测试方法及装置与流程

1.本技术实施例涉及投影模组技术领域，尤其涉及一种测试方法及装置。


背景技术：

2.随着科技的进步、生产技术的创新，投影设备的应用场景也越来越多，例如投影仪等。投影设备可以利用投影模组将图像或视频投射到幕布上进行显示。其中，投影模组可以包括投影镜头和投影芯片。投影芯片可以用于对图像进行成像，之后经由投影镜头投射至幕布上。然而，在投影模组的组装过程中，由于组装误差、设备组装精度等因素，投影镜头与投影芯片之间通常会存在一定的相对倾斜角度，影响投影画面的清晰度。若相对倾斜角度过大，会导致投影画面的边缘区域不共焦，投影画面边缘的清晰度较低，影响投影效果。因此，需要对投影镜头和投影芯片之间的相对倾斜角度进行测试。
3.现有的投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的测试方法是通过人眼判断投影画面的清晰状况，准确性较差，且效率较低。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种测试方法及装置，用以提高投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的测试效率。
5.第一方面，本技术实施例中提供了一种测试方法，包括：
6.在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像，获得多张采集图像；所述测试图像包括多个测试区域；
7.根据任一测试区域分别在所述多张采集图像中的清晰度，确定其清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为所述任一测试区域对应的对焦距离；
8.确定所述投影芯片上与所述多个测试区域对应的多个像素点，以及所述多个像素点形成的至少一组像素对；
9.根据所述至少一组像素对中的两个像素点之间的距离及所述两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，计算所述投影镜头与所述投影芯片的相对倾斜角度。
10.第二方面，本技术实施例中提供了一种测试装置，包括：
11.采集模块，用于在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像，获得多张采集图像；所述测试图像包括多个测试区域；
12.第一确定模块，用于根据任一测试区域分别在所述多张采集图像中的清晰度，确定其清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为所述任一测试区域对应的对焦距离；
13.第二确定模块，用于确定所述投影芯片上与所述多个测试区域对应的多个像素点，以及所述多个像素点形成的至少一组像素对；
14.计算模块，用于根据所述至少一组像素对中的两个像素点之间的距离及所述两个
像素点分别对应的对焦距离的距离差，计算所述投影镜头与所述投影芯片的相对倾斜角度。
15.本实施例中，由于投影镜头与投影芯片之间存在相对倾斜角度，提出了一种测试方法及装置。在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像获得多张采集图像，测试图像中不同测试区域在多张采集图像中的清晰度不同，由此可以确定清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。确定投影芯片上与上述多个测试区域对应的多个像素点及多个像素点形成的至少一组像素对，至少一组像素对中两个像素点与水平面之间的距离不同，且该距离差也即是两个像素点分别对应的对焦距离的距离差。因此，根据至少一组像素对中两个像素点之间的距离以及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，可以实现投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的测试。无需人眼判断投影画面的清晰状况，提高了相对倾斜角度的测试准确性以及测试效率。
16.本技术的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。
附图说明
17.为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
18.图1示出了本技术提供的一种测试方法一个实施例的流程图；
19.图2示出了本技术提供的一种测试系统一个实施例的结构示意图；
20.图3示出了本技术提供的一种测试标板一个实施例的示意图；
21.图4示出了本技术提供的一种投影芯片一个实施例的示意图；
22.图5示出了本技术提供的一种投影芯片中两个像素点一个实施例的位置关系图；
23.图6示出了本技术提供的一种四个测试区域的中心点p1、p2、p3及p4对应的mtf曲线图；
24.图7示出了本技术提供的一种测试装置一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
