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采样时刻失配的校准方法、系统、计算机设备及存储介质与流程

2022-06-29 16:18:23 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种采样时刻失配的校准方法,用于对包括n个子通道的时间交织多通道模数转换器进行校准,其中,n不小于2,其特征在于,该方法包括:选取其中一个所述子通道作为参考子通道,其余子通道作为待校准子通道;控制所述时间交织多通道模数转换器进行连续采样;在所述连续采样过程中,针对每个所述子通道,对该子通道与该子通道的下一个子通道的采样值进行互相关运算,并将得到的互相关运算结果作为与该子通道对应的互相关值;根据各所述待校准子通道对应的互相关值、以及所述参考子通道对应的互相关值,对各所述待校准子通道的采样时刻进行校准,直至各所述待校准子通道对应的互相关值与所述参考子通道对应的互相关值匹配。2.如权利要求1所述的采样时刻失配的校准方法,其特征在于,当输入信号与所述时间交织多通道模数转换器的采样时钟不相干时,所述控制所述时间交织多通道模数转换器进行连续采样,包括:控制所述n个子通道以固定顺序进行连续采样。3.如权利要求1所述的采样时刻失配的校准方法,其特征在于,当输入信号与所述时间交织多通道模数转换器的采样时钟相干时,所述控制所述时间交织多通道模数转换器进行连续采样,包括:从所述n个子通道中选取m个有效子通道,其中m小于n;控制所述n个子通道以随机顺序进行连续采样,其中,对于每个子通道,若该子通道在某时刻采样,则该子通道在该时刻之后的m-1时刻内不采样。4.如权利要求1所述的采样时刻失配的校准方法,其特征在于,所述针对每个所述子通道,对该子通道与该子通道的下一个子通道的采样值进行互相关运算,包括:针对某子通道x,按照如下公式对该子通道x与该子通道的下一个子通道y的采样值进行互相关运算,得到互相关运算结果r
xy
:其中,data(x
i
)表示该子通道x的第i个采样值,data(y
i
)表示该子通道的下一个子通道y的第i个采样值,n表示该子通道x的采样数。5.如权利要求1所述的采样时刻失配的校准方法,其特征在于,所述根据各所述待校准子通道对应的互相关值、以及所述参考子通道对应的互相关值,对各所述待校准子通道的采样时刻进行校准,包括:针对某待校准子通道x,根据如下公式计算该待校准子通道x的时间调节量δtmis(x):δtmis(x)=μ
×
sgn(r
参考-r
xy
)其中,μ表示该校准子通道x的时间调节步长,sgn表示符号判别函数,sgn(正数)=1,sgn(负数)=-1,r
参考
表示所述参考子通道对应的互相关值,r
xy
表示所述待校准子通道x对应的互相关值;当δtmis(x)>0时,将所述待校准子通道x的采样时刻延时所述时间调节量δtmis(p);当δtmis(x)<0时,将所述待校准子通道x的采样时刻提前所述时间调节量δtmis
(p)。6.一种采样时刻失配的校准系统,用于对包括n个子通道的时间交织多通道模数转换器进行校准,其中,n不小于2,其特征在于,该系统包括:选取模块,用于选取其中一个所述子通道作为参考子通道,其余子通道作为待校准子通道;采样控制模块,用于控制所述时间交织多通道模数转换器进行连续采样;互相关运算模块,用于在所述连续采样过程中,针对每个所述子通道,对该子通道与该子通道的下一个子通道的采样值进行互相关运算,并将得到的互相关运算结果作为与该子通道对应的互相关值;校准模块,用于根据各所述待校准子通道对应的互相关值、以及所述参考子通道对应的互相关值,对各所述待校准子通道的采样时刻进行校准,直至各所述待校准子通道对应的互相关值与所述参考子通道对应的互相关值匹配。7.如权利要求6所述的采样时刻失配的校准系统,其特征在于,当输入信号与所述时间交织多通道模数转换器的采样时钟不相干时,所述采样控制模块具体用于:控制所述n个子通道以固定顺序进行连续采样。8.如权利要求6所述的采样时刻失配的校准系统,其特征在于,当输入信号与所述时间交织多通道模数转换器的采样时钟相干时,所述采样控制模块具体用于:从所述n个子通道中选取m个有效子通道,其中m小于n;控制所述n个子通道以随机顺序进行连续采样,其中,对于每个子通道,若该子通道在某时刻采样,则该子通道在该时刻之后的m-1时刻内不采样。9.如权利要求6所述的采样时刻失配的校准系统,其特征在于,针对某子通道x,所述互相关运算模块按照如下公式对该子通道x与该子通道的下一个子通道y的采样值进行互相关运算,得到互相关运算结果r
xy
:其中,data(x
i
)表示该子通道x的第i个采样值,data(y
i
)表示该子通道的下一个子通道y的第i个采样值,n表示该子通道x的采样数。10.如权利要求6所述的采样时刻失配的校准系统,其特征在于,所述校准模块具体用于:针对某待校准子通道x,根据如下公式计算该待校准子通道x的时间调节量δtmis(x):δtmis(x)=μ
×
sgn(r
参考-r
xy
)其中,μ表示该校准子通道x的时间调节步长,sgn表示符号判别函数,sgn(正数)=1,sgn(负数)=-1,r
参考
表示所述参考子通道对应的互相关值,r
xy
表示所述待校准子通道x对应的互相关值;当δtmis(x)>0时,将所述待校准子通道x的采样时刻延时所述时间调节量δtmis(p);当δtmis(x)<0时,将所述待校准子通道x的采样时刻提前所述时间调节量δtmis(p)。11.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算
机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。12.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

技术总结
本发明公开了一种采样时刻失配的校准方法、系统、电子设备及存储介质,该方法包括:选取TIADC的一个子通道作为参考子通道,其余子通道作为待校准子通道;在连续采样过程中对每个子通道与该子通道的下一个子通道的采样值进行互相关运算,根据各所述待校准子通道对应的互相关值以及所述参考子通道对应的互相关值,对各所述待校准子通道的采样时刻进行校准,直至各所述待校准子通道对应的互相关值与所述参考子通道对应的互相关值匹配。本发明通过将TIADC中的一个子通道作为校准通道进行校准采样,减少了整个电路的开销,在不引入额外校准通道的前提下提高了校准速度和校准精度。校准通道的前提下提高了校准速度和校准精度。校准通道的前提下提高了校准速度和校准精度。


技术研发人员:毛祚伟 张辉 李丹 王海军 富浩宇 张浩松
受保护的技术使用者:上海贝岭股份有限公司
技术研发日:2020.12.24
技术公布日:2022/6/28
再多了解一些

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