便于测试的多层电路板的制作方法

1.本实用新型涉及一种电路板，尤其涉及一种便于测试的多层电路板。


背景技术：

2.随着电路板不断往轻薄化、多层化发展，受各层的间距及孔到导体距离限制，层间对位要求越来越严格。因此要求在生产过程中能够对不同设计的板层压后层间对位情况进行及时、准确的判断，为后续调整优化提供精准的判断依据。
3.传统的层偏胀缩判断方法大多通过设置同心圆或者利用x-ray测量靶标实现。前者虽然测量简单，但是无法做到准确数据读取，只能对偏位方向、偏位大小进行大致预估；而后者虽然能够做到精准的数据采集，但是测量耗时、仪器及测量文件的制作复杂。


技术实现要素：

4.基于此，有必要针对现有技术中的不足，提供一种便于测试的多层电路板。
5.一种便于测试的多层电路板，包括若干层上下叠合的芯板。所述芯板外围设有测试区，所述测试区设有上下贯穿的测试靶孔，所述测试靶孔内侧设有弹性导电触环。所述弹性导电触环呈扇形设计，其包括触环外壳、弹子及弹簧。所述触环外壳内侧设有嵌槽，所述弹子均呈扇形设计且嵌合于嵌槽内，所述弹簧的一端固定于弹子的侧面，另一端固定于嵌槽的侧面。
6.进一步地，所述测试靶孔外围设有若干辅助测试点，若干所述辅助测试点的数量与芯板的层数一致。若干所述辅助测试点与每一层测试靶孔内的弹性导电触环分别对应电性连接。
7.进一步地，所述弹性导电触环设有多个，其均匀间隔装设于测试靶孔的内侧且电性连接。
8.进一步地，若干所述测试靶孔的半径一致，若干所述弹性导电触环的环径一致，且若干所述测试靶孔的圆心与若干所述弹性导电触环的环心均位于同一竖直线上。
9.进一步地，所述测试区呈环形设计，若干所述测试靶孔设于测试区的角点及各边的中点位置。
10.综上所述，本实用新型一种便于测试的多层电路板的有益效果在于：通过在电路板测试区上的测试靶孔内逐层设置弹性导电触环，当芯板出现涨缩时弹性导电触环随之发生横向位移，检测装置即可利用探针对电路板的涨缩情况进行检测，测试流程简单，检测结果精准；多个弹性导电触环均匀间隔装设于测试靶孔的内侧组成环形，使检测装置能检测出芯板任意方向的涨缩情况；测试靶孔外围设置的若干辅助测试点与每一层的测试靶孔一一对应，使检测设备能够精准判断任意层芯板的涨缩情况；每层芯板上设置多个测试靶孔，使检测设备对电路板的涨缩检测更全面；本实用新型实用性强，具有较强的推广意义。
附图说明
11.图1为本实用新型一种便于测试的多层电路板的结构示意图；
12.图2为图1中弹性导电触环的结构分解图。
具体实施方式
13.为了使实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释实用新型，并不用于限定实用新型。
14.如图1至图2所示，本实用新型提供一种便于测试的多层电路板100，包括若干层上下叠合的芯板10。所述芯板10外围设有测试区20，所述测试区20设有上下贯穿的测试靶孔30，所述测试靶孔30内侧设有弹性导电触环40。所述弹性导电触环40呈扇形设计，其包括触环外壳41、弹子42及弹簧43。所述触环外壳41内侧设有嵌槽44，所述弹子42均呈扇形设计且嵌合于嵌槽44内，所述弹簧43的一端固定于弹子42的侧面，另一端固定于嵌槽44的侧面。弹性导电触环40设于测试靶孔30内侧，当电路板发生涨缩时，弹性导电触环40也会产生不同程度的位移。此时使用检测设备上的探针缓缓靠近直至与弹性导电触环40接触通电，涨缩程度不同的测试靶孔上的弹性导电触环40与探针接触的时间也不同，由此可精确检测出电路板的涨缩数值。
15.所述弹性导电触环40设有多个，其均匀间隔装设于测试靶孔30的内侧。多个弹性导电触环40使探针能够沿测试靶孔30的各个方向进行涨缩检测，使检测结果更全面。
16.若干所述测试靶孔30的半径一致，若干所述弹性导电触环40的环径一致，且若干所述测试靶孔30的圆心与若干所述弹性导电触环40的环心均位于同一竖直线上。测试靶孔30及弹性导电触环40的规格均设为一致且竖直叠于同一直线上，不仅能够确保检测的准确度，还有利于检测结果的归纳计算。
17.所述测试区20呈环形设计，若干所述测试靶孔30设于测试区20的角点及各边的中点位置。多个测试靶孔30均匀围绕芯板10设置，进一步保证了电路板的涨缩检测结果的全面性。
18.所述测试靶孔30外围设有若干辅助测试点50，若干所述辅助测试点50的数量与芯板10的层数一致。若干所述辅助测试点50与每一层测试靶孔30内的弹性导电触环40分别对应电性连接。多个辅助测试点50便于检测设备与弹性导电触环40之间形成检测电路，且能够自由进行任意层芯板10之间的涨缩对比。
19.本实用新型在使用时，首先在层压之前对各层芯板10的测试区20打出测试靶孔30，再将弹性导电触环40装设于测试靶孔30的内侧。接着将各层芯板10叠放后令每层芯板10的测试靶孔30竖直对齐，以确保芯板10在层压之前是精准对位的。然后进行层压，将各层芯板10压合好后，使用检测设备上的探针对电路板进行涨缩检测。其中检测设备的一电极分别与测试靶孔30外围的辅助测试点50电性连接，而另一电极则与探针电性连接。探针竖直向下伸入测试靶孔30内直至针尖到达最底层的测试靶孔30，而后探针沿径向缓慢向测试靶孔30的边缘移动。当探针依次与各层测试靶孔30内侧的弹性导电触环40接触时发生短路，由此可对电路板进行精确的涨缩检测。
20.综上所述，本实用新型一种便于测试的多层电路板100的有益效果在于：通过在电
路板测试区20上的测试靶孔30内逐层设置弹性导电触环40，当芯板10出现涨缩时弹性导电触环40随之发生横向位移，检测装置即可利用探针对电路板的涨缩情况进行检测，测试流程简单，检测结果精准；多个弹性导电触环40均匀间隔装设于测试靶孔30的内侧组成环形，使检测装置能检测出芯板任意方向的涨缩情况；测试靶孔30外围设置的若干辅助测试点50与每一层的测试靶孔30一一对应，使检测设备能够精准判断任意层芯板10的涨缩情况；每层芯板10上设置多个测试靶孔30，使检测设备对电路板的涨缩检测更全面；本实用新型实用性强，具有较强的推广意义。
21.以上所述实施例仅表达了实用新型的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于实用新型的保护范围。因此，实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。


