一种空间光调制器结构测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及空间光调制器技术领域，具体是指一种空间光调制器结构测量装置。


背景技术：

2.空间光调制器的液晶显示器有许多格状的像素组成，液晶像素的大小影响光的最大衍射角度、衍射效率，并通过测量光测量衍射角度和衍射效率可以计算处像素大小和开口率，但现有的技术中，功率计在测量时需要人工进行调整，从而降低了测量的效率以及测量的精度。为此，提出一种空间光调制器结构测量装置。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是为了解决以上问题而提出一种空间光调制器结构测量装置。
4.为了达到上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：一种空间光调制器结构测量装置，包括光学底板、依次安装在光学底板上的激光器、分光棱镜、空间光调制器以及功率计；其特征是所述光学底板上还安装有调节功率计的二维步进电机；所述二维步进电机包括纵向调节组件以及安装在纵向调节组件上的横向调节组件。
5.作为优选，所述光学底板上还安装有若干个支撑架；所述激光器、分光棱镜以及空间光调制器通过支撑架安装在光学底板上；所述功率计通过二维步进电机安装在光学底板上。
6.作为优选，所述纵向调节组件包括安装在光学底板上的纵向调节底座、安装在纵向调节底座上的纵向调节电机以及与纵向调节电机相连接的纵向调节丝杆；所述纵向调节丝杆上安装有纵向螺母座；所述横向调节组件安装在纵向螺母座上；所述功率计安装在横向调节组件上。
7.作为优选，所述横向调节组件包括安装在纵向螺母座上的横向调节底座、安装在横向调节底座上的横向调节电机以及与横向调节电机相连接的横向调节丝杠；所述横向调节丝杠上还安装有横向调节螺母座上；所述功率计安装在横向调节组件的横向调节螺母座上。
8.本实用新型的有益效果：通过二维步进电机的设置，利用二维步进电机带动功率计进行自动调节对空间光调制器内部的结构进行测量，从而提高测量的精度和效率；
9.通过纵向调节组件的设置，利用纵向调节组件代替人工带动功率计对空间光调制器内部的结构进行纵向测量；
10.通过横向调节组件的设置，利用横向调节组件代替人工带动功率计对空间光调制器内部的结构进行横向测量。
附图说明
11.图1是本实用新型的结构示意图。
12.图2是本实用新型二维步进电机的结构示意图。
13.图例说明：1光学底板；101支撑架；2激光器；3分光棱镜；4空间光调制器；5功率计；6二维步进电机；601纵向调节组件；602横向调节组件；603纵向调节底座；604纵向调节电机；605纵向调节丝杆；606纵向螺母座；607横向调节底座；608横向调节电机；609横向调节丝杠；610横向调节螺母座。
具体实施方式
14.下面我们结合附图对本实用新型所述的一种空间光调制器结构测量装置做进一步的说明。
15.参阅附图1所示，本实施例中一种空间光调制器结构测量装置，包括光学底板1、依次安装在光学底板1上的激光器2、分光棱镜3、空间光调制器4以及功率计5；其特征是所述光学底板1上还安装有调节功率计5的二维步进电机6；所述二维步进电机6包括纵向调节组件601以及安装在纵向调节组件601上的横向调节组件602；通过二维步进电机6的设置，利用二维步进电机6带动功率计5进行自动调节对空间光调制器4内部的结构进行测量，从而提高测量的精度和效率；通过纵向调节组件601的设置，利用纵向调节组件601代替人工带动功率计5对空间光调制器4内部的结构进行纵向测量；通过横向调节组件602的设置，利用横向调节组件602代替人工带动功率计5对空间光调制器4内部的结构进行横向测量。
16.参阅附图1-2所示，所述光学底板1上通过螺钉还安装有若干个支撑架101；所述激光器2、分光棱镜3以及空间光调制器4通过支撑架101安装在光学底板1上；所述功率计5通过二维步进电机6安装在光学底板1上；所述纵向调节组件601包括通过螺钉安装在光学底板1上的纵向调节底座603、安装在纵向调节底座603上的纵向调节电机604以及与纵向调节电机604相连接的纵向调节丝杆605；所述纵向调节丝杆605上安装有纵向螺母座606；所述横向调节组件602安装在纵向螺母座606上；所述功率计5安装在横向调节组件602上；通过纵向调节电机604带动纵向调节丝杆605进行转动，纵向调节丝杠605带动纵向螺母座606进行运动，纵向螺母座606带动横向调节组件602以及安装在横向调节组件602上的功率计5进行纵向运动，从而便于功率计5进行纵向调节对空间光调制器4内部的结构进行测量。
