硬盘测试支架的制作方法

1.本实用新型涉及一种硬盘测试支架。


背景技术：

2.硬盘在生产完成后，需要测试硬盘的数据读写能够力以及耐用性，为了提高测试效率，一般在一块测试电路板上设有多个硬盘接口。但是，当测试电路板上的一些硬盘接口损坏后，需要将整个测试电路板从主板上拆卸下来，进行维修，影响测试进程；或导致整个测试电路板被废弃，耗费的成本较高。


技术实现要素：

3.为了解决测试电路板上个别硬盘接口损坏后，导致需要将整个测试电路板从主板上拆卸下来，进行维修，影响测试进程；或导致整个测试电路板被废弃，耗费的成本较高的问题。
4.根据本实用新型的一个方面，提供了硬盘测试支架，包括测试电路板，测试电路板上电连接有电源接口；单独通过数据传输公母接头与测试电路板电连接的小型电路板，小型电路板设有至少两组；单独电连接在小型电路板上的硬盘接口；以及电连接在测试电路板上、与数据传输公母接头一一对应的数据传输接口，每个数据传输接口单独通过一个数据传输公母接头与对应的小型电路板上的硬盘接口进行数据传输。
5.由于测试电路板与小型电路板通过数据传输公母接头连接为可拆卸连接，当其中一些硬盘接口损坏后，可以将与该损坏的硬盘接口电连接的小型电路板从测试电路板上拆卸下来，便于进行维修或更换，而不需要将整个测试电路板拆卸下来，不会影响测试电路板上连接的其他硬盘接口的测试进程；而且，由于测试电路板与小型电路板通过数据传输公母接头连接，两者的安装与拆卸方便，对于损坏后无法修复的硬盘接口，可以更换新的电连接有硬盘接口和数据传输公母接头中的一种接头的小型电路板，使得测试电路板上的硬盘接口均处于可用状态，而不至于因硬盘接口的损坏而丢弃测试电路板，节约成本。
6.在一些实施方式中，小型电路板单独通过可拆卸连接结构与测试电路板连接。由此，既可以进一步保证小型电路板与测试电路板连接的可靠性，进而保证小型电路板与测试电路板通过数据传输公母接头电连接的可靠性，同时，由于连接小型电路板与测试电路板的结构为可拆卸连接结构，不会导致硬盘接口损坏后，小型电路板的更换难度增加。
7.在一些实施方式中，该硬盘测试支架还包括电连接在测试电路板上的、与数据传输公母接头一一对应的、用于控制与其对应的数据传输公母接头与电源接口的接通或断开的电源开关。
8.由此，一方面，当需要将小型电路板从测试电路板上拆卸下来时，可以将与之对应的电源开关关闭，使通过电源接口供的电不会通过数据传输公母接头传输到小型电路板上，即使得小型电路板在断电的情况下拆卸，保证小型电路板拆卸的安全性；另一方面，也可以根据需要通过电源开关控制是否将其对应的小型电路板上的硬盘接口处于通电状态，
进而控制该硬盘接口是否处于测试状态。
9.在一些实施方式中，数据传输公母接头包括数据传输公头和数据传输母头，两者中的一个电连接在测试电路板的背离数据传输接口的一侧上，另一个电连接在小型电路板的背离硬盘接口的一侧上。由此，测试电路板和小型电路板可以通过数据传输公头和数据传输母头的插接实现两者的电连接，而且通过数据传输公头和数据传输母头位置的设置，可以保证测试电路板和小型电路板电连接后，不会阻碍硬盘接口与硬盘的连接，也不会阻碍数据传输接口与外部数据接口的连接。
10.在一些实施方式中，数据传输公头为排针，数据传输母头为排母。由此，使得数据传输公头与数据传输母头的连接方便快捷。
11.在一些实施方式中，排针为双排针。以保证排针与排母连接的稳定性。
12.在一些实施方式中，可拆卸连接结构包括：设在小型电路板上的第一安装孔；设在测试电路板上的、与第一安装孔对应的第二安装孔；以及穿过第一安装孔和第二安装孔、将小型电路板安装在测试电路板上的螺钉。由此，当将螺钉从小型电路板上拆卸下来时，可以将小型电路板与测试电路板分开。
