一种过欠压检测电路的制作方法

技术特征：
1.一种过欠压检测电路，其特征在于，所述过欠压检测电路包括：一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。2.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源接入所述电压检测引脚。3.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述电流支路包括：一电流源，所述电流源的电流输入端连接于所述电压检测引脚，所述电流源的电流输出端接地。4.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述电流支路包括：一供流电阻，所述供流电阻的一端接入预设电压，所述供流电阻的另一端连接于所述电压检测引脚。5.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述电阻支路包括：第一检测电阻和第二检测电阻，所述第一检测电阻的一端接入被测电压，所述第一检测电阻的另一端连接于所述第二检测电阻的一端及所述电压检测引脚，所述第二检测电阻的另一端接地。6.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述待检测芯片包括：过压比较器、欠压比较器及逻辑控制器，其中，所述过压比较器的第一输入端连接于所述电压检测引脚，其第二输入端接入过压基准，其输出端连接于所述逻辑控制器，用于对所述电压检测引脚处的电压和所述过压基准进行比较，并输出比较结果；所述欠压比较器的第一输入端连接于所述电压检测引脚，其第二输入端接入欠压基准，其输出端连接于所述逻辑控制器，用于对所述电压检测引脚处的电压和所述欠压基准进行比较，并输出比较结果；所述逻辑控制器用于根据所述过压比较器及所述欠压比较器输出的比较结果判断所述待检测芯片是否处于过压状态或欠压状态。7.根据权利要求1所述的过欠压检测电路，其特征在于，所述待检测芯片包括电源芯片。

技术总结
本发明提供一种过欠压检测电路，所述过欠压检测电路包括：一待检测芯片，所述待检测芯片具有一电压检测引脚；电流支路，设于所述待检测芯片的内部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电压检测引脚处提供一不为零的电流；电阻支路，设于所述待检测芯片的外部并与所述电压检测引脚连接，用于在所述电流支路的作用下，设定过压保护点和欠压保护点，同时调节两者的比例，从而实现对所述待检测芯片的过压保护和欠压保护。通过本发明提供的过欠压检测电路，解决了现有检测电路因U1


技术研发人员：盛欢 李亮 林昌全 吴泉清 萧硕
受保护的技术使用者：华润微集成电路（无锡）有限公司
技术研发日：2020.12.08
技术公布日：2022/6/10