MCU供电电路、及MCU测试系统的制作方法

mcu供电电路、及mcu测试系统
技术领域
1.本技术涉及mcu测试技术，尤其涉及一种mcu供电电路、及mcu测试系统。


背景技术：

2.mcu或电路设计在设计完成后，需要进入验证阶段，以验证mcu或电路设计的性能。
3.在验证阶段使用多种供电上电曲线进行测试，评估mcu或电路设计是否能够兼容各种供电场景。例如，当mcu出厂后在使用时，由于电源适配器的不同，电源的上电速度有快有慢，这可能导致mcu在上电快时不能正常启动，在上电慢时一切正常，现有技术不能在验证阶段进行全面测试。


技术实现要素：

4.本技术提供一种mcu供电电路、及mcu测试系统，用以解决mcu上电或下电测试的不同测试曲线多方验证的问题。
5.第一方面，本技术提供一种mcu供电电路，所述电路包括：信号发生器，电压跟随器以及mcu；
6.所述电压跟随器具有第一端和第二端，所述电压跟随器的第一端与所述信号发生器连接，所述电压跟随器的第二端与所述mcu连接；
7.所述信号发生器具有与至少两条测试曲线分别对应的供电信号发送状态，其中，不同测试曲线的坡度不同；
8.所述电压跟随器用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号，并将有驱动能力的供电信号传输给所述mcu，以使采集器采集mcu状态，所述mcu状态用于验证所述mcu在所述供电信号下的性能。在一种可能的实现方式中，所述测试曲线包括上电测试曲线和下电测试曲线；所述上电测试曲线用于测试所述mcu的上电性能；所述下电测试曲线用于测试所述mcu的下电性能；
9.其中，在进行上电性能测试或下电性能测试时，当测试曲线为两条时，一条测试曲线的坡度大于预设值，一条测试曲线的坡度小于预设值。
10.在一种可能的实现方式中，当所述测试曲线的条数大于等于3时，所述信号发生器的供电信号发送状态具有切换顺序以使坡度最大或最小的测试曲线的输出顺序为第一输出顺序，其余各输出顺序对应的测试曲线与上一输出顺序对应的测试曲线的坡度差最大。
11.第二方面，本技术提供一种mcu测试系统，所述系统包括：工控机、供电单元、mcu、采集器；所述工控机的输出端与所述供电单元的输入端相连；所述供电单元的输出端与所述mcu相连；所述采集器与所述mcu的输出端相连；所述工控机的输入端与所述采集器的输出端相连；
12.所述工控机用于接收用户输入的至少两条测试曲线对应的参数信息，并将所述参数信息传输给所述供电单元；
13.所述供电单元具有与至少两条测试曲线的参数信息分别对应的供电信号发生状
态；
14.所述采集器用于采集并输出所述mcu在每一供电信号的作用下产生的输出信号；所述工控机还用于接收所述采集器发送的测试结果；所述测试结果为所述输出信号是否正常的结果。
15.在一种可能的实现方式中，所述供电单元包括信号发生器；所述系统还包括电压跟随器；
16.所述电压跟随器设置在所述信号发生器和所述mcu之间；所述电压跟随器用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号。
17.在一种可能的实现方式中，所述采集器与所述电压跟随器设置在信号转换板上；所述信号转换板上设置有与所述采集器和所述电压跟随器分别对应的接线端子，所述采集器通过对应的接线端子与所述mcu和所述工控机相连，所述电压跟随器通过对应的接线端子与所述信号发生器和所述mcu相连。
18.在一种可能的实现方式中，所述信号转换板还设置有与测试设备对应的接线端子；所述测试设备用于显示所述采集器采集的输出信号。
19.在一种可能的实现方式中，所述系统还包括开关电路；所述开关电路的一端与所述测试设备相连；所述开关电路的另一端与所述采集器相连，当所述采集器确定输出信号异常时，控制所述开关电路闭合，以将所述输出信号传输给所述测试设备。
20.在一种可能的实现方式中，当测试曲线的条数大于等于3时，坡度最大或最小的测试曲线的输出顺序为第一输出顺序，其余各输出顺序对应的测试曲线与上一输出顺序对应的测试曲线的坡度差最大。
21.在一种可能的实现方式中，所述测试曲线包括上电测试曲线和下电测试曲线；所述上电测试曲线用于测试所述mcu的上电性能；所述下电测试曲线用于测试所述mcu的下电性能；
22.其中，在进行上电性能测试或下电性能测试时，当测试曲线为两条时，一条测试曲线的坡度大于预设值，一条测试曲线的坡度小于预设值。
