电子器件测试电路及麦克风阵列模块的制作方法

1.本发明涉及电子产品测试领域，更为具体地，涉及一种电子器件测试电路及麦克风阵列模块。


背景技术：

2.随着人工智能的飞速发展，语音技术对人们生活的影响也越来越大，但是，在语义技术的实际应用中，由于环境中存在的噪声、回声，甚至是混响等因素的影响，使得单麦克风算法技术已不能满足用户的高质量体验需求。
3.目前，为了能够有效获取语音信号，提高用户的体验效果，通常会采用麦克风阵列，例如四麦线阵或环阵作为拾音模块，通过麦克风阵列有效的抑制噪声信号，消除混响及回声，使后端处理更加简单、容易。
4.但是，在实际生产测试中，由于阵列存在多颗麦克风，如果有一颗麦克风丢失或存在损坏，通常得到的测试结果却是正常的。换言之，现有的麦克风阵列的电路设计，在麦克风存在缺失的情况下，通过常规的测试手段无法检验出个别的麦克风异常，进而影响产品的整体效果。


技术实现要素：

5.鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种电子器件测试电路及麦克风阵列模块，以对电子器件及麦克风阵列模块中的各麦克风单体进行有效的测试。
6.本发明提供的电子器件测试电路，设置在待检测电子器件的电源端；其中，当所述电子器件为丢失状态时，所述电源端被置低，所述测试电路的输出信号关闭，并处于非正常工作模式；当所述电子器件为正常状态时，所述电源端正常，所述测试电路的输出信号正常，并处于正常工作模式；基于所述测试电路的工作模式，确定所述电子器件的测试结果。
7.此外，可选的技术方案是，包括：放大器、设置在放大器的输入端的可调电阻，以及设置在放大器的输出端的三极管；其中，可调电阻并联设置在电源端与接地端之间；放大器的正相输入端通过第一电阻与可调电阻的一端连接，放大器的反向输入端与输出端连接，以及通过第二电阻与可调电阻的另一端连接；三极管的三个端分别与输出端、电源端及接地端连接；根据电源端的状态，确定电子器件的丢失或正常状态。
8.此外，可选的技术方案是，三极管为pnp三极管，包括基极、集电极、发射极；基极与输出端连接，集电极通过第三电阻与接地端连接，发射极与电源端连接。
9.此外，可选的技术方案是，当电源端的电子器件丢失时，可调电阻中无电流流过，放大器的输出端为0，pnp三极管导通，电源端被置低，测试结果为ng；否则，当电源端的电子器件存在时，输出端的电压等于可调电阻两端的电压，输出端为高电平，pnp三极管断开，电源端正常供电，测试结果为合格。
10.此外，可选的技术方案是，还包括滤波电路；滤波电路设置在电子器件的vdd端和gnd端之间。
11.此外，可选的技术方案是，滤波电路包括并联设置在vdd端和gnd端之间的至少一个滤波电容。
12.此外，可选的技术方案是，在放大器的反向输入端与输出端之间连接有第四电阻。
13.此外，可选的技术方案是，放大器的正相输入端通过第五电阻与接地端连接；第一电阻和第五电阻并联设置。
14.此外，可选的技术方案是，第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻及第五电阻均为阻值可调的电阻或阻抗。
15.根据本发明的另一方面，提供一种麦克风阵列模块，包括至少两颗麦克风；在各麦克风的电源端分别设置对应的测试电路，所述测试电路如上所述；其中，基于各测试电路的工作模式，确定所述麦克风阵列模块中各麦克风的测试结果。
16.利用上述电子器件测试电路及麦克风阵列模块，能够通过将测试电路设置在电子器件的电源端，通过测试电路的工作模式，确定当前电子器件是否缺失或者损坏，进而实现对阵列分布的电子器件中的各器件的有效测试，电路结构简单，测试准确度高，可适用范围广。
17.为了实现上述以及相关目的，本发明的一个或多个方面包括后面将详细说明的特征。下面的说明以及附图详细说明了本发明的某些示例性方面。然而，这些方面指示的仅仅是可使用本发明的原理的各种方式中的一些方式。此外，本发明旨在包括所有这些方面以及它们的等同物。
