辊压装置以及控制装置的制作方法

技术特征：
1.一种辊压装置，包括：第1加压辊及第2加压辊，其通过夹入被连续地输送的二次电池的电极板来进行轧制，第1主轴承部及第2主轴承部，其被分别设置于上述第1加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第3主轴承部及第4主轴承部，其被分别设置于上述第2加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第1弯曲轴承部及第2弯曲轴承部，其被分别设置于上述第1加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第3弯曲轴承部及第4弯曲轴承部，其被分别设置于上述第2加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第1压缩机构，其能够对上述第1主轴承部及上述第3主轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊接近的方向的荷重，第2压缩机构，其能够对上述第1主轴承部及上述第4主轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊接近的方向的荷重，第1弯曲机构，其能够对上述第1弯曲轴承部及上述第3弯曲轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊分离/接触的方向的荷重，第2弯曲机构，其能够对上述第2弯曲轴承部及上述第4弯曲轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊分离/接触的方向的荷重，厚度计，其被设置于上述第1加压辊及第2加压辊的出侧，沿该电极板的宽度方向在3点以上分别对上述二次电池的电极板的厚度进行检测，算出部，其基于以上述厚度计的检测值为基础的3点以上的厚度测定值和厚度目标值，算出上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构各自的设定值，以及控制部，其基于由上述算出部算出的设定值，分别对上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的荷重进行控制；上述算出部算出厚度目标值与上述3点以上的点中的最靠上述第1压缩机构侧的点的厚度测定值的第1偏差、上述厚度目标值与上述3点以上中的最靠上述第2压缩机构侧的点的厚度测定值的第2偏差、以及上述电极板的厚度轮廓的2次分量这3个特征量，并基于3个特征量来适当地改变上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的设定值。2.如权利要求1所述的辊压装置，其中，上述厚度计被设置于上述第1加压辊及第2加压辊的出侧，并在沿该电极板的宽度方向排列的第1地点、第2地点及第3地点处分别对上述二次电池的电极板的厚度进行检测；上述算出部基于以上述厚度计的检测值为基础的第1地点厚度测定值、第2地点厚度测定值及第3地点厚度测定值和厚度目标值，算出上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的设定值；上述第1地点被设定于上述二次电池的电极板的、设置有上述第1压缩机构的一侧的端部；上述第2地点被设定于上述二次电池的电极板的中央部；
上述第3地点被设定于上述二次电池的电极板的、设置有上述第2压缩机构的一侧的端部；上述算出部根据上述第1地点厚度测定值、上述第2地点厚度测定值、上述第3地点厚度测定值及上述厚度目标值，算出上述第1地点厚度测定值与厚度目标值的第1偏差、上述第1地点厚度测定值与厚度目标值的第2偏差、以及上述电极板的厚度轮廓的2次分量这3个特征量；上述电极板的厚度轮廓的2次分量被规定为上述第2地点厚度测定值与上述第1地点厚度测定值和上述第3地点厚度测定值的平均值的差分。3.如权利要求1或2所述的辊压装置，其中，上述算出部基于预先导出的、上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构所产生的荷重与上述3个特征量的关系性，以上述3个特征量全为零的方式，算出上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构各自的设定值。4.如权利要求3所述的辊压装置，其中，上述第1压缩机构包含第1施压用的缸；上述第2压缩机构包含第2施压用的缸；上述第1弯曲机构包含第1弯曲用的缸；上述第2弯曲机构包含第2弯曲用的缸；上述算出部以上述3个特征量全为零的方式，算出上述第1施压用的缸的压力、上述第2施压用的缸的压力、上述第1弯曲用的缸的压力、以及上述第2弯曲用的缸的压力各自的设定值。5.如权利要求3所述的辊压装置，其中，上述第1压缩机构包含第1施压用的缸；上述第2压缩机构包含第2施压用的缸；上述第1弯曲机构包含第1弯曲用的缸；上述第2弯曲机构包含第2弯曲用的缸；上述算出部以上述3个特征量全为零的方式，算出上述第1施压用的缸的位置、上述第2施压用的缸的位置、上述第1弯曲用的缸的压力、以及上述第2弯曲用的缸的压力各自的设定值。6.如权利要求5所述的辊压装置，其中，上述第1压缩机构还包含第1磁栅尺，该第1磁栅尺用于对上述第1施压用的缸的位置进行测定；上述第2压缩机构还包含第2磁栅尺，该第2磁栅尺用于对上述第2施压用的缸的位置进行测定；上述控制部对上述第1施压用的缸的压力进行控制，使得由上述第1磁栅尺测定的上述第1施压用的缸的位置与从上述算出部供给的上述第1施压用的缸的位置一致，并对上述第2施压用的缸的压力进行控制，使得由上述第2磁栅尺测定的上述第2施压用的缸的位置与从上述算出部供给的上述第2施压用的缸的位置一致。