技术特征：
1.一种便于测试的多层电路板，其特征在于：包括若干层上下叠合的芯板；所述芯板外围设有测试区，所述测试区设有上下贯穿的测试靶孔，所述测试靶孔内侧设有弹性导电触环；所述弹性导电触环呈扇形设计，其包括触环外壳、弹子及弹簧；所述触环外壳内侧设有嵌槽，所述弹子均呈扇形设计且嵌合于嵌槽内，所述弹簧的一端固定于弹子的侧面，另一端固定于嵌槽的侧面。2.如权利要求1所述的便于测试的多层电路板，其特征在于：所述测试靶孔外围设有若干辅助测试点，若干所述辅助测试点的数量与芯板的层数一致；若干所述辅助测试点与每一层测试靶孔内的弹性导电触环分别对应电性连接。3.如权利要求1所述的便于测试的多层电路板，其特征在于：所述弹性导电触环设有多个，其均匀间隔装设于测试靶孔的内侧且电性连接。4.如权利要求3所述的便于测试的多层电路板，其特征在于：若干所述测试靶孔的半径一致，若干所述弹性导电触环的环径一致，且若干所述测试靶孔的圆心与若干所述弹性导电触环的环心均位于同一竖直线上。5.如权利要求1所述的便于测试的多层电路板，其特征在于：所述测试区呈环形设计，若干所述测试靶孔设于测试区的角点及各边的中点位置。

技术总结
一种便于测试的多层电路板，包括若干层上下叠合的芯板；所述芯板外围设有测试区，所述测试区设有上下贯穿的测试靶孔，所述测试靶孔内侧设有弹性导电触环；所述弹性导电触环呈扇形设计，其包括触环外壳、弹子及弹簧；所述触环外壳内侧设有嵌槽，所述弹子均呈扇形设计且嵌合于嵌槽内，所述弹簧的一端固定于弹子的侧面，另一端固定于环形嵌槽的侧面。本实用新型通过在电路板测试区上的测试靶孔内逐层设置弹性导电触环，当芯板出现涨缩时弹性导电触环随之发生横向位移，检测装置即可利用探针对电路板的涨缩情况进行检测，测试流程简单，检测结果精准；本实用新型实用性强，具有较强的推广意义。广意义。广意义。


技术研发人员：文伟峰 刘长松 樊光辉 吴畏
受保护的技术使用者：江西红板科技股份有限公司
技术研发日：2021.12.09
技术公布日：2022/5/16