预设部分图案组、目标微型LED阵列图案的分解方法、以及像素缺陷的检测方法与流程

本公开总体涉及微型发光二极管(led)，更具体地，涉及一种预设部分图案组、一种分解目标微型led阵列图案以形成预设部分图案组的方法，以及一种利用预设部分图案组检测微型led阵列面板的像素缺陷的方法。

背景技术：

1、面积更小、分辨率更高的微型led在全球日益受到青睐，包含多个微型led的微型led阵列面板可以用来形成各种装置，例如相机模块、投影模块、显示模块、vr/ar光学模块等。

2、然而，由于微型led阵列面板的发光面积及所显示的图像比以前小得多，像素缺陷不易通过常规方法检测和识别。因此，工作人员需要通过图形用户界面显示微型led面板的各种图案来检查晶圆、芯片和掩模，以识别图案缺陷。

3、遗憾的是，通过常规方法，微型led阵列面板的图案缺陷无法在图案中清晰地显示出来。由于相邻led之间存在串扰，所有开启像素的实际图像无法清晰显示像素缺陷。

4、上述内容仅用于帮助理解本公开的技术方案，并非承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

1、为了克服上述缺陷，本公开提供了一种用于检测微型led阵列面板的像素缺陷的将目标像素阵列图案分解成预设部分图案组的方法，以提高微型led阵列面板的像素检测精度。

2、本公开的实施例提供一种目标像素阵列图案的分解方法，用于检测微型led阵列面板的像素缺陷。所述分解方法包括：构建n个预设部分图案；其中，每个预设部分图案中的像素在行方向和/或列方向上彼此相隔至少一个像素；n个预设部分图案堆叠以形成目标像素阵列图案；其中，n为正整数。

3、在一些实施例中，构建n个预设部分图案包括：

4、步骤101，确定分解矩阵，所述分解矩阵包括n个像素；

5、步骤102，确定所述分解矩阵中需要开启的第一像素，形成第一分解矩阵，并沿所述行方向和所述列方向重复所述第一分解矩阵，形成第一预设部分图案；

6、步骤103，确定所述分解矩阵中需要开启的第二像素，形成第二分解矩阵，并沿所述行方向和所述列方向重复所述第二分解矩阵，形成第二预设部分图案；

7、步骤104，重复步骤102和步骤103，直到确定所述分解矩阵中的每个像素都被开启，从而获得所述n个预设部分图案；其中，n为大于4的整数。

8、在一些实施例中，所述分解矩阵至少包括两行或更多行；所述分解矩阵至少包括两列或更多列。

9、在一些实施例中，在预设部分图案中，需要开启的像素沿所述行方向彼此相隔至少一个像素，需要开启的像素沿所述列方向彼此相隔至少一个像素。

10、在一些实施例中，在所述步骤102至所述步骤104中，所述分解矩阵中需要开启的像素按一定顺序逐个确定。

11、在一些实施例中，在所述步骤102至所述步骤104中，所述分解矩阵中需要开启的像素按从左到右、从上到下的顺序逐个确定。

12、在一些实施例中，在不同的预设部分图案中，需要开启的像素的位置不同。

13、在一些实施例中，所述目标像素阵列图案的列数不是所述分解矩阵列数的整数倍，则沿所述行方向的最后一个分解矩阵是不完整的。

14、本公开的实施例还提供一种像素缺陷的检测方法，用于检测微型led阵列面板的像素缺陷，所述检测方法包括：图案分解步骤；包含多次曝光过程的图像采集步骤。

15、在一些实施例中，所述多次曝光过程包括：根据第一预设部分图案开启所述微型led阵列面板中的像素，形成所述微型led阵列的第一部分图案；对所述第一部分图案成像，以获得第一部分图案图像；根据第二预设部分图案开启所述微型led阵列面板中的像素，以形成所述微型led阵列的第二部分图案；对所述第二部分图案成像，获得第二部分图案图像；重复开启像素的步骤和成像的步骤，以形成n个部分图案图像。

16、在一些实施例中，图像采集步骤进一步包括：将所有部分图案图像堆叠在一起，形成整个微型led阵列图像。

17、本公开的实施例提供一种用于多次曝光过程的预设部分图案组，所述预设部分图案组包括多个预设部分图案。所述多个预设部分图案的每个预设部分图案中，需要开启的像素在行方向和/或列方向上彼此相隔至少一个像素；所述多个预设部分图案适于堆叠以形成目标像素阵列图案。

