303）、透明板（304）、挡杆（305）、定位杆（306）、卡接槽（307）、限位橡胶块（308）、支撑杆（309）、转动管（310）、支撑框（311）、吸盘（312）、平面镜（313）、固定块（314）、卡接块（315）、转动撑杆（316）和卡接孔（317）；所述测试机体（1）的底端安装有防护外框（301），所述测试机体（1）的底端对应防护外框（301）内侧位置处对称安装有两个滑动杆（302），两个所述滑动杆（302）的内侧均滑动安装有卡接杆（303），两个所述卡接杆（303）之间安装有透明板（304），所述透明板（304）的前端安装有挡杆（305），所述透明板（304）的顶端卡接有定位杆（306），所述定位杆（306）的一端底部开设有卡接槽（307），所述定位杆（306）的另一端和卡接槽（307）内均胶接有限位橡胶块（308）；所述透明板（304）底端安装有支撑杆（309），所述支撑杆（309）底部转动安装有转动管（310），所述转动管（310）的外侧安装有支撑框（311），所述支撑框（311）的底端安装有吸盘（312），所述支撑框（311）的顶端嵌入安装有平面镜（313），所述滑动杆（302）的侧端中部安装有固定块（314），所述滑动杆（302）的侧端与支撑框（311）的侧端均安装有卡接块（315），所述固定块（314）外侧转动套接有转动撑杆（316），所述转动撑杆（316）的两端部均开设有卡接孔（317）。2.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述支撑杆（309）的底部安装有固定圆杆，所述转动管（310）转动套接于固定圆杆外部。3.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述卡接块（315）的端部胶接有橡胶块，所述卡接孔（317）的内侧胶接有橡胶环，所述卡接孔（317）内径与卡接块（315）的直径相等。4.权利要求1所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述测试机体（1）的前端安装有补光组件（4）；所述补光组件（4）包括限位铁板（401）、安装块（402）、转动板（403）、磁铁片（404）、安装杆（405）、灯管（406）和透光面板（407）；所述测试机体（1）的顶端固定安装有限位铁板（401），所述测试机体（1）的前端顶部对称安装有安装块（402），两个所述安装块（402）之间转动安装有转动板（403），所述转动板（403）的前端面顶部胶接有磁铁片（404），所述转动板（403）的后端边部连接有安装杆（405），所述转动板（403）的后端对应安装杆（405）位置处安装有灯管（406），所述安装杆（405）的后端面胶接有透光面板（407）。5.根据权利要求4所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述限位铁板（401）的前端部水平向上倾斜30度，所述磁铁片（404）与限位铁板（401）磁吸连接；所述灯管（406）的输入端与外部电源的输出端电性连接。6.根据权利要求1所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于：所述测试机体（1）内部包括采用fpga为核心的数据处理器件、存储器部件和芯片测试部件。7.根据权利要求6所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述采用fpga为核心的数据处理器件负责时钟处理模块、timing信号产生模块、参数储存模块、ddr读写控
制模块、数据格式模块、实时比较模块和采集窗口控制模块。8.根据权利要求6所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述存储器部件包括芯片逻辑存储器、信号方向存储器和期望存储器，芯片逻辑存储器存储测试激励数据以及一些同步信息，信号方向存储器存储通道的方向信息，期望存储器存储接收数据的期望值。9.根据权利要求6所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述芯片测试部件使用的芯片支持的最小脉宽为10ns，每个芯片包含8个测试通道，每个通道包含1个驱动器和1个双比较器。10.根据权利要求9所述的基于fpga的芯片逻辑测试装置，其特征在于，所述驱动器的最大摆幅达到8v，比较器的最大输入范围达16v。

技术总结
本发明公开了基于FPGA的芯片逻辑测试装置，包括测试机体和支撑腿，所述测试机体的底端安装有支撑腿，所述测试机体的底端安装有芯片放置组件，所述测试机体的底端安装有防护外框，所述测试机体的底端对应防护外框内侧位置处对称安装有两个滑动杆，本发明通过设置防护外框、滑动杆、卡接杆、透明板、挡杆、定位杆、卡接槽和限位橡胶块，将安装有芯片的PCB板放置在透明板的表面，使PCB板的边部卡接于卡接杆和挡杆的内侧，再将定位杆沿着透明板移动至PCB板的一边部，再将定位杆一端部的卡接槽与透明板边部卡接，将定位杆另一端部卡接于挡杆内侧，从而使定位杆固定，对PCB板进行限位，方便测试时芯片保持固定不易移动。便测试时芯片保持固定不易移动。便测试时芯片保持固定不易移动。


技术研发人员：钱裕香 周春晓 袁宝弟
受保护的技术使用者：无锡市软测认证有限公司
技术研发日：2022.03.08
技术公布日：2022/6/1