目标设备识别方法、电路、设备及存储介质与流程

1.本技术属于电子通讯技术领域，尤其涉及一种目标设备识别方法、电路、设备及存储介质。


背景技术：

2.目前，在设备识别以及设备加密方面，通过物理接口结构或者接入模块的标识(identity document，id)来进行设备的识别，进而判断是否为主设备支持的设备。
3.随着物理接口标准的统一，只要接口的形式一致就能完成最基本的电力供应或者数据传输。不同厂商之间为了提升自己产品的产品竞争力，通常会在符合行业标准或者协议规范的基础上增加自己私有的一些协议或者规范；例如：手机快充，智能电动汽车的快充，数据快速传输等，不同厂家采用的标准不一，他们对一些基本的电气参数的要求也不相同，因此在手机快充等过程中，只有识别到符合自己标准的从设备才会按照自己定义的快充电气参数进行快充或者快速数据传输。
4.但是，目前很多厂商采用的包括加密芯片配合加密算法或者符合私有协议的芯片来进行从设备识别及加密的方法，存在成本高，且很容易破解的问题。


技术实现要素：

5.本技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本技术的一个目的在于提出一种目标设备识别方法、电路、设备及存储介质。
6.为了解决上述技术问题，本技术的实施例提供如下技术方案：
7.一种目标设备识别方法，包括：
8.检测器向谐振结构跳频发射测试信号；其中，所述检测器与主设备连接，所述谐振结构与待识别设备连接；
9.所述谐振结构接收所述测试信号，并对所述测试信号进行处理，获得第一参数，将所述第一参数反馈至所述检测器；
10.所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数；
11.基于所述谐振结构的第二参数对预设第二参数集进行查找，若在所述预设第二参数集中查找到所述谐振结构的所述第二参数，则将所述待识别设备确定为目标设备。
12.可选的，所述检测器向谐振结构跳频发射测试信号，包括：
13.所述检测器确定所述谐振结构包括的谐振元件的组数m；其中，m为正整数；
14.所述检测器依次向每组所述谐振元件发射所述测试信号。
15.可选的，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，包括：
16.当m＝1，且所述谐振元件串联设置；
17.所述检测器将第p个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述比对结
果为第p个所述第一参数大于所述第一参数阈值，则获取所述谐振结构的所述第二参数；其中，所述检测器可以发射n个发射频率不同的所述测试信号；1≤p≤n，且n，p为整数。
18.可选的，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
19.当m＝1，且所述谐振元件串联设置；
20.所述检测器将第n个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述比对结果为第n个所述第一参数小于所述第一参数阈值，则所述待识别设备与所述主设备不匹配。
21.可选的，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
22.当m＞1，每组所述谐振元件串联设置，且m组所述谐振元件并联连接；
23.所述检测器将第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述比对结果为第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数大于所述第一参数阈值，则第n组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第n组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第n 1组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第n 1组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接；其中，1≤n＜m，1≤t≤n，且n、t、n为整数；
24.所述检测器向第n 1组所述谐振元件发射所述测试信号，直至第m个所述第一参数大于所述第一参数阈值,则获取每组所述谐振元件的所述第二参数。
25.可选的，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
26.所述检测器将第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述比对结果为第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数小于所述第一参数阈值，则所述主设备与所述待识别设备不匹配。
27.本技术得实施例还提供一种目标设备识别电路，包括：
28.检测器，所述检测器的发射端用于向谐振结构跳频发射测试信号；所述检测器用于接收所述谐振结构反馈的第一参数；所述检测器与主设备连接；所述谐振结构与待识别设备连接；
29.所述谐振结构与所述检测器连接；所述谐振结构，用于接收所述检测器发送的所述测试信号，并对所述测试信号进行处理，获得所述第一参数，然后所述谐振结构将所述第一参数反馈至所述检测器，用于所述检测器将所述第一参数与第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，并基于所述谐振结构的第二参数对预设第二参数集进行查找；若在所述预设第二参数集中查找到所述第二参数，则将所述待识别设备确定为目标设备。
