磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法与流程

磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法
[0001]
本申请享受以日本专利申请2019-157085号(申请日：2019年8月29日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
[0002]
实施方式涉及磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。


背景技术：

[0003]
由于漂移写(drift off write，dow)、相邻磁道干扰(ati)等而从周边受到了影响的扇区，与通常的扇区相比较，有时会产生信号输出的下降、噪声的增加、中心错位等，在从成为了这样的状态的错误扇区读数据的情况下，会成为容易发生读错误的状态。通常，读通道等的各种处理中所使用的参数在出厂前针对每个磁头、每个分区(zone)而调校为最佳值，但是，在错误扇区的情况下，如前所述处于与初始的状态迥异的状态，所以，成为了已经不能说是最佳的参数的状态。
[0004]
因此，在对错误扇区再次读数据的读错误重试时，通过有意地使这些参数变化、或者使用错误扇区自身重新调整参数，来尝试救济。尤其是后者的方法非常有效，主要通过使用错误扇区使得读通道的fir(finite impulse response filter，有限脉冲响应滤波器)、ddnp(data dependent noise predictive，数据相关噪声预测)维特比检测那样的模式(pattern)依存的噪声修正功能的参数进行再学习，来获得高的错误救济率。


技术实现要素：

[0005]
本发明的实施方式提供能够高效地进行参数的再学习而能够使重试时间最小化的磁盘装置及磁盘装置的读错误重试方法。
[0006]
一实施方式的磁盘装置具备磁盘、读头、读通道、以及控制部。读头从磁盘读数据。读通道具有处理来自读头的输出的电路。控制部在从读通道的输出中检测到读错误的情况下，搜索在设定读通道的参数时成为训练读的对象的预定的扇区，对该搜索到的扇区进行训练读，通过训练读而使电路的参数变化，再次读错误扇区。另外，预定的扇区是测定包含错误扇区的磁道内的各扇区的误码率(error bit rate)值而具有相对于错误扇区的误码率值为一定范围内的误码率值、且按预定扇区数以上连续配置的扇区。
附图说明
[0007]
图1是示出第1实施方式的磁盘装置的构成的一例的图。
[0008]
图2是示出第1实施方式的r/w通道的读通道的构成的一例的图。
[0009]
图3是示出第1实施方式的读错误的重试的处理的一例的流程图。
[0010]
图4是示出第1实施方式的错误磁道的每个扇区的ber的测定结果的一例的图。
[0011]
图5是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
[0012]
图6是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
[0013]
图7是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
[0014]
图8是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
[0015]
图9是用于对第1实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
[0016]
图10是示出第2实施方式的在读错误的重试的处理中追加了处理的情况下的一例的流程图。
[0017]
图11是示出第2实施方式的不存在按x以上连续配置的扇区且在同一磁道内不存在x以上的扇区但存在y以上的扇区的情况下的一例的图。
[0018]
图12是示出第3实施方式的在读错误的重试的处理中追加了处理的情况下的一例的流程图。
[0019]
图13是用于对第3实施方式的检测具有处于相对于错误扇区的ber值为一定范围内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明的图。
具体实施方式
[0020]
