电磁辐射分析方法和装置与流程

本申请涉及电磁辐射定位，特别是涉及一种电磁辐射分析方法和装置。

背景技术：

1、随着5g通信、智能驾驶、智能手机和高性能计算等领域的发展，电路集成度不断提升，内部时钟频率和转换速率迅速提高，导致电磁干扰（emi）问题日益严重。

2、当前，近场扫描系统通过电场探头和磁场探头对无线通信终端、集成电路、汽车电子、芯片及显示器等电子设备的电磁场进行逐点检测。该系统可以分析测试区域内的电场和磁场值，快速定位和分析干扰源，有效解决电磁干扰问题。此外，近场扫描设备的配置成本较低，已被纳入国际iec 61967标准。然而，由于现有的近场扫描方案进行逐点检测，数据收集过程耗时较长，且近场扫描依赖于传动机构，而传动机构本身也影响了近场扫描的精度。

3、现有的电磁辐射分析方法，存在近场扫描成本高和产品研发效率低的技术问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种电磁辐射分析方法和一种电磁辐射分析装置。

2、为了实现上述目的，本发明实施例采用以下技术方案：

3、一方面，提供一种电磁辐射分析方法，包括：

4、获得各位置的预处理数据，根据各预处理数据构建基准信号数据库，根据基准信号数据库构建阈值库；阈值库包括各位置对应各频率的阈值；

5、根据各位置获取待测电路板测试状态时的信号；待测电路板位于金属腔体内部进行测试；

6、对获得的各测试状态时的信号进行反转处理，获得各反转信号，将各反转信号分别按照各位置对应与各预处理数据进行卷积计算，获得各卷积后最大值；

7、根据各卷积后最大值和阈值库，获得分析结果。

8、另一方面，还提供一种电磁辐射分析装置，包括：

9、阈值库模块，用于获得各位置的预处理数据，根据各预处理数据构建基准信号数据库，根据基准信号数据库构建阈值库；阈值库包括各位置对应各频率的阈值；

10、信号获取模块，用于根据各位置获取待测电路板测试状态时的信号；待测电路板位于金属腔体内部进行测试；

11、信号处理模块，用于对获得的各测试状态时的信号进行反转处理，获得各反转信号，将各反转信号分别按照各位置对应与各预处理数据进行卷积计算，获得各卷积后最大值；

12、分析模块，用于根据各卷积后最大值和阈值库，获得分析结果。

13、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

14、上述电磁辐射分析方法和装置，通过利用基准信号数据库和阈值库减少对复杂传动结构的依赖，降低了扫描设备的成本，同时通过快速定位和精确分析电磁干扰源，提高了测试效率和产品性能优化速度，从而显著提升了电子产品的研发效率，缩短了开发周期并降低了研发成本。

技术特征：

1.一种电磁辐射分析方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述获得分析结果之后还包括：

3.根据权利要求2所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述金属腔体为矩形腔体，且长为宽的整数倍。

4.根据权利要求2所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述根据各所述位置获取待测电路板测试状态时的信号的步骤包括：

5.根据权利要求1或2所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述获得各位置的预处理数据的过程，包括：

6.根据权利要求4所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述获得各位置的预处理数据的过程，包括：

7.根据权利要求3所述的电磁辐射分析方法，其特征在于，所述获得各位置的预处理数据的过程，包括：

8.电磁辐射分析装置，其特征在于，包括：

9.根据权利要求8所述的电磁辐射分析装置，其特征在于，还包括：

10.根据权利要求9所述的电磁辐射分析装置，其特征在于，还包括：

技术总结本申请涉及一种上述电磁辐射分析方法和装置，首先，获得各位置的预处理数据并据此构建基准信号数据库和阈值库，该阈值库包含不同位置对应的频率阈值。然后，在金属腔体内部测试待测电路板，获取其测试状态时的信号。对这些信号进行反转处理后，与预处理数据进行卷积计算，获得卷积后的最大值。最后，将这些最大值与阈值库进行比较，以获得分析结果。通过利用基准信号数据库和阈值库减少对复杂传动结构的依赖，降低了扫描设备的成本，同时通过快速定位和精确分析电磁干扰源，提高了测试效率和产品性能优化速度，从而显著提升了电子产品的研发效率，缩短了开发周期并降低了研发成本。技术研发人员：张盛,丁帅受保护的技术使用者：广东智尚防务科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/7/23