18、在一些实施例中，每个预设部分图案包括一个分解矩阵。所述分解矩阵包含n个像素。所述预设部分图案组包括：第一预设部分图案，通过在行方向和列方向上重复第一分解矩阵而形成，所述第一分解矩阵包括需要开启的第一像素；第二预设部分图案，通过在行方向和列方向重复第二分解矩阵而形成，所述第二分解矩阵包括需要开启的第二像素；第n预设部分图案，通过在行方向和列方向重复第n分解矩阵而形成，所述第n分解矩阵包括需要开启的第n像素；其中，所述目标像素阵列图案由n个预设部分图案堆叠形成；其中，n为不小于2的整数。

19、在一些实施例中，所述分解矩阵至少包括两行或更多行；所述分解矩阵至少包括两列或更多列。

20、在一些实施例中，所述第n预设部分图案中需要开启的像素沿行方向彼此相隔至少一个像素，沿列方向彼此相隔至少一个像素。

21、在一些实施例中，所述分解矩阵中需要开启的像素按照一定顺序逐个形成。

22、在一些实施例中，所述分解矩阵中需要开启的像素按照从左到右、从上到下的顺序逐个形成。

23、在一些实施例中，在每个预设部分图案的同一分解矩阵中，需要开启的像素位于不同的像素位置。

24、在一些实施例中，目标像素阵列图案的列数不是分解矩阵的列数的整数倍，沿行方向的最后一个分解矩阵不包括整个分解矩阵。

25、本公开的许多其他优点和特征将通过以下的详细描述和附图更好地理解。

技术特征：

1.一种目标像素阵列图案的分解方法，用于检测包括微型led阵列的微型led阵列面板中的像素缺陷，所述分解方法至少包括：

2.根据权利要求1所述的分解方法，其特征在于，进一步包括：

3.根据权利要求2所述的分解方法，其特征在于，所述分解矩阵至少包括两行或更多行；所述分解矩阵至少包括两列或更多列。

4.根据权利要求2所述的分解方法，其特征在于，在预设部分图案中，需要开启的像素沿所述行方向彼此相隔至少一个像素，需要开启的像素沿所述列方向彼此相隔至少一个像素。

5.根据权利要求2所述的分解方法，其特征在于，在所述步骤102至所述步骤104中，所述分解矩阵中需要开启的像素按一定顺序逐个确定。

6.根据权利要求5所述的分解方法，其特征在于，在所述步骤102至所述步骤104中，所述分解矩阵中需要开启的像素按从左到右、从上到下的顺序逐个确定。

7.根据权利要求2所述的分解方法，其特征在于，在不同的预设部分图案中，需要开启的像素的位置不同。

8.根据权利要求2所述的分解方法，其特征在于，所述目标像素阵列图案的列数不是所述分解矩阵的列数的整数倍，沿所述行方向的最后一个分解矩阵是不完整的。

9.一种像素缺陷的检测方法，用于检测微型led阵列面板的像素缺陷，其特征在于，包括：

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述多次曝光过程包括：

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，还包括：将所有部分图案图像堆叠在一起以形成整个微型led阵列图像。

12.一种预设部分图案组，其特征在于，用于多次曝光过程，所述预设部分图案组包括：

13.根据权利要求12所述的预设部分图案组，其特征在于，每个预设部分图案包括一个包含n个像素的分解矩阵；以及

14.根据权利要求13所述的预设部分图案组，其特征在于，所述分解矩阵至少包括两行或更多行；所述分解矩阵至少包括两列或更多列。

15.根据权利要求13所述的预设部分图案组，其特征在于，所述第n预设部分图案中需要开启的像素沿行方向彼此相隔至少一个像素，沿列方向彼此相隔至少一个像素。

16.根据权利要求13所述的预设部分图案组，其特征在于，所述分解矩阵中需要开启的像素按照一定顺序逐个形成。

17.根据权利要求16所述的预设部分图案组，其特征在于，所述分解矩阵中需要开启的像素按照从左到右、从上到下的顺序逐个形成。

18.根据权利要求13所述的预设部分图案组，其特征在于，不同的预设部分图案中，需要开启的像素的位置不同。

19.根据权利要求13所述的预设部分图案组，其特征在于，所述目标像素阵列图案的列数不是所述分解矩阵的列数的整数倍，沿行方向的最后一个分解矩阵是不完整的。

技术总结本公开提供了一种预设部分图案组和形成预设部分图案组的方法。在预设图案组中包含的多个预设图案，每个预设图案中需要开启的像素在行方向和/或列方向上彼此相隔至少一个像素。多个预设部分图案堆叠在一起，形成目标像素阵列图案。技术研发人员：徐晨超,岳杨,李起鸣受保护的技术使用者：上海显耀显示科技有限公司技术研发日：技术公布日：2024/9/9