13.在一些实施方式中，可拆卸连接结构还包括与第一安装孔一一对应的、与螺钉适配的螺柱；螺柱设置成当测试电路板与小型电路板通过数据传输公母接头连接时，其一端抵靠在测试电路板的朝向小型电路板的侧面上，其另一端抵靠在小型电路板的朝向测试电路板的侧面上；螺柱与小型电路板通过穿过第一安装孔的螺钉连接；螺柱与测试电路板通过穿过第二安装孔的螺钉连接。
14.由此，一方面，可以仅将螺纹加工在螺柱上，而无需在测试电路板和小型电路板上加工螺纹，从而，无需增加测试电路板和小型电路板的厚度，还可以通过选用强度较高的螺柱保证螺纹的强度；另一方面，还可以通过螺柱给予连接在测试电路板上的小型电路板支撑，提高测试电路板与小型电路板连接的稳定性。
15.在一些实施方式中，小型电路板设置成方形，所有的小型电路板阵列分布在测试电路板上。由此，既可以使得连接在测试电路板上的小型电路板的整齐，还可以尽可能多地在测试电路板上布局小型电路板，提高测试电路板的利用率。进一步的，第一安装孔设在小型电路板的四个边角处。由此，进一步保证小型电路板连接在测试电路板上的稳定性。
16.在一些实施方式中，硬盘接口为ide接口、sata接口、scsi接口、光纤通道接口、m2
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sata接口、m.2接口和sas接口中的至少一种。由此，可以适用不同类型的硬盘。
17.在一些实施方式中，数据传输接口为sata接口。由此，便于数据传输接口与外部的数据接口进行电连接，实现连接在硬盘接口上的硬盘与外部设备的数据传输。
附图说明
18.图1为本实用新型一实施方式的硬盘测试支架的结构示意图；
19.图2为图1所示硬盘测试支架的另一视角的结构示意图；
20.图3为图1所示硬盘测试支架的拆卸状态结构示意图；
21.图4为图3所示硬盘测试支架的另一视角的结构示意图；
22.图5为本实用新型另一实施方式的硬盘测试支架的结构示意图。
具体实施方式
23.下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。
24.图1至图5示意性地显示了根据本实用新型的一种实施方式的硬盘测试支架。
25.参考图1至图5所示，该硬盘测试支架包括测试电路板20、小型电路板40、硬盘接口41和数据传输接口22；其中，小型电路板40至少设有两组，且每组小型电路板40单独通过数据传输公母接头30与测试电路板20电连接，具体的，数据传输公母接头30包括相互插接的数据传输公头31和数据传输母头32，数据传输公头31和数据传输母头32中的一个电连接在测试电路板20上，数据传输公头31和数据传输母头32中的另一个电连接在小型电路板40上，具体的，数据传输公头31为排针，例如，采用12pin排针，数据传输母头32为排母，例如，采用12pin排针母座，优选的，排针为双排针；每组小型电路板40上单独电连接有硬盘接口41，示例性的，硬盘接口41采用ide接口、sata接口、scsi接口、光纤通道接口、m2
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sata接口、m.2接口和sas接口中的至少一种，在一些实施例中，硬盘接口41为m.2接口，例如，m.2b m接口，以适用固态硬盘(参考图1至图4所示)，在另一些实施例中，硬盘接口41为sata接口，例如采用15 7pin sata母座，以适用机械硬盘(参考图5所示)；测试电路板20上电连接有电源接口21和数据传输接口22，数据传输接口22的数量与小型电路板40的数量一致，每个数据传输接口22单独通过测试电路板20上的一个数据传输公母接头30与一个小型电路板40上的硬盘接口41进行数据传输，优选的，每个数据传输接口22设在测试电路板20的设有与其对应的小型电路板40的位置附近，以便操作者识别与数据传输接口22对应的硬盘接口41，示例性的，电源接口21可以选用6pin接口、5.5dc电源座、sata15p供电座、大4pin电源座或20