25.为了使本技术领域的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
26.在本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些流程中，包含了按照特定顺序出现的多个操作，但是应该清楚了解，这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行，操作的序号如101、102等，仅仅是用于区分开各个不同的操作，序号本身不代表任何的执行顺序。另外，这些流程可以包括更多或更少的操作，并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。需要说明的是，本文中的“第一”、“第二”等描述，是用于区分不同的消息、设备、模块等，不代表先后顺序，也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
27.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于
本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
28.图1为本技术提供的一种测试方法一个实施例的流程图，可以包括以下步骤：
29.101：在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像，获得多张采集图像。
30.其中，该测试图像可以包括多个测试区域。
31.投影模组在进行投射作业之前，投影芯片固定，投影镜头会相对投影芯片进行转动，以进行对焦。其中，可以将投影镜头与投影芯片之间的距离称为对焦距离。在投影镜头的转动过程中，投影模组对待投射的图像进行投射，投射图像的清晰度会发生改变，当清晰度最大时，投影镜头完成对焦，此时投影模组可以进行投射作业。
32.在实际应用中，投影镜头可以基于用户操作进行转动，也可以自动转动，如可以在对焦动力机构转动的带动下进行自动转动等。该对焦动力机构可以实现为马达(又可以称为电动机、发动机)。
33.本实施例中，可以在投影镜头的转动过程中，对测试图像进行多次投射，并对投射图像进行多次采集，获得多张采集图像，利用该多张采集图像测试投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。例如，在投影镜头转动的过程中，可以根据投影镜头的转动频率，按照预设间隔对投射图像进行多次采集，如每转动一次进行一次采集等。可选的，还可以根据预设时间间隔对投射图像进行采集，如每隔一秒进行一次采集等。
34.如图2所示，为本技术提供的一种测试系统一个实施例的结构示意图，可以包括投影模组201、图像显示组件202、图像采集组件203及图像处理组件204。其中，投影模组可以对测试图像进行投射，该投射图像可以在图像显示组件进行显示。之后，图像采集组件可以采集图像显示组件上显示的投射图像，获得采集图像，并将该采集图像发送至图像处理组件，由图像处理组件进行分析处理，以测试投影模组中，投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。具体的，上述图像显示组件可以实现为投影幕，图像采集组件可以实现为具有拍摄功能的设备，如工业相机等，图像处理组件可以实现为具有运算处理能力的设备，如计算机等。可选的，该测试系统还可以包括固定支架，用于固定待测的投影模组。
35.由于投影镜头与投影芯片之间存在相对倾斜角度，测试图像中的不同区域所对应的对焦距离是不同的。因此，可以选取测试图像中多个不同的区域作为测试区域。其中，测试区域可以实现为不同的形状，如矩形、圆形或者不规则图形等。为了方便测试，本实施例中，测试区域可以实现为矩形，测试图像可以实现为包括多个矩形测试区域的测试标板。如图3所示，为本技术提供的测试标板一个实施例的示意图。该测试标板上可以包括四个测试区域，分别为测试区域a、b、c和d。
36.可选的，该测试图像包括的四个测试区域，各测试区域的中心点可以构成矩形的四个顶点，并且四个中心点可以分别位于测试图像的左上、右上、右下、左下四个位置的0.8视场处。其中，视场可以指投影镜头在投影芯片上成像清晰的范围。
37.102：根据任一测试区域分别在多张采集图像中的清晰度，确定其清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。
38.根据获得的采集图像，可以获得各测试区域在采集图像上的清晰度。由于多张采
集图像是在投影镜头的转动过程中多次采集获得的，随着投影镜头的转动，投影镜头与投影芯片之间的距离发生改变，投射图像的清晰度也发生改变。因此，各测试区域在不同采集图像上的清晰度也不同。针对任一测试区域，将其分别在多张采集图像中的清晰度进行比较，可以确定清晰度最大的采集图像，从而确定该采集图像对应的投影镜头与投影芯片之间的距离，即对焦距离。该对焦距离可以用于计算投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。
