技术特征：
1.一种在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，包括：底部插座壳体(40)，所述底部插座壳体具有多个相对于彼此并联运行的凹槽(42)，所述凹槽位于所述底部插座壳体(40)的上侧(46)，以及多个导管(44)，所述多个导管(44)从所述底部插座壳体(40)的所述上侧(46)刺穿至下侧(48)，所述多个导管(44)沿着每个所述凹槽(42)间隔开；多个底部行，每个所述底部行包括多个刚性底部引脚(10)，每个所述底部引脚(10)具有两个朝向彼此倾斜的平面表面(12)和平面表面(14)，每个所述底部引脚具有上端(16)，每个所述底部引脚(10)能够穿过每个所述导管(44)插入，并且每个所述底部引脚(10)由导电材料制成；多个顶部行，每个所述顶部行包括多个柔性顶部引脚(20)，每个所述顶部引脚(20)具有在所述底部引脚(10)上方延伸的第一臂(22)和第二臂(24)，所述第一臂(22)和第二臂(24)具有向内的偏置，使得每个所述臂的内表面(23)和内表面(25)被按压以与每个所述平面表面(12)和平面表面(14)接触，所述臂第一臂(22)和第二臂(24)在所述顶部引脚(20)的分叉(26)处接合，所述顶部引脚(20)由导电材料制成，并且每个所述顶部行与每个所述底部行对齐；以及多个弹性体条(30)，每个所述弹性体条(30)沿着每个所述底部行和顶部行的长度运行，所述弹性体条(30)位于每个底部行中的所述多个底部引脚(10)的所述上端(16)与每个顶部行中的所述多个顶部引脚(20)的所述分叉(26)之间，其中在集成电路器件的测试期间，所述器件被降低至所述顶部引脚(20)上，从而将其向下推进并压缩所述弹性体条(30)的至少一部分，同时当所述第一臂(22)和第二臂(24)沿着所述倾斜平面表面(12)和平面表面(14)向下滑动时展开所述第一臂(22)和第二臂(24)。2.根据权利要求1所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中所述弹性体条(30)的顶部(32)能够适配紧贴至每个所述分叉(26)中。3.根据权利要求1所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中所述顶部引脚(20)具有与ic器件接触的顶部部分(28)，所述顶部部分(28)比所述第一臂(22)和第二臂(24)窄。4.根据权利要求3所述的在集成电路器件测试装置中使用的点接触，其特征在于，进一步包括顶部插座壳体(50)，所述顶部插座壳体具有多个相对于彼此并联运行的凹槽(52)，所述凹槽位于所述顶部插座壳体(50)的下侧(56)，以及多个导管(54)，所述多个导管从所述顶部插座壳体(50)的所述下侧(56)刺穿至上侧(58)，所述多个导管(54)沿着每个所述凹槽(52)间隔开，每个所述凹槽(52)能够容纳每个所述顶部行。5.根据权利要求4所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中每个所述导管(54)能够使所述顶部部分(28)穿过其插入。6.根据权利要求4所述的在集成电路器件测试装置中使用的电接触，其特征在于，其中每个所述导管(54)大到足以使所述顶部部分(28)穿过其插入，但是没有大到足以使所述第一臂(22)和第二臂(24)穿过它。
技术总结
一种电接触组件，所述电接触组件针对单独接触中的每一行使用弹性体条。每个电接触包括带一对臂的刚性底部引脚和柔性顶部引脚，所述一对臂在底部接触的已倾斜表面上方延伸并沿着该已倾斜表面滑动。该弹性体条位于该底部引脚与该顶部引脚的行之间。底部插座壳体设置有容纳每个弹性体条的凹槽。接着将顶部引脚行放置在每个弹性体条上方，并穿过该底部插座壳体中的导管，然后底部引脚被卡入到该对臂之间的位置中。位置中。位置中。
技术研发人员：方维空 郭科新 沙马尔
受保护的技术使用者：杰冯科技有限公司
技术研发日：2021.06.11
技术公布日：2021/12/16
再多了解一些
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