一种同轴连接器测试组件的制作方法

技术特征：
1.一种同轴连接器测试组件，包括：探测连接器和微型连接器，所述探测连接器包括：第一导电筒体，其设有第一内孔、侧壁上还设有接口，所述接口与所述第一内孔连通；第一筒盖，与所述第一导电筒体盖合；第一绝缘体，与所述第一内孔固定连接；探针，与所述第一绝缘体固定连接，所述探针的顶部设有凹槽；第二导电筒体，其外壁与所述接口接触连接，并设有第二内孔，所述第二内孔与所述第一内孔连通，同轴电缆的屏蔽层与所述第二内孔壁接触；第三导电筒体和第三绝缘体，所述第三导电筒体一端的外周面与所述第一内孔套接，所述第三绝缘体的侧面与所述第三导电筒体的内孔固定连接，所述第三导电筒体的另一端的筒壁上开设有若干个贯通槽，所述第三导电筒体另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈，所述贯通槽将所述第一卡扣圈隔断为若干段；第一套筒和第二套筒，所述第一套筒的内孔与所述第一导电筒体的外周面配合构成滑动副，所述第一套筒的外周面与所述第二套筒的内孔套接，所述第三导电筒体与所述第二套筒的内孔配合构成滑动副；所述微型连接器包括：外导体、内导体、绝缘体，所述外导体和所述内导体同轴心地由所述绝缘体镶嵌成型配置在一起，所述外导体包括一筒状部，所述筒状部上设置有一凹槽圈，所述内导体包括一圆柱状接触部，测试时，所述圆柱状接触部与探针的尾部相接触；其特征在于，当所述第二套筒上滑时，所述第一卡扣圈对准所述凹槽圈，当所述第二套筒下压时，所述第一卡扣圈卡锁在所述凹槽圈上。2.根据权利要求1所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述第一卡扣圈的尾端为平板结构。3.根据权利要求2所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述第二套筒的尾端内缘设置有第二卡扣圈。4.根据权利要求3所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述探针包括第一针体、第二针体、探针弹簧，所述第二针体的尾部为平头结构。5.根据权利要求4所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述第一针体和所述第二针体之间固定连接。6.根据权利要求5所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述同轴电缆的中心导体侧插入所述凹槽中。7.根据权利要求4至6中任一项所述的同轴连接器测试组件，其特征在于，所述第二针体的顶端为一斜面结构，所述探针弹簧与所述第二针体斜面接触。

技术总结
本实用新型公开了一种同轴连接器测试组件，包括：探测连接器和微型连接器，探测连接器上的第三导电筒体一端的外周面与第一导电筒体的内孔套接，第三导电筒体的另一端的筒壁上开设有若干个贯通槽，另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈；第三导电筒体与第二套筒的内孔配合构成滑动副；微型连接器上的外导体包括设置有一凹槽圈的一筒状部，内导体包括一圆柱状接触部，测试时，圆柱状接触部与探针的尾部相接触；当第二套筒上滑时，第一卡扣圈对准所述凹槽圈，当第二套筒下压时，第一卡扣圈卡锁在凹槽圈上。与现有技术相比，在测试过程中探测连接器的第三导电筒体和微型连接器的外导体零阻力扣合和脱离，实现零磨损。实现零磨损。实现零磨损。


技术研发人员：梁红梅 吕银涛 黄颗
受保护的技术使用者：电连技术股份有限公司
技术研发日：2021.12.27
技术公布日：2022/6/17