30.可选的，所述谐振结构设有m组谐振元件；其中，m为正整数；
31.每组所述谐振元件包括电感以及电容；其中，每组所述谐振元件包括的所述电感以及电容用于确定对应的所述谐振元件的所述第二参数；
32.其中，所述电感的第一端与所述谐振结构的输入端连接；所述电感的第二端与所述电容的第一端连接；
33.所述电容的第二端与所述谐振结构的输出端连接；
34.进入所述谐振结构的输入端的所述测试信号，依次经过所述电感以及电容，并获得所述第一参数。
35.可选的，若m＞1，则每组所述谐振元件串联设置，且多组所述谐振元件并联连接；
36.第q组所述谐振元件的所述电感的第一端与所述谐振结构的所述输入端连接，所述电容的第二端与所述谐振结构的所述输出端连接，用于获得第q个第一参数；其中，1≤q≤m，且q为整数；
37.同时，剩余的m-1组所述谐振元件的所述电感的第一端与所述谐振结构的所述输入端断开连接，剩余的m-1组所述谐振元件的所述电容的第二端与所述谐振结构的所述输出端断开连接。
38.本技术的实施例还提供一种电子设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。
39.本技术的实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如上所述的方法。
40.本技术的实施例，具有如下技术效果：
41.本技术的上述技术方案，基于设定谐振结构的第二参数(谐振频率或特性阻抗)，实现了为待识别设备进行加密，基于主设备向待识别设备跳频发射测试信号，当待识别设备反馈的第一参数与主设备发射的测试信号匹配的时候，则完成了对待识别设备的识别或解密，解密或识别的成本低，操作简单，破解难度大。
42.本技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
43.图1是本技术实施例提供的一种目标设备识别电路的结构示意图；
44.图2是本技术实施例提供的谐振结构包括一组电容c以及电感l串联设置的谐振元件的结构示意图；
45.图3是本技术实施例提供的谐振结构包括多组电容c以及电感l串联设置的谐振元件并联连接的结构示意图；
46.图4是本技术实施例提供的谐振结构包括一组电容c以及电感l并联设置的谐振元件的结构示意图；
47.图5是本技术实施例提供的谐振结构包括两组电容c以及电感l并联设置的谐振元件并联连接的结构示意图；
48.图6是本技术实施例提供的一种目标设备识别方法的流程示意图；
49.图7是电容c以及电感l串联设置的谐振元件的谐振频率与特性阻抗的关系图；
50.图8是电容c以及电感l并联设置的谐振元件的谐振频率与特性阻抗的关系图。
具体实施方式
51.下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终
相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。
52.如图1所示，本技术的实施例提供一种目标设备识别电路，包括：
53.检测器，所述检测器的发射端用于向谐振结构跳频发射测试信号；所述检测器用于接收所述谐振结构反馈的第一参数；所述检测器与主设备连接；所述谐振结构与待识别设备连接；
54.所述谐振结构与所述检测器连接；所述谐振结构，用于接收所述检测器发送的所述测试信号，并对所述测试信号进行处理，获得所述第一参数，然后所述谐振结构将所述第一参数反馈至所述检测器，用于所述检测器将所述第一参数与第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，并基于所述谐振结构的第二参数对预设第二参数集进行查找；若在所述预设第二参数集中查找到所述第二参数，则将所述待识别设备确定为目标设备。
55.具体的，所述检测器的发射端用于向谐振结构跳频发射测试信号；所述检测器的接收端用于接收所述谐振结构反馈的第一参数；所述检测器与主设备连接；所述谐振结构与待识别设备连接；
56.所述谐振结构的输入端与所述检测器的发射端连接，所述谐振结构的输出端与所述检测器的接收端连接；所述谐振结构的输入端，用于接收所述检测器的所述发射端发送的所述测试信号，并对所述测试信号进行处理，获得所述第一参数，然后所述谐振结构的输出端将所述第一参数反馈至所述检测器的接收端，用于所述检测器将所述第一参数与第一参数阈值进行比对。
57.本技术的实施例，检测器可以设置在主设备的内部，谐振结构也可以设置在待识别设备的内部，当将主设备以及待识别设备进行了连接之后，检测器以及谐振结构之间也建立了连接。
58.具体的，检测器与谐振结构连接形成一个闭合的回路，检测器(例如：蓝牙等设备)具有跳频发射测试信号的功能，其中，跳频功能是指检测器可以不断发出发射频率也不断变化的测试信号；
59.第二参数可以为谐振结构的每组谐振元件的谐振频率或特性阻抗。
60.进一步地，不同的发射频率(例如，相邻两个发射频率间隔5mhz、6mhz、7mhz或8mhz等)的测试信号经过谐振结构以后，反馈到检测器的信号强度不相同，只有当检测器发射至谐振结构的测试信号的发射频率与谐振结构的谐振频率一致，则谐振结构的特性阻抗最低，测试信号的衰减程度最小，基于该测试信号，获得的第一参数对应的信号强度才是最大的；而当检测器发射至谐振结构的测试信号的发射频率与谐振结构的谐振频率不一致，则谐振结构的特性阻抗较大，测试信号的衰减程度也较大，基于该测试信号，获得的第一参数对应的信号强度则较小；因此，本技术的实施例，设置了第一参数阈值，当谐振结构的每组谐振元件串联设置，则当第一参数对应的信号强度大于第一参数阈值对应的信号强度，则基于谐振结构的谐振频率对预设第二参数集进行查找，若在预设第二参数集中可以查找到谐振频率，则将待识别设备确定为目标设备；或当谐振结构的每组谐振元件并联设置，则当第一参数对应的信号强度小于第一参数阈值对应的信号强度，则基于谐振结构的谐振频率对预设第二参数集进行查找，若在预设第二参数集中可以查找到谐振频率，则将待识别设