附图说明
18.通过参考以下结合附图的说明，并且随着对本发明的更全面理解，本发明的其它目的及结果将更加明白及易于理解。在附图中：
19.图1为根据本发明实施例的电子器件测试电路的结构示意图；
20.图2为根据本发明实施例的麦克风阵列的结构示意图。
21.在所有附图中相同的标号指示相似或相应的特征或功能。
具体实施方式
22.在下面的描述中，出于说明的目的，为了提供对一个或多个实施例的全面理解，阐述了许多具体细节。然而，很明显，也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施例。在其它例子中，为了便于描述一个或多个实施例，公知的结构和设备以方框图的形式示出。
23.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
24.为解决前述提出的现有的麦克风阵列在存在麦克风异常时，无法实现对异常麦克风的测试等问题，本发明提出了一种上述电子器件测试电路及麦克风阵列模块，能够通过测试电路中的放大器、设置在放大器的输入端的可调电阻，以及设置在放大器的输出端的
三极管，基于电子器件的当前模式改变电源端的状态，进而可根据电源端的状态确定电子器件的检测结果，电路结构简单，测试效率高。
25.为详细描述本发明的电子器件测试电路及麦克风阵列模块，以下将结合附图对本发明的具体实施例进行详细描述。
26.图1示出了根据本发明的电子器件测试电路的示意结构。
27.如图1所示，本发明实施例的电子器件测试电路，设置在对应电子器件的电源端，当电子器件为丢失状态时，即电子器件漏装或者不导电等异常情况时，对应的电源端会被置低，此时测试电路的输出信号关闭，测试电路及电源端均处于非正常工作模式；当电子器件为正常状态时，电源端正常供电，测试电路的输出信号正常，测试电路及电源端均处于正常工作模式；进而，能够基于测试电路的工作模式或者电源端的状态，确定电子器件的测试结果，能够解决在电子器件阵列中，在个别器件漏装的情况下，无法通过整体的输出信号进行丢失检测的问题。
28.作为具体示例，上述测试电路可以包括：放大器、设置在放大器的输入端的可调电阻，以及设置在放大器的输出端的三极管；其中，可调电阻并联设置在电源端与接地端之间，放大器的正相输入端通过第一电阻与可调电阻的一端连接，放大器的反向输入端与输出端连接，以及通过第二电阻与可调电阻的另一端连接；三极管的三个端分别与输出端、电源端及接地端连接；根据电源端的状态(置低或者正常)，确定电子器件的测试结果。
29.其中，三极管可采用pnp三极管，包括基极b、集电极c、发射极e；基极与输出端连接，集电极通过第三电阻与接地端连接，发射极与电源端连接，可知，pnp三极管的导通条件是：发射极高电位，基极低电位。
30.可知，当电源端的电子器件出现丢失或者异常时，可调电阻中无电流流过，此时放大器的输出端为0，pnp三极管导通，由于pnp三极管的导通，使得与发射极连接的电源端被置低，处于非正常工作模式，此时电子器件的测试结果为ng；否则，当电源端的电子器件存在并正常时，放大器的输出端的电压等于可调电阻两端的电压，此时输出端为高电平，pnp三极管断开，电源端处于正常工作状态，表明对应电源端的电子器件正常，对应的测试结果为合格。
31.需要说明的是，在电子器件的阵列结构中，为了实现对阵列中的每个电子器件的异常测试，需要在各电子器件的电源端分别设置上述电子器件测试电路，通过各测试电路的测试结果，确定电子器件的阵列的测试情况。
32.在本发明的一个具体实施方式中，还可在电子器件与电源端之间设置滤波电路，即在电子器件的vdd端和gnd端之间设置滤波电路，滤波电路可包括并联设置在vdd端和gnd端之间的至少一个滤波电容，具体可根据实际的电路需求进行灵活设置。
33.此外，在本发明的电子器件测试电路中，在反向输入端与输出端之间还连接有第四电阻，以及在放大器的正相输入端与接地端之间设置第五电阻，即放大器的正相输入端通过第五电阻与接地端连接，其中，第一电阻和第五电阻并联设置。