23.在一种可能的实现方式中，所述电压跟随器的输出电流大于预设数值。
24.在一种可能的实现方式中，所述供电单元包括数控电源模块，或者，数字模拟转换器。
25.本技术提供一种mcu供电电路、及mcu测试系统，涉及mcu测试技术，该电路包括：信号发生器，电压跟随器以及mcu；所述电压跟随器具有第一端和第二端，所述电压跟随器的第一端与所述信号发生器连接，所述电压跟随器的第二端与所述mcu连接；所述信号发生器具有与至少两条测试曲线分别对应的供电信号发送状态，其中，不同测试曲线的坡度不同；所述电压跟随器用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号，并将有驱动能力的供电信号传输给所述mcu，以使采集器采集所述mcu状态，所述mcu状态用于验证所述mcu在所述供电信号下的性能，即本技术实施例使用信号发生器输出至少两条测试曲线对应的供电信号，实现对mcu在不同测试曲线下的供电，解决mcu的测试效率较低的问题。
附图说明
26.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
27.图1为本技术实施例提供的一种mcu供电电路的结构示意图；
28.图2为本技术实施例提供的一种mcu测试系统的结构示意图；
29.图3为本技术实施例提供的另一种mcu测试系统的结构示意图；
30.图4为本技术实施例提供的一种不同测试曲线的坡度变化示意图。
31.通过上述附图，已示出本公开明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本公开构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本公开的概念。
具体实施方式
32.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。
33.对于一个mcu或者电路设计，在设计完成后，需要进行验证。在现有技术中，往往只设置了一条通用上电/下电测试曲线对mcu进行测试，但由于电源适配器的不同，电源的上电速度有快有慢，这可能导致mcu在上电快时不能正常启动，在上电慢时一切正常，现有技术不能在验证阶段进行全面测试。所以本技术提出使用多种供电测试曲线进行测试，以在出厂前确定芯片或电路设计是否能够兼容各种供电场景。而在对mcu是否兼容各种供电场景进行测试时，通常是由用户手动选取测试曲线，使得信号源输出测试曲线对应的供电信号，来测试mcu在供电信号的作用下的启动状态。但是，当测试曲线较多时，则需要用户手动选取所有的测试曲线，具有测试效率较低的问题。
34.本技术提供的一种mcu供电电路、及mcu测试系统，旨在解决现有技术的如上技术问题。
35.下面以具体实施例对本技术的技术方案以及本技术的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本技术的实施例进行描述。
36.图1为本技术实施例提供的一种mcu供电电路的结构示意图，如图1所示，该电路包括：信号发生器101，电压跟随器102以及mcu103；所述电压跟随器102具有第一端和第二端，所述电压跟随器102的第一端与所述信号发生器101连接，所述电压跟随器102的第二端与所述mcu103连接；
37.所述信号发生器101具有与至少两条测试曲线分别对应的供电信号发送状态，其中，不同测试曲线的坡度不同；
38.所述电压跟随器102用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号，并将有驱动能力的供电信号传输给所述mcu103，以使采集器采集mcu状态，所述mcu状态用于验证所述mcu103在所述供电信号下的性能。
39.信号发生器101可以接收测试曲线的参数信息，并生成供电信号。具体的，当测试曲线为多条时，信号发生器101接收到一条测试曲线的参数信息后，即可生成供电信号。其
中，生成的供电信号与测试曲线对应，不同的测试曲线对应不同的供电信号。其中，发送测试曲线的参数信息的可以为工控机。
40.信号发生器101在生成供电信号后，可以将生成的供电信号发送给电压跟随器102，这是因为信号发生器101输出的供电信号不具备驱动mcu的能力，需要在信号发生器101后设置电压跟随器102。电压跟随器102的功能为将信号发生器101产生的供电信号转换为由驱动能力的供电信号。电压跟随器102与mcu103连接，可以将产生的具有驱动能力的供电信号施加在mcu103上。