7.如权利要求3所述的辊压装置，其中，上述第1压缩机构包含第1电动螺杆；上述第2压缩机构包含第2电动螺杆；上述第1弯曲机构包含第1弯曲用的缸；上述第2弯曲机构包含第2弯曲用的缸；上述算出部以上述3个特征量全为零的方式，算出上述第1电动螺杆的位置、上述第2电动螺杆的位置、上述第1弯曲用的缸的压力、以及上述第2弯曲用的缸的压力各自的设定值。8.如权利要求3所述的辊压装置，其中，上述第1压缩机构包含第1电动销；上述第2压缩机构包含第2电动销；上述第1弯曲机构包含第1弯曲用的缸；上述第2弯曲机构包含第2弯曲用的缸；上述算出部以上述3个特征量全为零的方式，算出上述第1电动销的高度、上述第2电动销的高度、上述第1弯曲用的缸的压力、以及上述第2弯曲用的缸的压力各自的设定值。9.如权利要求1～8的任意一项所述的辊压装置，其中，上述厚度计使1个厚度检测传感器沿上述电极板的宽度方向进行扫描，连续地对上述电极板的厚度进行检测，并提取上述3点以上的厚度检测值。10.如权利要求1～8的任意一项所述的辊压装置，其中，上述厚度计以3个以上的厚度检测传感器分别对上述3点以上的厚度进行检测。11.如权利要求9或10所述的辊压装置，其中，还包括厚度测定值算出部，该厚度测定值算出部沿上述电极板的长度方向分别对由上述厚度计检测的3个以上的厚度检测值进行过滤，并算出上述3点以上的厚度测定值。12.如权利要求1～8的任意一项所述的辊压装置，其中，上述算出部在进行了上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的设定值的变更后，在满足与从施压位置到上述厚度计的道次线长、以及到上述设定值的变更被反映到实际的输出为止的时间有关的预定的条件之前，保留下个上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的设定值的变更。13.一种控制装置，其被使用于辊压装置；该辊压装置包括：第1加压辊及第2加压辊，其通过夹入被连续地输送的二次电池的电极板来进行轧制，第1主轴承部及第2主轴承部，其被分别设置于上述第1加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第3主轴承部及第4主轴承部，其被分别设置于上述第2加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第1弯曲轴承部及第2弯曲轴承部，其被分别设置于上述第1加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第3弯曲轴承部及第4弯曲轴承部，其被分别设置于上述第2加压辊的旋转轴的一侧与另一侧，并可自由旋转地支撑该旋转轴，第1压缩机构，其能够对上述第1主轴承部及上述第3主轴承部中的至少一者，施加向上
述第1加压辊与上述第2加压辊接近的方向的荷重，第2压缩机构，其能够对上述第2主轴承部及上述第4主轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊接近的方向的荷重，第1弯曲机构，其能够对上述第1弯曲轴承部及上述第3弯曲轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊分离/接触的方向的荷重，第2弯曲机构，其能够对上述第2弯曲轴承部及上述第4弯曲轴承部中的至少一者，施加向上述第1加压辊与上述第2加压辊分离/接触的方向的荷重，以及厚度计，其被设置于上述第1加压辊及第2加压辊的出侧，沿该电极板的宽度方向在3点以上分别对上述二次电池的电极板的厚度进行检测；该控制装置包括：算出部，其基于以上述厚度计的检测值为基础的3点以上的厚度测定值和厚度目标值，算出上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构各自的设定值，以及控制部，其基于由上述算出部算出的设定值，分别对上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的荷重进行控制；上述算出部算出厚度目标值与上述3点以上的点中的最靠上述第1压缩机构侧的点的厚度测定值的第1偏差、上述厚度目标值与上述3点以上中的最靠上述第2压缩机构侧的点的厚度测定值的第2偏差、以及上述电极板的厚度轮廓的2次分量这3个特征量，并基于3个特征量来适当地改变上述第1压缩机构、上述第2压缩机构、上述第1弯曲机构及上述第2弯曲机构的设定值。

技术总结
在辊压装置中，厚度计被设置于第1加压辊及第2加压辊的出侧，沿该电极板的宽度方向在3点以上分别对二次电池的电极板的厚度进行检测。算出部根据3点以上的厚度测定值及厚度目标值，算出厚度目标值与3点以上的点中的最靠第1压缩机构侧的点的厚度测定值的第1偏差、厚度目标值与3点以上中的最靠第2压缩机构侧的点的厚度测定值的第2偏差、以及电极板的厚度轮廓的2次分量这3个特征量，并基于3个特征量来适应性地改变第1压缩机构、第2压缩机构、第1弯曲机构及第2弯曲机构的设定值。弯曲机构及第2弯曲机构的设定值。弯曲机构及第2弯曲机构的设定值。


技术研发人员：寺泽史纮
受保护的技术使用者：松下知识产权经营株式会社
技术研发日：2020.11.17
技术公布日：2022/8/26