一种电子玻璃热收缩测试装置及方法与流程

1.本发明属于电子玻璃技术领域，涉及一种电子玻璃热收缩测试装置及方法。


背景技术：

2.随着显示技术行业的快速发展，人们对各种显示器件的需求正在不断增长。在显示器制造过程中，需要在较高温度下进行多次处理，如在非晶硅(a-si)tft的生产制程中，需在300～450℃温度下多次处理，而对于多晶硅(p-si)tft，则需要在450～600℃温度下多次处理，这就要求显示器使用的电子玻璃必须在多次高温处理过程中不能发生显著的变形，因此对玻璃的热稳定性和尺寸稳定性提出了更高的要求，即电子玻璃必须有足够小的“热收缩”值。
3.因此，在研发或生产过程中，需要测试玻璃的收缩率。目前行业内测试热收缩的方法主要为划线法，使用可在玻璃表面划线的器具，如维氏硬度计压头、玻璃刀或者砂纸等，在样品的两端进行划线标记，随后将样品分成两片，一片作为基体不处理，另一片则在测试条件下处理作为处理样，随后将处理样与基体样拼接到一起，利用显微镜测试样品两端划线的差值，从而计算出样品的热收缩率。但这种方法在划线时会使玻璃由于受力不均导致在显微镜下查看划线处清晰度不一，且拼接后并不能保证处理样和基体在同一焦平面，这都会导致测量误差较大且耗时较长，因此需要一种测量精度大且操作简单的玻璃热收缩测试装置和方法。


