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一种测试感光传感器的方法、装置及计算机可读存储介质与流程

2023-02-19 09:41:38 来源:中国专利 TAG:


1.本发明涉及通信技术领域,具体涉及一种测试感光传感器的方法、装置及计算机可读存储介质。


背景技术:

2.随着大尺寸液晶面板生产技术趋近成熟,用户对电视的需求不仅限于屏幕尺寸大和分辨率高,还包括人机交互更加智能。传统技术中采用摄像头或遥控器进行交互,但存在用户隐私易泄露、不能对电视进行控制。现在技术中多采用感光传感器覆盖于屏幕上,可以通过对感光传感器的进行遮挡,实现手势识别等人机交互方式,给用户带来更好的娱乐和办公体验。对感光传感器进行测试分析、其一致性和可靠性是感光传感器产品化的关键,传统人工测试方案存在工作量大和测试结果无法可视化的问题。


技术实现要素:

3.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法、装置及计算机可读存储介质,可以对感光传感器的测试自动化和可视化的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
4.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法,包括:
5.响应于测试指令,将光线照射于所述感光传感器上;
6.采集在第一环境下所述感光传感器基于所述光线所产生的第一图像;
7.获取在所述第一环境下所述感光传感器生成的第一电压数据信息;
8.根据所述第一电压数据信息生成第二图像;
9.根据所述第一图像与所述第二图像,确定第一测试结果。
10.在一些实施例中,所述根据所述第一电压数据信息生成第二图像,包括:
11.根据所述第一电压数据信息中所述感光传感器的每一感光单元的第一电压数据和第一位置信息生成第二图像,其中,所述第一电压数据信息包括每个所述感光单元的第一电压数据和第一位置信息。
12.在一些实施例中,所述根据所述第一图像与所述第二图像,确定第一测试结果,包括:
13.根据所述第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值;
14.获取所述第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;
15.计算每一像素单元所述第一驱动电压数据值和所述第二驱动电压数据值的差值集合;
16.若所述差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定所述感光传感器的测试结果为不合格;
17.若所述差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值时,确定所述感光传感器
的测试结果为合格。
18.在一些实施例中,所述方法还包括:
19.根据所述第一测试结果选取测试结果为合格的感光传感器;
20.将预设光照强度的光线照射于所述测试结果为合格的感光传感器上;
21.对照射于所述测试结果为合格的感光传感器的光线进行部分遮挡;
22.采集在第二环境下所述测试结果为合格的感光传感器的第三图像;
23.获取在当前第二环境下所述测试结果为合格的感光传感器的第二电压数据信息,所述第二电压数据信息包括所述感光传感器的每一感光单元的第二电压数据和第二位置信息;
24.根据所述第二电压数据信息生成所述感光传感器的第四图像;
25.根据所述第三图像与所述第四图像,确定第二测试结果。
26.在一些实施例中,所述根据所述第三图像与所述第四图像,确定第二测试结果,包括:
27.根据所述第三图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第三驱动电压数据值;
28.获取所述第四图像上每一像素单元对应的第四驱动电压数据值;
29.计算每一像素单元所述第三驱动电压数据值和所述第四驱动电压数据值的差值;
30.当检测到所述差值集合中任一差值大于第二预设阈值时,判定所述预设光照强度不通过;
31.当检测到所述差值集合中任一差值小于或者等于第二预设阈值时,判定所述预设光照强度通过。
32.在一些实施例中,所述根据所述第一电压数据信息生成第二图像,包括:
33.将所述第一电压数据信息中的电压数据转换为二进制数据;
34.基于所述二进制数据和第一位置信息生成第二图像。
35.相应的,本技术实施例还提供了一种测试感光传感器装置,包括:
36.照射模块,用于响应于测试指令,将光线照射于所述感光传感器上;
37.图像采集模块,用于采集在第一环境下所述感光传感器基于所述光线所产生的第一图像;
38.数据获取模块,用于获取在所述第一环境下所述感光传感器生成的第一电压数据信息;
39.图像生成模块,用于根据所述第一电压数据信息生成第二图像;
40.确定模块,用于根据所述第一图像与所述第二图像,确定第一测试结果。
41.在一些实施例中,所述图像生成模块包括:
