一种电机性能综合检测电路及装置的制作方法

1.本实用新型涉及检测技术领域，尤其是涉及一种电机性能综合检测电路及装置。


背景技术：

2.电机测试项目根据不同测试目的可以分为：实验室测试项目、生产线测试项目、品质监管测试项目等；实验室测试项目主要包括对电机的性能、可靠性、安全性和寿命等的测量。生产线测试项目主要包括电机出厂前的电气性能检查、机械检查、外观检查、以及其它标准规定的项目。生产线测试项目包括：电机表面光洁度、铁芯有无斑点、裂纹、电机叠高、电机尺寸、电机转向、定子电阻、定子绕组脉冲测试等；品质监管测试项目主要包括电机制作过程中有无漆膜伤、电机绝缘是否正常、电机尺寸是否正常等。品质监管测试项目包括：绕组对铁芯绝缘电阻测定、绕组对铁芯耐压测试、定子匝间耐压测试、定子绕组脉冲测试、盐雾实验、电机定子匝数测定、电机定子电阻测定、尺寸外观等，而电机在生产完成后一般需经过系统的测试才能上市销售。
3.目前，现有的电机出厂后一般是人工通过万用表进行内部检测，以及肉眼进行外观瑕疵检测，检测速度慢，自动化程度低，且检测不够全面，同时针对不同的检测环节需要移至不同的工位，耗时长，运输不便，同时当出现新的问题时，需要购买新的设备，且对人员进行培训，费时费力，导致员工劳动强度大。现有的技术方案是根据厂家提供的出厂测试报告，单独对一个电机进行转动测试，人工计量转动次数，测试项目不仅单一不够全面，而且统计误差率很高，人员占用严重，不能自动化测试。
4.基于以上，如何提供了一种全自动电机检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题是亟待解决的问题。