以下，参照附图对实施方式进行说明。此外，公开只不过是一例，发明不受以下的实施方式中记载的内容所限定。本领域技术人员能够容易想到的变形当然包含于公开的范围。为了使说明更加明确，在附图中也存在将各部分的尺寸、形状等相对于实际的实施方案变更而示意性地表示的情况。在多个附图中，也存在对于对应的要素标注相同的参照数字并省略详细的说明的情况。
[0021]
(第1实施方式)
[0022]
图1是示出第1实施方式的磁盘装置1的构成的一例的图。
[0023]
如图1所示，磁盘装置1例如构成为硬盘驱动器(hdd)。磁盘装置1具备磁盘2、主轴马达(spm)3、致动器4、音圈马达(vcm)5、磁头10、头放大器ic11、r/w通道12、作为控制部的硬盘控制器(hdc)13、cpu(中央处理装置)14、驱动器ic15、以及存储器16。
[0024]
另外，磁盘装置1能够与主机(主机计算机)17连接。磁头10具备写头(记录头：writer)10w、读头(再现头：reader)10r、以及作为高频振荡元件的自旋转矩振荡器(spin-torque-oscillator：sto)100。此外，r/w通道12、hdc13及cpu14也可以组入1芯片的集成电路。
[0025]
磁盘2例如具有形成为圆板状的由非磁性体形成的基板。在基板的各表面，按记载的顺序层叠有：作为基底层的由呈现软磁特性的材料形成的软磁性层、在软磁性层的上层部的在相对于盘面垂直的方向上具有磁各向异性的磁记录层、和在磁记录层的上层部的保护膜层。在此，将磁头10的方向设为上层。
[0026]
磁盘2固定于主轴马达(spm)3，通过该spm3而以预定的速度旋转。此外，磁盘2不限于1张，也可以将多张磁盘2设置于spm3。spm3由从驱动器ic15供给的驱动电流(或者驱动电压)驱动。磁盘2通过磁头10而记录再现数据模式。
[0027]
致动器4转动自如地设置，并且在其前端部支承有磁头10。通过利用音圈马达(vcm)5使致动器4转动，磁头10被移动、定位于磁盘2的所希望的磁道上。vcm5由从驱动器ic15供给的驱动电流(或者驱动电压)驱动。
[0028]
磁头10具有滑块、形成于滑块的写头10w、自旋转矩振荡器100、以及读头10r。磁头10根据磁盘2的张数而设置多个。
[0029]
头放大器ic11具有记录线圈控制部、再现信号检测部、以及加热器控制部。头放大器ic11将与从r/w通道12供给的写数据相应的写信号(写电流)向写头10w供给。另外，头放大器ic11将从读头10r输出的读信号放大，向r/w通道12传送。记录线圈控制部根据写入信号而控制向写头10w的线圈供给的记录电流。再现信号检测部检测由读头10r再现的信号(读数据)。加热器控制部控制向设置于读头10r的读加热器及设置于写头10w的写加热器的电力供给。即，加热器控制部对加热器的开启/关闭进行切换。
[0030]
r/w通道12是对与读出(读)/写入(写)相关的信号进行处理的信号处理电路。r/w通道12包括执行读数据的信号处理的读通道和执行写数据的信号处理的写通道。r/w通道12将读信号转换为数字数据，从数字数据解调读数据。此外，关于读通道的详情的一例，参照图2后述。另外，r/w通道12将从hdc13转送(传送)的写数据编码，将编码后的写数据向头放大器ic11转送。
[0031]
hdc13控制经由磁头10、头放大器ic11及r/w通道12的、向磁盘2的数据的写入和从磁盘2的数据的读出。hdc13构成磁盘装置1与主机17的接口，执行读数据及写数据的转送控制。即，hdc13作为接收从主机17转送的信号且向主机17转送信号的主机接口控制器而发挥功能。在向主机17转送信号的情况下，hdc13遵从cpu14而执行由磁头10读出并解调后的再现信号的数据的纠错处理。另外，hdc13接收从主机17转送的命令(写命令、读命令等)，将接收到的命令向cpu14发送。
[0032]
cpu14是磁盘装置1的主控制器，执行读/写动作的控制及磁头10的定位所需的伺服控制。
[0033]
驱动器ic15按照cpu14的控制而控制spm3和vcm5的驱动。通过vcm5驱动，磁头10被向磁盘2上的目标磁道安置。
[0034]