41.其中，信号发生器101在接收各条测试曲线的参数信息时，是根据设定间隔接收的。一种实现方式为设置定时器，当确定当前时刻满足与接收测试曲线的参数信息的条件时，接收所述参数信息；另一种实现方式为，在发送参数信息的一端进行设定间隔的设置，当确定当前时刻满足发送参数信息的条件时，向信号发生器101发送一条测试曲线的参数信息。
42.mcu103在供电信号的作用下存在两种状态，第一种状态为：启动或正常工作，第二种状态为：不启动或工作异常，对于上述两种状态，mcu103可以输出不同的输出信号。其中，输出信号可以表征mcu103的上电状态，从而验证mcu103在供电信号的作用下的性能。其中，输出信号可以被采集器采集。
43.其中，对于mcu103产生的输出信号进行判断确定测试是否通过的过程可以包括下述几种情况：第一，mcu103产生的输出信号可以直接表示测试通过，或者测试不通过。例如，当测试通过时输出信号可以为高电平，当测试不通过时输出信号可以为低电平，采集器采集到表征测试是否通过的电平信息后，可以将信息传输给工控机。第二，采集器采集mcu103产生的输出信号，并对输出信号进行判断，确定测试通过或者不通过。可选的，通过比较器来比较采集的输出信号与参考信号是否一致，当一致时，表示测试通过，参考信号表示mcu103在启动或正常工作时输出的信号。第三，采集器采集mcu103产生的输出信号，并将输出信号传输给工控机，工控机对输出信号进行判断，具体过程与上述判断过程类似。
44.mcu为(microcontroller unit)微控制单元芯片，采集器可以为mcu采集器。
45.通过上述过程，可以实现信号发生器101每接收到一条测试曲线对应的参数信息后，生成供电信号，电压跟随器102对供电信号进行转换并施加到mcu103上，以使mcu103输出在不同测试曲线下的输出信号，通过不断的接收测试曲线的参数信息，实现对mcu103的全部测试曲线的快速扫描测试，从而实现自动测试，无需人工手动选择测试曲线来为mcu103供电，提高了测试效率。
46.本技术实施例提供的mcu供电电路，包括信号发生器，电压跟随器以及mcu；所述电压跟随器具有第一端和第二端，所述电压跟随器的第一端与所述信号发生器连接，所述电压跟随器的第二端与所述mcu连接；所述信号发生器具有与至少两条测试曲线分别对应的供电信号发送状态，其中，不同测试曲线的坡度不同；所述电压跟随器用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号，并将有驱动能力的供电信号传输给所述mcu，以使采集器采集所述mcu状态，所述mcu状态用于验证所述mcu在所述供电信号下的性能，相比与现有技术，通过信号发生器和电压跟随器实现自动接收至少两条测试曲线的参数信息，能够在接收到参数信息后自动产生供电信号，实现为mcu提供不同测试曲线对应的供电信号，无需在测试的过程中，用户手动设置每一条测试曲线，提高测试效率。
47.在一种可能的实现方式中，所述测试曲线包括上电测试曲线和下电测试曲线；所述上电测试曲线用于测试所述mcu的上电性能；所述下电测试曲线用于测试所述mcu的下电性能；
48.其中，在进行上电性能测试或下电性能测试时，当测试曲线为两条时，一条测试曲线的坡度大于预设值，一条测试曲线的坡度小于预设值。
49.在对mcu进行测试时，测试曲线可以包含上电测试曲线和下电测试曲线，分别用于对mcu的上电性能和下电性能进行测试。
50.针对上电测试曲线或下电测试曲线，在对mcu进行验证时，测试曲线的个数至少为两条。可选的，一条测试曲线坡度较小，一条测试曲线的坡度较大，分别用于验证mcu在上电速度较快和上电速度较慢的两种情况下是否启动或工作正常。
51.可选的，可以预先设置基准测试曲线，基准测试曲线的坡度为预设值，且基准测试曲线的上电速度适中。在选择两条测试曲线时，可以设置坡度间隔，使得测试曲线的坡度与预设值的差的绝对值大于等于坡度间隔，实现选择的两条测试曲线坡度相差较大，且分别可以代表上电速度较快和上电速度较慢的测试曲线。
52.通过上述测试曲线的设置方式，使得选择的测试曲线可以代表上电速度快和上电速度慢的两类测试曲线，实现在较少的测试曲线的作用下，确定mcu的性能。
