一种时间同步精度测试方法与流程

本发明涉及时间同步测试，尤其涉及一种时间同步精度测试方法。

背景技术：

1、近年来，随着汽车行业智能化技术的日新月异，智能驾驶领域也有很大突破，从l1到l2++，从半自动驾驶到部分场景下自动驾驶，功能从最初的单一定速巡航功能或车道保持，到现阶段的自适应巡航功能、自动刹车系统、车道辅助保持系统等功能，这些功能都需要域控制器在短时间内对传感器的信息做出正确的决策，以应对复杂的驾驶场景，因此在域控制器内参与决策的芯片之间获取传感器的时间同步性变得尤为重要。

2、对于时间同步精度测试措施，目前大多采用从实际功能的延时性角度，去测量时间同步精度。在软件开发后期集成测试阶段，若出现时间同步精度问题后，需要大量时间去排查软件问题，会影响项目时间进度。因此需要一种可以提前发现时间同步精度问题的时间同步精度测量方法。

技术实现思路

1、本发明提供了一种时间同步精度测试方法，以提供一种时间同步精度测试新方法，在软件开发前期对时间同步精度进行测量，提前发现时间同步精度问题。

2、根据本发明的一方面，提供了一种时间同步精度测试方法，该方法应用于时间同步精度测试系统的上位机，所述时间同步精度测试系统还包括域控制器和信号发生器，所述域控制器包括一个微控制单元mcu芯片和至少一个系统级soc芯片，该方法包括：

3、触发所述信号发生器按照预设周期发射脉冲信号；

4、获取mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，以及同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间；

5、基于mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，通过预设芯片间时间精度算法测试所述mcu芯片和每个soc芯片之间的第一时间精度；

6、基于同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间和所述预设周期，通过预设芯片内时间精度算法测试所述同一soc芯片内的第二时间精度。

7、根据本发明的另一方面，提供了一种时间同步精度测试装置，该装置集成于时间同步精度测试系统的上位机，所述时间同步精度测试系统还包括域控制器和信号发生器，所述域控制器包括一个微控制单元mcu芯片和至少一个系统级soc芯片，该装置包括：

8、脉冲信号发射触发模块，用于触发所述信号发生器按照预设周期发射脉冲信号；

9、脉冲信号接收时间获取模块，用于获取mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，以及同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间；

10、芯片间时间精度测试模块，用于基于mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，通过预设芯片间时间精度算法测试所述mcu芯片和每个soc芯片之间的第一时间精度；

11、芯片内时间精度测试模块，用于基于同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间和所述预设周期，通过预设芯片内时间精度算法测试所述同一soc芯片内的第二时间精度。

12、根据本发明的另一方面，提供了一种时间同步精度测试系统，该系统包括：信号发生器、域控制器和上位机；所述域控制器包括一个mcu芯片和至少一个soc芯片；

13、所述信号发生器，用于按照预设周期发射脉冲信号；

14、所述mcu芯片和所述soc芯片，用于接收所述脉冲信号，并将接收到所述脉冲信号的时间信息发送至所述上位机；

15、所述上位机，用于执行本发明任意实施例所述的时间同步精度测试方法。

16、根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

17、至少一个处理器；以及

18、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

19、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的时间同步精度测试方法。

20、根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的时间同步精度测试方法。

21、本发明实施例的技术方案，应用于时间同步精度测试系统的上位机，所述时间同步精度测试系统还包括域控制器和信号发生器，所述域控制器包括一个微控制单元mcu芯片和至少一个系统级soc芯片，通过触发所述信号发生器按照预设周期发射脉冲信号；获取mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，以及同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间；基于mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，通过预设芯片间时间精度算法测试所述mcu芯片和每个soc芯片之间的第一时间精度；基于同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间和所述预设周期，通过预设芯片内时间精度算法测试所述同一soc芯片内的第二时间精度的技术手段，提供一种时间同步精度测试新方法，在软件开发前期对时间同步精度进行测量，提前发现时间同步精度问题。

22、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

技术特征：

1.一种时间同步精度测试方法，应用于时间同步精度测试系统的上位机，所述时间同步精度测试系统还包括域控制器和信号发生器，所述域控制器包括一个微控制单元mcu芯片和至少一个系统级soc芯片，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，以及同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于mcu芯片和每个soc芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，通过预设芯片间时间精度算法测试所述mcu芯片和每个soc芯片之间的第一时间精度，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于同一soc芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间和所述预设周期，通过预设芯片内时间精度算法测试所述同一soc芯片内的第二时间精度，包括：

5.一种时间同步精度测试装置，集成于时间同步精度测试系统的上位机，所述时间同步精度测试系统还包括域控制器和信号发生器，所述域控制器包括一个微控制单元mcu芯片和至少一个系统级soc芯片，其特征在于，包括：

6.一种时间同步精度测试系统，其特征在于，包括：信号发生器、域控制器和上位机；所述域控制器包括一个mcu芯片和至少一个soc芯片；

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括：网络线束；

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括测试线束；

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-4中任一项所述的一种时间同步精度测试方法。

技术总结本发明公开了一种时间同步精度测试方法。该方法应用于时间同步精度测试系统的上位机，通过触发该系统内的信号发生器按照预设周期发射脉冲信号；获取该系统内的MCU芯片和每个SOC芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，及同一SOC芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间；基于MCU芯片和每个SOC芯片分别对同一脉冲信号的不同接收时间，测试MCU芯片和每个SOC芯片之间的第一时间精度；基于同一SOC芯片对两个相邻脉冲信号的不同接收时间和预设周期，测试同一SOC芯片内的第二时间精度。本发明的技术方案提供一种时间同步精度测试新方法，在软件开发前期对时间同步精度进行测量，提前发现时间同步精度问题。技术研发人员：秦晨,田磊,杨志乾,刘欢受保护的技术使用者：上海英恒电子有限公司技术研发日：技术公布日：2024/3/31