备确定为目标设备。
61.在确定了目标设备之后，主设备与目标设备之间便可以进行正常的数据传输，或者基于主设备向目标设备快速充电。
62.本技术的实施例，基于设定谐振结构的第二参数(谐振频率或特性阻抗)，实现了为待识别设备进行加密，基于主设备向待识别设备跳频发射测试信号，当待识别设备反馈的第一参数与主设备发射的测试信号匹配的时候，则完成了对待识别设备的识别或解密，解密或识别的成本低，操作简单，破解难度大。
63.本技术一可选的实施例，所述谐振结构设有m组谐振元件；其中，m为正整数；
64.每组所述谐振元件包括电感l以及电容c；其中，每组所述谐振元件包括的所述电感l以及电容c用于确定对应的所述谐振元件的所述第二参数；
65.其中，所述电感l的第一端与所述谐振结构的所述输入端连接；所述电感l的第二端与所述电容c的第一端连接；
66.所述电容c的第二端与所述谐振结构的所述输出端连接；
67.进入所述谐振结构的输入端的所述测试信号，依次经过所述电感l以及电容c，并获得所述第一参数。
68.如图2所示，本技术的实施例，还包括电阻r，通过电阻r、电容c以及电感l串联形成一组谐振元件；
69.具体的，所述电阻r的第一端与所述谐振结构的所述输入端连接；
70.所述电阻r的第二端与所述电容c的第一端连接；
71.所述电容c的第二端与所述电感l的第一端连接；
72.电感l的第二端与所述谐振结构的输出端连接；
73.进入所述谐振结构的输入端的所述测试信号，依次经过所述电阻r、电感l以及电容c，并获得所述第一参数；
74.其中，谐振结构的两端连接交流电压，电流i从谐振结构的输入端进入谐振结构，并依次流经电阻r、电容c以及电感l，并从谐振结构的输出端流出；
75.另外，本技术的实施例，改变电容c以及电感l的位置，不影响本技术的电路的工作原理。
76.本技术一可选的实施例，可以根据实际需要确定谐振结构的电容c和电感l的数值，当每组谐振元件的电容c以及电感l的数值固定，则谐振元件的第二参数也可以固定。
77.本技术一可选的实施例，若m＞1，则每组所述谐振元件串联设置，且多组所述谐振元件并联连接；
78.第q组所述谐振元件的所述电感的第一端与所述谐振结构的所述输入端连接，所述电容的第二端与所述谐振结构的所述输出端连接，用于获得第q个第一参数；其中，1≤q≤m，且q为整数；
79.同时，剩余的m-1组所述谐振元件的所述电感l的第一端与所述谐振结构的所述输入端断开连接，剩余的m-1组所述谐振元件的所述电容c的第二端与所述谐振结构的所述输出端断开连接。
80.本技术一可选的实施例，如图3所示，m＝4，包括并联连接的第一谐振元件、第二谐振元件、第三谐振元件以及第四谐振元件；
81.当谐振结构设有多组谐振元件的时候，1)可以设置其中几组谐振元件的电容c以及电感l的数值相同，使得这几组谐振元件对应的第二参数相同，并与剩余几组谐振元件对应的第二参数不相同；
82.2)可以设置每组谐振元件的电容c以及电感l的数值不相同，使得每组谐振元件对应的第二参数不相同，进而增加目标设备破解的难度。
83.本技术一可选实施例，当谐振结构包括多组谐振元件时，首先随机对其中一组谐振元件进行识别，则将该组谐振元件与检测器连接，剩余的其它谐振元件则与检测器断开连接，依次类推，在进行识别的过程中，不论设置了多少组谐振元件，都是，依次不重复地对其中一组谐振元件逐个完成识别后，再对下一组谐振元件进行识别，防止不确定哪一组谐振元件完成了识别，哪一组谐振元件未完成识别，进而避免了谐振元件的漏识别或者无法确定待识别谐振元件的问题。
84.本技术的实施例，待识别设备可以为手机，数据线或者智能充电汽车等，目标设备可以为充电桩等。
85.如图4所示，本技术的实施例，还包括电阻r，通过电阻r、电容c以及电感l并联形成一组谐振元件；
86.具体的，所述电阻r的第一端分别与所述谐振结构的所述输入端、所述电容c的第一端以及所述电感l的第一端连接；所述电阻r的第二端分别与所述谐振结构的所述输出端、所述电容c的第二端以及所述电感l的第二端连接；
87.电感l的第一端分别与所述谐振结构的输入端以及所述电容c的第一端连接；
88.电感l的第二端分别与所述谐振结构的输出端以及所述电容c的第二端连接；
89.电容c的第一端分别与所述谐振结构的输入端连接，电容c的第二端分别与所述谐振结构的输出端连接。
90.进入所述谐振结构的输入端的所述测试信号，同时经过所述电阻r、电感l以及电容c，并获得所述第一参数；
91.其中，谐振结构的两端连接交流电压，电流i从谐振结构的输入端进入谐振结构，并同时流经电阻r、电容c以及电感l，并从谐振结构的输出端流出。
92.本技术一可选的实施例，如图5所示，m＝2，包括并联连接的第一谐振元件以及第二谐振元件；
93.如图6所示，本技术的实施例还提供一种目标设备识别方法，应用于如图1至图3所示的电路，包括：
94.步骤s61：检测器向谐振结构跳频发射测试信号；其中，所述检测器与主设备连接，所述谐振结构与待识别设备连接；
95.具体的，所述检测器向谐振结构跳频发射测试信号，包括：
96.所述检测器确定所述谐振结构包括的谐振元件的组数m；其中，m为正整数；
97.所述检测器依次向每组所述谐振元件发射所述测试信号。