53.图2为本技术实施例提供的一种mcu测试系统的结构示意图，如图2所示，该系统包括：工控机204、供电单元201、mcu202、采集器203；所述工控机204的输出端与所述供电单元201的输入端相连；所述供电单元201的输出端与所述mcu202相连；所述采集器203与所述mcu202的输出端相连；所述工控机204的输入端与所述采集器203的输出端相连；所述工控机204用于接收用户输入的至少两条测试曲线对应的参数信息，并将所述参数信息传输给所述供电单元201；所述供电单元201具有与至少两条测试曲线的参数信息分别对应的供电信号发生状态；所述采集器203用于采集并输出所述mcu在每一供电信号的作用下产生的输出信号；所述工控机204还用于接收所述采集器发送的测试结果；所述测试结果为所述输出信号是否正常的结果。
54.工控机204支持曲线定义、曲线保存、曲线调取、曲线排序等功能；支持同时选中多个曲线，并要求信号发生器进行按序输出波形。
55.其中，mcu测试系统包括工控机204，工控机204可以接收用户通过键盘输入的至少两条测试曲线的参数信息，并将测试曲线的参数信息进行传输。
56.采集器203可以采集mcu202的输出信号，通过输出信号确定mcu的状态是否正常。可选的，采集器可以通过gpio(general-purpose input/output)通用输入输出、协议通信或adc(模数转换器)采样的方式采集mcu的输出信号。其中，供电信号为mcu的激励，输出信号为mcu在激励下的响应。
57.可选的，工控机204可以通过多个电路模块来实现，用户通过按下不同按键以输入不同测试曲线序列的参数信息，其中，每一按键对应不同的测试曲线组合，每一按键后对应一个输入电路模块，该电路输入模块可以依次产生用户选中的测试曲线组合的参数信息。输入电路模块在产生各测试曲线的参数信息时，可以按照预设时间间隔产生，或者，输入电路模块在持续产生各测试曲线的参数信息后，间隔一定时间向供电单元201逐个发送各个参数信息，直至将所有的测试曲线对应的参数信息发送完毕。对于间隔时间的确定可以采
用定时器来实现。
58.其中，参数信息可以为测试曲线的坡度，参数信息的表现方式可以为模拟电压、电流、占空比、高电平持续时长，或者，高低电平的序列等。例如，当参数信息的表现方式为高电平的持续时长时，不同的持续时长对应不同的测试曲线的坡度。
59.其中，当采集器203接收到mcu202的输出信号异常时，可以向工控机204发送信号，如低电平0，当输出信号正常时，可以向工控机204发送高电平1，工控机204通过比较器确定接收的信息，当接收的信号为0时，发送当前输出的参数信息，当接收的信号为1时，且在满足预设时间间隔后，继续发送下一参数信息，以实现在接收到异常的输出信号时，持续输出当前的测试曲线的参数信息。
60.可选的，工控机204还可以通过软件来实现，用户通过键盘输入各个测试曲线的参数信息，工控机204可以生成并保存各条测试曲线，在进行测试时，用户可以从所有测试曲线中选择多条测试曲线，并设置各条测试曲线的输出时间间隔，以及自动设置选择的多条测试曲线的输出顺序，并通过usb线将各个测试曲线的参数信息传输给供电单元201，以使供电单元201自动生成与接收的参数信息对应的供电信号。
61.可选的，工控机204可以将参数信息传输给供电单元201。供电单元201支持生成任意波形的供电信号，在实际中，当供电单元201接收到参数信息时，即可输出预先定义好的测试曲线。
62.采集器203在采集到mcu202的输出信号后，还可以确定输出信号是否正常。可选的，可以通过比较器来比较采集的输出信号与参考信号是否一致，当一致时，表示输出信号正常，参考信号表示mcu202在启动或正常工作时输出的信号。
63.当采集器203在确定输出信号是否正常后，还可以将测试结果发送给工控机204，例如，通过串口线将测试结果发送给工控机204。工控机可以对测试结果进行记录，无需人工手动记录测试结果，提高测试结果统计的准确性。
64.本实施例中，mcu103产生的输出信号可以直接表示测试通过，或者测试不通过。例如，当测试通过时输出信号可以为高电平，当测试不通过时输出信号可以为低电平，采集器采集到表征测试是否通过的电平信息后，可以将信息传输给工控机。
