一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备与流程

1.本发明涉及一种测量技术领域，尤其是涉及一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备。


背景技术：

2.随着科技的进步，电子技术飞速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，需要工作人员不断的测试其性能，保证电子产品的正常运行。
3.电子设备类的产品在加工过程中，由于经历了复杂的加工和元器件的大量使用，无论是加工缺陷还是元器件缺陷，都可分为明显缺陷和潜在缺陷，明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷，例如短路/断路。然而潜在缺陷导致产品暂时可以使用，但是在使用中缺陷会很快暴露出来，产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现，而是用老化的方法来剔除。
4.如专利cn114088128a中记载：本发明公开了一种传感器确定方法、装置、存储介质及设备，涉及传感器技术领域，用于确认传感器是否老化，以节省人力资源，包括：获取目标传感器发送的当前采集数据；在目标传感器的当前采集数据满足对应的告警条件的情况下，获取目标参照传感器的当前采集数据；目标参照传感器与目标传感器之间的相关系数大于第一阈值；在目标参照传感器的当前采集数据不满足对应的告警条件的情况下，确定目标传感器为老化传感器。
5.如专利cn111750925a中记载：本发明实施例提出一种设备老化预测系统、方法和装置，涉及检测技术领域。该设备老化预测系统包括数据获取模块和处理器，数据获取模块与处理器电连接；数据获取模块用于获取被测设备中目标器件的参考数据和实时数据，并将参考数据和实时数据传输至处理器；处理器用于依据参考数据和实时数据获得出厂特征数据、当前特征数据、经历时间和经历工作强度数据；还用于将出厂特征数据、当前特征数据、经历时间、经历工作强度数据和预设工作强度数据输入预测模型中，获得被测设备的老化预测数据。进而使得设备老化预测系统能够准确的预测出被测设备的老化程度。
6.现有技术中在对元器件在进行老化检测的过程中会出现以下问题，每一个电子设备在出厂的时候，会对应设置一个元器件在该电子设备中安装后允许的误差范围；每一个电子设备即使针对同一个元器件，设置的误差范围也不一样，在做老化试验的过程中，即使同一个元器件在不同批次生产出来的同一个设备中进行测量，其测量结果也是不同的，如元器件在a电子设备中测量的参数不符合误差范围，就会扔了，但其实还存在元器件在b电子设备中测量的参数符合误差范围；若只要元器件在任何一个电子设备中只检测一次，且检测结果不合格的话，就扔掉，可能出出现扔错的情况。


技术实现要素：

7.本发明的目的是提供一种元器件的老化检测方法、系统、存储介质和设备，来解决现有技术中存在的上述技术问题，主要包括以下四个方面：本技术第一方面提供了一种元器件的老化检测方法，包括如下步骤：步骤s100：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；步骤s200：将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；步骤s300：根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。
8.进一步地，步骤s300包括：步骤s310：若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；步骤s320：若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与第一预设理论值来判断待测元器件是否老化。
9.进一步地，步骤s320包括：步骤s321：若第一实际测量值小于第一预设理论值；则判断待测元器件未老化；步骤s322：若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化。
10.进一步地，步骤s322包括：所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
11.进一步地，步骤s322包括：所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；根据第一预设波动量和第二预设波动量，计算获得第二波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
12.本技术第二方面提供了一种元器件的老化检测系统，其特征在于，包括如下模块：第一获取模块：用于获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；第二获取模块：用于将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波
动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；判断模块：用于根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。
13.进一步地，判断模块还包括:若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与第一预设理论值来判断待测元器件是否老化。
14.进一步地，判断模块还具体包括：若第一实际测量值小于第一预设理论值；则判断待测元器件未老化；若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化。
15.本技术第三方面提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述存储程序被执行时，用于实现如上述的元器件的老化检测方法。
