硬盘测试支架的制作方法

技术特征：
1.硬盘测试支架，其特征在于，包括：测试电路板(20)，所述测试电路板(20)上电连接有电源接口(21)；单独通过数据传输公母接头(30)与所述测试电路板(20)电连接的小型电路板(40)，所述小型电路板(40)设有至少两组；单独电连接在所述小型电路板(40)上的硬盘接口(41)；以及电连接在所述测试电路板(20)上、与所述数据传输公母接头(30)一一对应的数据传输接口(22)，每个数据传输接口(22)单独通过一个数据传输公母接头(30)与对应的小型电路板(40)上的硬盘接口(41)进行数据传输。2.根据权利要求1所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述小型电路板(40)单独通过可拆卸连接结构(50)与所述测试电路板(20)连接。3.根据权利要求2所述的硬盘测试支架，其特征在于，还包括电连接在所述测试电路板(20)上的、与所述数据传输公母接头(30)一一对应的、用于控制与其对应的数据传输公母接头(30)与所述电源接口(21)的接通或断开的电源开关(23)。4.根据权利要求1至3任意一项所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述数据传输公母接头(30)包括数据传输公头(31)和数据传输母头(32)，两者中的一个电连接在所述测试电路板(20)的背离所述数据传输接口(22)的一侧上，另一个电连接在所述小型电路板(40)的背离所述硬盘接口(41)的一侧上。5.根据权利要求4所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述数据传输公头(31)为排针，所述数据传输母头(32)为排母。6.根据权利要求2或3所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述可拆卸连接结构(50)包括：设在所述小型电路板(40)上的第一安装孔(51)；设在所述测试电路板(20)上的、与所述第一安装孔(51)对应的第二安装孔(52)；以及穿过所述第一安装孔(51)和第二安装孔(52)、将所述小型电路板(40)安装在所述测试电路板(20)上的螺钉(53)。7.根据权利要求6所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述可拆卸连接结构(50)还包括与所述第一安装孔(51)一一对应的、与所述螺钉(53)适配的螺柱(54)；所述螺柱(54)设置成当所述测试电路板(20)与所述小型电路板(40)通过所述数据传输公母接头(30)连接时，其一端抵靠在所述测试电路板(20)的朝向所述小型电路板(40)的侧面上，其另一端抵靠在所述小型电路板(40)的朝向所述测试电路板(20)的侧面上；所述螺柱(54)与小型电路板(40)通过穿过所述第一安装孔(51)的螺钉(53)连接；所述螺柱(54)与测试电路板(20)通过穿过所述第二安装孔(52)的螺钉(53)连接。8.根据权利要求7所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述小型电路板(40)设置成方形，所有的小型电路板(40)阵列分布在所述测试电路板(20)上；所述第一安装孔(51)设在所述小型电路板(40)的四个边角处。9.根据权利要求1至3任意一项所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述硬盘接口(41)为ide接口、sata接口、scsi接口、光纤通道接口、m2
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sata接口、m.2接口和sas接口中的至少一种。10.根据权利要求1至3任意一项所述的硬盘测试支架，其特征在于，所述数据传输接口
(22)为sata接口。

技术总结
本实用新型公开一种硬盘测试支架，其包括测试电路板，测试电路板上电连接有电源接口；单独通过数据传输公母接头与测试电路板电连接的小型电路板，小型电路板设有至少两组；单独电连接在小型电路板上的硬盘接口；以及电连接在测试电路板上、与数据传输公母接头一一对应的数据传输接口。由此，当其中一些硬盘接口损坏后，可以将与该损坏的硬盘接口电连接的小型电路板从测试电路板上拆卸下来，便于进行维修或更换，且不会影响测试电路板上连接的其他硬盘接口的测试进程；同时，对于损坏后无法修复的硬盘接口，可以更换新的电连接有硬盘接口和数据传输公母接头中的一种接头的小型电路板，不会因硬盘接口的损坏而丢弃测试电路板，节约成本。节约成本。节约成本。


技术研发人员：高亮 黄翠娥
受保护的技术使用者：凯祥源科技（河源）有限公司
技术研发日：2021.02.08
技术公布日：2021/10/26