42.生成子模块,用于根据所述第一电压数据信息中所述感光传感器的每一感光单元的第一电压数据和第一位置信息生成第二图像,其中,所述第一电压数据信息包括每个所述感光单元的第一电压数据和第一位置信息。
43.在一些实施例中,所述确定模块包括:
44.第一确定子模块,用于根据所述第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值;
45.获取子模块,用于获取所述第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;
46.计算子模块,用于计算每一像素单元所述第一驱动电压数据值和所述第二驱动电压数据值的差值集合;
47.第二确定子模块,用于若所述差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定所述感光传感器的测试结果为不合格;若所述差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值时,确定所述感光传感器的测试结果为合格。
48.此外,本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,所述存储介质中存储有计算机程序,其中,当所述计算机程序在计算机上运行时实现本技术实施例提供的任一种测试感光传感器的方法中的步骤。
49.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法,响应于测试指令,将光线照射于所述感光传感器上;采集在第一环境下所述感光传感器基于所述光线所产生的第一图像;获取在所述第一环境下所述感光传感器生成的第一电压数据信息;根据所述第一电压数据信息生成第二图像;根据所述第一图像与所述第二图像,确定第一测试结果。从而可以对感光传感器的测试自动化和可视化的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
附图说明
50.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
51.图1是本技术实施例提供的一种测试感光传感器装置的示意图;
52.图2是本技术实施例提供的一种感光传感器的示意图;
53.图3是本技术实施例图1的测试感光传感器装置中的数字集成电路芯片工作流程图;
54.图4是本技术实施例图1的测试感光传感器装置中模拟数字转换器和感光传感器之间配合的工作流程图;
55.图5是本技术实施例图4中的数字集成电路芯片与第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器的时序交互图;
56.图6是本技术实施例图1的测试感光传感器装置中的确定设备的工作流程图;
57.图7是本技术实施例的测试感光传感器装置的安装流程图;
58.图8是本技术实施例中测试感光传感器装置中的补偿设备的工作流程图;
59.图9是本技术实施例提供的一种测试感光传感器的方法的流程图;
60.图10是本技术实施例提供的另一种测试感光传感器的方法的流程图;
61.图11是本技术实施例提供图10中的一种测试感光传感器的方法的示意图;
62.图12是本技术实施例提供的一种测试感光传感器装置的示意图;
63.图13是本技术实施例图12中的图像生成模块34的示意图;
64.图14是本技术实施例图12中的确定模块35的示意图。
具体实施方式
65.下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
66.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法、装置和计算机可读存储介质。具体地,本技术实施例的测试感光传感器的方法应用于测试感光传感器装置。
67.例如,以该测试感光传感器的方法应用于测试感光传感器装置执行为例,将光线照射于感光传感器上,感光传感器包括多个感光单元;当感光传感器检测到光线时,采集在当前第一环境下感光传感器的第一图像;获取在当前第一环境下感光传感器生成的第一电压数据信息,第一电压数据信息包括每个感光单元的第一电压数据和第一位置信息;根据电压数据信息中感光传感器的每一感光单元的第一电压数据和第一位置信息生成第二图像;根据第一图像与第二图像,确定第一测试结果。
68.以下分别进行详细说明。需说明的是,以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。
69.本技术实施例提供了一种测试感光传感器的装置,请参考图1,图1为本技术实施例提供的一种测试感光传感器的方法的装置示意图。测试感光传感器的方法应用于测试感光传感器装置。该装置至少包括:感光传感器、可控光源、图像采集设备、遮挡设备、模拟数字转换器、数字集成电路芯片、图像生成设备和确定设备。其中,感光传感器为待测试对象,请参考图2,图2为本技术实施例提供的一种感光传感器的示意图,感光传感器包括呈阵列排列的多个感光单元。
70.可控光源,用于向感光传感器照射预设光照强度的光线。
71.图像采集设备,用于感光传感器在不同光照强度下所产生的图像。
