电路板测试结构及电路板测试治具的制作方法

1.本公开涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板测试结构及电路板测试治具。


背景技术：

2.现有的电路板测试中，测试人员直接将带电的转接头插接在被测的电路板上，此方式极易导致电路板零件短路，最终导致电路板烧机。由此可知，现有的测试方法及测试的简易治具无法进行人员防呆，且无法对人员插拔接口的顺序进行防呆。
3.目前的解决方式为，采用植针治具，也即在电路板测试过程采用的是探针接触电路板tp测点的方式，然后通过在探针上面绕线的方式把测试接口转接出来，此方式可减少人员的操作，来达到人员防呆的效果，但是，同时存在大电流和高频信号在探针存在衰减情况，测试中频繁出现误测情况，并且电路板上一些大功率的芯片在测试过程中需要使用大体积的散热铁进行散热也会导致一些测试的针点无法植针，导致无法测试，以及如待测电路板是通过卡槽插卡形式插在陪测电路板上面进行测试，则没有办法进行植针，电路板正反面的针点会被陪测电路板所遮挡。


技术实现要素：

4.为解决现有技术中存在的至少以上技术问题，本公开实施例提供了一种电路板测试结构及电路板测试治具。
5.本公开实施例一方面提供一种电路板测试结构，包括测试平台、测试组件和盖板组件；所述测试平台的第一面设有测试位，用于安装待测电路板；所述测试组件包括控制板、第一开关和第二开关，所述控制板、所述第一开关和所述第二开关连接形成控制电路；所述盖板组件包括第一盖板和第二盖板，所述第一盖板上设有用于触发所述第一开关的第一触发装置，所述第二盖板上设有用于触发所述第二开关的第二触发装置，所述第一盖板和所述第二盖板依次叠加设于所述测试位上方，且依次触发所述第一开关和所述第二开关。
6.在一些实施例中，所述测试平台上设有第一支撑柱和第二支撑柱，所述第二支撑柱的高度大于所述第一支撑柱的高度；所述第一盖板的一端与所述第一支撑柱转动连接，所述第二盖板的一端与所述第二支撑柱转动连接。
7.在一些实施例中，所述第一支撑柱和所述第二支撑柱位于所述测试平台的一组相对测；所述测试平台上位于所述第一支撑柱和所述第二支撑柱之间设有用于支撑所述第一盖板和所述第二盖板的中间支撑柱。
8.在一些实施例中，所述控制板、所述第一开关和所述第二开关位于所述测试平台第二面所在侧；所述测试平台上设有穿孔，所述第一开关和所述第二开关设于所述述穿孔内或所述穿孔末端，所述第一触发装置和所述第二触发装置呈柱状，并用于穿过所述穿孔分别触发所述第一开关和所述第二开关。
9.在一些实施例中，所述第一盖板上设有用于套设所述待测电路板上散热结构的通孔；所述第二盖板上与所述通孔的相对位置设有散热风扇。
10.在一些实施例中，所述测试组件还包括电池转接头，所述电池转接头设于所述测试平台的第一面，所述电池转接头包括第一电池接头和第二电池接头；所述第一电池接头用于与所述控制板连接，所述第二电池接头用于与所述待测电路板连接。
11.在一些实施例中，所述测试组件还包括电源转接头，所述电源转接头设于所述测试平台的第一面，所述电源转接头包括第一电源接头和第二电源接头；所述第一电源接头用于与所述控制板连接，所述第二电源接头用于与所述待测电路板连接。
12.在一些实施例中，所述测试平台上还设有用于支撑显示设备的支撑架。
13.本公开实施例另一方面提供一种电路板测试治具，包括上述电路板测试结构。
14.在一些实施例中，还包括箱体，所述测试平台设于所述箱体的顶部，所述测试组件设于所述箱体内。
15.本公开实施例提供的一种电路板测试结构及电路板测试治具，在进行电路板测试时，将待测电路板放置在测试位上，然后，依次顺序关闭第一盖板和第二盖板，使得先后间隔触发第一开关和第二开关，其中，第一开关用于控制待测电路板的电池开关，第二开关用于控制待测电路板的电源开关，此方式确保先接通电池，再接通电源，可避免先接通电源，而后接通电池而导致的零件短路和电路板烧机的状况。本公开技术方案中，无针点干涉，可适配更多种类的待测电路板，以及通过两个盖板，先后触发第一开关和第二开关，对于操作人员具有防呆效果，有效降低了测试过程中烧机情况，且保证了测试过程中操作的准确性。
附图说明
16.通过参考附图阅读下文的详细描述，本公开示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本公开的若干实施方式，其中：
