一种尘埃粒经在线检测装置的制作方法

1.本实用新型涉及一种在线检测装置,尤其涉及一种尘埃粒经在线检测装置。


背景技术：

2.尘埃粒子计数器是一种在洁净领域应用广泛的重要仪器，主要用于检测洁净室洁净度等级，还可用来检测过滤器的过滤效率、洁净织物的发尘量，目前国内相关尘埃粒子计数器，主要针对0.3μm以上粒子计数，且没有在线检测功能，不能够数据实时记录存储；对于0.1μm以上粒子计数功能的粒子计数器制造企业相对较少，不能满足市场需求，为了解决上述技术问题，特提出一种新的技术方案。


技术实现要素：

3.本实用新型提供了一种尘埃粒经在线检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
4.本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：一种尘埃粒经在线检测装置，包括外壳，外壳外部的一侧上设有数据发射器，外壳内部的一侧上设有超阻放大器，超阻放大器的顶端上设有探头且探头穿出外壳的外侧，超阻放大器的一端上设有粒径甄别器且粒径甄别器的两侧与外壳的内壁连接，粒径甄别器的一端上设有mcu处理器且mcu处理器的两侧与外壳的内壁连接，外壳的底端设有电源且电源且电源的底端与外壳内侧的底端连接。
5.所述的探头包括光罩、扫描探头、聚光透镜、探头外壳、光电转换器、光源采集器以及光源通道，探头外壳的内部设有光电转换器，光电转换器上设有光源采集器，光源采集器上设有光源通道且光源通道穿处探头外壳的外部，光源通道的内部设有聚光透镜，聚光透镜上设有扫描探头且扫描探头与光源通道的顶端连接，扫描探头上设有光罩且光罩与探头外壳的顶端连接，探头外壳的底端与超阻放大器的顶端连接。
6.所述的粒径甄别器包括粒径粒子限幅甄别器、粒径外壳、分区通道以及mcu 识别通道，粒径外壳内部的一侧上设有粒径粒子限幅甄别器，粒径粒子限幅甄别器的一侧上设有若干分区通道，分区通道的一侧设有mcu识别通道，mcu识别通道的一侧与mcu处理器连接。
7.本实用新型的有益效果为：探头上设有光罩，可使装置在收集数据时不会出现散光，探头内部设有扫描探头，可使检测范围内的数据收集更完善，粒径甄别器内部设有粒径粒子限幅甄别器和分区通道，各通道都有独立甄别技术，避免了不同粒径离子出现通道饱和或者误叛问题。
附图说明
8.图1是本实用新型的结构示意图；
9.图2是本实用新型的侧视图；
10.图3是本实用新型的探头的结构示意图；
11.图4是本实用新型的粒径甄别器的结构示意图。
具体实施方式
12.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
13.参照图1至图4，一种尘埃粒经在线检测装置，包括外壳5，外壳5外部的一侧上设有数据发射器7，外壳5内部的一侧上设有超阻放大器2，超阻放大器 2的顶端上设有探头1且探头1穿出外壳5的外侧，超阻放大器2的一端上设有粒径甄别器3且粒径甄别器3的两侧与外壳5的内壁连接，粒径甄别器3的一端上设有mcu处理器4且mcu处理器4的两侧与外壳5的内壁连接，外壳5的底端设有电源6且电源6且电源6的底端与外壳5内侧的底端连接。
14.所述的探头1包括光罩101、扫描探头102、聚光透镜103、探头外壳104、光电转换器105、光源采集器106以及光源通道107，探头外壳104的内部设有光电转换器105，光电转换器105上设有光源采集器106，光源采集器106上设有光源通道107且光源通道107穿处探头外壳104的外部，光源通道107的内部设有聚光透镜103，聚光透镜103上设有扫描探头102且扫描探头102与光源通道107的顶端连接，扫描探头102上设有光罩101且光罩101与探头外壳104 的顶端连接，探头外壳104的底端与超阻放大器2的顶端连接。
15.所述的粒径甄别器3包括粒径粒子限幅甄别器301、粒径外壳302、分区通道303以及mcu识别通道304，粒径外壳302内部的一侧上设有粒径粒子限幅甄别器301，粒径粒子限幅甄别器301的一侧上设有若干分区通道303，分区通道 303的一侧设有mcu识别通道304，mcu识别通道304的一侧与mcu处理器4连接。
16.在使用过程中，参照图1至图4，使用者首先将装置放置在需要检测的环境中，打开装置开关，打开电脑与数据发射器7中的路由器连接，连接完成后选择所检测介质的名称以及种类，便可开始使用了。装置打开后，扫描探头102 会开始对所检测环境中的尘埃进行扫描，扫描的光源会透过光罩101进入到光源通道107的内部，光源再透过聚光透镜103进入到光源采集器106中产生微弱的光脉冲，光脉冲通过光电转换器105将光脉冲转变成电脉冲，随后电脉冲进入到超阻放大器2中，将电脉冲放大，随后电脉冲加入到粒径粒子限幅甄别器301中，粒径粒子限幅甄别器301内部进一步幅值放大，谐波过滤，不同大小粒子脉冲电压值对应不同的粒径通道，粒径粒子限幅甄别器将各个通道检测到的脉冲个数送至mcu识别通道，mcu进行内部分析处理，进行数据归类记录，并送至显示通道及数据管理检测系统。
17.通过此装置可以实现，设置有探头上设有光罩101，可使装置在收集数据时不会出现散光，探头内部设有扫描探头102，可使检测范围内的数据收集更完善，粒径甄别器3内部设有粒径粒子限幅甄别器301和分区通道304，各通道都有独立甄别技术，避免了不同粒径离子出现通道饱和或者误叛问题。
18.在本实用新型的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新
型的限制。
19.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
20.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。


