提升SSD不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备与流程

提升ssd不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备
技术领域
1.本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种提升ssd不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备。


背景技术：

2.ssd（solid state disk或solid state drive，固态硬盘）在工厂被生产出来，需要经过多个阶段的测试验证。每个阶段测试在不同的环境中测试不同的模块和功能，通过这些测试剔除不合格的产品。对于不良品，测试或者生产人员无法知道导致不良的原因，以及不良器件的位置，无法直接给出维修方案。通常需要研发人员从ssd中导出记录异常信息的log文件，然后分析log，找到不良的根本原因，并提供维修方案。
3.目前，现有技术方案在进行故障分析大多是以ssd的使用者的角度获取ssd的信息，由于信息量有限，所以很难从根本上判断故障的详细原因，判断元器件级别是否故障的方法不够精确。
4.而且，现有的技术方案在生产端不良品的处理方式，主要是基于研发人员的人工处理。由于工厂量产出来的ssd数量巨大，产生的不良品数量较大，如果每片都需要研发人员详细分析并提出解决建议，那么对研发来说，工作量巨大。维修人员在根据建议维修不良品ssd，在这个过程中，涉及到测试人员、固件开发人员、硬件开发人员和维修人员相互配合才能完成。此外，由于生产过程中，可能存在不同型号的ssd不良品，ssd的主要器件是nand flash，对于不同的厂家、型号、类型，nand flash的特性都有较大的区别，在对nand flash进行故障分析时需要针对性的分析和判断，那么对于不良品的分析就还需要对应的参数信息才能正确的分析出结果。可见，在ssd生产测试中进行故障分析存在问题较多，而且错综复杂，光靠研发人员的计算、统计和分析，不但消耗大量人力物力时间，效率低下，而且容易出错。


技术实现要素：

5.鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的提升ssd不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备。
6.本发明的一个方面，提供了一种提升ssd不良品分析效率的方法，所述方法包括：读取log文件，以从log文件中获取测试出的不良ssd在测试中的异常事件；对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件；根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型；根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值，将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件。
7.进一步地，在读取log文件过程中，所述方法还包括：
从log文件中获取测试出的不良ssd的固件配置信息；相应的，所述对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件，包括：基于不良ssd的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件。
8.进一步地，在读取log文件过程中，所述方法还包括：从log文件中获取测试出的不良ssd的pcb信息；在将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件之后，根据pcb信息获取与所述pcb信息对应的器件位置映射关系，所述器件位置映射关系包括不良ssd中各个物理器件在pcb中的位置分布信息；根据所述器件位置映射关系确定异常元器件在pcb中的位置分布。
9.进一步地，所述异常事件包括：主控制器异常、ddr异常、外围器件异常和nand 闪存异常，nand 闪存异常包括：nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败；所述根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型包括：将主控制器异常、ddr异常、外围器件异常分别划分为对应的事件类型；将nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败按照事件发生的片选区域、颗粒、物理块或物理页的不同划分为不同的事件类型。
10.进一步地，所述方法还包括：将nand flash初始化失败按照事件发生的芯片target进行异常事件统计；将擦除失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将编程失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将重读失败按照事件发生的物理页进行异常事件统计。
11.进一步地，所述方法还包括：若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，则将重读失败按照事件发生的物理页和物理块分别进行异常事件统计；若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，且发生重读失败的物理块规律性地分布在颗粒上，则将重读失败按照事件发生的物理页、物理块和颗粒分别进行异常事件统计。
12.进一步地，各个事件类型的评分权重具有以下关系：主控制器异常=ddr异常=外围器件异常= nand flash初始化失败》擦除失败=编程失败=发生在颗粒的重读失败》发生在物理块的重读失败》发生在物理页的重读失败。
13.本发明的另一方面，提供了一种提升ssd不良品分析效率的装置，所述装置包括：获取模块，用于读取log文件，以从log文件中获取测试出的不良ssd在测试中的异常事件；解析模块，用于对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件；统计模块，用于根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型；计算模块，用于根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；
判定模块，用于判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值，将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件。
14.本发明的第三方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现如上提升ssd不良品分析效率的方法的步骤。
15.本发明的第四方面，还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上提升ssd不良品分析效率的方法的步骤。
