电容按键检测方法、芯片和电子设备与流程

技术特征：
1.一种电容按键检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取第一检测值和第二检测值，其中，所述第一检测值为第一检测模块检测到的值，所述第二检测值为第二检测模块检测到的值，所述第一检测模块的检测端连接于电容按键的电极，所述第二检测模块的检测端为悬空状态；根据所述第一检测值和所述第二检测值判断所述电容按键是否被触摸。2.如权利要求1所述的电容按键检测方法，其特征在于，所述获取所述第一检测值和第二检测值之前，所述方法还包括：配置所述第一检测模块和所述第二检测模块同时进行数据检测，以同时获取所述第一检测值和第二检测值。3.如权利要求1所述的电容按键检测方法，其特征在于，所述根据所述第一检测值和所述第二检测值判断所述电容按键是否被触摸，包括：计算所述第一检测值与第一基线值之间的差值，得到第一差值，所述第一基线值为所述电容按键未被触摸时，所述第一检测模块所检测的值；计算所述第二检测值与第二基线值之间的差值，得到第二差值，所述第二基线值为所述电容按键未被触摸时，所述第二检测模块所检测的值；根据所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值；根据所述修正差值判断所述电容按键是否被触摸。4.如权利要求3所述的电容按键检测方法，其特征在于，所述根据所述修正差值判断所述电容按键是否被触摸，包括：判断所述修正差值是否大于预设阈值；当判断所述修正差值为大于所述预设阈值，则判断所述电容按键为被触摸；当判断所述修正差值为小于或等于所述预设阈值，则判断所述电容按键为未被触摸。5.如权利要求3所述的电容按键检测方法，其特征在于，所述根据所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值，包括：通过如下公式修正所述第一差值，得到所述修正差值：xa
′
＝xa*(1-xb/db)；其中，xa
′
表示所述修正差值，xa表示所述第一差值，xb表示所述第二差值，db表示所述第二检测值。6.一种电容按键检测芯片，其特征在于，所述检测芯片包括芯片内核、第一检测模块和第二检测模块；所述第一检测模块，用于对电容按键进行检测得第一检测值；所述第二检测模块，用于对所述电容按键的环境进行检测得到第二检测值；所述芯片内核，用于获取所述第一检测值和第二检测模块，并根据所述第一检测值和所述第二检测值判断电容按键是否被触摸。7.如权利要求6所述的电容按键检测芯片，其特征在于，所述芯片内核用于：配置所述第一检测模块和所述第二检测模块同时进行数据检测，以同时获取所述第一检测值和第二检测值。8.如权利要求6所述的电容按键检测芯片，其特征在于，所述芯片内核用于：计算所述第一检测值与第一基线值之间的差值，得到第一差值，所述第一基线值为所
述电容按键未被触摸时，所述第一检测模块所检测的值；计算所述第二检测值与第二基线值之间的差值，得到第二差值，所述第二基线值为所述电容按键未被触摸时，所述第二检测模块所检测的值；根据所述第二差值修正所述第一差值，得到修正差值；根据所述修正差值判断所述电容按键是否被触摸。9.如权利要求8所述的电容按键检测芯片，其特征在于，所述芯片内核用于：判断所述修正差值是否大于预设阈值；当判断所述修正差值为大于所述预设阈值，则判断所述电容按键为被触摸；当判断所述修正差值为小于或等于所述预设阈值，则判断所述电容按键为未被触摸。10.一种电子设备，其特征在于，包括电容按键和如权利要求6-9任一项所述的电容按键检测芯片。

技术总结
本发明公开了一种电容按键检测方法、芯片和电子设备，用于减少电容按键的误判。其中，方法部分包括：获取第一检测值和第二检测值，其中，第一检测值为第一检测模块检测到的值，第二检测值为第二检测模块检测到的值，第一检测模块的检测端连接于电容按键的电极，第二检测模块的检测端为悬空状态；根据第一检测值和第二检测值判断电容按键是否被触摸。二检测值判断电容按键是否被触摸。二检测值判断电容按键是否被触摸。


技术研发人员：李振刚 黄臣
受保护的技术使用者：比亚迪半导体股份有限公司
技术研发日：2020.12.25
技术公布日：2022/6/28