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电路板测试结构及电路板测试治具的制作方法

2022-07-30 19:23:39 来源:中国专利 TAG:

技术特征:
1.一种电路板测试结构,其中,包括测试平台(1)、测试组件和盖板组件;所述测试平台(1)的第一面设有测试位,用于安装待测电路板(18);所述测试组件包括控制板(2)、第一开关(3)和第二开关(4),所述控制板(2)、所述第一开关(3)和所述第二开关(4)连接形成控制电路;所述盖板组件包括第一盖板(5)和第二盖板(6),所述第一盖板(5)上设有用于触发所述第一开关(3)的第一触发装置(7),所述第二盖板(6)上设有用于触发所述第二开关(4)的第二触发装置(8),所述第一盖板(5)和所述第二盖板(6)依次叠加设于所述测试位上方,且依次触发所述第一开关(3)和所述第二开关(4)。2.根据权利要求1所述的电路板测试结构,其中,所述测试平台(1)上设有第一支撑柱(9)和第二支撑柱(10),所述第二支撑柱(10)的高度大于所述第一支撑柱(9)的高度;所述第一盖板(5)的一端与所述第一支撑柱(9)转动连接,所述第二盖板(6)的一端与所述第二支撑柱(10)转动连接。3.根据权利要求2所述的电路板测试结构,其中,所述第一支撑柱(9)和所述第二支撑柱(10)位于所述测试平台(1)的一组相对测;所述测试平台(1)上位于所述第一支撑柱(9)和所述第二支撑柱(10)之间设有用于支撑所述第一盖板(5)和所述第二盖板(6)的中间支撑柱(11)。4.根据权利要求2所述的电路板测试结构,其中,所述控制板(2)、所述第一开关(3)和所述第二开关(4)位于所述测试平台(1)第二面所在侧;所述测试平台(1)上设有穿孔,所述第一开关(3)和所述第二开关(4)设于所述述穿孔内或所述穿孔末端,所述第一触发装置(7)和所述第二触发装置(8)呈柱状,并用于穿过所述穿孔分别触发所述第一开关(3)和所述第二开关(4)。5.根据权利要求1至4中任一项所述的电路板测试结构,其中,所述第一盖板(5)上设有用于套设所述待测电路板(18)上散热结构的通孔;所述第二盖板(6)上与所述通孔的相对位置设有散热风扇(12)。6.根据权利要求1至4中任一项所述的电路板测试结构,其中,所述测试组件还包括电池转接头(13),所述电池转接头(13)设于所述测试平台(1)的第一面,所述电池转接头(13)包括第一电池接头和第二电池接头;所述第一电池接头用于与所述控制板(2)连接,所述第二电池接头用于与所述待测电路板(18)连接。7.根据权利要求6所述的电路板测试结构,其中,所述测试组件还包括电源转接头(14),所述电源转接头(14)设于所述测试平台(1)的第一面,所述电源转接头(14)包括第一电源接头和第二电源接头;所述第一电源接头用于与所述控制板(2)连接,所述第二电源接头用于与所述待测电路板(18)连接。8.根据权利要求1至4中任一项所述的电路板测试结构,其中,所述测试平台(1)上还设有用于支撑显示设备的支撑架(15)。9.一种电路板测试治具,其中,包括如权利要求1至8中任一项所述的电路板测试结构。10.根据权利要求9所述的电路板测试治具,其中,还包括箱体(16),所述测试平台(1)设于所述箱体(16)的顶部,所述测试组件设于所述箱体(16)内。

技术总结
本公开涉及电路板测试技术领域,尤其涉及一种电路板测试结构及电路板测试治具,该电路板测试结构包括测试平台、测试组件和盖板组件;测试平台的第一面设有测试位,用于安装待测电路板;测试组件包括控制板、第一开关和第二开关,控制板、第一开关和第二开关连接形成控制电路;盖板组件包括第一盖板和第二盖板,第一盖板上设有用于触发第一开关的第一触发装置,第二盖板上设有用于触发第二开关的第二触发装置,第一盖板和第二盖板依次叠加设于测试位上方,且依次触发第一开关和第二开关。本公开实施例技术方案,可适配更多种类的待测电路板,以及对于操作人员具有防呆效果,有效降低了测试过程中烧机情况,且保证了测试过程中操作的准确性。操作的准确性。操作的准确性。


技术研发人员:刘俊杰 杨志锋 梁永 束永石 郭东明 王华 张超 张彬 倪杰 许昌青 杨杰
受保护的技术使用者:联宝(合肥)电子科技有限公司
技术研发日:2022.04.12
技术公布日:2022/7/29
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本文用于企业家、创业者技术爱好者查询,结果仅供参考。

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