98.本技术的实施例，当将主设备以及待识别设备进行了连接之后，设置在主设备之中的检测器,则首先检测谐振结构的谐振元件的数量m，并根据检测到的谐振元件的数量，依次对每组谐振元件进行识别；也即依次向每组谐振元件发射测试信号。
99.步骤s62：所述谐振结构接收所述测试信号，并对所述测试信号进行处理，获得第
一参数，然后将所述第一参数反馈至所述检测器；
100.步骤s63：所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数；
101.具体的，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，包括：
102.当m＝1，且所述谐振元件串联设置；
103.所述检测器将第p个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述对比结果为第p个所述第一参数大于所述第一参数阈值，则获取所述谐振结构的所述第二参数；其中，所述检测器可以发射n个发射频率不同的所述测试信号；1≤p≤n，且n，p为整数。
104.本技术的实施例，每组谐振元件的第二参数可以包括谐振频率或特性阻抗，其中，谐振频率以及特性阻抗可以基于如下公式计算获得：
105.特性阻抗
106.当时，则谐振结构产生谐振，此时，谐振结构具有最小的特性阻抗，z＝r；对应的ω0为该谐振结构的谐振频率；
107.式中：ω0以及ω为角频率，j为虚数符号；
[0108][0109]
式中：f0为频率。
[0110]
如图7所示，为特性阻抗与角频率的关系图，由图7可知，当w＝w0时，z最小，z＝r。
[0111]
本技术的实施例，可以根据实际需要选择谐振频率或特性阻抗，例如：通过改变每组谐振元件的电容c以及电感l的数值，改变每组谐振元件对应的谐振频率或特性阻抗，进而实现对待识别设备进行加密。
[0112]
本技术一可选的实施例，假设谐振结构仅设有一组谐振元件，则主设备在进行目标设备的确定的时候，只需要确定该组谐振元件对应的第一参数大于第一参数阈值即可。
[0113]
具体的，由于本技术的实施例，在主设备与待识别设备建立连接之后，检测器开始不断地向谐振结构的谐振元件发射测试信号，且测试信号的发射频率不相同，可以预设检测器发射的测试信号的发射频率设有n(n为正整数)个不同值，则检测器每次向谐振元件发射其中一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0114]
则检测器从剩下的n-1个发射频率中选择另一个发射频率，并以该发射频率再次向谐振元件发射一个测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0115]
则继续重复上述步骤，也即检测器继续再次向谐振元件发射一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，直至该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度，则获取该组谐振元件的第二参数。
[0116]
本技术一可选的实施例，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
[0117]
当m＝1，且所述谐振元件串联设置；
[0118]
所述检测器将第n个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述对比结果为第n个所述第一参数小于所述第一参数阈值，则所述待识别设备与所述主设备不匹配。
[0119]
本技术一可选的实施例，当检测器已向谐振元件发射了n个不同的发射频率的测试信号后，则重复上述步骤，进行下一轮解密，或者可以提示用户解密失败。
[0120]
本技术的上述实施例，n的值可以根据实际需要进行确定，本技术的实施例对此不做具体的限定。
[0121]
本技术一可选的实施例，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
[0122]
当m＞1，每组所述谐振元件串联设置，且m组所述谐振元件并联连接；
[0123]
所述检测器将第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述对比结果为第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数大于所述第一参数阈值，则第n组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第n组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第n 1组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第n 1组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接；其中，1≤n＜m，1≤t≤n，且n、t、n为整数；
[0124]
所述检测器向第n 1组所述谐振元件发射所述测试信号，直至第m个所述第一参数大于所述第一参数阈值,则获取每组所述谐振元件的所述第二参数。
[0125]
本技术的实施例，当m＞1，也即谐振结构包括多组并联连接的谐振元件，且每组谐振元件串联设置，在进行目标设备的确定过程中，需要确定每组谐振元件对应的第一参数大于第一参数阈值，因此，适度增加谐振元件的数量，可以增加解密的难度，进而提高自身产品的竞争力。
[0126]
本技术一可选的实施例，假设谐振结构仅设有m组串联连接的谐振元件，且每组谐振元件串联设置，则主设备在进行目标设备的确定的时候，需要依次确定每组谐振元件对应的第一参数大于第一参数阈值即可；其中，在识别过程中，对每组谐振元件的第一参数的确定的顺序不设限。
