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一种用于SERF原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置的制作方法

2022-06-08 13:16:04 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:包括沿光路方向设置的光源、分光反射机构、双光束间距调节机构,所述光源用于为装置提供稳定的检测激光,所述分光反射机构用于对检测激光进行分束并反射给双光束间距调节机构,双光束间距调节机构用于对反射过来的两束激光进行间距调节后输出。2.根据权利要求1所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的光源包括激光器,其用于发射单色相干光。3.根据权利要求1所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的分光反射机构包括分光镜和若干反射镜,所述分光镜用于将单色相干光源激光器发射的单色相干光分成透射光和反射光,透射光和反射光分别经过反射镜的反射后输出给双光束间距调节机构。4.根据权利要求1所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的双光束间距调节机构包括位移定位机构和三角反射机构,位移定位机构可沿水平方向移动,三角反射机构固定在位移定位机构朝向出射光方向的一端。5.根据权利要求2所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的单色相干光沿水平方向。6.根据权利要求3所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述分光镜的分光面与水平方向的夹角为45度。7.根据权利要求4所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的三角反射机构设有上反射面和下反射面,上反射面和下反射面垂直且与水平方向的夹角均为45度。8.根据权利要求7所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述的上反射面和下反射面分别接收来自分光反射机构的两束光,并使它们沿水平方向出射。9.根据权利要求8所述的一种用于serf原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,其特征在于:所述射向上反射面和下反射面的两束光在同一竖直平面上。

技术总结
本发明涉及一种用于SERF原子磁强计磁场测量的可调双光束产生装置,属于光学磁强计领域。SERF原子磁强计具有极高的磁场测量灵敏度,其装置对稳定的零磁场环境依赖性大,磁场检测极易受外界环境磁噪声影响。由于其检测光仅有一束,所以限制了SERF原子磁强计的检测精度与灵敏度。本发明设计的装置是,在SERF原子磁强计单束检测光的平行方向上增加一束可调节的检测光来使输出噪声减小、信号响应变强,再通过输出响应信号调节补偿和提高SERF原子磁强计的检测精度与灵敏度。本发明具有成本低、结构简单、调节范围大、调节精密程度高,易于维护等优点,未来可应用于超高精度极弱磁测量、心脑磁测量等高精度、高灵敏度的磁场信号测量等领域。测量等领域。测量等领域。


技术研发人员:王子轩 张宁 陆吉玺 于婷婷 郭强 孙雨佳
受保护的技术使用者:之江实验室
技术研发日:2022.03.07
技术公布日:2022/6/7
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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