72.遮挡设备,用于在感光传感器上形成一定图案的阴影,实现测试感光传感器的自动化,减少人工成本。
73.模拟数字转换器,用于逐行采集感光传感器在预设光照强度下每一感光单元的电压数据和位置信息,具体可以将每一感光单元的电压数据和位置信息处理,以及同步信息和第一校验信息并整理为数据包。
74.具体地,感光传感器中感光单元呈m
×
n阵列排列,即感光单元有m列和n行,当可控光源的光照强度变化时,每个感光单元的电压也会随着变化。通过模拟数字转换器采集每个感光单元生成的电压数据和位置信息。更具体地,模拟数字转换器进行逐行采集,当采集当前行电压数据和位置信息完成后,检测到数字集成电路芯片发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,行切换使能脉信号使模拟数字转换器开启采集,行切换时钟控制感光传感器逐行打开感光单元。当感光传感器的列数大于模拟数字转换器所能一次采集数据的数量时,需要多个模拟数字转换器同时对感光传感器不同列进行采集,数字集成电路芯片可以同时向多个模拟数字转换器提供同步时钟。
75.数字集成电路芯片,用于发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,并将该电压数据转换为二进制数据等处理器的可读数据。请参阅图3,图3为本技术实施例图1的测试感光传感器装置中的数字集成电路芯片工作流程图,具体包括:向模拟数字转换器输出行切换
使能脉信号和行切换时钟;接收模拟数字转换器输出的数据;计算模拟数字转换器数据的数据包的校验信息;判断计算的校验信息和接收的校验信息是否一致;若否,重新向模拟数字转换器输出行切换使能脉信号和行切换时钟;若是,缓存该数据包,并将数据包缓存为二进制数据等计算机可读数据,并发送给图像生成设备。具体地,将模拟数字转换器采集的每个传感单元的电压数据转换为12位二进制数据,数字集成电路芯片将每个传感单元的12位二进制数据和第一位置信息发送到图像生成设备。
76.更具体地,请参阅图4和图5,图4为本技术实施例图1的测试感光传感器装置中模拟数字转换器和感光传感器之间配合的工作流程图,图5为本技术实施例图4中的数字集成电路芯片与第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器的时序交互图。从图4中可以看出,感光单元呈320
×
160阵列排列,即感光单元有320列和240行,一般地,每一模拟数字转换器支持160个通道数据输入,至少需要两个模拟数字转换器才能同时采集320列的数据,因此设置第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器。第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器分别向数字集成电路芯片发送数据包,该数据包包括:同步码、电压数据和位置信息以及校验信息。同时数字集成电路芯片分别向第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器发送数据同步时钟,数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号,控制感光传感器逐一打开每一行感光单元。判断计算的校验信息和接收的校验信息是否一致,当两者一致时,则数字集成电路芯片采用模拟数字转换器输入的数据。
77.图像生成设备,用于基于二进制数据等计算机可读数据和第一位置信息生成第二图像。
78.确定设备,用于比对分析第一图像和第二图像,请参阅图6,图6为本技术实施例图1的测试感光传感器装置中的确定设备的工作流程图,具体地,接收图像采集设备采集的第一图像,并根据该第一图像的每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值,其中,可以先分析每一像素单元对应的像素分量,再根据像素分量的亮度值确定像素单元对应的驱动电压值;接收图像生成设备生成的第二图像,获取第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;计算每一像素单元第一驱动电压数据值和第二驱动电压数据值的差值集合;若差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为不合格;若差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为合格。其中,第一预设阈值可以为第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值的平均值的3%至7%,优选5%。
79.照度计,用于将采集的第一图像平均光照强度发送给图像生成设备,将平均光照强度乘以感光传感器的面积,得到平均亮度,将平均亮度设置为第一图像的亮度,以此保证第一图像和第二图像的平均亮度相同。