[0127]
具体的，由于本技术的实施例，在主设备与待识别设备建立连接之后，检测器开始不断地向谐振结构的每组谐振元件发射测试信号，且测试信号的发射频率不相同，可以预设检测器发射的测试信号的发射频率设有n(n为正整数)个不同值；
[0128]
对于第n组谐振元件，则检测器每次向谐振元件发射其中一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度，则检测器从剩下的n-1个发射频率中选择另一个发射频率，并以该发射频率再次向谐振元件发射一个测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0129]
则继续重复上述步骤，也即检测器继续再次向谐振元件发射一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，直至该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度，则第n组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第n组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第n 1组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第n 1组所述谐振元件的输出端与所述检测器
的接收端连接；
[0130]
对于第n 1组谐振元件，则检测器每次向谐振元件发射其中一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度，则检测器从剩下的n-1个发射频率中选择另一个发射频率，并以该发射频率再次向谐振元件发射一个测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，若该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0131]
则继续重复上述步骤，也即检测器继续再次向谐振元件发射一个发射频率的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，直至该第一参数对应的信号强度大于第一参数阈值的信号强度；
[0132]
依次类推，重复上述步骤，在确定m组谐振元件对应的信号强度大于待第一参数阈值的信号强度，然后，获取每组谐振元件的谐振频率。
[0133]
本技术一可选的实施例，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
[0134]
所述检测器将第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数小于所述第一参数阈值，则所述主设备与所述待识别设备不匹配。
[0135]
本技术的实施例，当谐振结构设有多个谐振元件的时候，则需要确定每一个谐振元件的第二参数与检测器的发射频率匹配，才可以确定主设备与待识别设备匹配，进一步增加了目标设备破解的难度。
[0136]
具体的，假设谐振结构设有m组谐振元件的时候，则需要这m组谐振元件中的每组谐振元件的第一参数均大于第一参数阈值，然后，才进行下一步，否则，若有任何一组谐振元件的第一参数小于第一参数阈值，则表明主设备与待识别设备不匹配，可以提示用户解密失败。
[0137]
本技术一可选的实施例，所述检测器将所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，获得比对结果，并根据所述比对结果，获取所述谐振结构的第二参数，还包括：
[0138]
当m＞1，且m组所述谐振元件并联连接，且每组所述谐振元件并联设置；
[0139]
所述检测器将第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数与所述第一参数阈值进行比对，若所述对比结果为第n组所述谐振元件的第t个所述第一参数小于所述第一参数阈值，则第n组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第n组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第n 1组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第n 1组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接；其中，1≤n＜m，1≤t≤n，且n、t、n为整数；
[0140]
所述检测器向第n 1组所述谐振元件发射所述测试信号，直至第m个所述第一参数大于所述第一参数阈值,则获取每组所述谐振元件的所述第二参数。
[0141]
本技术的实施例，每组谐振元件的第二参数可以包括谐振频率或特性阻抗，其中，谐振频率以及特性阻抗可以基于如下公式计算获得：
[0142][0143]
式中，g
in
为每组谐振元件的输入导纳，z
in
为每组谐振元件的输入阻抗。
[0144]
当时，并联的lc谐振元件产生谐振，此时并联的lc谐振元件具有最大的特性阻抗z
in
＝r,对应的ω0就是电路的谐振频率(ω0为角频率，)。
[0145]
如图8所示，为特性阻抗与角频率的关系图，由图8可知，当w＝w0时，z最大，z
in
＝r。
[0146]
