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一种陶瓷表面缺陷检测装置的制作方法

2022-07-16 06:00:03 来源:中国专利 TAG:


1.本实用新型涉及陶瓷缺陷检测领域,尤其是涉及一种陶瓷表面缺陷检测装置。


背景技术:

2.在陶瓷复杂的生产流程中,喷墨环节是极为重要的。现有陶瓷产品生成过程中,喷墨机将花纹通过喷头(含有数千个墨水通道,单个墨水通道尺寸为70um)将墨水喷射到陶瓷表面形成各式各样的花纹,因此花纹的质量决定了产品的质量,也同步决定此生产流水线的质量。另外还有很多表面缺陷种类如拉线、滴墨、缩釉、缺通道、色差、缺角等,也严重影响了陶瓷成品的品质。
3.陶瓷产品流水线中,一旦喷墨机出现异常就会连续性出现异常,造成生产的陶瓷产品出现连续的表面缺陷,给产线带来巨额的损失,因此在现有检测陶瓷产品表面缺陷流水线生产过程中,为了降低损失,需要人工24h不间断检查陶瓷生产的花纹质量,造成人力成本的较高。
4.同时,现有检测陶瓷表面缺陷措施客观存在的缺点:、单个喷墨墨水通道尺寸为70um,人眼很难高效辨识出缺陷;2、24小时不间断检查表面缺陷,质量可靠性不好掌控;3、流水线速度比较快,很容易出现漏检情况。


技术实现要素:

