一种用于降低低频散射的吸波体的制作方法

1.本发明涉及电磁散射测量领域，特别涉及一种用于降低低频散射的吸波体。


背景技术：

2.飞行器在完成总体隐身外形设计后，需要对其各个部件的隐身性能进行测试。
3.然而部件与机体一旦隔离开来，将使部件的边缘、内埋结构暴露在外，如果不加任何处理就对部件进行测试，其边缘、内埋结构的散射将影响部件的测试准确度。为此，专利cn106428625a设计了一种低散射载体，载体与部件一体化结构设计，两者平滑紧密连接，既消除了部件边缘散射，又遮挡了部件内腔结构，并较好地模拟了部件实际装机时的状态，但是在低频段，受到较强的低频绕射影响，设备尾端存在较强的行波散射效应。
4.因此，急需一种降低设备尾端行波散射的方法。


技术实现要素：

5.本发明实施例提供了一种用于降低低频散射的吸波体，能够提供一种降低待测部件底面边缘低频散射的吸波体。
6.第一方面，本发明提供了一种用于降低低频散射的吸波体，所述吸波体贴附于待测部件的底面边缘，所述待测部件与载体连接，所述载体用于支撑所述待测部件，所述底面边缘为所述待测部件与所述载体相接触的边缘；
7.所述吸波体采用吸波泡沫制成。
8.优选地，所述吸波体包括第一吸波体和第二吸波体，所述第一吸波体和所述第二吸波体围合形成所述吸波体。
9.优选地，所述第一吸波体和所述第二吸波体均设置有弧形槽，所述弧形槽与所述待测部件的底面边缘相适配。
10.优选地，所述吸波体的外表面投影到水平面的投影具有呈锐角的两个端部。
11.优选地，其中一个所述端部的夹角为50-60
°
，另一个所述端部的夹角为75-80
°
。
12.优选地，所述吸波体投影到水平面的投影具有外轮廓和内轮廓，所述外轮廓和所述内轮廓的距离为15-20cm。
13.优选地，所述吸波泡沫为jcxb-qfl系列的网状泡沫。
14.优选地，所述第一吸波体和所述第二吸波体围合拼接处使用纸胶带固定。
15.第二方面，本发明提供一种用于进行rcs测试的待测部件，包括如上述第一方面中任一项所述的吸波体，所述吸波体贴附于所述待测部件的底面边缘。
16.本发明与现有技术相比至少具有如下有益效果：
17.在本发明中，为了测试飞行器部件的隐身性能，需要将待测部件放置于具有低散射性能的载体上，载体将待测部件的底面边缘包裹住并遮挡了内埋结构，由此保证了测试结果的准确性，避免了底面边缘和内埋结构产生的散射对部件测试结果的干扰。但由于低频段存在较强的低频绕射，待测部件的底面边缘存在较强的行波散射效应，待测部件的表
面行波随其俯仰调整产生剧烈变化，而待测部件外形不具备优异的抑制行波散射能力，因此，发明人在待测部件的底面边缘贴附吸波体来解决上述问题，吸波体为在低频段具备优异吸波能力的吸波泡沫，吸波体通过将底面边缘的低频段电磁波吸收使待测部件的低频散射降低，从而使待测部件准确地模拟实际装机的状态，进而使测得的数据精准的体现了部件在装机时的隐身效果。
附图说明
18.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
19.图1是本发明实施例提供的一种用于rcs测试的待测部件的底视图；
20.图2是本发明实施例提供的jcxb-qfl系列的网状泡沫的材料低频反射率曲线图；
21.图3是本发明实施例提供的吸波体的外表面投影到水平面的投影图；
22.图4是本发明实施例提供的吸波体的切面示意图。
23.图中：
24.1、吸波体；2、待测部件；
25.31、外轮廓；32、内轮廓；
26.4、弧形槽；
27.a、75-80
°
；b、50-60
°
。
具体实施方式
28.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
29.本发明提供了一种用于降低低频散射的吸波体1，吸波体1贴附于待测部件2的底面边缘，待测部件2与载体连接，载体用于支撑待测部件2，底面边缘为待测部件2与载体相接触的边缘；
30.吸波体1采用吸波泡沫制成。