39.其中，采集图像中清晰度的确定可以采用现有的图像清晰度算法，如tenengrad梯度方法、laplacian梯度方法、调制传递函数(modulation transfer function，简称mtf)等，对此不进行限制。
40.103：确定投影芯片上与多个测试区域对应的多个像素点，以及多个像素点形成的至少一组像素对。
41.在实际应用中，投影镜头与投影芯片之间存在相对倾斜角度，以投影镜头所在的面为水平面，通过确定投影芯片所在平面与水平面之间的夹角，即为投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。因此，可以确定投影芯片上分别与多个测试区域对应的多个像素点。
42.具体的，投影芯片上多个像素点的确定可以有多种实现方式。作为一种可选的实现方式，可以选取测试区域中的任意一点，确定投影芯片上与该点对应的像素点，作为与该测试区域对应的像素点。为了方便计算，作为另一种可选的实现方式，可以选取测试区域的中心点，并确定投影芯片上与该中心点对应的像素点，作为与该测试区域对应的像素点。如图3所示的测试标板中，可以选取测试区域a的中心点p1，测试区域b的中心点p2，测试区域c的中心点p3及测试区域d的中心点p4。与此对应的，如图4所示，为本技术提供的一种投影芯片一个实施例的示意图。该投影芯片中可以包括与测试区域a中的中心点p1对应的像素点q1，与测试区域b的中心点p2对应的像素点q2，与测试区域c的中心点p3对应的像素点q3及与测试区域d的中心点p4对应的像素点q4。
43.由于投影芯片在组装时会相对水平面产生一定倾斜，导致两个不同像素点与水平面之间的距离不同，具有一定的距离差。该距离差可以用于确定投影芯片所在平面与水平面之间的夹角，即确定投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。因此可以确定投影芯片的多个像素点中，两两像素点形成的至少一组像素对，以根据该至少一组像素对进行相对倾斜角度的测试。
44.104：根据至少一组像素对中的两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，计算投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。
45.根据像素点与测试区域的对应关系，以及不同测试区域对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离不同，则不同像素点对应的对焦距离也不同，并且两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，即是该两个像素点与水平面之间的距离差。下面结合图5所示的投影芯片中两个像素点一个实施例的位置关系图进行说明，两个像素点m、n以及另一辅助点p可以构成三角形，其中，像素点m和n所在平面为投影芯片所在平面，像素点与点p所在平面为水平面，则夹角m即为投影芯片所在平面与水平面之间的夹角，也即投影镜头与投影芯片的相对倾斜角。边m可以表示两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，边p可以表示两个像素点之间的距离。因此，结合至少一组像素对中的两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，可以计算获得投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。例如，可以利用反正弦函数对两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差
进行计算，或者根据上述位置关系，计算获得边n的距离，再利用反三角函数进行相应的计算，获得投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。
46.其中，投影芯片上两个像素点之间的距离可以根据投影芯片的大小以及两个像素点在投影芯片上的位置进行确定。此处不进行赘述。
47.本实施例中，由于投影镜头与投影芯片之间存在相对倾斜角度，以投影镜头所在的平面为水平面，投影芯片相对水平面倾斜。在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像获得多张采集图像，测试图像中不同测试区域在多张采集图像中的清晰度不同，由此可以确定清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。确定投影芯片上与上述多个测试区域对应的多个像素点及多个像素点形成的至少一组像素对，至少一组像素对中两个像素点与水平面之间的距离不同，且该距离差也即是两个像素点分别对应的对焦距离的距离差。因此，根据至少一组像素对中两个像素点之间的距离以及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，可以实现投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的测试。无需人眼判断投影画面的清晰状况，提高了相对倾斜角度的测试准确性以及测试效率。