16.本发明提供的提升ssd不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备，针对测试出的不良ssd，能够通过自动化分析不良品ssd的log，判定不良ssd发生异常事件的根本原因，自动定位到ssd不良品的异常元器件，无需固件研发人员和硬件研发人员介入，维修人员即可根据分析结果进行相应器件的维修，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，有效提高生产效率。
17.上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。
附图说明
18.通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本发明实施例提供的提升ssd不良品分析效率的方法的流程图；图2为本发明另一实施例提供的提升ssd不良品分析效率的方法的流程图；图3为本发明实施例提出的提升ssd不良品分析效率的装置的结构框图。
具体实施方式
19.下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
20.本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本发明的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
21.本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语（包括技术术语和科学术语），具有与本发明所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
22.图1示意性示出了本发明一个实施例的提升ssd不良品分析效率的方法的流程图。参照图1，本发明实施例的提升ssd不良品分析效率的方法具体包括以下步骤：
s11、读取log文件，以从log文件中获取测试出的不良ssd在测试中的异常事件。
23.固态硬盘（solid state disk或solid state drive，简称ssd），又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘，本实施例中的测试即ssd批量生产测试时对产品的基本功能、性能、可靠性等方面的测试。
24.其中，log文件即记录ssd固件在运行过程中所产生的事件消息并按时间先后顺序记录的文件。主要事件消息包括事件、警告、异常、错误等。本实施例中读取的log文件为ssd批量生产测试时的log文件。
25.具体的，在ssd生产测试中需要对产品的外围器件、主控制器、ddr、nand flash等进行基本功能的验证以及压力测试，筛选出ssd的不良品即不良ssd。其中，ddr内存，全称是ddr sdram（即double data rate sdram，双倍速率sdram）。
26.以下列出的为各种异常事件对应的在log中获取的信息：a) 主控制器异常：记录异常原因。
27.b) ddr异常：记录异常原因，以及错误状况。
28.c) 外围器件：记录异常原因，以及错误状况。比如，电容异常。
29.d) nand flash初始化失败：记录channel、颗粒等。
30.e) 擦除（erase）失败：记录tlc或slc、颗粒、物理块等。
31.f) 编程（program）失败：记录tlc或slc、逻辑颗粒、物理块、物理页等。
32.g) 重读（read retry）失败：记录tlc或slc、颗粒、物理块、物理页、unit等。
33.其中，nand flash存储器是flash存储器的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。nand flash存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储。其中，target：片选区域，一般包含1或2 或4个颗粒， 在物理上这些颗粒公用一个片（ce）选信号，nand初始化的第一个命令，以片选区域target为单位初始化。颗粒：逻辑单元编号，nand flash中独立执行命令和报告状态的最小单元。物理块：擦除（erase）操作的最小单元。物理页：编程（program）操作的最小单元。unit：4k byte。tlc：（trinary-level cell）每单元可存储3比特数据(3bits/cell)，性能、寿命变差。slc：single-level cell）每单元可存储1比特数据(1bit/cell)，性能好、寿命长。
34.s12、对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件。
35.当log读出完成，需要解析步骤s11抓取的异常事件。这是因为抓取的异常事件，是以固件逻辑的视角输出，还需要转化成物理信息，这样才能便于后续通过pcb原理图找到器件在pcb中具体位置。比如，重读（readretry）失败，从log中获取颗粒、物理块、物理页、unit等物理信息。
36.本实施例中，在读取log文件过程中，还从log文件中获取测试出的不良ssd的固件配置信息。
37.步骤s12中的对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件，具体包括以下步骤：基于不良ssd的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件。本技术在ssd生产测试过程中通过获取不良ssd的固件配置信息，可以兼容不同型号的ssd，实现不同nand flash自动化分析。
38.具体的，本实施例通过逐行读取log文件，获取ssd的固件配置信息。型号不同的
ssd，使用的pcb、nand flash、外围器件等硬件不同，固件也不同。log中的打印是基于固件的视角输出的事件，首先必须获取到固件的配置信息，基于不良ssd的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进行解析，才能正确的解析log中的事件。其中，固件配置信息包括，nand flash的物理信息，例如nand的类型，颗粒内颗粒的个数，颗粒、物理块、物理页大小等；pcb型号，由于生产的ssd型号很多，每种型号对应的pcb型号不同，不同型号的pcb上元器件的个数和位置也不同；其他的一些配置参数，例如，使用了多少个nand颗粒，多少个电容等。
39.s13、根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型。
40.s14、根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分。
41.s15、判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值，将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件。
42.本实施例中，对于获取的异常事件，分析记录异常事件的物理器件分布情况。对于有异常事件记录的物理器件，根据不同的异常类型，配合对应的权重，统计所有物理器件对应的异常记录，进行累计记分，超过阈值则判断元器件异常，需要进行维修，并列出需要维修器件的位置信息。