存储器16包括易失性存储器及非易失性存储器。例如，存储器16包括由dram构成的缓冲存储器及闪速存储器。存储器16保存cpu14的处理所需的程序及参数。而且，存储器16还保存驱动参数161和错误表162。驱动参数161是在对r/w通道12的读通道从头放大器ic11接收的读信号进行处理的信号处理电路设定的参数。驱动参数161，更具体地说，是在后述的图2的读通道12a所包含的各电路设定的参数。错误表162保存在发生了读错误的情况下对数据的读进行重试的方法和其优先级。例如，在错误表162中，对优先级1设定重读，对优先级2设定偏置(offset)读，对优先级3设定使用本实施方式的训练读的读错误的重试。此外，对数据的读进行重试的方法、其优先级可以任意地设定。
[0035]
在此，对训练读进行说明。进行训练读，在从错误扇区读数据时是有效的，但是，也设想如以下这样的事态。首先，为了使用训练读而使得在读通道12a所包含的各电路设定的参数进行学习，需要通常几十扇区～几百扇区。因而，例如，在仅有1个错误扇区的情况下，成为磁盘每转1圈只能学习1个扇区的量的状况，在这样的状况下，为了使得参数学习，需要大量的时间。其次，在受到dow、ati的影响的情况下，错误扇区前后的多个扇区也成为与错
误扇区同样的状态的情况也较多。在这样的情况下，通过对该范围进行训练读而能够高效地进行参数的再学习，所以，能够期待重试时间的最小化。但是，适于训练读的扇区在哪个场所以何种程度存在，要根据具体情况具体处理，为了对错误扇区进行救济，需要以各种定时和扇区数尝试训练读，还是需要大量的时间。在此，一般，磁盘装置以命令为单位设定有超时时间。因而，若用于使得参数学习的时间达到超时时间，则重试会被中止，向主机报告无法纠正。在这样的情况下，数据也有可能丢失。因此，在进行训练读的情况下，重要的是合适地搜索成为训练读的对象的扇区。关于本实施方式的成为训练读的对象的扇区的搜索方法，使用以下的图3等进行详细说明。
[0036]
图2是示出r/w通道12的读通道12a的构成的一例的图。
[0037]
如图2所示，读通道12a具有vga(variable gain amplifier，可变增益放大器)21、asc(asymmetry correction，不对称校正器)22、模拟滤波器23、a/d转换电路24、数字fir(finite impulse response)滤波器25、维特比检测部26、ddnp(data dependent noise predictive)参数推定部27，作为信号处理电路。来自头放大器ic11的输出，通过vga21、asc22、模拟滤波器23、a/d转换电路24、数字fir滤波器25，从数字fir滤波器向维特比检测部26及ddnp参数推定部27输出。另外，从维特比检测部26向hdc13及ddnp参数推定部27输出。ddnp参数推定部27对来自数字fir滤波器25的输入及来自维特比检测部26的输入进行处理，将处理结果向维特比检测部26输出。
[0038]
vga21是将向读通道12a输入的来自头放大器ic11的信号放大的放大电路。asc22是修正波形的上下非对称的电路。模拟滤波器23是对模拟信号滤波的电路。a/d转换电路24是对模拟/数字进行转换的电路。数字fir滤波器25是数字滤波器(均衡器)。利用模拟滤波器23和数字fir滤波器25进行输入波形的均衡(equalization)。维特比检测部26是处理维特比算法的电路。ddnp参数推定部27是通过维特比算法，进行从有可能包含错误的输入中推定最接近信息源信号的系列的处理的电路，具有按每个输入数据模式预测噪声的相关性而将噪声随机化的功能。此外，在本实施方式中，示出了将维特比检测部26和ddnp参数推定部27分开的情况，但是，也可以构成为：维特比检测部26包含ddnp参数推定部27的功能。
[0039]
在前述的驱动参数161中保存有在这些vga21、asc22、模拟滤波器23、a/d转换电路24、数字fir滤波器25、维特比检测部26及ddnp参数推定部27设定的参数，当从主机17接收到例如读命令时，hdc13将读命令向cpu14转送。cpu14从驱动参数161中读出与由该读命令指定的磁头10、磁盘的位置相应地预先设定的参数，将读出的参数设定于vga21、asc22、模拟滤波器23、a/d转换电路24、数字fir滤波器25、维特比检测部26及ddnp参数推定部27。在像这样在读通道12a设定了参数之后，由hdc13执行基于该读命令的数据的读。
[0040]
接着，对hdc13检测到读错误的情况下的处理进行说明。
[0041]