48.在实际应用中，为了进一步提高测试效率，在某些实施例中，投影镜头可以在对焦动力机构转动的带动下转动；
49.在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像，获得多张采集图像的方法可以包括：
50.对焦动力机构每转动一个步长时，采集投影模组投射的测试图像的一张采集图像；该对焦动力机构按照预设步长转动。
51.本实施例中，对焦动力机构可以实现为马达。马达可以带动投影镜头相对投影芯片转动，从而改变投影镜头与投影芯片之间的距离，实现自动对焦。马达可以预先设置步长个数，则投射过程中可以在预设步长范围内转动。马达每转动一个步长，投影镜头相对投影芯片移动一段距离。其中，该移动距离可以根据马达的一个步长的距离进行确定，此处不进行具体限制。
52.在马达按照预设步长转动的过程中，每转动一个步长，可以采集一张投影模组投射的测试图像，因此可以获得多张采集图像。此时，多张采集图像对应的马达步长不同，投影镜头与投影芯片之间的距离也不同，从而采集图像的清晰度也不同。
53.为了便于确定清晰度最大的采集图像对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，在某些实施例中，根据任一测试区域分别在多张采集图像中的清晰度，确定其清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离的方法可以包括：
54.利用图像清晰度算法，计算任一测试区域分别在多张采集图像中的调制传递函数值；
55.确定任一测试区域的调制传递函数值最大的采集图像所对应的对焦动力机构的转动步长；
56.根据转动步长，确定投影芯片与投影镜头的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。
57.本实施例中，可以利用图像清晰度算法，计算调制传递函数值来确定采集图像的
清晰度。调制传递函数(modulation transferfunction，简称mtf)是光学系统像质评价方法中的一个准确、客观并且定量的像质评价指标。mtf值越大，图像清晰度越大。
58.针对任一测试区域，可以确定在多张采集图像中的多个mtf值。并且该mtf值与对焦动力机构的转动步长是一一对应的。因此，针对任一测试区域，可以绘制与该测试区域对应的mtf值以及对焦动力机构的转动步长的关系曲线。如图6所示，为本技术提供的四个测试区域的中心点p1、p2、p3及p4对应的mtf曲线图。该曲线图中，横坐标可以表示对焦动力机构的转动步长，纵坐标可以表示mtf值。曲线的峰值处mtf值最大，表明对焦动力机构转动至该步长时，对应测试区域的中心点在采集图像中的清晰度最大。
59.因此，根据上述曲线图，可以分别确定四个测试区域中心点所对应曲线的峰值，以及与该峰值对应的对焦动力机构的转动步长。根据对焦动力机构的转动步长及每个步长所对应的移动距离，可以计算获得投影镜头与投影芯片之间的距离，作为与该测试区域的中心点对应的对焦距离。具体的，可以将对焦动力机构的转动步长与每个步长的移动距离进行相乘计算，获得对焦动力机构的移动距离，即投影镜头相对投影芯片的移动距离，再结合投影镜头与投影芯片的初始距离，可以获得投影镜头与投影芯片之间的距离，作为与该测试区域中心点对应的对焦距离。
60.本实施例中，通过绘制与测试区域对应的mtf曲线图，可以清晰地确定任一测试区域在多张采集图像中的清晰度最大时，对应的对焦动力机构的转动步长，进一步确定对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，测试结果准确度较高，且测试过程简单易实现。
61.在实际应用中，该相对倾斜角度可以包括投影镜头与投影芯片绕纵轴的相对倾斜角度以及投影镜头与投影芯片绕横轴的相对倾斜角度。因此，可以根据投影芯片上，所在直线与投影镜头纵轴垂直设置的两个像素点之间的位置关系，计算投影镜头与投影芯片绕纵轴的相对倾斜角度，以及根据投影芯片上，所在直线与投影镜头横轴垂直设置的两个像素点之间的位置关系，计算投影镜头与投影芯片绕横轴的相对倾斜角度。在某些实施例中，确定投影芯片上与多个测试区域对应的多个像素点，以及多个像素点形成的至少一组像素对的方法可以包括：
62.确定投影芯片上与多个测试区域对应的多个像素点中，由所在直线与投影镜头纵轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第一像素对，以及由所在直线与投影镜头横轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第二像素对。