80.在一些实施例中,请参考图7,图7为本技术实施例的测试感光传感器装置的安装流程图,先依次安装感光传感器、照度计、可控光源和图像采集设备,再设置感光传感器的数据采集环境,进而依次安装遮挡设备、模拟数字转换器和数字电路芯片、图像生成设备和确定设备。其中,设置感光传感器的数据采集环可以包括:将可控光源的光照强度设置为预设值。
81.该测试感光传感器装置还包括:补偿设备,请参阅图8,图8为本技术实施例中测试感光传感器装置中的补偿设备的工作流程图,具体包括:接收照度计采集的光照强度信息;
接收数字电路芯片输出的每个感光传感单元的电压数据;确定每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;根据每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;对每个感光传感单元进行补偿。该补偿为一定的电压补偿,可以避免因为环境等因素出现测试结果错误。
82.请参考图9,图9为本技术实施例提供的一种测试感光传感器的方法的流程图。该测试感光传感器的方法的具体流程可以如下:
83.步骤101、响应于测试指令,将光线照射于感光传感器上。
84.具体地,感光传感器包括多个感光单元,多个感光单元呈阵列排列,光线照射于每个感光单元上。其中,光线通过可控光源发出,该光线优选垂直照射于感光传感器,其中,可控光源为可以调整光照强度的光源,进而可以调整照射在感光传感器上的光线。其中,光照强度可以设置在环境光的范围内,即在0至5000勒克斯范围内。
85.在一些实施例中,光照强度可以通过设置在感光传感器上的照度计进行采集。
86.在一些实施例中,根据实际应用场景,本实施例中的感光传感器优选为环境光传感器。
87.步骤102、采集在第一环境下所述感光传感器基于光线所产生的第一图像。
88.具体地,通过摄像头等图像采集设备,采集当前第一环境下感光传感器的第一图像,其中,第一环境为感光传感器在检测到光线时,感光传感器所处的光照环境。
89.在一些实施例中,图像采集设备优选垂直于感光传感器,且可控光源和图像采集设备处于同一空间位置,保证图像采集设备采集的第一图像与合成的第二图像亮度一致。
90.步骤103、获取在所述第一环境下感光传感器生成的第一电压数据信息。
91.具体地,感光传感器通常使用光电二极管将光信号转换为电信号。其中,光电二极管为pn结或pin结构,当一定光照强度的光照射光电二极管时,pn结或pin结构产生光电流。足够能量的光子激发光电二极管的电子产生电子空穴对,电子由价带向传导带移动产生光电流。当感光传感器的每个感光单元检测到一定光照强度的光线时,每个感光单元,即光电二极管,产生一定的电流和电压。
92.具体地,感光单元呈m
×
n阵列排列,即感光单元有m列和n行,当可控光源的光照强度变化时,每个感光单元的电压也会随着变化。通过模拟数字转换器采集每个感光单元生成的电压数据和位置信息。
93.更具体地,模拟数字转换器进行逐行采集,当采集当前行电压数据和位置信息完成后,会检测到数字集成电路芯片发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,行切换使能脉信号会使模拟数字转换器切换到下一行进行采集,行切换时钟控制感光传感器逐一打开每一行感光单元,同时数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号。
94.在一些实施例中,当感光传感器的列数大于模拟数字转换器所能一次采集数据的数量时,需要多个模拟数字转换器同时对感光传感器不同列进行采集。
95.具体地,不同模拟数字转换器可以向数字集成电路芯片输出同步码、电压数据和位置信息以及校验信息。数字集成电路芯片向模拟数字转换器输出行切换使能脉信号和行切换时钟;接收模拟数字转换器输出的数据;计算模拟数字转换器数据的数据包的校验信息;判断计算的校验信息和接收的校验信息是否一致;若否,重新向模拟数字转换器输出行切换使能脉信号和行切换时钟;若是,缓存该数据包,并将数据包缓存为二进制数据等计算机可读数据,并发送给图像生成设备。
96.更具体地,感光单元呈320
×
160阵列排列,即感光单元有320列和240行,一般地,每一模拟数字转换器支持160个通道数据输入,至少需要两个模拟数字转换器才能同时采集320列的数据,因此设置第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器。第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器分别向数字集成电路芯片发送数据包,该数据包包括:同步码、电压数据和位置信息以及校验信息。同时数字集成电路芯片分别向第一模拟数字转换器和第二模拟数字转换器发送数据同步时钟,数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号,控制感光传感器逐一打开每一行感光单元。判断计算的校验信息和接收的校验信息是否一致,当两者一致时,则数字集成电路芯片采用模拟数字转换器输入的数据。
97.步骤104、根据所述第一电压数据信息生成第二图像。
98.具体地,通过数字集成电路芯片将该电压数据转换为二进制数据等处理器的可读数据;基于二进制数据和第一位置信息生成第二图像。