16.本技术第四方面提供了一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或者多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述的元器件的老化检测方法。
17.本发明相对于现有技术至少具有如下技术效果：（1）通过本技术提供的元器件的老化检测方法，将待测元器件放在不同的电子设备中进行老化检测，首先将待测元器件放在第一电子设备中检测，通过第一波动量和第一预设波动量，判断待测元器件在第一电子设备中是否发生老化，若发生老化，进一步根据第二波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否发生老化，通过这样的老化检测，避免的因为待测元器件由于电子设备之间的差异，而误判待测元器件的老化情况，误将未老化的待测元器件认为发生老化，不符合标准，扔掉浪费的情况。
18.（2）本技术中的元器件老化方法，首先根据待测元器件在第一电子设备获得的第一波动量与第一预设波动量比较，来判断待测元器件是否老化，若判断老化，则进一步根据待测元器件在第一电子设备中的第一实际测量值和第一预设理论值来判断待测元器件是否发生老化，该检测方法通过将待测元器件在第一电子设备中进行两次检测，最终来确定待测元器件是否发生老化，检测方法准确度高，且判断过程中需要测量的数据量少。
19.（3）本技术中，将待测元器件在第一电子设备中判断老化时，为了避免出现待测元器件本质没有发生老化，而是因为第一电子设备自身的原因导致的错误判断待测元器件发生老化，待测元器件老化结果检测不准确的原因；进而将待测元器件与第二电子设备连接，进一步进行老化检测，且计算出与第一电子设备性能相近似的第二电子设备，然后将待测元器件在第二电子设备中的第二波动量与第二预设波动量进行比较，来判断待测元器件是否发生老化。
附图说明
20.为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例或现有技术
描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
21.图1是本发明中元器件的老化检测方法流程示意图一；图2是本发明中的元器件的老化检测方法流程示意图二 ；图3是本发明中的可读存储介质结构示意图；图4是本发明中的电子设备结构示意图。
具体实施方式
22.以下的说明提供了许多不同的实施例、或是例子，用来实施本发明的不同特征。以下特定例子所描述的元件和排列方式，仅用来精简的表达本发明，其仅作为例子，而并非用以限制本发明。
23.在下文中将参考附图对本发明的各方面进行更充分的描述。然而，本发明可以具体化成许多不同形式且不应解释为局限于贯穿本发明所呈现的任何特定结构或功能。相反地，提供这些方面将使得本发明周全且完整，并且本发明将给本领域技术人员充分地传达本发明的范围。基于本文所教导的内容，本领域的技术人员应意识到，无论是单独还是结合本发明的任何其它方面实现本文所公开的任何方面，本发明的范围旨在涵盖本文中所公开的任何方面。例如，可以使用本文所提出任意数量的装置或者执行方法来实现。另外，除了本文所提出本发明的多个方面之外，本发明的范围更旨在涵盖使用其它结构、功能或结构和功能来实现的装置或方法。
24.在此使用的术语仅仅是为了描述具体实施例，而并非意在限制本公开。在此使用的术语“包括”、“包含”等表明了所述特征、步骤、操作和/或部件的存在，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、步骤、操作或部件。
25.在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的含义，除非另外定义。应注意，这里使用的术语应解释为具有与本说明书的上下文相一致的含义，而不应以理想化或过于刻板的方式来解释。
26.实施例一：如图1-图2所示，本技术实施例一提供了一种元器件的老化检测方法，包括如下步骤：步骤s100：获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；步骤s200：将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；步骤s300：根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。
27.上述方案中，当不同的电子设备在完成出厂后，会根据出厂环境等情况综合考虑
来设置对应的误差波动范围（即预设波动量），且不同的元器件在同一个电子设备中，电子设备设置的误差波动范围也不同；因此，在进行试验时，首先要获取待测元器件的种类，然后根据待测元器件在不同电子设备中进行连接试验来获取对应的误差波动范围。如待测元器件需要与第一电子设备连接、第二电子设备连接，此时，需要获取待测元器件在第一电子设备中的第一预设波动量，在第二电子设备中的第二预设波动量。
28.在获取了第一预设波动量和第二预设波动量之后，可以将待测元器件分别与第一电子设备连接和第二电子设备连接，来检测判断该待测元器件是否发生老化，具体为：将待测元器件与第一电子设备连接，测量待测元器件在第一电子设备中的第一实际测量值，同时获取待测元器件在第一电子设备中的第一理论值，将第一实际测量值和第一理论值的差值作为第一波动量；将待测元器件与第二电子设备连接，测量待测元器件在第二电子设备中的第二实际测量值，同时获取待测元器件在第二电子设备中的第二理论值，将第二实际测量值和第二理论值的差值作为第二波动量；根据获得的第一波动量和第一预设波动量，来判断待测元器件在第一电子设备中是否老化，若发生老化，则进一步根据第二波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是在第二电子设备中是否老化。
29.优选地，所述第一预设波动量和第二预设波动量可以是操作人员根据经验设置的，还可以是根据出厂环境等参数计算获得，进一步还可以是根据该元器件在电子设备中的预设历史波动量，在此不做限制。
30.需要说明的是，本技术中的待测元器件可以是电容、电阻、二极管等可以需要进行老化试验的元器件，具体元器件的种类在此不做限制。
