一种同轴连接器测试组件的制作方法

1.本实用新型涉及连接器技术领域，特别是涉及一种同轴连接器测试组件。


背景技术：

2.现有技术中，如图1所示，微型连接器的测试结构是由绝缘子c、探针b、扣环d和导电筒体a组成，通过导电筒体a和探针b与微型连接器紧密接触传导信号，环扣d固定安装在外部护住导电筒体a。导电筒体a上具有卡爪e，在测试过程中，卡爪e与微型连接器的外导体f是硬干涉接触安装。
3.不足之处是：因卡爪e与微型连接器的外导体f是硬干涉接触安装，对卡爪e的收缩力要求很高，同时，操作不当容易导致导电筒体a断裂和被测微型连接器磨损。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种同轴连接器测试组件，在测试过程中探测连接器的第三导电筒体和微型连接器的外导体零阻力扣合和脱离，实现零磨损。
5.为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：
6.一种同轴连接器测试组件，包括：探测连接器和微型连接器，
7.所述探测连接器包括：
8.第一导电筒体，其设有第一内孔、侧壁上还设有接口，所述接口与所述第一内孔连通；
9.第一筒盖，与所述第一导电筒体盖合；
10.第一绝缘体，与所述第一内孔固定连接；
11.探针，与所述第一绝缘体固定连接，所述探针的顶部设有凹槽；
12.第二导电筒体，其外壁与所述接口接触连接，并设有第二内孔，所述第二内孔与所述第一内孔连通，同轴电缆的屏蔽层与所述第二内孔壁接触；
13.第三导电筒体和第三绝缘体，所述第三导电筒体一端的外周面与所述第一内孔套接，所述第三绝缘体的侧面与所述第三导电筒体的内孔固定连接，所述第三导电筒体的另一端的筒壁上开设有若干个贯通槽，所述第三导电筒体另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈，所述贯通槽将所述第一卡扣圈隔断为若干段；
14.第一套筒和第二套筒，所述第一套筒的内孔与所述第一导电筒体的外周面配合构成滑动副，所述第一套筒的外周面与所述第二套筒的内孔套接，所述第三导电筒体与所述第二套筒的内孔配合构成滑动副；
15.所述微型连接器包括：
16.外导体、内导体、绝缘体，所述外导体和所述内导体同轴心地由所述绝缘体镶嵌成型配置在一起，所述外导体包括一筒状部，所述筒状部上设置有一凹槽圈，所述内导体包括一圆柱状接触部，测试时，所述圆柱状接触部与探针的尾部相接触；
17.当所述第二套筒上滑时，所述第一卡扣圈对准所述凹槽圈，当所述第二套筒下压
时，所述第一卡扣圈卡锁在所述凹槽圈上。
18.优选的，所述第一卡扣圈的尾端为平板结构。
19.优选的，所述第二套筒的尾端内缘设置有第二卡扣圈。
20.优选的，所述探针包括第一针体、第二针体、探针弹簧，所述第二针体的尾部为平头结构。
21.优选的，所述第一针体和所述第二针体之间固定连接。
22.优选的，所述同轴电缆的中心导体侧插入所述凹槽中。
23.优选的，所述第二针体的顶端为一斜面结构，所述探针弹簧与所述第二针体斜面接触。
24.本实用新型的有益效果在于：通过在第三导电筒体另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈，设置所述外导体包括一筒状部，所述筒状部上设置有一凹槽圈，当所述第二套筒上滑时，所述第一卡扣圈对准所述凹槽圈，当所述第二套筒下压时，所述第一卡扣圈卡锁在所述凹槽圈上，在测试过程中探测连接器的第三导电筒体和微型连接器的外导体零阻力扣合和脱离，实现零磨损。
附图说明
25.图1为现有技术中同轴连接器测试组件的局部结构位置剖面示意图；
26.图2为本实用新型实施例的立体示意图；
27.图3为本实用新型实施例的爆炸分解图；
28.图4为本实用新型实施例中第二套筒下压时的结构位置剖面示意图；
29.图5为本实用新型实施例中第二套筒上滑时的结构位置剖面示意图；
30.图6为本实用新型实施例中第二套筒下压时，第一卡扣圈卡锁凹槽圈的局部放大结构示意图；
31.图7为本实用新型实施例中第二套筒上滑时，第一卡扣圈对准凹槽圈的局部放大结构示意图；
32.图8为本实用新型实施例的探针的剖面示意图；
33.图9为本实用新型实施例的第三导电筒体和第二套筒的剖面示意图；
34.图10为本实用新型实施例的微型连接器的立体示意图。
35.具体实施方式的附图标号说明：
[0036][0037]
具体实施方式
[0038]
本技术实施例通过提供一种同轴连接器测试组件，解决现有技术中的操作不当容易导致导电筒体断裂和被测微型连接器磨损的技术问题。
[0039]
本技术实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
[0040]
通过在第三导电筒体另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈，设置所述外导体包括一筒状部，所述筒状部上设置有一凹槽圈，当所述第二套筒上滑时，所述第一卡扣圈对准所述凹槽圈，当所述第二套筒下压时，所述第一卡扣圈卡锁在所述凹槽圈上，在测试过程中探测连接器的第三导电筒体和微型连接器的外导体零阻力扣合和脱离，实现零磨损。
