一种滤线栅检测装置的制作方法

技术特征：
1.一种滤线栅检测装置，其特征在于，包括：暗箱；光源，设置于所述暗箱内且设置于所述暗箱的顶端；探测器，放置于所述暗箱内，并且位于所述光源的下方，所述光源发出的光线透过滤线栅投射至所述探测器上。2.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，还包括：升降装置，设置于所述暗箱内且设置于所述暗箱的底端，所述探测器放置于所述升降装置靠近所述光源的一侧。3.根据权利要求2所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述升降装置沿所述暗箱的底端至顶端依次包括：底座，与所述暗箱的底端贴合；升降机构，与所述底座固定连接，并沿所述暗箱的底端向顶端往复移动；置物台，与所述升降机构固定连接，并跟随所述升降机构移动，所述探测器设置于所述置物台上。4.根据权利要求3所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述置物台在靠近所述升降机构的表面边缘安装有高度微调装置。5.根据权利要求2所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述升降装置的横截面积小于所述暗箱的横截面积。6.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，还包括：防散射装置，覆盖所述探测器的表面，穿过滤光栅的光透过所述防散射装置至所述探测器。7.根据权利要求6所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述防散射装置为光纤板或平行光管。8.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述光源的周围还覆盖有光纤罩，以将所述光源发出的光汇聚为锥形。9.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述暗箱的箱壁表面覆盖有避光材料。10.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述探测器的像素大小小于或等于50μm。

技术总结
本实用新型公开了一种滤线栅检测装置，该滤线栅检测装置包括暗箱、探测器和光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器放置于暗箱的内部，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。使用本实用新型所述的滤线栅检测装置进行检测时，光源在暗箱内透过滤线栅后投射至探测器上，在探测器上形成清晰的滤线栅的形貌，快速有效的检测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况，避免了人工检测的误差，有效提高了检测效率，降低了人工成本。工成本。工成本。


技术研发人员：辛胜 袁钰函 朱翀煜 金利波
受保护的技术使用者：奕瑞影像科技（海宁）有限公司
技术研发日：2022.06.07
技术公布日：2022/11/10