技术实现要素：

4.针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种用于电子玻璃的热收缩测试装置及方法，解决了现有测试方法中因划线差异导致的测量误差大、且测试过程耗时较长的缺点。
5.本发明是通过以下技术方案来实现：
6.一种电子玻璃热收缩测试装置，包括摄像头、样品平台、设备基体以及计算设备；所述摄像头设置在设备基体的一端；所述样品平台包括上层面、下层面和样品承载板，所述样品平台的下层面与设备基体连接，所述上层面与计算设备电性连接；所述计算设备与摄像头电性连接；当测试时，样品承载板放置在上层面上。
7.优选的，所述摄像头的内部设置有高倍率放大镜。
8.优选的，所述下层面的边缘上设置有x轴轨道和y轴轨道，所述x轴轨道与y轴轨道相互垂直设置；所述x轴轨道和y轴轨道上均设有刻度尺。
9.优选的，所述x轴轨道的内侧壁上设有凹槽，所述上层面的背面设置有滚轮，所述滚轮在x轴轨道的内侧壁上的凹槽中滑动，从而实现上层面的移动。
10.优选的，所述上层面和下层面均设有光源透过的槽孔；当测试时，样品承载板覆盖在槽孔上。
11.优选的，所述设备基体的底部台面上设置有卤素灯光源组件。
12.优选的，所述摄像头采用cmos摄像头。
13.优选的，所述计算设备包括计算机和显示器。
14.一种电子玻璃热收缩测试的方法，包括，
15.s1：将待测样品放置在样品承载板上，将载有待测样品的样品承载板置上层面上；
16.s2：移动上层面将待测样品置于摄像头下，待聚焦清晰后定位；通过计算设备测量出待测样品的原始长度；
17.s3：将待测样品热处理后，重复s1～s2的操作步骤，得到经热处理后的待测样品的热收缩后的长度；
18.s4：根据s2中得到待测样品的原始长度和s3中经热处理后得到的经热处理后的待测样品的热收缩后的长度，计算得到待测样品的热收缩值。
19.优选的，所述热收缩值的计算公式为：热收缩值＝(l
0-l1)/l020.其中，l0为待测样品原始长度，l1为热处理后的待测样品的热收缩后的长度。
21.与现有技术相比，本发明具有以下有益的技术效果：
22.本发明提供一种用于电子玻璃的热收缩测试装置及方法，有效的解决了现有测试中因划线差异导致的测量误差大、且测试过程耗时较长的缺点，同时，本发明测试方法不需要在样品表面划线，这样既防止了划线过程中样品破碎，又防止了划线粗细不一导致在摄像头及高倍率放大镜下显示的划线不清晰及对焦困难的情况，测试方法误差小，精度大。此外，本发明的电子玻璃的热收缩测试装置操作简单，样品平台的上层面可在计算装置的控制下在带有刻度尺的x轴及y轴上移动，并在聚焦清晰后测出待测样品两端的距离，不需要手动移动样品。
附图说明
23.图1为本发明的电子玻璃热收缩测试方法流程图；
24.图2为本发明的电子玻璃热收缩测试装置示意图；
25.图3为实施例中上层面与下层面的局部示意图；
26.图4为实施例中待测样品的示意图；
27.图中：摄像头1，高倍率放大镜2，样品平台3，上层面31，下层面32，槽孔33，样品承载板34，滚轮35，x轴轨道4，y轴轨道5，卤素灯光源组件6，设备基体7，样品的a端8，样品的b端9，计算设备10。
具体实施方式
28.下面结合具体的实施例对本发明做进一步的详细说明，所述是对本发明的解释而不是限定。
29.一种电子玻璃热收缩测试装置，图2所示，包括摄像头1、样品平台3、设备基体7以及计算设备10；所述摄像头1设置在设备基体7的一端；所述样品平台3包括上层面31、下层面32和样品承载板34，所述样品平台3的下层面32与设备基体7连接，所述上层面31与计算设备10电性连接；所述计算设备10与摄像头1电性连接；当测试时，样品承载板34放置在上层面31上。
30.所述摄像头1的内部设置有高倍率放大镜2。
31.下层面32的边缘上设置有x轴轨道4和y轴轨道5，所述x轴轨道4与y轴轨道5相互垂
直设置；所述x轴轨道4和y轴轨道5上均设有刻度尺。
32.如图3所示，x轴轨道4的内侧壁上设有凹槽，所述上层面31的背面设置有滚轮35，所述滚轮35在x轴轨道4的内侧壁上设有的凹槽中滑动，从而实现上层面31的移动。
33.上层面31和下层面32均设有光源透过的槽孔33；当测试时，样品承载板34覆盖在槽孔33上。
34.设备基体7的底部台面上设置有卤素灯光源组件6。
35.摄像头1采用cmos摄像头。
36.计算设备10包括计算机和显示器。
37.一种电子玻璃热收缩测试的方法，如图1所示，包括，
38.s1：将待测样品放置在样品承载板34上，将载有待测样品的样品承载板34置上层面31上；
39.s2：移动上层面31将待测样品置于摄像头1下，待聚焦清晰后定位；通过计算设备10测量出待测样品的原始长度；
40.s3：将待测样品热处理后，重复s1～s2的操作步骤，得到经热处理后的待测样品的热收缩后的长度；
41.s4：根据s2中得到待测样品的原始长度和s3中经热处理后得到的经热处理后的待测样品的热收缩后的长度，计算得到待测样品的热收缩值。
42.所述热收缩值的计算公式为：热收缩值＝(l
0-l1)/l043.其中，l0为待测样品原始长度，l1为热处理后的待测样品的热收缩后的长度。
44.优选的具体实施例：选取样品，按照本发明测试方法进行测试：
45.s1：裁取测试样品约250mm
×
15mm，使用精雕机磨抛样品两端，磨抛过程约1min；
46.s2：打开卤素灯光源组件，将样品放在约300mm
×
30mm的高透过率样品承载板34上，随后放在上层面31上，使样品全部暴露在样品平台的长方形的条型槽孔33上，如图4所示，将样品的a端置于摄像头及高倍率放大镜下，聚焦清晰后点确定，捕捉线条边缘，点击测试；
47.s3：在pc端的软件上操作使上层面31左右移动，使样品的b端置于摄像头及高倍率放大镜下，聚焦清晰后在线条边缘确定。测试软件测出样品的a端和b端距离为248.752mm；
48.s4：取出该样品，在相应条件下热处理以后，按照s2和s3的步骤，测出热处理后样品的a端和b端距离为248.707mm；
49.s5：计算该样品的热收缩值＝(248.752-248.707)/248.752＝180.9
×
10-6
，即180.9ppm。
50.优选的，本实施例的高清摄像头采用cmos摄像头。
51.本发明电子玻璃热收缩测试装置和方法，除去样品热处理过程，裁样及磨边测试过程非常简单且省时，测试精度达到微米级，精确度高。