43.本发明提供的提升ssd不良品分析效率的方法，针对测试出的不良ssd，能够通过自动化分析不良品ssd的log，以ssd设备开发者的角度分析故障原因，能更加直接精准地定位到不良ssd发生异常事件的根本原因，自动定位到ssd不良品的异常元器件，提升了不良品分析效率，无需固件研发人员和硬件研发人员介入，维修人员即可根据分析结果进行相应器件的维修，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，有效提高生产效率。
44.在本发明实施例中，对于ssd的生产过程中的不良品。根据log中事件记录，所述异常事件包括：主控制器异常、ddr异常、外围器件异常和nand 闪存异常。其中，nand 闪存异常包括：nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败等。相应的，异常器件主要包括：主控制器、nand flash、ddr、外围器件。nand flash异常，包括初始化失败、擦除（erase）失败、编程（program）失败、重读（read retry）失败。
45.对于nand flash异常，本发明按颗粒、物理块、物理页级别的方式统计分布情况的方法，结合一定的权重，判断nand flash异常事件发生的根本原因。具体的，步骤s13中的根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型具体包括：将主控制器异常、ddr异常、外围器件异常分别划分为对应的事件类型；将nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败按照事件发生的芯片target、颗粒、物理块或物理页的不同划分为不同的事件类型。进一步地，可以将nand flash初始化失败按照事件发生的芯片target进行异常事件统计；将擦除失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将编程失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将重读失败按照事件发生的物理页进行异常事件统计，具体的，若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，则将重读失败按照事件发生的物理页和物理块分别进行异常事件统计；若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，且发生重读失败的物理块规律性地分布在颗粒上，则将重读失败按照事件发生的物理页、物理块和颗粒分别进行异常事件统计。
46.在一个可选实施例中，各个事件类型的评分权重具有以下关系：主控制器异常=ddr异常=外围器件异常= nand flash初始化失败》擦除失败=编程失败=发生在颗粒的重读失败》发生在物理块的重读失败》发生在物理页的重读失败。
47.在一个具体示例中，在从log文件中扎取到异常事件之后，分析各个异常事件对应的物理器件，以在得到各个异常事件对应的物理器件之后，根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型。具体的，分别统计抓取的各种异常事件的分布以及次数。通常相同的类型的异常的记录会出现很多次，把这些记录集中起来，按特定规则进行排序，并统计异常的总数。各种类型异常对ssd影响的程度也不相同，需要配置不同的权重。对于nand flash的异常，需要特殊处理。对于nand flash的异常，按照颗粒，物理块，物理页分别进行统计。这是由nand flash的特性决定的，每个nand颗粒上至少存在1个target，每个target上有1到多个颗粒，每个颗粒又有几百到几千个物理块，每个物理块又有几百到几千个物理页，每个物理页也有几个unit。对于nand flash的异常，各种类型对nand影响的程度也不相同，需要配置不同的权重，统计所有的异常并累加所有的计分，当超过阈值（例如100分）则判定元器件异常。nand flash有以下异常类型，权重配置的规则如下：a) nand flash初始化失败。整个target都不能使用。权重设置为最大(例如100分)。
48.b) 擦除（erase）失败。这个物理块坏了，不能再使用。设置较大的权重（例如10分）。
49.c) 编程（program）失败。这个物理块坏了，不能再使用。设置较大的权重（例如10分）d) 重读（readretry）失败。需要根据实际情况判断。一般来说，readretry失败不会直接剔除掉这个物理页，有可能这个物理页还是好的，只是在特定的条件下才会readretry失败的，例如data retention（数据保留了很长时间）、跨温（读和写的环境温度相差很大）等。如果readretry失败呈现一定的规律，那么就需要进一步的判断。如果这下如果retry fail以一定的规律分布在特定的物理块上，那么就需要考虑是物理块坏了。若物理块又按一定的规律部分在特定的颗粒上，那么就需要考虑这个颗粒坏了。retry fail根据颗粒，物理块，物理页分别统计数量，不同级别设置不同的权重，权重大小随着级别大小变化而变化。
50.在本发明的一个实施例中，在读取log文件过程中，还包括：从log文件中获取测试出的不良ssd的pcb信息。pcb（printed circuit board，印制电路板）又称印刷线路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气相互连接的载体。本实施例中的pcb信息主要包括：pcb的版本号。不同版本pcb上元器件的个数和位置都不相同，维护一个pcb库，记录着各版本pcb上各个元件的位置信息。根据pcb版本号查询对应的pcb库，就能获取到ssd的各个元器件的位置信息。
51.进一步地，如图2所示，本发明实施例的提升ssd不良品分析效率的方法，在步骤s15中的将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件之后，还包括以下步骤：s16、根据pcb信息获取与所述pcb信息对应的器件位置映射关系，所述器件位置映
射关系包括不良ssd中各个物理器件在pcb中的位置分布信息，具体可根据pcb对应的原理图，生成各器件与其在pcb上的位置分布的映射关系，即pcb库，根据pcb信息中的pcb版本号查询pcb库，就能获取到不良ssd的各个元器件的位置信息。
52.s17、根据所述器件位置映射关系确定异常元器件在pcb中的位置分布。
53.本实施例中，逐行读取log文件，获取pcb的类型。pcb不同，ssd中的器件所在的位置不同。需要根据不同的pcb，导入不同的器件位置的映射关系。具体的，在判断出那些器件是异常元器件之后，可通过pcb对应的原理图，导入各器件在pcb上的映射关系，输出pcb上的器件编号。维修人员就可以直观的在ssd上找到需要维修的器件进行修理。
54.本发明提供的提升ssd不良品分析效率的方法，针对测试出的不良ssd，能够通过自动化分析不良品ssd的log，判定不良ssd发生异常事件的根本原因，自动定位到ssd不良品的异常元器件，并指出不良品中异常器件的在pcb中的具体位置，提升了不良品分析效率，无需固件研发人员和硬件研发人员介入，维修人员即可根据分析结果直观的在ssd上找到需要维修的相应器件进行修理，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，有效提高生产效率。
