RTC设备校时方法和系统与流程

本发明实施例涉及实时时钟，具体涉及一种rtc设备校时方法和系统。

背景技术：

1、现有很多电子产品都具有rtc(real-time clock实时时钟)功能，将具有rtc功能的电子设备记为rtc设备。rtc作为的电子产品各种功能的基础，它的准确性是电子产品的关键。对于rtc的准确性，往往取决于晶振本身的震动频率，由于晶振的差异性，rtc的准确性往往不满足实际引用要求。

2、时钟晶振，其误差主要出现在如下方面：一是出厂误差，是出厂时，时钟晶振在25℃环境温度下的偏差，一般是±20ppm左右，也有±5ppm的，但价格也相对较高；二是温度漂移，晶振随着工作温度变化而产生的相应频率变化。

3、现有的rtc设备校时，一般是通过温度补偿的方式对rtc设备进行校时，而很少考虑出厂误差。即使综合出厂误差和温度漂移，其出厂误差的获取也是直接接触rtc设备的晶振引脚获取振动频率，在此过程中，会引入寄生电容，从而造成得到的出厂误差与实际不相符。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的不足，本发明实施例的目的在于提供一种rtc设备校时方法和系统，其可以提升rtc设备的时钟精确度。

2、为解决上述问题，本发明实施例第一方面公开一种rtc设备校时方法，包括：

3、响应于校时请求，调取存储于所述rtc设备中的生产环境温度、以及所述生产环境温度下对应的第一频率公差；

4、获取校时请求时的实际环境温度；

5、根据所述实际环境温度、生产环境温度以及第一频率公差确定所述rtc设备当前对应的第二频率公差；

6、根据所述第二频率公差对所述rtc设备进行校时。

7、本发明实施例第二方面公开了一种rtc设备校时装置，包括：

8、响应单元，用于响应于校时请求，调取存储于所述rtc设备中的生产环境温度、以及所述生产环境温度下对应的第一频率公差；

9、获取单元，用于获取校时请求时的实际环境温度；

10、确定单元，用于根据所述实际环境温度、生产环境温度以及第一频率公差确定所述rtc设备当前对应的第二频率公差；

11、校时单元，用于根据所述第二频率公差对所述rtc设备进行校时。

12、本发明实施例第三方面公开一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并能在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述本发明实施例第一方面公开的rtc设备校时方法的步骤。

13、本发明实施例第四方面公开一种计算机可读存储介质，其存储有计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行上述本发明实施例第一方面公开的rtc设备校时方法的步骤。

14、本发明实施例第五方面公开一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述本发明实施例第一方面公开的rtc设备校时方法的步骤。

15、本发明实施例第六方面公开一种应用发布平台，所述应用发布平台用于发布计算机程序产品，其中，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述本发明实施例第一方面公开的rtc设备校时方法的步骤。

16、本发明实施例第七方面公开一种rtc设备校时系统，其包括：rtc设备、生产设备以及处理设备；

17、所述rtc设备的时钟输出端口与所述生产设备的时钟输入端口相连接，所述rtc设备还与所述生产设备通过串口进行通讯，所述处理设备与所述生产设备进行通讯；所述生产设备的高精度时钟源处于恒温维持的环境中；

18、所述生产设备向所述rtc设备发送校验信号，以使所述rtc设备打开rtc设备的定时器并依据rtc晶振输出方波信号；所述生产设备的时钟输入端口接收所述方波信号，并打开计数器，同时还打开所述高精度时钟源的定时器，当所述计数器达到预设值时，比对所述预设值和所述高精度时钟源的定时器数值之间的偏差值，根据所述偏差值确定所述rtc设备在生产时的第一频率公差，所述生产设备还通过所述处理设备获取时间戳，并将结束指令、第一频率公差、出厂信息以及时间戳通过串口发送至所述rtc设备，所述rtc设备接收所述结束指令后，停止校验，并存储所述第一频率公差、出厂信息以及时间戳；

19、所述rtc设备还获取并保存校验过程中的生产环境温度，或者所述生产设备获取校验过程中的生产环境温度，并将所述生产环境温度发送给所述rtc设备，以使所述rtc设备保存所述生产环境温度；

20、触发校时请求时，所述rtc设备调取所述第一频率公差、生产环境温度以及获取校时请求时的实际环境温度，并根据所述第一频率公差、生产环境温度以及实际环境温度进行校时。

21、与现有技术相比，本发明实施例的有益效果在于：

22、1、本发明实施例通过存储的生产环境温度、第一频率公差以及获取的当前实际环境温度对rtc设备进行实时校时，从而提升rtc设备的时钟精确度；

23、2、本发明实施例基于rtc设备的时钟信号数量和生产设备的计时时间之间的比对，来确定生产误差，从而不会收到寄生电容的影响，进一步提升rtc设备的时钟精确度；

24、3、本发明实施例引入第一频率公差调整量，将rtc晶振老花过程中振动频率会随之变化考虑在内，从而在不同的时间节点采用不同的第一频率公差对rtc设备进行校时，更进一步提升rtc设备的时钟精确度；

25、4、本发明实施例还可以在rtc设备不具有温度检测功能时，仍然可以对rtc设备进行校时。

技术特征：

1.一种rtc设备校时方法，其特征在于，其包括：

2.根据权利要求1所述的rtc设备校时方法，其特征在于，根据所述实际环境温度、生产环境温度以及第一频率公差确定所述rtc设备当前对应的第二频率公差，包括：

3.根据权利要求1所述的rtc设备校时方法，其特征在于，所述存储于所述rtc设备中的生产环境温度、以及所述生产环境温度下对应的第一频率公差是在所述rtc设备生产时确定；

4.根据权利要求1所述的rtc设备校时方法，其特征在于，响应于校时请求时，还包括调取存储于所述rtc设备中的生产时间；

5.根据权利要求1-4任一项所述的rtc设备校时方法，其特征在于，根据所述第二频率公差对所述rtc设备进行校时，包括：

6.根据权利要求1-4任一项所述的rtc设备校时方法，其特征在于，当所述rtc设备不具有温度检测功能时，将第一固定值赋予所述实际环境温度或者，将所述第一固定值同时赋予所述实际环境温度和生产环境温度；

7.一种rtc设备校时装置，其特征在于，其包括：

8.一种rtc设备，其特征在于，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并能在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6任意一项所述的rtc设备校时方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行权利要求1-6任意一项所述的rtc设备校时方法的步骤。

10.一种rtc设备校时系统，其特征在于，其包括：rtc设备、生产设备以及处理设备；

技术总结本发明实施例公开了一种RTC设备校时方法和系统，涉及实时时钟技术领域，该方法包括：响应于校时请求，调取存储于RTC设备中的生产环境温度、以及生产环境温度下对应的第一频率公差；获取校时请求时的实际环境温度；根据实际环境温度、生产环境温度以及第一频率公差确定RTC设备当前对应的第二频率公差；根据第二频率公差对RTC设备进行校时。本发明实施例通过存储的生产环境温度、第一频率公差以及获取的当前实际环境温度对RTC设备进行实时校时，从而提升RTC设备的时钟精确度。技术研发人员：谢伟杰,孙睿受保护的技术使用者：日立楼宇技术（广州）有限公司技术研发日：技术公布日：2024/1/15