在hdc13检测到读错误的情况下，在本实施方式中，由于在错误表162中作为优先级1规定了重读，所以hdc13进行该数据的重读。也就是说，再次以相同的参数进行数据的读。例如，在磁头10的移动距离长的情况下，存在由于移动的影响而发生振动从而因该振动而发生读错误的情况。在这样的情况下，通过进行重读，有时读错误消除，所以，首先设为进行重读。
[0042]
在即便进行重读仍检测到读错误的情况下，由于在错误表162中作为优先级2规定了偏置读，所以，hdc13将读头位置和/或rdc(直流电阻)参数的阈值错开而进行数据的读。
例如，hdc13在将在vga21、asc22、模拟滤波器23、a/d转换电路24、数字fir滤波器25、维特比检测部26及ddnp参数推定部27设定了的参数偏置预先设定的量之后，再次执行数据的读。
[0043]
在即便进行偏置仍检测到读错误的情况下，由于在错误表162中作为优先级3规定了读数据的重试，所以，hdc13进行本实施方式的读错误的重试。图3是示出读错误的重试的处理的一例的流程图。此外，在本实施方式中，设为：在进行以下的处理之前，将前述的处理中偏置了的量复原，之后，执行以下的处理。
[0044]
如图3所示，hdc13首先测定具有检测到错误的扇区的错误磁道的每个扇区的ber(bit error rate)(st101)。在此，图4是示出错误磁道的每个扇区的ber的测定结果的一例的图。横轴表示各扇区(0～600)，纵轴表示ber的值。另外，err表示错误扇区。
[0045]
接着，hdc13搜索相对于错误扇区的ber值为一定范围w1内的扇区(st102)。具体地说，hdc13首先取得错误扇区err的ber值，搜索具有相对于该取得的ber值为一定范围w1的ber值的扇区。在此，一定范围w1设为预先设定。在图4中，示出了从270前后的扇区到320前后的扇区的扇区范围r1连续地包含于一定范围w1的情况。
[0046]
接着，hdc13基于作为一定范围w1内而搜索到的扇区，判定是否存在按x以上连续配置的扇区(st103)。在此，x是预先设定的任意的扇区数，在本实施方式中，设为50扇区。因此，在图4所示的例子中，由于在扇区范围r1中连续包含50扇区以上，所以，判定为存在按x以上连续配置的扇区。
[0047]
在判定为存在按x以上连续配置的扇区的情况下(st103：是)，hdc13判定是否存在多个按x以上连续配置的扇区(st104)。在图4所示的例子中，由于按x以上连续配置的扇区为1个，所以判定为“否”。在判定为存在多个按x以上连续配置的扇区的情况下(st104：是)，hdc13按照优先顺序，选择1个按x以上连续配置的扇区(st105)。在此，优先顺序预先确定，存储于存储器16中。关于优先顺序，参照图8后述。
[0048]
在选择了1个按x以上连续配置的扇区的情况下(st105)，或者在步骤st104中判定为不存在多个按x以上连续配置的扇区的情况下(st104：否)，hdc13对搜索到的连续扇区(按x以上连续配置的扇区)进行训练读(st106)。由此，基于训练读的结果，设定于读通道12a的参数也跟随着而变化。更具体地说，在vga21、asc22、数字fir滤波器25及ddnp参数推定部27(第1电路群)设定着的参数跟随着而变化。一般，关于在vga21、asc22设定着的参数，跟随快，所以，若对1～几扇区进行训练读，则跟随充分。另一方面，关于在数字fir滤波器25及ddnp参数推定部27设定着的参数，跟随慢，所以，也存在需要对几十扇区～几百扇区进行训练读而跟随的情况。因而，在本实施方式中，将连续的扇区的值设为x(50扇区)。此外，关于模拟滤波器23、a/d转换电路24、维特比检测部26(第2电路群)，即便进行训练读，参数也不变化，维持着所设定的参数不变。
[0049]
这样，当在读通道12a的各电路(vga21、asc22、数字fir滤波器25及ddnp参数推定部27)设定的参数变化之后，hdc13对错误扇区的数据读进行重试(st107)。由此，能够执行使用了具有相对于错误扇区err为一定范围w1内的ber值且按x以上连续配置的扇区的训练读，在使在读通道12a的各电路设定的参数变化之后，磁盘装置1能够进行错误扇区err的数据读。
[0050]
另外，在步骤st103中判定为不存在按x以上连续配置的扇区的情况下(st103：否)，hdc13判定搜索到的扇区在磁道内是否存在x以上(st108)。在判定为存在x以上的情况