99.更具体地,模拟数字转换器采集的每个传感单元的电压数据变成12位二进制数据,数字集成电路芯片将每个传感单元的12位二进制数据和其位置信息发送到图像生成设备,将每个传感单元的12位二进制数据生成第二图像每一像素单元的驱动电压数据值,得到第二图像。
100.在一些实施例中,照度计将采集到的第一图像的平均光照强度发送给图像生成设备,将平均光照强度乘以感光传感器的面积,得到平均亮度,将平均亮度设置为第一图像的亮度,以此保证第一图像和第二图像的平均亮度相同。
101.在一些实施例中,可以根据图像生成设备的分辨率对电压数据进行调整。
102.步骤105、根据第一图像与第二图像,确定第一测试结果。
103.具体地,根据第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值,其中,可以先分析每一像素单元对应的像素分量,再根据像素分量的亮度值确定像素单元对应的驱动电压值;获取第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;计算每一像素单元第一驱动电压数据值和第二驱动电压数据值的差值集合;若差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为不合格;若差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为合格。其中,第一预设阈值可以为第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值的平均值的3%至7%,优选5%。
104.在一些实施例中,测试感光传感器的方法还可以包括:接收照度计采集的光照强度信息;接收数字电路芯片输出的每个感光传感单元的电压数据;确定每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;根据每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;对每个感光传感单元进行补偿。该补偿为一定的电压补偿,可以避免因为环境等因素出现的测试结果错误。
105.在一些实施例中,根据实际应用情况,图像生成设备和确定设备可以为带有显示设备和处理模块的电子设备,例如,智能手机、平板电脑、台式计算机、智能手表等设备。
106.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法,响应于测试指令,将光线照射于感光传感器上;采集在第一环境下感光传感器基于光线所产生的第一图像;获取在述第一环境下感光传感器生成的第一电压数据信息;根据第一电压数据信息生成第二图像;根据第一图像与第二图像,确定第一测试结果。从而可以对感光传感器的测试自动化和可视化
的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
107.根据上述实施例所描述的方法,以下将举例作进一步详细说明。
108.请参见图10和图11,图10为本技术实施例提供的另一种测试感光传感器的方法的流程图,图11为本技术实施例提供的另一种测试感光传感器的方法示意图。测试感光传感器的方法可以包括以下步骤:
109.步骤201、响应于测试指令,将光线照射于感光传感器上;
110.具体地,感光传感器包括多个感光单元,多个感光单元呈阵列排列,光线照射于每个感光单元上。其中,光线通过可控光源发出,该光线优选垂直照射于感光传感器,其中,可控光源为可以调整光照强度的光源,进而可以调整照射在感光传感器上的光照强度。其中,光照强度可以设置在环境光的范围内,即在0至5000勒克斯范围内。
111.在一些实施例中,光照强度可以通过设置在感光传感器上的照度计进行采集。
112.在一些实施例中,根据实际应用场景,本实施例中的感光传感器优选为环境光传感器。
113.步骤202、采集在第一环境下所述感光传感器基于光线所产生的第一图像。
114.具体地,通过摄像头等图像采集设备,采集当前第一环境下感光传感器的第一图像,其中,第一环境为感光传感器在检测到光线时,感光传感器所处的光照环境。
115.在一些实施例中,图像采集设备优选垂直于感光传感器,且可控光源和图像采集设备处于同一空间位置,保证图像采集设备采集的第一图像与合成的第二图像亮度一致。
116.步骤203、获取在所述第一环境下感光传感器生成的第一电压数据信息。
117.具体地,感光传感器通常使用光电二极管将光信号转换为电信号。其中,光电二极管为pn结或pin结构,当一定光照强度的光照射光电二极管时,pn结或pin结构产生光电流。足够能量的光子激发光电二极管的电子产生电子空穴对,电子由价带向传导带移动产生光电流。当感光传感器的每个感光单元检测到一定光照强度的光线时,每个感光单元,即光电二极管,产生一定的电流和电压。
118.具体地,感光单元呈m
×
n阵列排列,即感光单元有m列和n行,当可控光源的光照强度变化时,每个感光单元的电压也会随着变化。通过模拟数字转换器采集每个感光单元生成的电压数据和位置信息。