[0041]
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。
[0042]
如图2至图10所示，为本技术实施例：
[0043]
一种同轴连接器测试组件10，包括：探测连接器100和微型连接器300，
[0044]
所述探测连接器100包括：
[0045]
第一导电筒体110，其设有第一内孔、侧壁上还设有接口，所述接口与所述第一内孔连通；
[0046]
第一筒盖120，与所述第一导电筒体110盖合；
[0047]
第一绝缘体130，与所述第一内孔固定连接；
[0048]
探针140，与所述第一绝缘体130固定连接，所述探针140的顶部设有凹槽141；如图4和图5所示，同轴电缆200的中心导体220侧插入所述凹槽141中，通过将中心导体220直接安装在凹槽141中，可以使得接触更稳定，同时也提升生产效率。
[0049]
第二导电筒体150，其外壁与所述接口接触连接，并设有第二内孔，所述第二内孔与所述第一内孔连通，同轴电缆200的屏蔽层210与所述第二内孔壁接触；
[0050]
第三导电筒体160和第三绝缘体170，所述第三导电筒体160一端的外周面与所述第一内孔套接，所述第三绝缘体170的侧面与所述第三导电筒体160的内孔固定连接，所述第三导电筒体160的另一端的筒壁上开设有若干个贯通槽162，所述第三导电筒体160另一端的尾部内缘还设置有第一卡扣圈161，所述贯通槽162将所述第一卡扣圈161隔断为若干段；
[0051]
第一套筒180和第二套筒190，所述第一套筒180的内孔与所述第一导电筒体110的外周面配合构成滑动副，所述第一套筒180的外周面与所述第二套筒190的内孔套接，所述第三导电筒体160与所述第二套筒190的内孔配合构成滑动副；
[0052]
如图10所示，所述微型连接器300包括：
[0053]
外导体310、内导体320、绝缘体330，所述外导体310和所述内导体320同轴心地由所述绝缘体330镶嵌成型配置在一起，所述外导体310包括一筒状部311，所述筒状部311上设置有一凹槽圈3111，所述内导体320包括一圆柱状接触部321，测试时，所述圆柱状接触部321与探针140的尾部相接触；
[0054]
如图4至图7所示，当所述第二套筒190上滑时，所述第一卡扣圈161对准所述凹槽圈3111，当所述第二套筒190下压时，所述第一卡扣圈161卡锁在所述凹槽圈3111上。
[0055]
该同轴连接器测试组件10的工作原理为：通过外部活塞活动来实现第二套筒190的上滑和下压，在测试开始时，先向上滑动第二套筒190，使第三导电筒体160的第一卡扣圈161呈松开状态，探针140的尾部与微型连接器300上圆柱状接触部321相压接触，用第一卡扣圈161对准微型连接器300上的凹槽圈3111，对准后，下压第二套筒190，使第三导电筒体160的第一卡扣圈161呈锁紧状态，即第一卡扣圈161牢牢锁住凹槽圈3111，形成一个卡锁结构，确保信号稳定接触。测试完成后，再向上滑动第二套筒190，使卡锁结构断开，通过第二套筒190的上滑，第三导电筒体160可以零阻力对准微型连接器300上的凹槽圈3111，避免了操作过程中零部件的磨损，确保信号稳定接通的同时提升了零部件的寿命。
[0056]
优选的，如图9所示，所述第二套筒190的尾端内缘设置有第二卡扣圈191，需要说明的是，第二卡扣圈190的作用是在第二套筒190下压时，能给第三导电套筒160的尾端一个附加的力，增强卡锁的效果，第二卡扣圈191的尾端可以设置为平板结构，这样可以增大第二卡扣圈191与第三导电筒体160另一端尾部的接触面积，增强卡锁的效果。
[0057]
优选的，如图6和7所示，所述第一卡扣圈161的尾端1611优选为平板结构，设置为平板结构，能加大所述第三导电筒体160与所述外导体310的接触面积，当第一卡扣圈161卡锁在所述凹槽圈3111上，使其能更稳定的接触。
[0058]
优选的，如图8所示，所述探针140包括第一针体142、第二针体144、探针弹簧143，所述第二针体144的尾部145为平头结构。所述第一针体142和所述第二针体144之间固定连
接。所述第二针体144的顶端为一斜面结构，所述探针弹簧143与所述第二针体144斜面接触。可以理解的是，所述第一针体142和所述第二针体144之间固定连接，使得探针为一体式结构，这样可以避免探针140出现偏摆而产生误测；所述第二针体144的尾部145为平头结构，这样，当第二针体144的尾部145与圆柱状接触部321接触时，可以加大尾部145与圆柱状接触部321的接触面积，使得接触更加稳定。所述探针弹簧143与所述第二针体144斜面接触，是为了使信号传输更稳定，减少误测。
[0059]
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0060]
以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。