一种变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件的制作方法

1.本实用新型属热敏电阻芯片于技术领域，具体涉及一种变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件。


背景技术：

2.变频空调用ntc热敏电阻芯片就是负温度系数热敏电阻芯片，它是以锰、钴、镍和铜等金属氧化物为主要材料，采用陶瓷工艺制造而成的，这些金属氧化物材料都具有半导体性质，温度低时，这些氧化物材料的载流子数目少，所以其电阻值较高；随着温度的升高，载流子数目增加，所以电阻值降低，ntc热敏电阻器在室温下的变化范围在100~1000000欧姆，温度系数-2%~-6.5%，ntc热敏电阻器可广泛用于测温、控温、温度补偿等方面。
3.在ntc热敏电阻芯片的生产过程中，需要对热敏电阻芯片进行抗冲击测试，以使得热敏电阻芯片的强度得到保证，在对热敏电阻芯片进行抗冲击测试时，需要使用到探针组件对热敏电阻芯片进行抗冲击测试时，现有的探针组件多为套杆式探针组件，导致探针组件的冲击强度不能进行调节，同时由于探针组件的反复冲击测试，使得探针组件的缓冲效果差，影响测试稳定性和测试精确度，为此我们提出一种变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件，包括探针套管和探针针杆，所述探针针杆套接在所述探针套管的内部，且所述探针针杆的下端延伸至所述探针套管的外部，所述探针针杆沿所述探针套管的内腔上下反复移动；
6.所述探针针杆的下端连接有用于对热敏电阻芯片进行抗冲击测试的探针针头，所述探针针头跟随所述探针针杆上下反复移动，用于对热敏电阻芯片进行持续冲击测试。
7.优选的，所述探针针杆的中部外圈开设有第一弹簧槽，所述第一弹簧槽的外侧套接有第一弹簧；
8.所述探针针杆的顶端设置有冲程调节杆，所述冲程调节杆上套设有第二弹簧。
9.优选的，所述冲程调节杆的外侧设置有外螺纹，所述冲程调节杆上螺旋连接有与所述外螺纹相适配的调节螺母；
10.所述调节螺母能够压缩所述第二弹簧的弹力。
11.优选的，所述探针套管的内侧中下部对应所述第一弹簧的下端设置有第一限位环；
12.所述探针套管的内部上部对应所述第二弹簧的下端设置有第二限位环。
13.优选的，所述探针套管的上端设置有螺纹环座，所述螺纹环座上螺旋连接有螺母
盖，所述螺母盖上开设有用于所述冲程调节杆穿过的通孔。
14.优选的，所述探针针杆的下部外侧开设有对称分布的冲程限位槽；
15.所述探针套管的内侧下部对应所述冲程限位槽的下段设置有冲程限位块。
16.优选的，所述探针针杆的底端开设有螺纹槽，所述探针针头的上端设置有与所述螺纹槽螺旋连接的螺纹杆。
17.优选的，所述探针针头的下端设有冲击端头，所述冲击端头的结构为半球形。
18.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
19.1、本实用新型设有第一弹簧、第二弹簧、冲程调节杆、调节螺母、第一限位环和第二限位环，通过旋转调节螺母，将第二弹簧向第二限位环进行压缩，进而调节探针针杆向下冲击的力度，在探针针杆向下冲击时，第一弹簧通过第一限位环的限位进而进行压缩，方便对探针组件的反复冲击进行缓冲，提高探针组件冲击的稳定性，提高热敏电阻芯片抗冲击测试的精确度；
20.2、本实用新型设有冲程限位槽和冲程限位块，一方面对探针针杆在探针套管内起到导向移动的作用，另一方面可对探针针杆在探针套管内的移动起到冲程限位的作用，保障探针组件的正常使用；
21.3、本实用新型设有螺纹槽和螺纹杆，方便对探针针头进行拆卸更换，方便后期维护，延长探针组件的使用寿命。
附图说明
22.图1为本实用新型的分解立体结构示意图；
23.图2为本实用新型的整体立体结构示意图；
24.图3为本实用新型的剖视结构示意图。
25.图中：1、探针套管；101、螺纹环座；102、冲程限位块；103、第一限位环；104、第二限位环； 2、探针针杆；201、第一弹簧槽；202、冲程调节杆；203、外螺纹；204、调节螺母；205、冲程限位槽；206、螺纹槽；3、探针针头；301、螺纹杆；302、冲击端头；4、螺母盖；401、通孔；5、第一弹簧；6、第二弹簧。
