一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法与流程

技术特征：
1.一种基于图像传感器的坏点检测方法，其特征在于，该坏点检测方法包括：s1、计算待检测点水平方向上相邻的两个像素点的亮度值的平均值；s2、图像坏点的判断；当待检测点的亮度值与相邻两像素点的亮度平均值的差值的绝对值大于阈值th时，判定该待检测点c为坏点；所述阈值th用来表征待检测点的亮度值与相邻像素点亮度值的差值的幅度；按照上述步骤s1、s2的顺序，依次循环检测每一个像素点从而识别出所有坏点。2.一种基于图像传感器的坏点补偿方法，其特征在于，该坏点补偿方法包括：t1、以像素列的形式插入备用像素点，形成备用像素列；t2、采用如权利要求1所述的坏点检测方法，识别出坏点；t3、存储坏点位置信息；t4、根据距离最近原则进行坏点的替换；所述坏点的替换包括以下步骤：4.1、根据坏点与备用像素列的水平距离，选出可使用的备用像素列；4.2、将与坏点在同一水平位置的相邻像素点至所述步骤4.1所选出的可使用的备用像素列的对应像素点的整段像素，沿水平方向向坏点位置平移；t5、无效像素点的去除；所述无效像素点包括被替换的坏点、未被启用的备用像素点。3.根据权利要求2所述的坏点补偿方法，其特征在于，所述步骤t1中备用像素列均匀地分布在普通像素间或备用像素列集中分布在普通像素的两侧。4.根据权利要求2所述的坏点补偿方法，其特征在于，所述步骤t3中坏点位置信息包括坏点的横坐标信息，该坐标信息在每一行开始时进行复位。5.根据权利要求2所述的坏点补偿方法，其特征在于，所述步骤t5中无效像素点的去除包括：将所有像素信息按数据输出顺序写入sram；所述像素信息包括所有像素点的亮度值、无效像素点的位置；像素信息的读出时，先将无效像素点信息读出，然后再按顺序读出像素数据，在sram读出后增设缓冲器fifo，写入缓冲器fifo时，无效像素点将不被写入。6.一种基于图像传感器的坏点补偿系统，其特征在于，该坏点补偿系统包括：坏点检测模块，用于根据待检测点的亮度值与相邻像素点亮度值的差值的幅度判断并识别出坏点；存储模块，用于存储坏点的位置信息；坏点替换模块，用于将筛选出来的备用像素点替换坏点；无效像素点去除模块，用于在像素读出时将被替换的坏点、未被启用的备用像素点的信息去除。7.根据权利要求6所述的基于图像传感器的坏点补偿系统，其特征在于，所述坏点检测模块包括：阈值设定单元，用于根据场景的明暗变化设置阈值th；计算与判断单元，用于计算待检测点的亮度值与相邻像素点平均亮度值的差值，并将
该计算值与阈值th进行比较，判断待检测点是否为坏点；所述坏点替换模块包括：坏点与备用像素列的距离计算单元，用于计算坏点与备用像素列的水平距离。

技术总结
本发明公开了一种基于图像传感器的坏点检测及补偿方法，该方法步骤包括：插入备用像素列、坏点检测与识别、坏点位置信息存储、坏点替换、无效像素点的去除。本发明还公开了坏点补偿系统，包括坏点检测模块、存储模块、坏点替换模块、无效像素点去除模块。该坏点检测及补偿方法，能够提高数据的可靠性，实时地对坏点进行检测与补偿。进行检测与补偿。


技术研发人员：ꢀ(51)Int.Cl.H04N17/00
受保护的技术使用者：四川创安微电子有限公司
技术研发日：2022.04.27
技术公布日：2022/6/24