65.本技术实施例提供的mcu测试系统，包括工控机、供电单元、mcu、采集器；所述工控机的输出端与所述供电单元的输入端相连；所述供电单元的输出端与所述mcu相连；所述采集器与所述mcu的输出端相连；所述工控机的输入端与所述采集器的输出端相连；所述工控机用于接收用户输入的至少两条测试曲线对应的参数信息，并将所述参数信息传输给所述供电单元；所述供电单元具有与至少两条测试曲线的参数信息分别对应的供电信号发生状态；所述采集器用于采集并输出所述mcu在每一供电信号的作用下产生的输出信号；所述工控机还用于接收所述采集器发送的测试结果；所述测试结果为所述输出信号是否正常的结果，相比与现有技术，在对mcu进行测试时，可以基于工控机输出至少两条测试曲线的参数信息，基于供电单元自动输出供电信号，无需在测试的过程中，用户手动设置每一条测试曲线，提高测试效率。
66.在一种可能的实现方式中，所述供电单元包括信号发生器；所述系统还包括电压跟随器；所述电压跟随器设置在所述信号发生器和所述mcu之间；所述电压跟随器用于将所述信号发生器产生的供电信号转换为有驱动能力的供电信号。
67.图3为本技术实施例提供的另一种mcu测试系统的结构示意图，供电单元201可以为信号发生器，信号发生器可以根据接收的参数信息输出各测试曲线的供电信号，但是信号发生器输出的供电信号不具备驱动mcu的能力，需要在信号发生器后设置电压跟随器。电压跟随器的功能为将信号发生器产生的供电信号转换为由驱动能力的供电信号，并将产生的有驱动能力的供电信号施加到mcu上，也就是电压跟随器的输出端与mcu的vdd端相连。
68.当测试曲线的数量较多时，通过采用信号发生器与电压跟随器为mcu提供供电信号，可以实现快速产生供电信号，进一步提升测试效率。
69.在一种可能的实现方式中，所述采集器与所述电压跟随器设置在信号转换板上；所述信号转换板上设置有与所述采集器和所述电压跟随器分别对应的接线端子，所述采集器通过对应的接线端子与所述mcu和所述工控机相连，所述电压跟随器通过对应的接线端子与所述信号发生器和所述mcu相连。
70.其中，可以将采集器和电压跟随器设置在信号转换板上，信号转换板向外提供与采集器对应的接线端子和与电压跟随器对应的接线端子，通过采集器对应的接线端子可以与mcu和工控机相连；通过电压跟随器对应的接线端子可以与mcu和信号发生器相连，通过信号转换板提供接线端子，实现方便的将整个系统中各个部分连接。
71.在一种可能的实现方式中，所述信号转换板还设置有与测试设备对应的接线端子；所述测试设备用于显示所述采集器采集的输出信号。
72.当采集器在接收到输出信号时，还可以采用测试设备可以对输出信号进行显示，以方便用户对输出信号进行实时分析。
73.可选的，测试设备为示波器，与示波器对应的接线端子还与采集器相连，可以接收采集器传输的输出信号，也可以与待测试mcu输出端相连，直接采集mcu输出的信号。
74.其中，当工控机204向供电单元201逐条传输测试曲线的参数信息时，若接收到某一条测试曲线对应的测试结果异常时，工控机204会持续向供电单元201输出该测试曲线的参数信息，使得供电单元201持续输出该测试曲线对应的供电信号，使得测试设备可以持续输出该输出信号的波形信息，便于用户持续对该测试曲线的输出信号进行分析。
75.通过设置与测试设备对应的接线端子，实现将mcu输出端的信号或采集器采集的输出信号进行显示，便于用户对输出信号进行分析。
76.其中，测试设备可以在测试过程中一直接入测试系统，当采集器采集的输出信号正常时和异常时，都可以对输出信号进行显示。或者，由于用户更加关注输出信号异常的情况，当输出信号异常时，将测试设备接入测试系统；当输出信号正常时，测试设备可以不接入测试系统。
77.在一种可能的实现方式中，所述系统还包括开关电路；所述开关电路的一端与所述测试设备相连；所述开关电路的另一端与所述采集器相连，当所述采集器确定输出信号异常时，控制所述开关电路闭合，以将所述输出信号传输给所述测试设备。
78.为了实现当mcu的输出信号为异常状态时，将测试设备接入mcu测试系统，可以设置一开关电路。其中，开关电路的一端与测试设备相连，开关电路的另一端与采集器相连，采集器可以控制开关电路的通断，当采集器确定mcu的输出信号异常时，可以控制开关电路闭合，将测试设备接入系统，使得采集器采集的输出信号在测试设备上显示，以便于用户进行分析。当采集器确定mcu的输出信号正常时，可以控制开关电路打开，使测试设备无法接
入系统。
79.在本实施例中开关电路的另一端也可与待测mcu的输出端相连，通过mcu的输出信号控制开关开断，在上电异常时闭合开关接入测试设备。