17.在附图中，相同或对应的标号表示相同或对应的部分。
18.图1为本公开实施例一种电路板测试结构的结构示意图；
19.图2为本公开实施例一种电路板测试结构的俯视图；
20.图3为本公开实施例一种电路板测试结构的电路图；
21.图4为本公开实施例一种电路板测试结构中第一开关/第二开关处的剖视图。
22.图中：
23.1：测试平台；2：控制板；3：第一开关；4：第二开关；5：第一盖板；6：第二盖板；7：第一触发装置；8：第二触发装置；9：第一支撑柱；10：第二支撑柱；11：中间支撑柱；12：散热风扇；13：电池转接头；14：电源转接头；15：支撑架；16：箱体；17：风扇开关按钮；18：待测电路板。
具体实施方式
24.为使本公开的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本公开实施例中的附图，对本公开实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本公开一部分实施例，而非全部实施例。基于本公开中的实施例，本领域技术人员在没
有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
25.如图1和图2所示，本公开提供的一种电路板测试结构，包括测试平台1、测试组件和盖板组件；测试平台1的第一面设有测试位，用于安装待测电路板18；测试组件包括控制板2、第一开关3和第二开关4，控制板2、第一开关3和第二开关4连接形成控制电路；盖板组件包括第一盖板5和第二盖板6，第一盖板5上设有用于触发第一开关3的第一触发装置7，第二盖板6上设有用于触发第二开关4的第二触发装置8，第一盖板5和第二盖板6依次叠加设于测试位上方，且依次触发第一开关3和第二开关4。
26.在进行电路板测试时，将待测试电路板安装在测试位上，然后，需要依次盖上第一盖板5和第二盖板6。本公开实施例中的防呆结构为，第一盖板5关闭时，触发第一开关3，第二盖板6关闭时，触发第二开关4，也即第一开关3和第二开关4需按顺序操作，不能改变顺序也不能同时关闭。
27.例如，触发第一开关3则先接通待测电路板18的电池，触发第二开关4则再接通待测电路板18的电源，电池和电源的接通存在间隔，例如，间隔1秒钟，采用此方式，可避免电路板测试过程中，先通电源再通电池，使待测试电路板的一些元件短路而导致烧机，进而达到防呆的效果。
28.在一些实施例中，如图3所示，第一开关3(k1)与电池连接，第二开关4(k2)与电源连接，在电路中还包括两个继电器，两个继电器与控制板2连接，分别用于控制电池和电源的导通，使用时，通过控制板2控制继电器的开关为待测电路板18进行供电，此方式有效降低了测试过程中的烧机情况，保证了测试操作的准确性。
29.继续参考图3，在电路中还设置保险丝，保险丝的额定电流是根据待测电路板18在测试过程中所能承受的最大电流而配置的，若测试过程发生电流过大产生烧机的情况，保险丝直接熔断，有效的保护了待测电路板18。
30.如图1至图4所示，在一些实施例中，控制板2、第一开关3和第二开关4位于测试平台1第二面所在侧；测试平台1上设有穿孔，第一开关3和第二开关4设于述穿孔内或穿孔末端，第一触发装置7和第二触发装置8呈柱状，并用于穿过穿孔分别触发第一开关3和第二开关4。
31.例如，第一开关3和第二开关4为微动开关，第一触发装置7穿入穿孔后按压在第一开关3上，从而触发第一开关3，第二触发装置8穿入穿孔后按压在第二开关4上，从而触发第二开关4。
32.继续参考图1和图2，在一些实施例中，测试平台1上设有第一支撑柱9和第二支撑柱10，第二支撑柱10的高度大于第一支撑柱9的高度；第一盖板5的一端与第一支撑柱9转动连接，第二盖板6的一端与第二支撑柱10转动连接。
33.通过第一支撑柱9和第二支撑柱10，将第一盖板5和第二盖板6设置为具有高度差，盖板关闭时，先关闭高度较低的第一盖板5，然后，再关闭高度较高的第二盖板6。
34.例如，第一盖板5上设有用于套设待测电路板18上散热结构的通孔；第二盖板6上与通孔的相对位置设有散热风扇12。第一盖板5关闭时，通孔套设在待测电路板18的散热结构上，例如，套设在散热铁上，然后，再通过第二盖板6上的散热风扇12进行散热操作。