技术实现要素：

5.为了克服背景技术中的不足，本实用新型提供了以下技术方案：
6.第一方面，本实用新型提供一种电机性能综合检测电路，包括：mcu电路、电机接口电路、电机控制电路、电源模块、开关控制模块、通讯模块以及复位模块；
7.所述电机接口电路用于连接待测电机；
8.所述电机控制电路分别与所述mcu电路以及待测电机电连接，所述电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；
9.所述电源模块与所述mcu电路连接，用于将12v输入电压转换成电机运行所需的5v或3.3v的工作电压；
10.所述开关控制模块与所述mcu电路连接，用于控制开启测试或停止测试；
11.所述通讯模块与所述mcu电路连接，用于所述电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。
12.进一步地，还包括复位电路，所述复位电路与所述mcu电路连接，用于复位所述mcu电路。
13.进一步地，所述通讯模块为usb串口模块，用于将mcu电路记录的电机测试结果发送到pc端。
14.进一步地，还包括指示灯电路，所述指示灯电路用于指示测试是否通过，当所述指示灯为绿灯则表示通过检测，当所述指示灯为红灯则表示检测失败。
15.进一步地，还包括报警模块，所述报警模块与所述mcu电路连接，用于故障报警。
16.进一步地，还包括晶振电路，所述晶振电路与所述mcu电路连接，用于为mcu电路的控制芯片提供外部时钟。
17.进一步地，所述指示灯电路包括8个双色led灯，所述8个led灯分别对应待测试的8个电机。
18.第二方面，本实用新型提供一种电机性能综合检测电路装置，包括如第一方面任一项所述的电机性能综合检测电路。
19.本技术采用以上技术方案，至少具备以下有益效果：
20.本实用新型提供一种电机性能综合检测电路，包括：mcu电路、电机接口电路、电机控制电路、电源模块、开关控制模块、通讯模块以及复位模块；所述电机接口电路用于连接待测电机；所述电机控制电路分别与所述mcu电路以及待测电机电连接，所述电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；所述电源模块与所述mcu电路连接，用于将12v输入电压转换成电机运行所需的5v或3.3v的工作电压；所述开关控制模块与所述mcu电路连接，用于控制开启测试或停止测试；所述通讯模块与所述mcu电路连接，用于所述电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。本技术所提供的电机性能综合检测电路为独立的电机检测设备，不包含任何计量设备，可以直接与电脑连接使用，提高了测试效率，降低了生产成本。
附图说明
21.图1为本实用新型一个实施例中一种电机性能综合检测电路结构框图。
22.图2是本实用新型一个实施例中mcu电路。
23.图3是本实用新型一个实施例中电机接口电路。
24.图4是本实用新型一个实施例中电机控制电路。
25.图5是本实用新型一个实施例中复位电路图。
26.图6是本实用新型一个实施例中通讯模块电路图。
27.图7是本实用新型一个实施例提供的指示灯电路图。
28.图8是本实用新型一个实施例提供的晶振电路图。
29.图9是本实用新型一个实施例提供的电源接口电路。
具体实施方式
30.通过下面的实施例可以详细的解释本实用新型，公开本实用新型的目的旨在保护本实用新型范围内的一切技术改进。
31.本实用新型未详述部分为现有技术，尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型，具体实现该技术方案方法和途径很多，以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精
神和范围内，在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化，均为本实用新型的保护范围。
32.针对相关技术中，测试功能单一不全面，数据统计困难，误差率高，不能自动化测试，人员占用严重，工作效率不高的问题。本实用新型提供一种电机性能综合检测电路，图1为本实用新型一个实施例中一种电机性能综合检测电路结构示意图，如图1所示，包括：mcu电路11、电机接口电路12、电机控制电路13、电源模块14、开关控制模块15、通讯模块16以及复位模块17；
33.所述电机接口电路用于连接待测电机；
34.所述电机控制电路分别与所述mcu电路以及待测电机电连接，所述电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；
35.所述电源模块与所述mcu电路连接，用于将12v输入电压转换成电机运行所需的5v或3.3v的工作电压；
36.所述开关控制模块与所述mcu电路连接，用于控制开启测试或停止测试；
37.所述通讯模块与所述mcu电路连接，用于所述电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。
38.请参阅图2，图2是本实用新型中mcu电路。
39.请参阅图3，图3是本实用新型中电机接口电路。
40.本实用新型技术方案的工作原理为，待测电机通过电机接口电路连接到mcu电路上，电机接口电路主要用于连接待测被测试的电机，图中p2-p10均为8p的插座，分别用于连接电机的供电、adc检测和电机的开关到位检测信号等。mcu电路包括主控制芯片，本技术中采用华大的hc32l136k8ta型号，其具有如下特点：
41.48mhz cortex-m0 32位cpu平台，具备超低功耗性能0.5μa@3v深度睡眠模式：所有时钟关闭，上电复位有效，io状态保持，io中断有效，所有寄存器、ram和cpu数据保存状态时的功耗0.9μa@3v深度睡眠模式