步骤s64：基于所述谐振结构的第二参数对预设第二参数集进行查找，若在所述预设第二参数集中查找到所述谐振结构的所述第二参数，则将所述待识别设备确定为目标设备。
[0147]
本技术的实施例，基于谐振结构的第二参数对预设第二参数集进行查找，进一步增加了解密的难度，进而提高了自身产品的竞争力。
[0148]
具体的，预设第二参数集可以根据需要包括多个不同的频率用于限定匹配的谐振频率的范围。
[0149]
本技术的上述实施例，可以基于如下实现方式实现：
[0150]
例如：1)假设谐振结构设有一组电容c以及电感l串联设置的谐振元件，测试信号的发射频率可以为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz；n＝5，m＝1；
[0151]
调整谐振元件的电感l以及电容c的值，确定谐振元件的谐振频率为2412mhz；
[0152]
检测器向谐振元件发射一个发射频率为2417mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该谐振频率对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0153]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2422mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2422mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0154]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射一个发射频率为2412mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度，则获取该组谐振元件的谐振频率2412mhz，并基于该谐振频率2412mhz对预设谐振频率集(2412mhz、2437mhz)进行查找，可以查找到2412mhz，则表明该待识别设备与主设备匹配，或者说解密成功。
[0155]
因此，本技术的该实施例可以通过当前的主设备为待识别设备进行充电或者数据传输。
[0156]
2)假设谐振结构设有一组电容c以及电感l串联设置的谐振元件，测试信号的发射频率可以为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz；n＝5，m＝1；
[0157]
调整谐振元件的电感l以及电容c的值，确定谐振元件的谐振频率为2407mhz；
[0158]
检测器向谐振元件发射一个发射频率为2417mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0159]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2422mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2422mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0160]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射完上述每一个发射频率对
应的测试信号，并接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度，则表明该待识别设备与主设备不匹配，或者说解密失败；
[0161]
因此，本技术的该实施例无法通过当前的主设备为待识别设备进行充电或者数据传输。
[0162]
3)假设谐振结构设有5组电容c以及电感l串联设置的谐振元件，并联连接，也即m＝5，测试信号的发射频率可以为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz、2432mhz、2432mhz、2432mhz、2437mhz、2442mhz、2447mhz以及2452mhz；n＝11；
[0163]
调整谐振元件的电感l以及电容c的值，确定每组谐振元件的谐振频率为2412mhz或2432mhz；
[0164]
对于第一组谐振元件，检测器向谐振元件发射一个发射频率为2452mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该谐振频率对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0165]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2447mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2447mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0166]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射一个发射频率为2412mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度；
[0167]
则第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第一组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第二组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接。
