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一种硅盘厚度量测装置的制作方法

2022-07-13 06:18:40 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及硅盘检测设备技术领域,更具体地说,涉及一种硅盘厚度量测装置。


背景技术:

2.因api硅盘外径为380mm,在量测厚度时,无法量测到靠近硅盘中心位置。同时硅盘的重量容易造成人员手持上的误操作损坏硅盘表面,且手持硅盘重复量测数值误差大,数值较为不客观。


技术实现要素:

3.本实用新型的目的在于提供一种硅盘厚度量测装置,采用推动的方式进行量测,无需检测人员手持量测,提升厚度量测的准确性,避免损坏硅盘,用以解决上述背景技术中存在的技术问题。
4.本实用新型技术方案一种硅盘厚度量测装置,包括底座、对称设置在所述底座上的两条滑轨、滑动固定在所述滑轨上的滑动支撑盘,所述滑动支撑盘沿其半径长度方向开设有一通槽,所述通槽平行于所示滑轨方向设置;所述底座上设置有缺口,所述缺口处设置有分厘卡。
5.在一个优选地实施例中,所述滑动支撑盘底部设置有四个滑块,且所述四个滑块分别位于所述滑动支撑盘两侧,位于同一侧的两所述滑块滑动固定在同一条所述滑轨上。
6.在一个优选地实施例中,所述滑动支撑盘为塑料材质,所述滑动支撑盘顶面对称设置有取放缺口。
7.在一个优选地实施例中,所述分厘卡底部设置有支撑座。
8.在一个优选地实施例中,所述分厘卡与所述滑动支撑盘的通槽相对。
9.在一个优选地实施例中,所述底座上设置有若干个固定孔。
10.本实用新型技术方案的有益效果是:
11.1.通过设置滑动支撑盘对硅盘进行支撑,降低量测难度,节约人力,避免对硅盘的损伤;通槽的设置保证分厘卡可以顺利卡在硅盘的上、下两侧,并对不同位置进行厚度量测,保证检测的准确性,提升产品的合格率。
12.2.滑动支撑盘设置为塑料材质减轻重量,便于操作人员推动。两个取放缺口的设置便于将硅盘从滑动支撑盘上取下来。
附图说明
13.图1为本实用新型整体结构示意图,
14.图2为本实用新型滑动支撑盘结构示意图,
15.图3为本实用新型滑块与滑轨固定图。
16.附图标记说明:1底座、2滑轨、3滑动支撑盘、4通槽、5取放缺口、6滑块、7分厘卡、8
转动柱、9固定柱、10支撑座、11固定孔、12缺口12、13硅盘。
具体实施方式
17.下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。本实用新型的实施例是为了示例和描述方便起见而给出的,而并不是无遗漏的或者将本实用新型限于所公开的形式。很多修改和变化对于本领域的普通技术人员而言是显而易见的。选择和描述实施例是为了更好说明本实用新型的原理和实际应用,并且使本领域的普通技术人员能够理解本实用新型从而设计适于特定用途的带有各种修改的各种实施例。
18.参照图1-图3,本实用新型技术方案一种硅盘厚度量测装置,包括底座1、对称设置在所述底座1上的两条滑轨2、滑动固定在所述滑轨2上的滑动支撑盘3,所述滑动支撑盘3沿半径长度方向开设有一通槽4,所述通槽4平行于所示滑轨2方向设置;所述底座1上设置有缺口12,所述缺口12处设置有分厘卡7。
19.量测时,将硅盘13放置到滑动支撑座10上,然后推动滑动支撑座10,使滑动支撑座10在滑轨2上滑动,并滑动至分厘卡7处,分厘卡7的转动柱8个固定柱9分别卡在硅盘13的上下两侧,通过手动转动转动柱8,使转动柱8与固定柱9分别与硅盘13的上、下面接触,通过转动柱8上的刻度读出硅盘13的厚度。通过设置滑动支撑盘3对硅盘13进行支撑,降低量测难度,节约人力,避免对硅盘13的损伤;通槽4的设置保证分厘卡7可以顺利卡在硅盘13的上、下两侧,并对不同位置进行厚度量测,保证检测的准确性,提升产品的合格率。
20.所述滑动支撑盘3底部设置有四个滑块6,且所述四个滑块6分别位于所述滑动支撑盘3两侧,位于同一侧的两所述滑块6滑动固定在同一条所述滑轨2上。每侧设置两个滑块6保证滑动支撑盘3滑动的稳定性。
21.所述滑动支撑盘3为塑料材质,所述滑动支撑盘3顶面对称设置有取放缺口5。塑料材质设置减轻重量,便于操作人员推动。两个取放缺口5的设置便于将硅盘13从滑动支撑盘3上取下来。
22.所述分厘卡7底部设置有支撑座10。所述分厘卡7与所述滑动支撑盘3的通槽4相对。通过支撑座10对分厘卡7进行支撑,避免分厘卡7在进行量测时发生倾斜等情况,降低操作难度,提升量测效率。
23.所述底座1上设置有若干个固定孔11。可通过固定孔11将底座1固定到检测台面上,提升量测装置使用的灵活性。
24.显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域及相关领域的普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都应属于本实用新型保护的范围。本实用新型中未具体描述和解释说明的结构、装置以及操作方法,如无特别说明和限定,均按照本领域的常规手段进行实施。


技术特征:
1.一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:包括底座、对称设置在所述底座上的两条滑轨、滑动固定在所述滑轨上的滑动支撑盘,所述滑动支撑盘沿其半径长度方向开设有一通槽,所述通槽平行于所示滑轨方向设置;所述底座上设置有缺口,所述缺口处设置有分厘卡。2.根据权利要求1所述的一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:所述滑动支撑盘底部设置有四个滑块,且所述四个滑块分别位于所述滑动支撑盘两侧,位于同一侧的两所述滑块滑动固定在同一条所述滑轨上。3.根据权利要求1所述的一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:所述滑动支撑盘为塑料材质,所述滑动支撑盘顶面对称设置有取放缺口。4.根据权利要求1所述的一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:所述分厘卡底部设置有支撑座。5.根据权利要求1所述的一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:所述分厘卡与所述滑动支撑盘的通槽相对。6.根据权利要求1所述的一种硅盘厚度量测装置,其特征在于:所述底座上设置有若干个固定孔。

技术总结
本实用新型公开了一种硅盘厚度量测装置,包括底座、对称设置在所述底座上的两条滑轨、滑动固定在所述滑轨上的滑动支撑盘,所述滑动支撑盘沿其半径长度方向开设有一通槽,所述通槽平行于所示滑轨方向设置;所述底座上设置有缺口,所述缺口处设置有分厘卡。通过设置滑动支撑盘对硅盘进行支撑,降低量测难度,节约人力,避免对硅盘的损伤;通槽的设置保证分厘卡可以顺利卡在硅盘的上、下两侧,并对不同位置进行厚度量测,保证检测的准确性,提升产品的合格率。合格率。合格率。


技术研发人员:郑人豪
受保护的技术使用者:合盟精密工业(合肥)有限公司
技术研发日:2021.09.29
技术公布日:2022/7/12
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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