测试装置和芯片模组的制作方法

技术总结
本申请提供一种测试装置和芯片模组，该装置包括：第一采集器，用于采集待测模组接口的片选信号；信号处理器，连接所述第一采集器，用于对所述片选信号进行展宽处理，生成展宽片选信号；第二采集器，用于采集所述待测模组接口的地址控制信号；时序检测器，分别连接所述第一采集器、所述信号处理器和所述第二采集器，用于检测所述片选信号、所述地址控制信号以及所述展宽片选信号的时序信息；状态机，连接所述时序检测器，用于验证所述时序信息是否满足预设时序规则。本申请实现了共享一套电路对CS和CA序列进行时序检查，来加速芯片控制器的测试和快速调试。试和快速调试。试和快速调试。


技术研发人员：李海洋
受保护的技术使用者：海光信息技术股份有限公司
技术研发日：2020.12.30
技术公布日：2021/5/14