31.因此，通过本技术提供的元器件的老化检测方法，将待测元器件放在不同的电子设备中进行老化检测，首先将待测元器件放在第一电子设备中检测，通过第一波动量和第一预设波动量，判断待测元器件在第一电子设备中是否发生老化，若发生老化，进一步根据第二波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否发生老化，通过这样的老化检测，避免的因为待测元器件由于电子设备之间的差异，而误判待测元器件的老化情况，误将未老化的待测元器件认为发生老化，不符合标准，扔掉浪费的情况。
32.进一步地，步骤s300包括：步骤s310：若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；步骤s320：若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与第一预设理论值来判断待测元器件是否老化。
33.进一步地，步骤s320包括：步骤s321：若第一实际测量值小于第一预设理论值；则判断待测元器件未老化；步骤s322：若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化。
34.上述方案中，将待测元器件与第一电子设备连接后，根据第一波动量和第一预设波动量进行比较，来判断待测元器件是否发生老化，若第一波动量小于第一预设波动量时，则可以判断待测元器件未发生老化；若第一波动量大于或者等于第一预设波动量时，需要进一步根据第一实际测量和第一预设理论值来判断待测元器件是否发生老化，这样避免了仅通过一次波动量来判断待测元器件老化不准确的情况，当待测元器件在第一电子设备中
的第一实际测量值小于第一预设理论值时，则才可以判断待测元器件未发生老化，通过这样的方法可以确保待测元器件的第一测量值始终小于第一预设理论值，确保了对待测元器件是否发生老化的准确性。
35.需要说明的是，第一实际测量值可以是待测元器件当前时刻在第一电子设备中的实际测量值，还可以是一段时间内，待测元器件多次在第一电子设备中的实际测量值的均值。
36.本技术中的元器件老化方法，首先根据待测元器件在第一电子设备获得的第一波动量与第一预设波动量比较，来判断待测元器件是否老化，若判断老化，则进一步根据待测元器件在第一电子设备中的第一实际测量值和第一预设理论值来判断待测元器件是否发生老化，该检测方法通过将待测元器件在第一电子设备中进行两次检测，最终来确定待测元器件是否发生老化，检测方法准确度高，且判断过程中需要测量的数据量少。
37.进一步地，步骤s322包括：所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
38.上述方案中，通过待测元器件在第一电子设备中根据第一波动量和第一实际测量值判断之后，若存在第一实际测量值不小于第一预设理论值，此时需要判断待测元器件是否是由于第一电子设备的自身的原因造成的判断待测元器件发生老化的情况，此时将待测元器件与第二电子设备连接，来进一步判断待测元器件是否因为电子设备之间的差异造成的老化判断错误。具体实施方法如下：第二电子设备b中包括b1、b2、b3、...bn个第二电子设备单元，获取每个电子设备单元b1、b2、b3、...bn对应的的第二子预设波动量，分别计算每个第二子预设波动量与第一预设波动量之间的差值，然后将每个第二子预设波动量与第一预设波动量之间的差值进行比较，计算获得最小差值，这样可以找出与第一电子设备性能等方面相近的第二电子设备，避免第二电子设备与第一电子设备之间性能等方面差距过大，造成的待测元器件老化结果判断错误的情况，在获得最小差值后，将最小差值对应的第二电子设备单元作为第二电子设备，最后将待测元器件在第二电子设备中获得的第二实际测量值与第二理论值之间的差值作为第二波动量，根据第二波动量与第二预设波动量之间的大小来判断待测元器件是否发生老化，若第二波动量小于第二预设波动量，则可以判断待测元器件未发生老化，否则，可以判断待测元器件老化，并将该待测元器件扔掉处理。
39.本技术中，将待测元器件在第一电子设备中判断老化时，为了避免出现待测元器件本质没有发生老化，而是因为第一电子设备自身的原因导致的错误判断待测元器件发生老化，待测元器件老化结果检测不准确的原因；进而将待测元器件与第二电子设备连接，进一步进行老化检测，且计算出与第一电子设备性能相近似的第二电子设备，然后将待测元器件在第二电子设备中的第二波动量与第二预设波动量进行比较，来判断待测元器件是否发生老化。
40.进一步地，步骤s322包括：
所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；根据第一预设波动量和第二预设波动量，计算获得第二波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
41.上述方案中，在将待测元器件放在第二电子设备中判断是否发生老化，还存在一种方法：第二电子设备b中包括b1、b2、b3、...bn个第二电子设备单元，获取每个电子设备单元b1、b2、b3、...bn对应的的第二子预设波动量，分别计算每个第二子预设波动量与第一预设波动量之间的差值，然后将每个第二子预设波动量与第一预设波动量之间的差值进行比较，计算获得最小差值，这样可以找出与第一电子设备性能等方面相近的第二电子设备，避免第二电子设备与第一电子设备之间性能等方面差距过大，造成的待测元器件老化结果判断错误的情况，在获得最小差值后，将最小差值对应的第二电子设备单元作为第二电子设备，最后将待测元器件在第二电子设备中获得的第二实际测量值与第二理论值之间的差值作为第二波动量。
42.然后根据待测元器件在第一电子设备中获得的第一预设波动量t1和第一波动量s1，以及待测元器件对应的第二电子设备中第二预设波动量t2，计算第二波动量s2，按照如下方式计算：最后根据第二波动量与第二预设波动量之间的大小来判断待测元器件是否发生老化，若第二波动量小于第二预设波动量，则可以判断待测元器件未发生老化，否则，可以判断待测元器件老化，并将该待测元器件扔掉处理。