下(st108：是)，hdc13对搜索到的各扇区进行训练读(跳读)(st109)。由此，能够执行使用了具有相对于错误扇区err为一定范围w1内的ber值且为x以上的扇区的训练读，在使在读通道12a的各电路设定的参数变化之后，磁盘装置1能够进行错误扇区err的数据读。
[0051]
另一方面，在步骤st108中判定为不存在x以上的情况下(st108：否)，hdc13进行错误扇区err单独的训练读(st110)。在该情况下，由于进行训练读的扇区仅存在错误扇区err这1个，所以，需要使磁盘2旋转多次(为了实现与上述的情况同样的精度，为50次)来进行针对错误扇区err的训练读。
[0052]
接着，参照图5～图10，对检测具有相对于错误扇区的ber值处于一定范围w1内的ber值的扇区的情况下的具体例进行说明。在图5～图10中，示出了示意性地将磁道内的扇区配置为一列的情况。另外，用影线表示：扇区的ber值包含于相对于错误扇区err的ber值而言的一定范围w1的扇区。此外，图示的圆形标记表示错误扇区err，图示的左侧成为读时的先头侧的扇区。
[0053]
图5是示出存在包含错误扇区err在内而按x以上连续配置的扇区的扇区群p11(扇区s～扇区e)且在其中央存在错误扇区err的情况下的一例的图。在该情况下，hdc13对扇区群p11的扇区进行训练读，在使读通道12a的第1电路群的参数跟随而变化之后，在下一圈进行错误扇区的读的重试。
[0054]
图6是示出存在包含错误扇区err在内而按x以上连续配置的扇区的扇区群p21(扇区s～扇区e)且错误扇区err存在于扇区群p21的先头扇区s的情况下的一例的图。在该情况下，hdc13与图5的情况同样，对扇区群p11的扇区进行训练读，在使读通道12a的第1电路群的参数跟随而变化之后，在下一圈进行错误扇区的读的重试。
[0055]
图7是示出存在包含错误扇区err在内而按x以上连续配置的扇区的扇区群p31且错误扇区err位于扇区群p31的后端侧(扇区e近旁)，且在比错误扇区err靠先头侧存在按x以上连续配置的扇区的情况下的一例的图。在该情况下，hdc13对扇区群p31的扇区s～扇区e进行训练读，在使读通道12a的第1电路群的参数跟随而变化之后，不等待绕圈地，进行错误扇区的读的重试。
[0056]
图8是示出包含错误扇区err的扇区群p42不具有按x以上连续配置的扇区、有别于该扇区群p42而存在多个按x以上连续配置的扇区的情况下(扇区群p41、扇区群p43)的一例的图。如图8所示，扇区群p41位于比包含错误扇区err的扇区群p42靠先头侧的位置，扇区群p43位于比扇区群p42靠后方侧的位置。在像这样存在多个按x以上连续配置的扇区的情况下，作为优先顺序，hdc13选择处于先头侧的扇区群。在图8所示的例子中，选择扇区群p41。因此，hdc13对扇区群p41的扇区s～扇区e进行训练读，在使读通道12a的第1电路群的参数跟随而变化之后，进行错误扇区err的读。这样，通过将比错误扇区err靠先头侧的扇区群p41作为训练读的对象，能够不等待绕圈地，进行错误扇区err的读的重试。
[0057]
图9是示出虽然不存在按x以上连续配置的扇区但是在同一磁道内存在x以上的扇区的情况下的一例的图。如图9所示，不存在按x以上连续配置的扇区。另一方面，示出了包含错误扇区err的扇区群p53，在其先头侧示出了扇区群(扇区s3～e3)p51、扇区群(扇区s4～e4)p52，在后方侧示出了扇区群(扇区s1～e1)p54、扇区群(扇区s2～扇区e2)p55。若将扇区群p54、p55、p51、p52合计，则为x以上的扇区。在该情况下，hdc13按扇区群p54、扇区群p55、扇区群p51、扇区群p52的顺序进行训练读，在使读通道12a的第1电路群的参数跟随而
变化之后，不等待绕圈地，进行错误扇区的读的重试。
[0058]
如以上那样说明的磁盘装置1，在从来自读通道12a的输出检测到读错误的情况下，在从检测到该读错误的错误扇区再次读数据之前，搜索对于为了设定读通道12a的参数而进行训练读而言最佳的扇区(前述的按x以上连续配置的扇区、x以上的扇区)。然后，对该搜索到的扇区进行训练读，通过训练读而使读通道12a内的第1电路群的参数变化，再次读错误扇区err。因而，磁盘装置1能够利用成为与错误扇区err同样的状态的可能性高的扇区进行训练，在超时前使得参数进行学习。因而，能够高效地进行参数的再学习，能够谋求重试时间的最小化。另外，能够减低成为超时而数据丢失的可能性。
[0059]