80.此外，采集器也可以判断mcu的输出信号是否正常，此时，开关电路至少包含两端，第一端与测试设备相连，为常闭状态，第二端与采集器的输出端相连，为常开状态，当采集器确定输出信号异常时，控制开关的第二端闭合，实现将待测试设备接入系统。
81.工控机也可以判断mcu的输出信号是否正常，此时，开关电路还包含第三端，第三端与工控机的输出端相连，工控机接收异常输出信号时，控制第二端闭合，实现将待测试设备接入系统。
82.通过设置开关电路，可以实现在需要测试设备对输出信号进行分析时，将测试设备接入测试系统，避免测试设备一直接入测试系统，降低功耗。
83.在一种可能的实现方式中，当测试曲线的条数大于等于3时，坡度最大或最小的测试曲线的输出顺序为第一输出顺序，其余各输出顺序对应的测试曲线与上一输出顺序对应的测试曲线的坡度差最大。
84.当测试曲线的数量较多时，可以设置多条测试曲线的输出顺序，上电速度快的测试曲线的坡度较大，上电速度慢的测试曲线的坡度较小，由于mcu在快速上电或慢速上电时，更容易出现问题，因此可以先验证坡度较大或坡度较小的测试曲线，以优先排查mcu可能存在的问题。
85.图4为本技术实施例提供的一种不同测试曲线的坡度变化示意图，如图4所示，示出了多条测试曲线，按照从左到右的顺序测试曲线的坡度逐渐变小。
86.可选的，对于所有的测试曲线，可以将坡度最大或坡度最小的测试曲线作为第一输出顺序，将与第一输出顺序的测试曲线的坡度相差最大的测试曲线作为第二输出顺序，将与第二输出顺序的测试曲线的坡度相差最大的测试曲线作为第三输出顺序，以此类推，确定所有测试曲线的输出顺序，供电单元依次输出与每一测试曲线对应的供电信号。
87.具体的，用户在通过按键输入不同测试曲线的参数信息时，可以按下上述输出顺序对应的按键，实现按照上述输出顺序输出各测试曲线的参数信息。
88.通过设置多条测试曲线的输出顺序，可以实现尽快确定mcu是否存在问题。
89.在一种可能的实现方式中，所述测试曲线包括上电测试曲线和下电测试曲线；所述上电测试曲线用于测试所述mcu的上电性能；所述下电测试曲线用于测试所述mcu的下电性能；
90.其中，在进行上电性能测试或下电性能测试时，当测试曲线为两条时，一条测试曲线的坡度大于预设值，一条测试曲线的坡度小于预设值。
91.在对mcu进行测试时，测试曲线可以包含上电测试曲线和下电测试曲线，分别用于对mcu的上电性能和下电性能进行测试。
92.针对上电测试曲线或下电测试曲线，在对mcu进行验证时，测试曲线的个数至少为两条。可选的，一条测试曲线坡度较小，一条测试曲线的坡度较大，分别用于验证mcu在上电速度较快和上电速度较慢的两种情况下是否启动或工作正常。
93.可选的，可以预先设置基准测试曲线，基准测试曲线的坡度为预设值，且基准测试曲线的上电速度适中。在选择两条测试曲线时，可以设置坡度间隔，使得测试曲线的坡度与
预设值的差的绝对值大于等于坡度间隔，实现选择的两条测试曲线坡度相差较大，且分别可以代表上电速度较快和上电速度较慢的测试曲线。
94.通过上述测试曲线的设置方式，使得选择的测试曲线可以代表上电速度快和上电速度慢的两类测试曲线，实现在较少的测试曲线的作用下，确定mcu的性能。
95.在一种可能的实现方式中，所述电压跟随器的输出电流大于预设数值。
96.当采用信号发生器和电压跟随器产生供电信号时，对电压跟随器的选型存在一定要求。由于mcu测试系统不仅可以测试mcu这一待测试芯片，还可以用于测试电路设计，为了满足测试不同产品的需求，可以选择驱动能力较大的电压跟随器，具体的，可以选择输出电流大于预设数值的电压跟随器。例如，电压跟随器的输出电流为1a，可以驱动大多mcu及电路设计。
97.在一种可能的实现方式中，所述供电单元包括数控电源模块，或者，数字模拟转换器。
98.供电单元不仅可以采用信号发生器和电压跟随器来实现，还可以采用数字模拟转换器、数控电源模块、自制信号发生器等，来产生与测试曲线对应的供电信号。采用上述设备时无需在系统中设置电压跟随器，具有测试系统的机构简单的优点。
99.本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的实用新型后，将容易想到本公开的其它实施方案。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。
100.应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求书来限制。