[0168]
对于第一组谐振元件，检测器向谐振元件发射一个发射频率为2447mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该谐振频率对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0169]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2442mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2442mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0170]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射一个发射频率为2432mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度；
[0171]
则第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第二组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第三组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第三组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接。
[0172]
依次类推，当5组谐振元件的第一参数均大于第一参数阈值，则获取每组谐振元件的谐振频率2412mhz以及2432mhz；
[0173]
基于2412mhz以及2432mhz；对预设第二参数集(2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz、2432mhz以及2437mhz)进行查找，可以查找到2412mhz以及2432mhz，因此，主设备与待识别设备匹配，也即解密成功。
[0174]
因此，本技术的该实施例可以通过当前的主设备为待识别设备进行充电或者数据传输。
[0175]
本技术的实施例，n的值可以根据实际需要进行确定，本技术的实施例对此不做具体的限定。
[0176]
4)假设谐振结构设有5组电容c以及电感l串联设置的谐振元件，并联连接，也即m＝5，测试信号的发射频率可以为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz、2432mhz、2432mhz、2432mhz、2437mhz、2442mhz、2447mhz以及2452mhz；n＝11；则当每组谐振元件对应的谐振频率不同的时候，有种加密方式对5组谐振元件进行加密；
[0177]
例如：调整谐振元件的电感l以及电容c的值，确定每组谐振元件的谐振频率依次为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz；
[0178]
对于第一组谐振元件，检测器向谐振元件发射一个发射频率为2452mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该谐振频率对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0179]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2447mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2447mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0180]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射一个发射频率为2412mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度；
[0181]
则第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第一组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第二组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接。
[0182]
对于第一组谐振元件，检测器向谐振元件发射一个发射频率为2447mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该谐振频率对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0183]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2442mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2442mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0184]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射一个发射频率为2412mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度大于待检测阈值的信号强度；
[0185]