55.本发明实施例提供的提升ssd不良品分析效率的方法，具有以下有益效果：1. 提升了不良品分析效率，精简了不良品的维修流程，缩短不良品的处理时间，提高生产效率；2. 不需要固件研发人员和硬件研发人员介入，减少人员的投入。
56.3. 各种不良品的型号的ssd都可以自动分析。
57.4. ssd生产流程自动化，智能化。
58.5. 分析ssd不良品异常的根本原因更精确。
59.对于方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明实施例，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
60.图3示意性示出了本发明一个实施例的提升ssd不良品分析效率的装置的结构示意图。参照图3，本发明实施例的提升ssd不良品分析效率的装置具体包括获取模块201、解析模块202、统计模块203、计算模块204以及判定模块205，其中：获取模块201，用于读取log文件，以从log文件中获取测试出的不良ssd在测试中的异常事件；解析模块202，用于对各个异常事件进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件；统计模块203，用于根据各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件类型；计算模块204，用于根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一事件类型对应的物理器件的异常评分；判定模块205，用于判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值，将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件。
61.本发明一个实施例中，获取模块201，在读取log文件过程中，还用于从log文件中
获取测试出的不良ssd的固件配置信息；相应的，解析模块202，用于基于不良ssd的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进行解析，得到各个异常事件对应的物理器件。
62.本发明一个实施例中，获取模块201，在读取log文件过程中，还用于从log文件中获取测试出的不良ssd的pcb信息；相应的，所述判定模块205，还用于在将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件之后，根据pcb信息获取与所述pcb信息对应的器件位置映射关系，所述器件位置映射关系包括不良ssd中各个物理器件在pcb中的位置分布信息；根据所述器件位置映射关系确定异常元器件在pcb中的位置分布。
63.本发明实施例中的异常事件包括：主控制器异常、ddr异常、外围器件异常和nand 闪存异常，nand 闪存异常包括：nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败。
64.统计模块203，用于将主控制器异常、ddr异常、外围器件异常分别划分为对应的事件类型；将nand flash初始化失败、擦除失败、编程失败和重读失败按照事件发生的芯片target、颗粒、物理块或物理页的不同划分为不同的事件类型。
65.进一步地，统计模块203，具体用于将nand flash初始化失败按照事件发生的芯片target进行异常事件统计；将擦除失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将编程失败按照事件发生的物理块进行异常事件统计；将重读失败按照事件发生的物理页进行异常事件统计，其中，若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，则将重读失败按照事件发生的物理页和物理块分别进行异常事件统计；若发生重读失败的物理页规律性地分布在物理块上，且发生重读失败的物理块规律性地分布在颗粒上，则将重读失败按照事件发生的物理页、物理块和颗粒分别进行异常事件统计。
66.本发明一个可选实施例中，各个事件类型的评分权重具有以下关系：主控制器异常=ddr异常=外围器件异常= nand flash初始化失败》擦除失败=编程失败=发生在颗粒的重读失败》发生在物理块的重读失败》发生在物理页的重读失败。
67.对于装置实施例而言，由于其与方法实施例基本相似，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
68.此外，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述方法的步骤。
69.本实施例中，所述提升ssd不良品分析效率的装置如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括：能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、u盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器（rom，read-only memory）、随机存取存储器（ram，random access memory）、电载波信号、电信信号以及软件
分发介质等。需要说明的是，所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减，例如在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不包括电载波信号和电信信号。
70.此外，本发明实施例还提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上提升ssd不良品分析效率的方法的步骤。例如图1所示的步骤s11~s15。
71.本发明提供的提升ssd不良品分析效率的方法、装置、存储介质及设备，针对测试出的不良ssd，能够通过自动化分析不良品ssd的log，判定不良ssd发生异常事件的根本原因，自动定位到ssd不良品的异常元器件，无需固件研发人员和硬件研发人员介入，维修人员即可根据分析结果进行相应器件的维修，精简了不良品的维修流程，降低维修流程人员成本，有效提高生产效率。
72.以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
73.通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如rom/ram、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
74.此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
75.最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。