17.参阅附图1-2所示，所述横向调节组件602包括通过螺钉安装在纵向螺母座606上的横向调节底座607、安装在横向调节底座607上的横向调节电机608以及与横向调节电机608相连接的横向调节丝杠609；所述横向调节丝杠609上还安装有横向调节螺母座610上；所述功率计5通过螺钉安装在横向调节组件602的横向调节螺母座610上；通过横向调节电机608带动横向调节丝杠609进行转动，横向调节丝杆609带动横向调节螺母座610进行运动，横向调节螺母座610带动功率计5横向运动对空间光调制器4内部结构进行测量，从而便于功率计5的横向自动调节。
18.本实用新型的工作过程，打开激光器2，激光器2中的激光经过分光棱镜3折射在空间光调制器4上，并由空间光调制器4反射至分光棱镜3，然后折射在白屏上，然后纵向调节电机604带动纵向调节丝杆605进行转动，纵向调节丝杠605带动纵向螺母座606进行运动，纵向螺母座606带动横向调节组件602以及安装在横向调节组件602上的功率计5进行纵向运动，同时横向调节电机608带动横向调节丝杠609进行转动，横向调节丝杆609带动横向调节螺母座610进行运动，横向调节螺母座610带动功率计5横向运动，对衍射光的功率进行测
量，从而通过计算得到空间光调制器4的开口率。
19.上述实施例是对本实用新型的说明，不是对本实用新型的限定，任何对本实用新型简单变换后的方案均属于本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种空间光调制器结构测量装置，包括光学底板（1）、依次安装在光学底板（1）上的激光器（2）、分光棱镜（3）、空间光调制器（4）以及功率计（5）；其特征是所述光学底板（1）上还安装有调节功率计（5）的二维步进电机（6）；所述二维步进电机（6）包括纵向调节组件（601）以及安装在纵向调节组件（601）上的横向调节组件（602）。2.根据权利要求1所述的一种空间光调制器结构测量装置，其特征在于：所述光学底板（1）上还安装有若干个支撑架（101）；所述激光器（2）、分光棱镜（3）以及空间光调制器（4）通过支撑架（101）安装在光学底板（1）上；所述功率计（5）通过二维步进电机（6）安装在光学底板（1）上。3.根据权利要求1所述的一种空间光调制器结构测量装置，其特征在于：所述纵向调节组件（601）包括安装在光学底板（1）上的纵向调节底座（603）、安装在纵向调节底座（603）上的纵向调节电机（604）以及与纵向调节电机（604）相连接的纵向调节丝杆（605）；所述纵向调节丝杆（605）上安装有纵向螺母座（606）；所述横向调节组件（602）安装在纵向螺母座（606）上；所述功率计（5）安装在横向调节组件（602）上。4.根据权利要求3所述的一种空间光调制器结构测量装置，其特征在于：所述横向调节组件（602）包括安装在纵向螺母座（606）上的横向调节底座（607）、安装在横向调节底座（607）上的横向调节电机（608）以及与横向调节电机（608）相连接的横向调节丝杠（609）；所述横向调节丝杠（609）上还安装有横向调节螺母座（610）上；所述功率计（5）安装在横向调节组件（602）的横向调节螺母座（610）上。

技术总结
本实用新型公开了一种空间光调制器结构测量装置，包括光学底板、依次安装在光学底板上的激光器、分光棱镜、空间光调制器以及功率计；其特征是所述光学底板上还安装有调节功率计的二维步进电机；所述二维步进电机包括纵向调节组件以及安装在纵向调节组件上的横向调节组件。本实用新型通过二维步进电机的设置，利用二维步进电机带动功率计进行自动调节对空间光调制器内部的结构进行测量，从而提高测量的精度和效率；通过纵向调节组件的设置，利用纵向调节组件代替人工带动功率计对空间光调制器内部的结构进行纵向测量；通过横向调节组件的设置，利用横向调节组件代替人工带动功率计对空间光调制器内部的结构进行横向测量。率计对空间光调制器内部的结构进行横向测量。率计对空间光调制器内部的结构进行横向测量。


技术研发人员：王震 覃爱民 郭英 卢伟 蔡桂双
受保护的技术使用者：杭州大华仪器制造有限公司
技术研发日：2022.05.14
技术公布日：2022/7/29