则第二组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端断开连接；第二组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端断开连接；第三组所述谐振元件的输入端与所述检测器的发射端连接；第三组所述谐振元件的输出端与所述检测器的接收端连接。
[0186]
依次类推，当5组谐振元件的第一参数均大于第一参数阈值，则获取每组谐振元件的谐振频率2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz；
[0187]
基于2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz对预设第二参数集(2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz、2432mhz以及2437mhz)进行查找，可以查找到2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz以及2432mhz或2417mhz、2422mhz、2427mhz、2412mhz以
及2432mhz或4422mhz、2427mhz、2432mhz、2412mhz以及2417mhz等，因此，主设备与待识别设备匹配，也即解密成功。
[0188]
因此，本技术的该实施例可以通过当前的主设备为待识别设备进行充电或者数据传输。
[0189]
本技术的实施例，n的值可以根据实际需要进行确定，本技术的实施例对此不做具体的限定。
[0190]
5)假设谐振结构设有5组电容c以及电感l串联设置的谐振元件，并联连接，也即m＝5，测试信号的发射频率可以为2412mhz、2417mhz、2422mhz、2427mhz、2432mhz、2432mhz、2432mhz、2437mhz、2442mhz、2447mhz以及2452mhz；n＝11；
[0191]
调整谐振元件的电感l以及电容c的值，确定谐振元件的谐振频率依次为2407mhz或2402mhz；
[0192]
检测器向谐振元件发射一个发射频率为2417mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度小于待检测阈值的信号强度；
[0193]
则检测器从剩下的几个发射频率中选择(或随机选择)一个发射频率为2422mhz，并再次向谐振元件发射一个发射频率为2422mhz的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度；
[0194]
然后，重复上述步骤，直至检测器再次向谐振元件发射完上述每一个发射频率对应的测试信号，然后接收谐振元件基于该测试信号反馈的第一参数，则该第一参数对应的信号强度仍小于待检测阈值的信号强度，则表明该待识别设备与主设备不匹配，或者说解密失败；
[0195]
因此，本技术的该实施例无法通过当前的主设备为待识别设备进行充电或者数据传输。
[0196]
需要说明的是，当m＞1，对于多组谐振元件的检测顺序为随机进行，本技术的实施例对此不做具体限定。
[0197]
本技术的实施例还提供一种电子设备，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。
[0198]
本技术的实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的计算机程序，其中，在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在设备执行如上所述的方法。
[0199]
另外，本技术实施例的装置的其他构成及作用对本领域的技术人员来说是已知的，为减少冗余，此处不做赘述。
[0200]
需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设
备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(ram)，只读存储器(rom)，可擦除可编辑只读存储器(elrom或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(cdrom)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。
[0201]
应当理解，本技术的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(lga)，现场可编程门阵列(flga)等。
[0202]
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0203]
在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0204]
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0205]
在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0206]
在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0207]
尽管上面已经示出和描述了本技术的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本技术的限制，本领域的普通技术人员在本技术的范围内可以对上述
实施例进行变化、修改、替换和变型。