119.更具体地,模拟数字转换器进行逐行采集,当采集当前行电压数据和位置信息完成后,会检测到数字集成电路芯片发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,行切换使能脉信号会使模拟数字转换器切换到下一行进行采集,行切换时钟控制感光传感器逐一打开每一行感光单元,同时数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号。
120.在一些实施例中,当感光传感器的列数大于模拟数字转换器所能一次采集数据的数量时,需要多个模拟数字转换器同时对感光传感器不同列进行采集。
121.具体地,不同模拟数字转换器可以向数字集成电路芯片输出同步码、电压数据和位置信息以及校验信息。计算模拟数字转换器数据的校验信息,判断计算的校验信息和接收的校验信息是否一致,当两者一致时,则数字集成电路芯片采用模拟数字转换器输入的数据。
122.步骤204、根据所述第一电压数据信息生成第二图像。
123.具体地,通过数字集成电路芯片将该电压数据转换为二进制数据等处理器的可读
数据;基于二进制数据和第一位置信息生成第二图像。
124.更具体地,模拟数字转换器采集的每个传感单元的电压数据变成12位二进制数据,数字集成电路芯片将每个传感单元的12位二进制数据和其位置信息发送到图像生成设备,将每个传感单元的12位二进制数据生成第二图像每一像素单元的驱动电压数据值,得到第二图像。
125.在一些实施例中,照度计将采集到的第一图像的平均光照强度发送给图像生成设备,将平均光照强度乘以感光传感器的面积,得到平均亮度,将平均亮度设置为第一图像的亮度,以此保证第一图像和第二图像的平均亮度相同。
126.在一些实施例中,可以根据图像生成设备的分辨率对电压数据进行调整。
127.步骤205、根据第一图像与第二图像,确定第一测试结果。
128.具体地,根据第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值,其中,可以先分析每一像素单元对应的像素分量,再根据像素分量的亮度值确定像素单元对应的驱动电压值;获取第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;计算每一像素单元第一驱动电压数据值和第二驱动电压数据值的差值集合;若差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为不合格;若差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值,确定感光传感器的测试结果为合格。其中,第一预设阈值可以为第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值的平均值的3%至7%,优选5%。
129.步骤206、根据第一测试结果选取测试结果为合格的感光传感器。
130.步骤207、将预设光照强度的光线照射于测试结果为合格的感光传感器上。
131.具体地,在预设光照强度的光线下,照射在感光传感器的光照强度为一定值,可以通过设置在感光传感器上的照度计得到。
132.步骤208、对照射于测试结果为合格的感光传感器的光线进行部分遮挡。
133.在一些实施例中,可以通过遮挡设备,例如通过机械臂夹取一定图案的不透明物体于感光传感器的前方,可以在感光传感器上形成一定图案的阴影。实现测试感光传感器的自动化,减少人工成本。从图11可以看出,可以遮挡设备对合格的感光传感器的光线进行部分遮挡,也可以对合格的感光传感器的光线进行全部遮挡。从而可以对感光传感器的测试自动化和可视化的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
134.步骤209、采集在第二环境下测试结果为合格的感光传感器的第三图像。
135.具体地,通过摄像头等图像采集设备,采集当前第二环境下感光传感器的第三图像,其中,第二环境为感光传感器在检测到预设光照强度的光线时,感光传感器所处的光照环境。
136.步骤210、获取在第二环境下测试结果为合格的感光传感器的第二电压数据信息,所述第二电压数据信息包括所述感光传感器的每一感光单元的第二电压数据和第二位置信息。
137.具体地,当感光传感器的每个感光单元检测到一定光照强度的光线时,每个感光单元,即光电二极管,产生一定的电流和电压。其中感光单元呈m
×
n阵列排列,即感光单元有m列和n行,当可控光源的光照强度变化时,每个感光单元的电压也会随着变化。通过模拟数字转换器采集每个感光单元生成的电压数据和位置信息。
138.更具体地,模拟数字转换器进行逐行采集,当采集当前行电压数据和位置信息完成后,会检测到数字集成电路芯片发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,行切换使能脉信号会使模拟数字转换器切换到下一行进行采集,行切换时钟控制感光传感器逐一打开每一行感光单元,同时数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号。