43.实施例二：本技术实施例二提供了一种元器件的老化检测系统，其特征在于，包括如下模块：第一获取模块：用于获取待测元器件分别对应第一电子设备中的第一预设波动量，第二电子设备中的第二预设波动量；第二获取模块：用于将待测元器件与第一电子设备连接，获取待测元器件的第一波动量，将待测元器件与第二电子设备连接，获取待测元器件的第二波动量；其中，第一波动量为待测元器件与第一电子设备连接后获得的第一实际测量值与第一理论值形成的第一差值，第二波动量为待测元器件与第二电子设备连接后获得的第二实际测量值与第二理论值形成的第二差值；判断模块：用于根据获得的第一波动量、第一预设波动量、第二波动量，第二预设波动量，来判断待测元器件是否老化。
44.进一步地，判断模块还包括:若第一波动量小于第一预设波动量时，则判断待测元器件未老化；若第一波动量不小于第一预设波动量时，则根据待测元器件的第一实际测量值与
第一预设理论值来判断待测元器件是否老化。
45.进一步地，判断模块还具体包括：若第一实际测量值小于第一预设理论值，则判断待测元器件未老化；若第一实际测量值不小于第一预设理论值，则根据第一预设波动量和第二预设波动量来判断待测元器件是否老化。
46.进一步地，判断模块还具体包括：所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
47.进一步地，判断模块还具体包括：所述第二电子设备包括多个第二电子设备单元；获取每个电子设备单元的第二子预设波动量；获取第一预设波动量与第二子预设波动量的最小差值，将最小差值对应的第二电子设备单元的第二子预设波动量作为第二预设波动量；根据第一预设波动量和第二预设波动量，计算获得第二波动量；若第二波动量小于第二预设波动量，则判断待测元器件未老化。
48.所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述系统和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
49.另外，在本技术各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
50.实施例三：本技术实施例三提供了一种可读存储介质，用于存储程序，所述存储程序被执行时，用于实现如上述的元器件的老化检测方法。
51.图3示出了本技术实施例三提供的一种计算机可读存储介质的结构框图。该计算机可读存储介质1200中存储有程序代码1210，所述程序代码1210可被处理器调用执行上述方法实施例中所描述的方法。
52.计算机可读存储介质1200可以是诸如闪存、eeprom（电可擦除可编程只读存储器）、eprom（可擦除可编程只读存储器）、硬盘或者rom之类的电子存储器。可选地，计算机可读存储介质1200包括非易失性计算机可读存储介质（non-transitory computer-readable storage medium）。计算机可读存储介质1200具有执行上述方法中的任何方法步骤的程序代码1210的存储空间。这些程序代码可以从一个或者多个计算机程序产品中读取或者写入到这一个或者多个计算机程序产品中。程序代码1210可以例如以适当形式进行压缩。
53.实施例四：本技术实施例四提供了一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；存储器，其上存储有一个或者多个程序；当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述的元器件的老化检测方法。
54.图4为本技术实施四提供的一种电子设备1100的结构框图。本技术中的电子设备1100可以包括一个或多个如下部件：存储器1110、处理器1120、以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序可以被存储在存储器1110中并被配置为由一个或多个处理器1120执行，一个或多个程序配置用于执行如前述方法实施例所描述的方法。
55.存储器1110可以包括随机存储器（random access memory, ram），也可以包括只读存储器（read-only memory,rom）。存储器1110可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器1110可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令（比如直方图均衡化功能等）、用于实现下述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储电子设备1100在使用中所创建的数据（比如图像矩阵数据等）。
56.处理器1120可以包括一个或者多个处理核。处理器1120利用各种接口和线路连接整个电子设备1100内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器1110内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器1110内的数据，执行电子设备1100的各种功能和处理数据。可选地，处理器1120可以采用数字信号处理（digital signal processing, dsp）、现场可编程门阵列（field－programmable gate array, fpga）、可编程逻辑阵列（programmable logic array, pla）中的至少一种硬件形式来实现。处理器1120可集成中央处理器（central processing unit, cpu）和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，cpu主要处理操作系统和应用程序等；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器1120中，单独通过一块通信芯片进行实现。
57.专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
58.对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
59.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。