42.rtc工作7μa@32.768khz低速工作模式：cpu和外设运行，从flash运行程序35μa/mhz@3v@24mhz睡眠模式：cpu停止，外设运行，主时钟运行130μa/mhz@3v@24mhz工作模式：cpu和外设运行，从flash运行程序4μs超低功耗唤醒时间，使模式切换更加灵活高效，系统反应更为敏捷。64k字节flash存储器，具有擦写保护功能8k字节ram存储器，附带奇偶校验，增强系统的稳定性。通用i/o引脚(56io/64pin,40io/48pin)。
43.时钟、晶振
44.–
外部高速晶振4mhz～32mhz
45.–
外部低速晶振32.768khz
46.–
内部高速时钟4/8/16/22.12/24mhz
47.–
内部低速时钟32.8/38.4khz
48.–
pll时钟8mhz～48mhz
49.–
硬件支持内外时钟校准和监控
50.定时器/计数器
51.–
3个1通道互补通用16位定时器
52.–
1个3通道互补输出16位定时器
53.–
1个低功耗16位定时器
54.–
3个高性能16位定时器/计数器，支持
55.pwm互补，死区保护功能
56.–
1个可编程16位定时器pca，支持捕
57.获比较，pwm输出
58.–
1个超低功耗脉冲计数器pcnt
59.–
1个20位可编程看门狗电路，内建专
60.用10khz振荡器提供wdt计数
61.通讯接口
62.–
2路uart标准通讯接口
63.–
2路lpuart低功耗通讯接口，深度
64.睡眠模式下可工作
65.–
2路spi标准通讯接口
66.–
2路i2c标准通讯接口
67.蜂鸣器频率发生器，支持互补输出、硬件万年历rtc模块、硬件crc-16/32模块、硬件32位除法器、aes-128硬件协处理器、rng真随机数发生器、2通道dmac、4*40/6*38/8*36lcd驱动、全球唯一10字节id号、12位1msps采样的高速高精度saradc，内置运放，可测量外部微弱信号、集成3个多功能运算放大器、集成6位dac和可编程基准输入的2路电压比较器、集成低电压侦测器，可配置16阶比较电平，可监控端口电压以及电源电压、swd调试解决方案，提供全功能调试器；工作条件：-40～85℃，1.8～5.5v；
68.封装形式：qfn32,lqfp64/48,tssop28。
69.通过mcu电路可以进行检测到电机开关机次数、
70.请参阅图4，图4是本实用新型中电机控制电路。
71.电机控制电路用于控制电机的电源以及电机的正转和反转，电机的正转和反转和电源通过两个继电器进行控制。
72.然后将测试结果通过通讯模块发送至pc端，完成待测电机性能综合检测。
73.可以理解为，本实用新型提供一种电机性能综合检测电路，包括：mcu电路、电机接口电路、电机控制电路、电源模块、开关控制模块、通讯模块以及复位模块；所述电机接口电路用于连接待测电机；所述电机控制电路分别与所述mcu电路以及待测电机电连接，所述电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；所述电源模块与所述mcu电路连接，用于将12v输入电压转换成电机运行所需的5v或3.3v的工作电压；所述开关控制模块与所述mcu电路连接，用于控制开启测试或停止测试；所述通讯模块与所述mcu电路连接，用于所述电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。本技术所提供的电机性能综合检测电路为独立的电机检测设备，不包含任何计量设备，可以直接与电脑连接使用，提高了测试效率，降低了生产成本。
74.请参阅图5，图5是本实用新型一个实施例中复位电路，如图5所示，
75.所述复位电路与所述mcu电路连接，用于复位所述mcu电路。复位电路使得mcu电路可以上电复位。
76.请参阅图6，图6是本实用新型一个实施例中通讯模块电路图，如图6所示，所述通
讯模块为usb串口模块，用于将mcu电路记录的电机测试结果发送到pc端。其中测试结果包括但不限于mcu电路记录的电机测试的次数、开关次数、开关角度偏差、不同电压供电情况下对电机性能的影响、故障告警以及相关的参数等。
77.请参阅图7，图7是本实用新型一个实施例提供的指示灯电路图，如图7所示，所述指示灯电路用于指示测试是否通过，当所述指示灯为绿灯则表示通过检测，当所述指示灯为红灯则表示检测失败。指示灯电路与所述mcu电路连接，由主控制芯片引脚直接控制，指示灯电路使用的是双色led灯，led灯颜色为绿色和红色，所述指示灯电路包括8个双色led灯，所述8个led灯分别对应待测试的8个电机。测试通过亮绿灯，不通过亮红灯。
78.一些实施例中，还包括报警模块，所述报警模块与所述mcu电路连接，用于故障报警。
79.请参阅图8，图8是本实用新型一个实施例提供的晶振电路图。如图8所示，所述晶振电路与所述mcu电路连接，用于为mcu电路的控制芯片提供外部时钟。
80.请参阅图9，图9是本实用新型一个实施例提供的电源接口电路，如图9所示，电源接口电路采用外接外接12v/24v直流供电，电源芯片采用lm2576-5v/lm2576-3.3v和md5330-1稳压芯片，将输入的电源电压降压到5v和3.3v，5v用于继电器供电以及通过md5330-1稳压芯片输出3v电源用于给单片机供电，3.3v电源用于电机的供电。
81.本实用新型还提供一种电机性能综合检测电路装置，包括上任一项所述的电机性能综合检测电路。
82.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“具体示例”、或“一部分实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
83.尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。