139.在一些实施例中,当感光传感器的列数大于模拟数字转换器所能一次采集数据的数量时,需要多个模拟数字转换器同时对感光传感器不同列进行采集。
140.具体地,不同模拟数字转换器可以向数字集成电路芯片输出同步码、电压数据和位置信息以及原校验信息。计算模拟数字转换器数据的校验信息,并与原校验信息比较,当两者一致时,则数字集成电路芯片采用模拟数字转换器输入的数据。
141.步骤211、根据所述第二电压数据信息生成所述感光传感器的第四图像。
142.具体地,通过数字集成电路芯片将该电压数据转换为二进制数据等处理器的可读数据;基于二进制数据和第二位置信息生成第四图像。
143.更具体地,模拟数字转换器采集的每个传感单元的电压数据变成12位二进制数据,数字集成电路芯片将每个传感单元的12位二进制数据和其位置信息发送到图像生成设备,将每个传感单元的12位二进制数据生成第四图像每一像素单元的驱动电压数据值,得到第四图像。
144.在一些实施例中,可以根据图像生成设备的分辨率对电压数据进行调整。
145.步骤212、根据所述第二电压数据信息生成所述感光传感器的第四图像。
146.具体地,根据第三图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第三驱动电压数据值;获取第四图像上每一像素单元对应的第四驱动电压数据值;计算每一像素单元第三驱动电压数据值和第四驱动电压数据值的差值;若差值集合中任一差值大于第二预设阈值,确定预设光照强度不通过;若差值集合中任一差值小于或者等于第二预设阈值,确定预设光照强度通过,可以重复上述方法多次,因此可以得出合格的感光传感器正确产生阴影图案的光照强度的范围。更具体地,第二预设阈值可以为第四图像上每一像素单元对应的第四驱动电压数据值的平均值的3%至7%。优选5%。
147.在一些实施例中,测试感光传感器的方法还可以包括:接收照度计采集的光照强度信息;接收数字电路芯片输出的每个感光传感单元的电压数据;确定每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;根据每个感光传感单元的光照强度与电压的关系;对每个感光传感单元进行补偿。该补偿为一定的电压补偿,可以避免因为环境等因素出现的测试结果错误。
148.本技术实施例提供一种测试感光传感器的方法,响应于测试指令,将光线照射于感光传感器上;采集在第一环境下感光传感器基于光线所产生的第一图像;获取在第一环境下感光传感器生成的第一电压数据信息;根据第一电压数据信息生成第二图像;根据第一图像与第二图像,确定第一测试结果;根据第一测试结果选取测试结果为合格的感光传感器;将预设光照强度的光线照射于测试结果为合格的感光传感器上;对照射于测试结果为合格的感光传感器的光线进行部分遮挡;采集在第二环境下测试结果为合格的感光传感器的第三图像;获取在第二环境下所述测试结果为合格的感光传感器的第二电压数据信息,第二电压数据信息包括每个感光单元的第二电压数据和第二位置信息;根据第二电压数据信息生成感光传感器的第四图像;根据第三图像与第四图像,确定第二测试结果。根据
第二测试结果,可以得出感光传感器能识别出阴影图案的光照强度的范围。从而可以对感光传感器的测试自动化和可视化的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
149.请参阅图12,图12为本技术实施例提供的一种感光传感器装置的示意图。所述感光传感器装置30可以包括:
150.照射模块31,用于响应于测试指令,将光线照射于所述感光传感器上;
151.图像采集模块32,用于采集在第一环境下所述感光传感器基于所述光线所产生的第一图像;
152.数据获取模块33,用于获取在所述第一环境下所述感光传感器生成的第一电压数据信息;
153.图像生成模块34,用于根据所述第一电压数据信息生成第二图像;
154.确定模块35,用于根据所述第一图像与所述第二图像,确定第一测试结果。
155.其中,请参阅图13,图13为本技术实施例图12中图像生成模块34的示意图。图像生成模块34还包括:
156.数据转换子模块341,用于将所述第一电压数据信息中的电压数据转换为二进制数据;
157.合成图像子模块342,用于基于所述二进制数据和第一位置信息生成第二图像。
158.其中,请参阅图14,图14为本技术实施例图12中确定模块35的示意图。
159.确定模块35包括:
160.第一确定子模块351,用于根据所述第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值;
161.获取子模块352,用于获取所述第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;
162.计算子模块353,用于计算每一像素单元所述第一驱动电压数据值和所述第二驱动电压数据值的差值集合;
163.第二确定子模块354,用于若所述差值集合中任一差值大于第一预设阈值,确定所述感光传感器的测试结果为不合格;若所述差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值时,确定所述感光传感器的测试结果为合格。