63.进一步地，根据至少一组像素对中，两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，计算投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的方法可以包括：
64.根据至少一组第一像素对中，两个像素点之间的第一距离，及两个像素点分别对应的对焦距离的第一距离差，计算投影镜头与投影芯片绕纵轴的至少一个第一相对倾斜角度；
65.确定至少一个第一相对倾斜角度的均值为目标第一相对倾斜角度；
66.根据至少一组第二像素对中，两个像素点之间的第二距离，及两个像素点分别对应的对焦距离的第二距离差，计算投影镜头与投影芯片绕横轴的至少一个第二相对倾斜角度；
67.确定至少一个第二相对倾斜角度的均值为目标第二相对倾斜角度；该目标第一相对倾斜角度与目标第二相对倾斜角度可以构成相对倾斜角度。
68.本实施例中，可以确定投影芯片上，所在直线与投影镜头纵轴垂直设置的两个像素点构成的一组第一像素对，以及所在直线与投影镜头横轴垂直设置的两个像素点构成的一组第二像素对。其中，第一像素对可以包括第一像素点和第二像素点，第二像素对可以包括第三像素点和第四像素点，第一像素点、第二像素点、第三像素点及第四像素点可以是不同的四个像素点。则根据第一像素点与第二像素点之间的第一距离，及第一像素点与第二像素点分别对应的对焦距离的第一距离差，可以计算投影镜头与投影芯片绕纵轴的相对倾斜角度。以及根据第三像素点与第四像素点之间的第二距离，及第三像素点与第四像素点分别对应的对焦距离的第二距离差，可以计算投影镜头与投影芯片绕横轴的相对倾斜角度。为了便于描述，可以将投影镜头与投影芯片绕纵轴的相对倾斜角度称为第一相对倾斜角度，将投影镜头与投影芯片绕横轴的相对倾斜角度称为第二相对倾斜角度。
69.可选的，第一像素对包括的两个像素点与第二像素对包括的两个像素点中可以存在相同的像素点。例如，第一像素对可以包括第一像素点和第二像素点，该第一像素点与第二像素点所在直线与投影镜头纵轴垂直设置，第二像素对可以包括第一像素点和第三像素点，该第一像素点与第三像素点所在直线与投影镜头横轴垂直设置。此时，只需获取三个不同像素点分别对应的对焦距离，可以减少计算量，提高测试效率。
70.为了提高测试的准确性，可选的，可以确定投影芯片的多个像素点中，所在直线与投影镜头纵轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第一像素对，以及所在直线与投影镜头横轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第二像素对。此时，针对任一组第一像素对，都可以计算获得一个第一相对倾斜角度，则可以确定多个第一相对倾斜角度的均值作为投影镜头与投影芯片绕纵轴的相对倾斜角度。针对任一第二像素对，可以计算获得一个第二相对倾斜角度，则可以确定多个第二相对倾斜角度的均值作为投影镜头与投影芯片绕横轴的相对倾斜角度。
71.可选的，至少一组第一像素对包括的像素点与至少一组第二像素对包括的像素点中可以存在相同的像素点。以图4所示的两组第一像素对和两组第二像素对为例，其中，一组第一像素对可以包括第一像素点q1和第二像素点q2，另一组第一像素对可以包括第三像素点q3和第四像素点q4。第一像q1素点与第二像素点q2所在直线可以与投影镜头纵轴垂直设置，第三像素点q3与第四像素点q4所在直线可以投影镜头横轴垂直设置。同时，一组第二像素对可以包括第一像素点q1和第四像素点q4，另一组第二像素对可以包括第二像素点q2和第三像素点q3，第一像素点q1与第四像素点q4所在直线可以与投影镜头横轴垂直设置，第二像素点q2和第三像素点q3所在直线可以与投影镜头横轴垂直设置。此时，可以在确保测试准确性的基础上，减少计算量，提高测试效率。
72.在实际应用中，根据上述至少一组像素对中两个像素点之间的距离及两个像素对分别对应的对焦距离的距离差，计算投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度时，可以有多种实现方式。为了提高计算效率，可以利用反正弦函数进行计算。因此，在某些实施例中，根据至少一组第一像素对中，两个像素点之间的第一距离，及两个像素点分别对应的对焦距离的第一距离差，计算投影镜头与投影芯片绕纵轴的至少一个第一相对倾斜角度的方法可以包括：
73.利用反正弦函数对第一距离差与第一距离进行计算，获得第一相对倾斜角度；
74.根据至少一组第二像素对中，两个像素点之间的第二距离，及两个像素点分别对
应的对焦距离的第二距离差，计算投影镜头与投影芯片绕横轴的至少一个第二相对倾斜角度的方法可以包括：
75.利用反正弦函数对第二距离差与第二距离进行计算，获得第二相对倾斜角度。
76.利用反正弦函数对像素对中两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差进行计算，计算结果精确，且过程简单，可以提高相对倾斜角度的测试效率。
77.如图7所示，为本技术提供的一种测试装置一个实施例的结构示意图，该装置可以包括以下几个模块：
