一种电子元器件实验室报告生成方法及检测装置与流程

1.本发明涉及电子元器件技术领域，更具体地说它涉及一种电子元器件实验室报告生成方法及检测装置。


背景技术：

2.半导体行业生产的电子元器件，必须经过第三方实验室的检测并出具报告后，才可流入市场。
3.目前，国内也成了很多第三方实验室专门用于电子元器件的电性能及可靠性检测。但是在完成检测后，都需要人工编写检测报告，报告内容一般包括检测样品的基本信息，电性能检测参数及结果，可靠性检测参数及结果，检测环境温湿度等诸多信息。
4.由于人工编写既浪费时间，又容易出错，降低了报告的可信度，有待改进。


技术实现要素：

5.针对现有技术存在的不足，本发明的第一个目的在于提供一种电子元器件实验室报告生成方法，该电子元器件实验室报告生成方法具有提升效率和准确率的效果。
6.为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种电子元器件实验室报告生成方法，包括如下步骤：步骤1、报告模板生成；步骤2、报告信息采集；步骤3、报告转化生成；其中，所述报告模板生成采用word报告初始页；所述报告信息采集包括基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果；所述报告转化生成采用将word文档转化为pdf文档后发布。
7.通过采用上述技术方案，将采集的基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果通过word报告初始页进行转化，以在获得word文档后生成格式固定的pdf文档进行发布，从而在避免人工参与的前提下实现显著提升效率和准确率的效果。
8.本发明进一步设置为：所述报告模板生成包括将word报告初始页另存为xml文件，再将xml文件扩展名命名为ftl。
9.本发明进一步设置为：在所述步骤1中，将所述xml文件中需替换的部位标记为${xxx}；将所述xml文件中需填写样品名称的部位标记为${samplename}；将所述xml文件中的表格形式的数据标记为<#list standlist as map>；将所述xml文件中的图片中的pkg:binarydata之间插入标识${imagemap.imagedata}。
10.本发明进一步设置为：所述基础信息包括报告首页说明、检测样品说明和检测依据；所述报告首页说明包括：客户单位、客户地址、样品名称、样品批号、合同编号、检测结果；
所述检测样品说明包括样品名字、样品型号、封装类型、样品数量；所述检测依据包括测试的参考标准。
11.本发明进一步设置为：所述性能测试结果包括测试前后的电性能测试的结果、测试设备、测试时环境温湿度和测试具体参数信息。
12.本发明进一步设置为：所述可靠性测试结果包括将电子元器件放置在设定温度内经历设定时间后获得的电子元器件的电性能测试结果；所述电性能测试结果包括温度、湿度和电压的实时极限参数。
13.本发明进一步设置为：在步骤3中，所述报告转化生成包括采用map的方式生成变量数据以及采用word生成技术将变量数据赋值至word报告初始页。
14.本发明进一步设置为：所述采用map的方式生成变量数据为通过编程语言java中的linkhashmap组织所述word报告初始页中设置的变量数据。
15.本发明进一步设置为：所述采用word生成技术将变量数据赋值至word报告初始页为通过java的freemaker技术包完成word文档生成。
16.本发明的第二个目的在于提供一种电子元器件实验室报告生成检测装置，包括如上所述的电子元器件实验室报告生成方法。
17.通过采用上述技术方案，实现对电子元器件的高效和准确的检测实验室报告的生成。
18.综上所述，本发明具有以下有益效果：通过采用word报告初始页以及对基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果的有效采集，令采集的基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果通过作为模板的word报告初始页实现word文档的获取，进而在将word文档转化为pdf文档后实现高效、准确的电子元器件实验室报告生成的效果。
具体实施方式
19.需要提及的是，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
20.一种电子元器件实验室报告生成方法，包括如下步骤：步骤1、报告模板生成；步骤2、报告信息采集；步骤3、报告转化生成；其中，报告模板生成采用word报告初始页。报告模板生成包括将word报告初始页另存为xml文件，再将xml文件扩展名命名为ftl。与此同时，在步骤1中，将xml文件中需替换的部位标记为${xxx}；将xml文件中需填写样品名称的部位标记为${samplename}；将xml文件中的表格形式的数据标记为<#list standlist as map>；将xml文件中的图片中的pkg:binarydata之间插入标识${imagemap.imagedata}。
21.其中，报告信息采集基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果。基础信息包括报告首页说明、检测样品说明和检测依据。报告首页说明包括：客户单位、客户地址、样品名称、样品批号、合同编号、检测结果。检测样品说明包括样品名字、样品型号、封装类型、样品数量。检测依据包括测试的参考标准。与此同时，性能测试结果包括测试前后的电性能测试
的结果、测试设备、测试时环境温湿度和测试具体参数信息。可靠性测试结果包括将电子元器件放置在设定温度内经历设定时间后获得的电子元器件的电性能测试结果，在本实施例中，设定时间包括1h、4h、12h、24h、48h、120h、240h；设定温度包括高温和低温，高温采用45℃、60℃、75℃、90℃、105℃、120℃。电性能测试结果包括温度、湿度和电压的实时极限参数。
22.其中，报告信息采集包括所述报告转化生成采用将word文档转化为pdf文档后发布。需要提及的是，在步骤3中，报告转化生成包括采用map的方式生成变量数据以及采用word生成技术将变量数据赋值至word报告初始页。且采用map的方式生成变量数据为通过编程语言java中的linkhashmap组织word报告初始页中设置的变量数据。采用word生成技术将变量数据赋值至word报告初始页为通过java的freemaker技术包完成word文档生成。
23.因此，通过将采集的基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果通过word报告初始页进行转化，以在获得word文档后生成格式固定的pdf文档进行发布，从而在避免人工参与的前提下实现显著提升效率和准确率的效果。
24.本技术还提供一种电子元器件实验室报告生成检测装置，包括如上的电子元器件实验室报告生成方法，以实现对电子元器件的高效和准确的检测实验室报告的生成。
25.综上，本技术通过采用word报告初始页以及对基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果的有效采集，令采集的基础信息、性能测试结果和可靠性测试结果通过作为模板的word报告初始页实现word文档的获取，进而在将word文档转化为pdf文档后实现高效、准确的电子元器件实验室报告生成的效果。
26.本技术涉及的“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法或设备固有的其它步骤或单元。
27.需要说明的是，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。
28.本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。