具体实施方式
26.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
27.请参阅图1-图3，本实用新型提供的变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件，包括探针套管1和探针针杆2，探针针杆2套接在探针套管1的内部，且探针针杆2的下端延伸至探针套管1的外部，探针针杆2沿探针套管1的内腔上下反复移动；
28.探针针杆2的下端连接有用于对热敏电阻芯片进行抗冲击测试的探针针头3，探针针头3跟随探针针杆2上下反复移动，用于对热敏电阻芯片进行持续冲击测试。
29.本实施例中，如图1-图3所示，探针针杆2的中部外圈开设有第一弹簧槽201，第一弹簧槽201的外侧套接有第一弹簧5；探针针杆2的顶端设置有冲程调节杆202，冲程调节杆
202上套设有第二弹簧6；
30.冲程调节杆202的外侧设置有外螺纹203，冲程调节杆202上螺旋连接有与外螺纹203相适配的调节螺母204；调节螺母204能够压缩第二弹簧6的弹力；
31.探针套管1的内侧中下部对应第一弹簧5的下端设置有第一限位环103；
32.探针套管1的内部上部对应第二弹簧6的下端设置有第二限位环104；
33.本实用新型设有第一弹簧5、第二弹簧6、冲程调节杆202、调节螺母204、第一限位环103和第二限位环104，通过旋转调节螺母204，将第二弹簧6向第二限位环104进行压缩，进而调节探针针杆2向下冲击的力度，在探针针杆2向下冲击时，第一弹簧5通过第一限位环103的限位进而进行压缩，方便对探针组件的反复冲击进行缓冲，提高探针组件冲击的稳定性，提高热敏电阻芯片抗冲击测试的精确度。
34.本实施例中，如图1所示，探针套管1的上端设置有螺纹环座101，螺纹环座101上螺旋连接有螺母盖4，螺母盖4上开设有用于冲程调节杆202穿过的通孔401，方便探针针杆2在探针套管1内的上下反复移动。
35.本实施例中，如图1和图3所示，探针针杆2的下部外侧开设有对称分布的冲程限位槽205；
36.探针套管1的内侧下部对应冲程限位槽205的下段设置有冲程限位块102；
37.本实用新型设有冲程限位槽205和冲程限位块102，一方面对探针针杆2在探针套管1内起到导向移动的作用，另一方面可对探针针杆2在探针套管1内的移动起到冲程限位的作用，保障探针组件的正常使用。
38.本实施例中，如图1和图3所示，探针针杆2的底端开设有螺纹槽206，探针针头3的上端设置有与螺纹槽206螺旋连接的螺纹杆301，探针针头3的下端设有冲击端头302，冲击端头302的结构为半球形；
39.本实用新型设有螺纹槽206和螺纹杆301，方便对探针针头3进行拆卸更换，方便后期维护，延长探针组件的使用寿命。
40.综上所述，本实施例提供的变频空调专用热敏电阻芯片抗冲击测试的探针组件的使用流程：
41.s1：在探针组件使用时，首先通过旋转调节螺母204，将第二弹簧6向第二限位环104进行压缩，进而调节探针针杆2向下冲击的力度，以适应对热敏电阻芯片不同冲击力度的测试；
42.s2：然后将冲程调节杆202通过连接器安装到抗冲击测试设备上，在探针针杆2向下冲击时，第一弹簧5通过第一限位环103的限位进而进行压缩，方便对探针组件的反复冲击进行缓冲；
43.s3：同时探针针杆2在探针套管1内按照冲程限位槽205沿冲程限位块102向下移动，一方面对探针针杆2在探针套管1内起到导向移动的作用，另一方面可对探针针杆2在探针套管1内的移动起到冲程限位的作用，直至探针针头3下端的冲击端头302冲击到热敏电阻芯片上；
44.s4：然后在第一弹簧5和第二弹簧6的弹性作用下，将探针针杆2向上顶起恢复，然后重复向下冲击。
45.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，
可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。