5.本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种陶瓷表面缺陷检测装置,通过门式的陶瓷表面缺陷检测装置实现自动化的缺陷检测及判断分析,可匹配的连续化的生产过程。
6.本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现:
7.本技术的目的是保护一种陶瓷表面缺陷检测装置,包括门式壳体平台、触发模块、图像获取模块、图像处理模块和光源,其中具体地:
8.门式壳体平台,包括竖向壳体平台和与竖向壳体平台连接的横向壳体平台,所述横向壳体平台设于陶瓷检测传送带上方;
9.触发模块,设于所述门式壳体平台上,所述触发模块感知陶瓷检测传送带上陶瓷样品的位置、距离信息;
10.图像获取模块,与所述触发模块电连接,图像获取模块呈条带式设于所述横向壳体平台下表面,根据触发模块输出的电平信号开始或停止图像采集;
11.图像处理模块,设于所述门式壳体平台中,所述图像处理模块与所述图像获取模块电连接,图像处理模块对图像获取模块获取的图像信息进行处理;
12.光源,设于所述门式壳体平台上。
13.进一步地,所述门式壳体平台呈倒u型门式结构。
14.进一步地,所述触发模块为红外测距传感器或激光测距传感器。
15.进一步地,所述图像获取模块为工业ccd相机。
16.进一步地,所述处理器模块包括cpu、存储器和gpu。
17.进一步地,所述cpu为x86架构、arm架构、risc-v架构处理器中的一种。
18.进一步地,所述竖向壳体平台为板型壳体结构,所述横向壳体平台连接于两个竖向壳体平台之间,使得陶瓷检测传送带设于两个竖向壳体平台之间且位于横向壳体平台正下方。
19.进一步地,所述竖向壳体平台上设有显示器,所述显示器与所述图像处理模块电连接。
20.进一步地,所述竖向壳体平台顶部设有螺栓式调高组件。
21.进一步地,所述螺栓式调高组件包括底板和多个支脚,其中具体地:
22.底板,固定于所述竖向壳体平台顶部;
23.支脚,包括支撑片和与支撑片连接的螺杆部,所述螺杆部螺接至底板上。
24.与现有技术相比,本实用新型具有以下技术优势:
25.1)通过门式的陶瓷表面缺陷检测装置实现自动化的缺陷检测及判断分析,可匹配的连续化的生产过程,可以支持尺寸较大的陶瓷图像采集,大大降低了生产流水线的不良率,以及原材料的浪费。
26.2)本技术方案中装置采用的检测方法为存储器中预存的神经网络算法程序,可以检测多种陶瓷表面缺陷,检测准确性大幅提高,设备操作简易,可连接数据库,可实现真正意义上的无人值守,对现有方式是革命性的突破。
27.3)本技术方案中的装置可实现陶瓷产品的质量数据统计,并且链接到流水线上下游,对上下生产工位进行控制。
附图说明
28.图1为本技术方案中陶瓷表面缺陷检测装置的结构示意图。
29.图中:1、竖向壳体平台,2、横向壳体平台,3、图像获取模块,4、显示器,5、底板,6、支脚。
具体实施方式
30.下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。本技术方案中如未明确说明的结构/模块名称、控制模式、算法、工艺过程等特征,均视为现有技术中公开的常见技术特征。
31.实施例1
32.本实施例中的陶瓷表面缺陷检测装置,包括门式壳体平台、触发模块、图像获取模块3、图像处理模块和光源,参见图1。
33.具体运行时,待测试样品经过或靠近时触发模块触发相机,相机采集瓷砖图案,输入到图像处理模块中进行运算,判断瓷砖是否为不良品。
34.具体实施时,门式壳体平台包括竖向壳体平台1和与竖向壳体平台1连接的横向壳体平台2,横向壳体平台2设于陶瓷检测传送带上方,门式壳体平台呈倒u型门式结构。
35.竖向壳体平台1为板型壳体结构,所述横向壳体平台2连接于两个竖向壳体平台1之间,使得陶瓷检测传送带设于两个竖向壳体平台1之间且位于横向壳体平台2正下方。竖
向壳体平台1上设有显示器4,所述显示器与所述图像处理模块电连接。
36.竖向壳体平台1顶部设有螺栓式调高组件。螺栓式调高组件包括底板5和多个支脚6,其中底板5固定于所述竖向壳体平台1顶部;支脚6设置有多个,每个支脚6包括支撑片和与支撑片连接的螺杆部,所述螺杆部螺接至底板5上。
37.触发模块设于所述门式壳体平台上,所述触发模块感知陶瓷检测传送带上陶瓷样品的位置、距离信息,具体选型时触发模块为红外测距传感器或激光测距传感器,当传送带上的待测陶瓷样品进入目标位置时,触发模块将电平信号传输至图像获取模块3,以此构成图像采集的电平触发模式,如高电平为触发条件,红外测距传感器或激光测距传感器发出的电信号为有效电平时,图像获取模块3开始采集图像,当待测陶瓷样品驶出目标位置时,红外测距传感器或激光测距传感器发出的电平信号变化,图像获取模块3停止采集。
38.图像获取模块3与所述触发模块电连接,图像获取模块3呈条带式设于所述横向壳体平台2下表面,根据触发模块输出的电平信号开始或停止图像采集,具体实施时,图像获取模块3为工业ccd相机,可为多个ccd相机线性排列构成。
39.图像处理模块设于所述门式壳体平台中,所述图像处理模块与所述图像获取模块3电连接,图像处理模块对图像获取模块3获取的图像信息进行处理;处理器模块包括cpu、存储器和gpu,其中cpu为x86架构、arm架构、risc-v架构处理器中的一种。存储器包括ram和rom,其中ram通过总线与cpu电连接,rom与cpu电连接,实现对获得的图片进行存储、对神经网络算法程序即其他必要程序、对处理后的图片已经缺陷分析信息进行存储。
40.光源设于所述门式壳体平台上,实现图像获取模块3的补光,具体可采用led发光条带。
41.上述的对实施例的描述是为便于该技术领域的普通技术人员能理解和使用实用新型。熟悉本领域技术的人员显然可以容易地对这些实施例做出各种修改,并把在此说明的一般原理应用到其他实施例中而不必经过创造性的劳动。因此,本实用新型不限于上述实施例,本领域技术人员根据本实用新型的揭示,不脱离本实用新型范畴所做出的改进和修改都应该在本实用新型的保护范围之内。
再多了解一些

本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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