35.本公开实施例中，第一盖板5与待测电路板18的散热结构直接接触，可进行热导散热，以及利用第二盖板6上的散热风扇12加速散热。采用散热结构(第一盖饭)与散热风扇12
分离的方式，不仅满足散热需求，还能避免使用大功率风扇，进行减小风扇导致的震动。
36.例如，第一支撑柱9和第二支撑柱10位于测试平台1的一组相对测；测试平台1上位于第一支撑柱9和第二支撑柱10之间设有用于支撑第一盖板5和第二盖板6的中间支撑柱11。
37.继续参考图1和图2，在一些实施例中，测试组件还包括电池转接头13，电池转接头13设于测试平台1的第一面，电池转接头13包括第一电池接头和第二电池接头；第一电池接头用于与控制板2连接，第二电池接头用于与待测电路板18连接。
38.在一些实施例中，测试组件还包括电源转接头14，电源转接头14设于测试平台1的第一面，电源转接头14包括第一电源接头和第二电源接头；第一电源接头用于与控制板2连接，第二电源接头用于与待测电路板18连接。
39.在测试过程中，将待测电路板18设置在测试位上，在关闭两个盖板操作前，先通过电池转接头13和电源转接头14将待测电路板18与测试装置连接，其中，电池转接头13和电源转接头14连接顺序不受限制。
40.继续参考图1和图2，在一些实施例中，测试平台1上还设有用于支撑显示设备的支撑架15。待测电路板18测试时，待测电路板18连接显示设备时，例如，显示设备为lcd，可通过支撑架15对显示设备进行支撑。
41.例如，在测试平台1上还设置有风扇开关按钮17，在测试时，可手动开启风扇。例如，在测试平台1一侧或者测试平台1下方，还可设置散热风扇12，在测试时起到辅助散热的作用。
42.本公开实施例提供一种电路板测试治具，包括上述电路板测试结构。例如，电路板测试治具还包括箱体16，测试平台1设于箱体16的顶部，测试组件设于箱体16内。例如，在箱体16的侧端设置电源开关，或其他元器件接口。
43.电路板测试治具使用时，先打开第一盖板5和第二盖板6，然后开启电源，将待测电路板18放置在测试位上，以及插接好ram、wlan卡、ssd以及lcd等元件；之后将电池转接头13的一端与待测电路板18的电池连接，另一端与治具预留的接口(控制板2)连接，将电源转接头14的一端与待测电路板18的电源连接，另一端与治具预留的接口(控制板2)连接。然后，关闭第一盖板5，并触发第一开关3，关闭第二盖板6，并触发第二开关4，此时两个开关先后触发之后，控制板2开始工作，通过继电器控制电流通电的顺序，以达到测试过程中先接通电池，再接通电源，测试完之后先断电源再断电池的测试顺序，以避免电路板的短路烧机，然后启动治具上的风扇开关按钮17，启动散热风扇12，然后按正常的测试流程进行测试即可，测试完成后打开第二盖板6和第一盖板5，最后取出电路板，测试结束。
44.本公开实施例提供的一种电路板测试结构及电路板测试治具，在进行电路板测试时，将待测电路板18放置在测试位上，然后，依次顺序关闭第一盖板5和第二盖板6，使得先后间隔触发第一开关3和第二开关4，其中，第一开关3用于控制待测电路板18的电池开关，第二开关4用于控制待测电路板18的电源开关，此方式可避免先接通电源，而后接通电池而导致的零件短路和电路板烧机的状况。本公开技术方案中，无针点干涉，可适配更多种类的待测电路板18，以及通过两个盖板，先后触发第一开关3和第二开关4，对于操作人员具有防呆效果，有效降低了测试过程中烧机情况，且保证了测试过程中操作的准确性。
45.在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示
例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本公开的至少一个实施例或示例中。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
46.此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或隐含地包括至少一个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
47.以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。