34.需要说明的是，为了确保电路的适用范围及可靠性，使得各电路组件能够基于麦克风的参数进行灵活的阻值调整，上述第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻及第五电阻均可设置为阻值可调的电阻或阻抗。
35.作为具体示例，在图1所示的具体电路结构中，电子器件m1的vdd端和gng端之间设
置有并联的电容c1和电容c2，可调电阻r1的两端分别与电容c1和电源端3v3_bd连接，同时可调电阻r1还通过第一电阻r9与放大器的正相输入端3连接，以及通过第二电阻r8与放大器的反向输入端2连接；同时，放大器的反向输入端2通过第四电阻r10与放大器的输出端6连接，第一电阻r9通过第五电阻r11接地。
36.其中，放大器的端4和端7分别与电源端3v3_bd以及接地端连接，pnp三极管的基极与输出端6连接，发射极与电源端3v3_bd连接，集电极通过第三电阻r12与接地端连接。
37.可知，在电子器件的电源端设置对应的测试电路，如果m1丢失、漏装或者异常等，会使可调电阻r1中无电流遛过，最后放大器的输出端电压值为0，此时的三极管q4会导通，而位于三极管发射极的电源端就会被拉低，整个测试电路处于非正常工作模式，测试结果为ng。否则，如果m1正常工作，则放大器的输出端的电压等于可调电阻r1两端的电压值，通过设置可调电阻的阻值，使得放大器的输出端为高电压，三极管q4处于断开模式，电源端工作正常，测试结果为合格。
38.需要说明的是，图1中所示电路中的各电阻的阻值及电容的容值等均作为示例，本发明并不限于所示的具体参数，可根据麦克风的参数及电路的需求进行灵活的调整。
39.与上述电子器件测试电路相对应，本发明还提供一种麦克风阵列模块。
40.具体地，本发明实施例中的麦克风阵列模块，包括至少两颗麦克风，其中，在各麦克风的电源端分别设置对应的测试电路，基于各测试电路的工作模式，可以确定麦克风阵列模块中各麦克风的丢失或正常状态，其中的测试电路的工作模式包括正常工作模式和非正常工作模式，当所有测试电路均处于正常工作模式时，表示麦克风阵列模块中各麦克风均正常，否则，当存在测试电路处于非正常工作模式时，表示与测试电路对应的麦克风出现异常。
41.其中，在利用上述的电子器件测试电路对麦克风阵列模块进行测试时，可以包括以下步骤：
42.1、在待测试的麦克风阵列中的各麦克风的电源端，分别设置上述电子器件测试电路；
43.2、采集与各测试电路对应的测试结果，基于测试结果确定麦克风阵列模块中的各麦克风是否异常，以及异常麦克风的位置。
44.此外，为了便于对麦克风矩阵的测试，可在麦克风阵列中存在异常麦克风时，通过报警模块对异常麦克风及其位置进行声光报警提醒。
45.作为示例，图2示出了根据本发明实施例的麦克风阵列模块的示意结构。
46.具体地，如图2所示，麦克风阵列包括麦克风m1、麦克风m2、麦克风m3和麦克风m4，在传统测试方式中，如果麦克风m1丢失，则只剩麦克风m2进行写入数据，在信号下降沿，麦克风m2将其数据端口置于高阻抗状态，麦克风m1因为丢失，所以data也无数据信号输出，导致信号下降沿采集不到新数据，最终使得在麦克风m1丢失的情况下，仍能采集到数据信号，导致测试结果合格。
47.但是，如果在上述各麦克风的电源端设置上述电子器件测试电路，能够针对麦克风矩阵中的各麦克风进行单独的测试，确保在麦克风丢失或异常的情况下，测试结果为ng，测试的准确度更高。
48.根据上述本发明提供的电子器件测试电路及麦克风阵列模块，能够通过测试电路
对麦克风等电子器件阵列中的各电子器件进行有效的异常测试，电路结构简单，可适用范围广，测试准确度高。
49.如上参照图1和图2以示例的方式描述根据本发明的电子器件测试电路及麦克风阵列模块。但是，本领域技术人员应当理解，对于上述本发明所提出的电子器件测试电路及麦克风阵列模块，还可以在不脱离本发明内容的基础上做出各种改进。因此，本发明的保护范围应当由所附的权利要求书的内容确定。