存储器测试装置及其测试方法与流程

技术特征：

1.一种使用存储器测试装置来测试存储器设备的方法，包括：

响应于所述存储器测试装置接收到的第一测试命令，使用有限状态机fsm操作命令来测试所述存储器设备；以及

响应于所述存储器测试装置接收到的第二测试命令和地址信息，对所述存储器设备内的测试区域执行自动操作测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储器测试装置包括内置自测试电路bist，所述内置自测试电路bist被配置为接收所述第一测试命令和所述第二测试命令分别作为fsm操作命令和直接访问命令。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述bist包括：

测试接口，对所述第一测试命令和所述第二测试命令做出响应；

命令fsm；

直接访问控制器；以及

多路复用器，被配置为接收在所述命令fsm的输出端和所述直接访问控制器的输出端处生成的信号。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述存储器设备对所述多路复用器生成的信号做出响应。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述存储器设备包括主单元区域和选项单元区域；以及其中，所述fsm操作命令包括以下项中的至少一项：对所述选项单元区域的测试过程、对所述主单元区域的测试过程、以及对所述主单元区域的保留测试过程。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述命令fsm被配置为响应于所述fsm操作命令而生成被提供给所述存储器设备的存储器地址信息和至少一个数据模式。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，对所述主单元区域的测试过程包括以下项中的至少一项：

对所述主单元区域内的至少一个页面或扇区执行擦除操作；

将预设数据编程到所述主单元区域中；

从所述主单元区域读取数据；

将从所述主单元区域读取到的数据与目标数据进行比较；以及

以数据模式或反向数据模式测试所述主单元区域。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，对所述主单元区域的保留测试过程包括以下项中的至少一项：

从所述主单元区域中读取数据；

将从所述主单元区域中读取到的数据与目标数据进行比较；

以数据模式或反向数据模式测试所述主单元区域。

9.一种存储器测试装置，包括：

存储器设备；以及

内置自测试(bist)模块，被配置为响应于从测试装备接收到的测试命令而访问所述存储器设备并在其中执行测试，所述bist模块被配置为响应于有限状态机fsm操作命令生成针对存储器设备的地址，当所述测试命令是所述fsm操作命令时访问所述存储器设备并在所述存储器设备内执行测试过程，并且当所述测试命令是直接访问命令时，基于接收到的地址信息对所述存储器设备的测试区域执行自动操作测试。

10.根据权利要求9所述的存储器测试装置，其中，所述bist模块包括：

命令fsm模块，被配置为执行至少一个测试过程以访问所述存储器设备并执行与所述fsm操作命令相对应的测试过程；以及

直接访问控制器，被配置为根据所述直接访问命令来执行所述自动操作测试。

11.根据权利要求10所述的存储器测试装置，其中，所述命令fsm模块包括：

第一地址生成器，被配置为生成用于访问所述存储器设备的访问地址；

操作模块，被配置为根据与所述fsm命令相对应的测试过程对与所述访问地址相对应的存储器单元上的预设数据模式进行编程、读取和/或擦除；以及

比较模块，被配置为将从所述存储器单元读取到的数据与目标数据进行比较并输出比较结果是通过还是失败作为所述测试结果。

12.根据权利要求11所述的存储器测试装置，其中，当所述比较结果是失败时，所述操作模块执行调试；以及其中，所述比较模块将从调试后的存储器单元读取到的数据与目标数据进行比较，并且输出所述比较结果是通过还是失败作为所述测试结果。

13.根据权利要求10所述的存储器测试装置，其中，所述存储器设备包括主单元区域和选项单元区域；以及其中，所述命令fsm模块被配置为执行对所述选项单元区域的测试过程、对所述主单元区域的测试过程、以及对所述主单元区域的保留测试过程。

14.根据权利要求13所述的存储器测试装置，其中，所述测试过程对所述存储器设备中包括的至少一个单元执行第一操作命令，并且基于所述单元的执行结果来执行预设的第二操作命令作为下一操作。

15.根据权利要求9所述的存储器测试装置，其中，接收到的地址信息包括所述测试区域的开始地址和结束地址。

16.根据权利要求10所述的存储器测试装置，其中，所述直接访问控制器包括：

第二地址生成器，基于接收到的地址信息生成关于所述测试区域的访问地址；

自动编程/擦除单元，针对与所述访问地址相对应的每个存储器单元对相同的预设数据进行编程或擦除所存储的数据；

自动读取单元，读取与所述访问地址相对应的存储器单元中存储的数据；以及

自动比较单元，将针对与所述访问地址相对应的每个存储器单元读取到的数据与目标数据进行比较，并且输出通过/失败作为比较结果。

17.一种连接在自动测试装备与存储器设备之间的存储器测试装置，包括：

测试接口，从所述自动测试装备接收测试命令并返回测试结果；以及

内置自测试bist模块，访问所述存储器设备并执行测试，

当所述测试命令是有限状态机fsm操作命令时，所述bist模块根据所述fsm操作命令自主地生成地址，访问所述存储器设备，并且执行测试过程，以及

当所述测试命令是直接访问命令时，所述bist模块基于接收到的地址信息对所述存储器设备的测试区域执行自动操作测试。

18.根据权利要求17所述的存储器测试装置，其中，所述bist模块包括：

命令fsm模块，包括至少一个测试过程以访问所述存储器设备并执行与所述fsm操作命令相对应的测试过程；以及

直接访问控制器，根据所述直接访问命令来执行所述自动操作测试。

19.根据权利要求18所述的存储器测试装置，其中，所述命令fsm模块包括：

第一地址生成器，自主地生成用于访问所述存储器设备的访问地址；

操作模块，根据与所述fsm命令相对应的测试过程对与所述访问地址相对应的存储器单元上的预设数据模式进行编程、读取和/或擦除；以及

比较模块，将从所述存储器单元读取到的数据与目标数据进行比较并输出比较结果是通过还是失败作为所述测试结果。

20.根据权利要求19所述的存储器测试装置，其中，当所述比较结果是失败时，所述操作模块执行调试，以及

所述比较模块将从调试后的存储器单元读取到的数据与目标数据进行比较并输出所述比较结果是通过还是失败作为所述测试结果。

技术总结
公开了一种使用连接到存储器设备的存储器测试装置进行测试的方法，包括接收测试命令。当测试命令是有限状态机(FSM)操作命令时，根据FSM操作命令对存储器设备进行测试，并且依赖于通过/失败结果来执行操作以输出结果。但是，当测试命令是直接访问命令时，根据接收到的地址信息在测试区域中执行输入数据的自动操作测试，并且输出测试结果，该测试结果可以包括具有失败信息的输出数据或自动操作。

技术研发人员：崔弘默;李惠秀;姜智守;金贤镒
受保护的技术使用者：三星电子株式会社
技术研发日：2021.02.09
技术公布日：2021.08.13