31.在本发明中，为了测试飞行器部件的隐身性能，需要将待测部件2放置于具有低散射性能的载体上，载体将待测部件2的底面边缘包裹住并遮挡了内埋结构，由此保证了测试结果的准确性，避免了底面边缘和内埋结构产生的散射对部件测试结果的干扰。但由于低频段存在较强的低频绕射，待测部件2的底面边缘存在较强的行波散射效应，待测部件2的表面行波随其俯仰调整产生剧烈变化，而待测部件2外形不具备优异的抑制行波散射能力，因此，发明人在待测部件2的底面边缘贴附吸波体1来解决上述问题，吸波体1为在低频段具备优异吸波能力的吸波泡沫，吸波体1通过将底面边缘的低频段电磁波吸收使待测部件2的低频散射降低，从而使待测部件2准确地模拟实际装机的状态，进而使测得的数据精准的体现了部件在装机时的隐身效果。
32.需要说明的是，吸波体1与待测部件2为共形结构，吸波体1与待测部件2覆形紧密结合，这使待测部件2的底面边缘存在的低频段行波散射更容易被吸波体1吸收，进而损耗掉。
33.根据一些优选的实施方式，吸波体1包括第一吸波体1和第二吸波体1，第一吸波体1和第二吸波体1围合形成吸波体1。
34.在本发明中，通过将吸波体1设置为第一吸波体1和第二吸波体1两部分，使待测部件2可以被二者合围。
35.根据一些优选的实施方式，第一吸波体1和第二吸波体1均设置有弧形槽4，弧形槽4与待测部件2的底面边缘相适配。
36.在本发明中，根据底面边缘设计吸波体1弧形槽4的形状，弧形槽4的形状与底面边缘表面形状一致，从而可以使吸波体1与底面边缘紧密无缝贴合。此外，吸波体1还可以通过弧形槽4固定在底面边缘。
37.根据一些优选的实施方式，吸波体1的外表面投影到水平面的投影具有呈锐角的两个端部。
38.在本发明中，两个锐角端部可以降低电磁波的垂直极化散射和水平极化散射。
39.根据一些优选的实施方式，其中一个端部的夹角为50-60
°
，另一个端部的夹角为75-80
°
。
40.在本发明中，两个端部的夹角分别为50-60
°
和75-80
°
使待测部件2的垂直极化散射和水平极化散射降到最低。
41.根据一些优选的实施方式，吸波体1投影到水平面的投影具有外轮廓31和内轮廓32，外轮廓31和内轮廓32的距离为15-20cm。
42.在本发明中，外轮廓31和内轮廓32之间的距离在15-20cm之内，既可以具备优异的吸波效果，又可以节省材料，减轻吸波体1的质量。
43.根据一些优选的实施方式，吸波泡沫为jcxb-qfl系列的网状泡沫。
44.需要说明的是，jcxb-qfl系列的网状泡沫为低频吸波泡沫材料，材料具体吸波性能如表1和图2。
45.频率(ghz)ε
′
tanδ12.381.291.12.371.191.22.351.131.32.311.081.42.301.041.52.351.041.62.241.031.72.191.011.82.100.991.92.060.9722.030.9931.980.73
46.根据一些优选的实施方式，第一吸波体1和第二吸波体1围合拼接处使用纸胶带固定。
47.在本发明中，使用纸胶带对第一吸波体1和第二吸波体1的围合拼接处进行固定，使待测部件2在进行测试时，位于底面边缘的吸波体1与其之间的贴合更加牢固。
48.本发明还提供一种用于进行rcs测试的待测部件，包括如上述的吸波体，吸波体贴附于待测部件的底面边缘。
49.实施例：
50.待测部件在进行rcs测试前，先根据待测部件底面边缘形状制备吸波体，使吸波体内表面可与待测部件底面边缘紧密贴合(吸波体与待测部件接触部分为内表面，未与待测部件接触部分为外表面)，吸波体包括可将待测部件合围拼接的第一吸波体和第二吸波体，吸波体外表面水平投影的两个端部夹角分别为55
°
和79
°
，水平投影的外轮廓和内轮廓之间的距离为18cm，吸波材料为jcxb-qfl系列的网状泡沫；
51.将第一吸波体和第二吸波体在待测部件底面边缘两侧围合拼接，并用纸胶带在拼接处固定；
52.将底面边缘贴附有吸波体的待测部件进行测试，测得p波段的rcs缩减为8-10db，l波段的rcs缩减为10-15db。
53.由本实施例可知，在待测部件底部边缘贴附吸波体可以有效的吸收低频段的电磁波。
54.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。