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pin atx主板电源接口，以便于电源接口21与外部供电接头电连接，数据传输接口22为sata接口，例如，采用7pin sata公座，测试电路板20和小型电路板40为pcb板。
26.使用时，可以通过电源接口21与外部供电接口连接，给测试电路板20供电，并将外部数据接口与数据传输接口22电连接，同时将待测试的硬盘与硬盘接口41电连接，即可同时对多组硬盘进行测试；当其中一些硬盘接口41损坏后，可以在其他硬盘接口41仍处于工作状态下，将与该损坏的硬盘接口41电连接的小型电路板40从测试电路板20上拆卸下来，进行维修或更换，不会影响测试电路板20上连接的其他硬盘接口41的测试进程；对于损坏后无法修复的硬盘接口41，可以更换新的电连接有硬盘接口41和数据传输公母接头30中的一种接头的小型电路板40，使得测试电路板20上的硬盘接口41均处于可用状态。
27.参考图4所示，在优选实施例中，小型电路板40单独通过可拆卸连接结构50与测试电路板20连接。示例性的，可拆卸连接结构50包括一体成型或加工在小型电路板40上的第一安装孔51；一体成型或加工在测试电路板20上的、与第一安装孔51对应的第二安装孔52；以及穿过第一安装孔51和第二安装孔52、将小型电路板40安装在测试电路板20上的螺钉53。进一步的，可拆卸连接结构50还包括与第一安装孔51一一对应的、与螺钉53适配的螺柱54；螺柱54设置成当测试电路板20与小型电路板40通过数据传输公母接头30连接时，螺柱54的两端分别抵靠在测试电路板20和小型电路板40的朝向彼此的侧面上；螺柱54与小型电路板40通过穿过第一安装孔51的螺钉53连接；螺柱54与测试电路板20通过穿过第二安装孔52的螺钉53连接。优选的，为了保证加工在螺柱54上的螺纹的强度，延长螺柱54的使用寿命，螺柱54采用金属材质制成；更优选的，螺柱54采用金属铜制成，以避免因材质硬度过高，在螺柱54与测试电路板20和小型电路板40连接时，螺柱54损坏电路板(测试电路板20和小
型电路板40)。
28.参考图1至图4所示，作为优选实施方式，该硬盘测试支架还包括电连接在测试电路板20上的、与数据传输公母接头30一一对应的、用于控制数据传输公母接头30与电源接口21的接通或断开的电源开关23。优选的，电源开关23设在测试电路板20的设有与其对应的小型电路板40的位置附近，以便操作者识别与数据传输接口22对应的电源开关23，精准控制数据传输接口22的通断电，以便在数据传输接口22断电的情况下将小型电路板40从测试电路板20上拆卸下来，保证操作的安全性；还可以根据需要通过电源开关23控制是否将其对应的小型电路板40上的硬盘接口41处于通电状态，进而控制该硬盘接口41是否处于测试状态。
29.参考图3和图4所示，优选的，数据传输公头31和数据传输母头32中的一个电连接在测试电路板20的背离数据传输接口22的一侧上，另一个电连接在小型电路板40的背离硬盘接口41的一侧上。由此，通过数据传输公头31和数据传输母头32位置的设置，可以保证测试电路板20和小型电路板40电连接后，不会阻碍硬盘接口41与硬盘的连接，也不会阻碍数据传输接口22与外部数据接口的连接。
30.继续参考图3和图4所示，优选的，小型电路板40设置成方形，所有的小型电路板40阵列分布在测试电路板20上。以使得连接在测试电路板20上的小型电路板40的整齐，还可以尽可能多地在测试电路板20上布局小型电路板40，提高测试电路板20的利用率。进一步的，第一安装孔51设在小型电路板40的四个边角处，由此，进一步保证小型电路板40连接在测试电路板20上的稳定性。
31.以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。