技术特征：
1.一种尘埃粒经在线检测装置，包括外壳(5)，其特征在于：外壳(5)外部的一侧上设有数据发射器(7)，外壳(5)内部的一侧上设有超阻放大器(2)，超阻放大器(2)的顶端上设有探头(1)且探头(1)穿出外壳(5)的外侧，超阻放大器(2)的一端上设有粒径甄别器(3)且粒径甄别器(3)的两侧与外壳(5)的内壁连接，粒径甄别器(3)的一端上设有mcu处理器(4)且mcu处理器(4)的两侧与外壳(5)的内壁连接，外壳(5)的底端设有电源(6)且电源(6)且电源(6)的底端与外壳(5)内侧的底端连接。2.根据权利要求1中所述的一种尘埃粒经在线检测装置，其特征在于：所述的探头(1)包括光罩(101)、扫描探头(102)、聚光透镜(103)、探头外壳(104)、光电转换器(105)、光源采集器(106)以及光源通道(107)，探头外壳(104)的内部设有光电转换器(105)，光电转换器(105)上设有光源采集器(106)，光源采集器(106)上设有光源通道(107)且光源通道(107)穿处探头外壳(104)的外部，光源通道(107)的内部设有聚光透镜(103)，聚光透镜(103)上设有扫描探头(102)且扫描探头(102)与光源通道(107)的顶端连接，扫描探头(102)上设有光罩(101)且光罩(101)与探头外壳(104)的顶端连接，探头外壳(104)的底端与超阻放大器(2)的顶端连接。3.根据权利要求1中所述的一种尘埃粒经在线检测装置，其特征在于：所述的粒径甄别器(3)包括粒径粒子限幅甄别器(301)、粒径外壳(302)、分区通道(303)以及mcu识别通道(304)，粒径外壳(302)内部的一侧上设有粒径粒子限幅甄别器(301)，粒径粒子限幅甄别器(301)的一侧上设有若干分区通道(303)，分区通道(303)的一侧设有mcu识别通道(304)，mcu识别通道(304)的一侧与mcu处理器(4)连接。

技术总结
一种尘埃粒经在线检测装置，涉及一种在线检测装置，包括外壳，外壳外部的一侧上设有数据发射器，外壳内部的一侧上设有超阻放大器，超阻放大器的顶端上设有探头且探头穿出外壳的外侧，超阻放大器的一端上设有粒径甄别器且粒径甄别器的两侧与外壳的内壁连接，粒径甄别器的一端上设有MCU处理器且MCU处理器的两侧与外壳的内壁连接，外壳的底端设有电源且电源且电源的底端与外壳内侧的底端连接。通过此装置可以实现，探头上设有光罩，可使装置在收集数据时不会出现散光，探头内部设有扫描探头，可使检测范围内的数据收集更完善，粒径甄别器内部设有粒径粒子限幅甄别器和分区通道，各通道都有独立甄别技术，避免了不同粒径离子出现通道饱和或者误叛问题。通道饱和或者误叛问题。通道饱和或者误叛问题。


技术研发人员：霍金文
受保护的技术使用者：深圳市白光电子科技有限公司
技术研发日：2021.08.04
技术公布日：2022/2/22