164.在一些实施例中,所述照射模块31,具体用于:
165.感光传感器包括多个感光单元,多个感光单元呈阵列排列,光线照射于每个感光单元上。其中,光线通过可控光源发出,该光线优选垂直照射于感光传感器,其中,可控光源为可以调整光照强度的光源,进而可以调整照射在感光传感器上的光照强度。其中,光照强度可以设置在环境光的范围内,即在0至5000勒克斯范围内。
166.在一些实施例中,所述图像采集模块32,具体用于:
167.具体地,通过摄像头等图像采集设备,采集当前第一环境下感光传感器的第一图像,其中,第一环境为感光传感器在检测到光线时,感光传感器所处的光照环境。
168.在一些实施例中,图像采集设备优选垂直于感光传感器,且可控光源和图像采集设备处于同一空间位置,保证图像采集设备采集的第一图像与合成的第二图像亮度一致。
169.在一些实施例中,所述数据获取模块33,具体用于:
170.感光传感器通常使用光电二极管将光信号转换为电信号。其中,光电二极管为pn
结或pin结构,当一定光照强度的光照射光电二极管时,pn结或pin结构产生光电流。足够能量的光子激发光电二极管的电子产生电子空穴对,电子由价带向传导带移动产生光电流。当感光传感器的每个感光单元检测到一定光照强度的光线时,每个感光单元,即光电二极管,产生一定的电流和电压。
171.在一些实施例中,所述数据获取模块33,具体用于:
172.感光单元呈m
×
n阵列排列,即感光单元有m列和n行,当可控光源的光照强度变化时,每个感光单元的电压也会随着变化。通过模拟数字转换器采集每个感光单元生成的电压数据和位置信息。
173.更具体地,模拟数字转换器进行逐行采集,当采集当前行电压数据和位置信息完成后,会检测到数字集成电路芯片发出的行切换使能脉信号和行切换时钟,行切换使能脉信号会使模拟数字转换器切换到下一行进行采集,行切换时钟控制感光传感器逐一打开每一行感光单元,同时数字集成电路芯片向感光传感器提供工作时钟和行选通信号。
174.在一些实施例中,所述数据获取模块33,具体用于:
175.当感光传感器的列数大于模拟数字转换器所能一次采集数据的数量时,需要多个模拟数字转换器同时对感光传感器不同列进行采集。
176.具体地,不同模拟数字转换器可以向数字集成电路芯片输出同步码、电压数据和位置信息以及原校验信息。计算模拟数字转换器数据的校验信息,并与原校验信息比较,当两者一致时,则数字集成电路芯片采用模拟数字转换器输入的数据。
177.在一些实施例中,所述图像生成模块34,具体用于:
178.通过数字集成电路芯片将该电压数据转换为处理器的可读数据;基于可读数据和第一位置信息生成第二图像。
179.更具体地,模拟数字转换器采集的每个传感单元的电压数据变成12位二进制数据,数字集成电路芯片将每个传感单元的12位二进制数据和其位置信息发送到图像生成设备,将每个传感单元的12位二进制数据生成第二图像每一像素单元的驱动电压数据值,得到第二图像。
180.在一些实施例中,所述确定模块35,具体用于:
181.根据第一图像上每一像素单元的显示数据确定每一像素单元的第一驱动电压数据值;获取第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值;计算每一像素单元第一驱动电压数据值和第二驱动电压数据值的差值集合;当检测到差值集合中任一差值大于第一预设阈值时,判断感光传感器不合格;当检测到差值集合中任一差值小于或者等于第一预设阈值时,判断感光传感器合格。其中,第一预设阈值可以为第二图像上每一像素单元对应的第二驱动电压数据值的平均值的5%。
182.本技术实施例还提供一种感光传感器装置,所述感光传感器装置30可以包括:照射模块31,用于响应于测试指令,将光线照射于所述感光传感器上;图像采集模块32,用于采集在第一环境下所述感光传感器基于所述光线所产生的第一图像;数据获取模块33,用于获取在所述第一环境下所述感光传感器生成的第一电压数据信息;图像生成模块34,用于根据所述第一电压数据信息生成第二图像;确定模块35,用于根据所述第一电压数据信息生成第二图像;感光传感器装置30通过采集感光传感器在第一环境下的第一图像,以及感光传感器在第一环境下生成的第一电压数据信息合成第二图像,通过比较第一图像和第
二图像每一像素单元的驱动电压数据,得出第一测试结果,从而可以对感光传感器的测试自动化和可视化的分析,降低人工测试的成本以及实现测试结果可视化。
183.本技术实施例还提供一种计算机存储介质,所述存储介质中存储有计算机程序,当所述计算机程序在计算机上运行时,所述计算机执行上述任一实施例所述的测试感光传感器的方法。
184.以上对本技术实施例所提供的一种测试感光传感器的方法、装置和计算机可读存储介质进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
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