78.采集模块701，用于在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像，获得多张采集图像；测试图像包括多个测试区域；
79.第一确定模块702，用于根据任一测试区域分别在多张采集图像中的清晰度，确定其清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离；
80.第二确定模块703，用于确定投影芯片上与多个测试区域对应的多个像素点，以及多个像素点形成的至少一组像素对；
81.计算模块704，用于根据至少一组像素对中的两个像素点之间的距离及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，计算投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度。
82.本实施例中，由于投影镜头与投影芯片之间存在相对倾斜角度，以投影镜头所在的面为水平面，投影芯片相对水平面倾斜。在投影镜头转动过程中，多次采集投影模组投射的测试图像获得多张采集图像，测试图像中不同测试区域在多张采集图像中的清晰度不同，由此可以确定清晰度最大的采集图像所对应的投影镜头与投影芯片之间的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。确定投影芯片上与上述多个测试区域对应的多个像素点及多个像素点形成的至少一组像素对，至少一组像素对中两个像素点与水平面之间的距离不同，且该距离差也即是两个像素点分别对应的对焦距离的距离差。因此，根据至少一组像素对中两个像素点之间的距离以及两个像素点分别对应的对焦距离的距离差，可以实现投影镜头与投影芯片的相对倾斜角度的测试。无需人眼判断投影画面的清晰状况，提高了相对倾斜角度的测试准确性以及测试效率。
83.在某些实施例中，第二确定模块703可以包括：
84.第一确定单元，用于确定投影芯片上与多个测试区域对应的多个像素点中，由所在直线与投影镜头纵轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第一像素对，以及由所在直线与投影镜头横轴垂直设置的两个像素点构成的至少一组第二像素对；
85.计算模块704可以包括：
86.第一计算单元，用于根据至少一组第一像素对中，两个像素点之间的第一距离，及两个像素点分别对应的对焦距离的第一距离差，计算投影镜头与投影芯片绕纵轴的至少一个第一相对倾斜角度；
87.第二确定单元，用于确定至少一个第一相对倾斜角度的均值为目标第一相对倾斜角度；
88.第二计算单元，用于根据至少一组第二像素对中，两个像素点之间的第二距离，及两个像素点分别对应的对焦距离的第二距离差，计算投影镜头与投影芯片绕横轴的至少一
个第二相对倾斜角度；
89.第三确定单元，用于确定至少一个第二相对倾斜角度的均值为目标第二相对倾斜角度；目标第一相对倾斜角度与目标第二相对倾斜角度构成相对倾斜角度。
90.在某些实施例中，第一计算单元可以包括：
91.第一计算子单元，用于利用反正弦函数对第一距离差与第一距离进行计算，获得第一相对倾斜角度；
92.第二计算单元可以包括：
93.第二计算子单元，用于利用反正弦函数对第二距离差与第二距离进行计算，获得第二相对倾斜角度。
94.在某些实施例中，投影镜头在对焦动力机构转动的带动下转动；
95.采集模块701可以包括：
96.采集单元，用于在对焦动力机构每转动一个步长时，采集投影模组投射的测试图像的一张采集图像；该对焦动力机构按照预设步长转动。
97.在某些实施例中，第一确定模块702可以包括：
98.第三计算单元，用于利用图像清晰度算法，计算任一测试区域分别在多张采集图像中的调制传递函数值；
99.第四确定单元，用于确定任一测试区域的调制传递函数值最大的采集图像所对应的对焦动力机构的转动步长；
100.第五确定单元，用于根据转动步长，确定投影芯片与投影镜头的对焦距离，作为任一测试区域对应的对焦距离。
101.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
102.以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
103.通过以上的实施例的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施例可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如rom/ram、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
104.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本技术的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术各实施例技术方案的精神和范围。