(第2实施方式)
[0060]
在判定为不存在前述的x以上的扇区的情况下(st108：否)，若是对错误扇区err进行训练读的方法(st110)，则例如为了对错误扇区err进行50次训练读，需要使磁盘2进行50次旋转，所以，存在花费时间从而达到超时的情况。为了避免这样的状况，在第2实施方式中，在没有搜索到x以上的扇区的情况下增加训练读的次数这一点，与第1实施方式不同。此外，对与第1实施方式相同的构成标注同一标号。
[0061]
图10是示出对前述的图3的读错误的重试的处理追加了处理的情况下的一例的流程图。在本实施方式中，在图3的步骤st108中为“否”的情况下，追加了步骤st201、st202的处理，所以，对步骤st201、st202的处理进行说明。
[0062]
在判定为在磁道内不存在x以上的扇区的情况下(st108：否)，hdc13判定搜索到的扇区在磁道内是否存在y以上(st201)。在此，y是比x小的值，例如是25。图11是示出不存在按x以上连续配置的扇区且在同一磁道内不存在x以上的扇区但存在y以上的扇区群p61的情况下的一例的图。在判定为不存在y以上的情况下(st201：否)，hdc13进入前述的步骤st110的处理。
[0063]
另一方面，在判定为存在y以上的情况下(st201：是)，hdc13将训练读设定为多次(st202)。例如，在y为25的情况下，将训练读的次数设定为2次。由此，能够进行针对50个扇区的训练读。也就是说，进行训练读的次数，只要与ber值处于一定范围w1内的扇区数相应地变化即可，设定为通过搜索到的扇区数
×
训练读的次数来超过前述的x扇区数即可。在设定了训练读的次数之后，通过对ber值处于一定范围w1的扇区群p61进行多次训练读，hdc13在使读通道12a内的第1电路群(vga21、asc22、数字fir滤波器25及ddnp参数推定部27)的参数跟随而变化之后，进行错误扇区的读的重试(st110)。
[0064]
如以上那样，通过将训练读的次数设为多次，即便在磁道内具有相对于错误扇区err的ber值为一定范围w1内的ber值的扇区比第1实施方式的情况少的情况下，磁盘装置1也能够起到与第1实施方式同样的效果。也就是说，磁盘装置1能够高效地进行参数的再学习，能够减少重试时间。另外，能够减低成为超时而数据丢失的可能性。
[0065]
(第3实施方式)
[0066]
第3实施方式，在没有搜索到x以上的扇区的情况下通过扩大一定范围w1的范围而使被搜索的扇区增加这一点，与第2实施方式不同。此外，对与第1实施方式相同的构成标注同一标号。
[0067]
图12是示出对前述的图3的读错误的重试的处理追加了处理的情况下的一例的流程图。在本实施方式中，在图3的步骤st108中为“否”的情况下，追加了步骤st301的处理，所
以，对步骤st301的处理进行说明。
[0068]
在判定为搜索到的扇区在磁道内不存在x以上的情况下(st108：否)，hdc13将一定范围w1扩大为w2(>w1)(st301)。然后，处理返回步骤st101。通过像这样将一定范围w1扩大为一定范围w2，能够增加成为相对于错误扇区err的ber值为一定范围w2的ber值的扇区的数量，也就是被搜索的扇区数。图13是示出将以一定范围w1和一定范围w2搜索的扇区的数量进行比较的一例的图。即便在图13的上侧的一定范围w1的情况下搜索的扇区数为y(<x)时，通过扩大为一定范围w2，在图13的下侧的一定范围w2的情况下，搜索的扇区数成为x。此外，在本实施方式中，以在扩大为一定范围w2之后返回步骤st101的处理而再次测定磁道内的扇区的ber值的情况进行了说明，但是，在保持着在一定范围w1时测定出的ber值(st101)的情况下，也可以使用该ber值来搜索具有一定范围w2内的ber值的扇区。
[0069]
如以上那样，通过将一定范围w1扩大为一定范围w2，磁盘装置1能够起到与第1实施方式同样的效果。也就是说，磁盘装置1能够高效地进行参数的再学习，能够减少重试时间。另外，能够减低成为超时而数据丢失的可能性。
[0070]
此外，对本发明的几个实施方式进行了说明，但是这些实施方式是作为例子而提示的，并非意在限定发明的范围。这些新颖的实施方式能够以其他各种方式实施，能够在不脱离发明的主旨的范围内进行各种省略、置换、变更。这些实施方式及其变形，包含于发明的范围和/或主旨中，并且包含于技术方案所记载的发明及其均等的范围内。